DS1216 Using the SmartWatch/Phantom Clocks with a Microcontroller APPLICATION NOTE
发布时间：
2019-03-11
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS1216; DS1315; DS1243; DS1244; DS1248; DS1251; DS1254; DS1216B; DS1216C; DS1216D; DS1216H; DS1216E; DS1216F
该应用笔记详细阐述了将Phantom实时时钟（RTC）与微控制器进行接口连接的技术实现方案。资料重点介绍了通过独特的64位序列访问时间数据的方法，并提供了具体的电路图与示例代码，旨在指导用户实现DS1216C、DS1216E、DS1243Y或DS1244Y等型号与DS2250微控制器的有效连接。针对文中涉及的Maxim Integrated（原DALLAS）相关器件，该品牌在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。同时，平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS1216智能手表RAM（DS1216B/c/D/h）智能手表ROM（DS1216E/F）
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1244 28针模块w/SMT Dallas Semiconductor可靠性报告
09/16/2004
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1254 2M x 8 NV SRAM with Phantom Clock
12/09
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1254W W/DS3800 Cap Fastech，单面PCB Dallas Semiconductor的可靠性报告
03/04/04
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1248/DS1248P 1024K NV SRAM with Phantom Clock
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1251P，34针电源帽底座w/DS9034X帽达拉斯半导体可靠性报告
09/16/2004
|
下载 |
| 电路原理图 - 英文 |
RTC Reference Design - R.T.C. Inf. 电路原理图
Revision A
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1244/DS1244P 256K NV SRAMwith Phantom Clock
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1254Y W/DS3800 Cap、Fastech、Dallas Semiconductor单面PCB的可靠性报告
03/04/04
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1251/DS1251P 4096K NV SRAM with Phantom Clock
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1251 32引脚模块高密度SMT达拉斯半导体可靠性报告
09/13/2004
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1315 Phantom Time Chip
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1254 BGA模块包MAXIM集成产品可靠性监控报告
4/20/2008
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
带晶体的DS9034PCX PowerCap
Rev 10/10
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1244P、34针电源盖底座和DS9034X电源盖的可靠性报告
09/16/2004
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1243Y 64K NV SRAM with Phantom Clock
Rev 11/11
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
7/28/04
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
11/8/04
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/07
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS9034PC/PCI PowerCap产品介绍
100102
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1249Y/AB 2048k非易失性SRAM
Rev 11/10
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS1315产品可靠性报告
Rev B1
|
下载 |
| 技术文档 - 英文 |
马克西姆综合REACH声明欧盟（EU）法规（EC）第1907/2006号，REACH
Revision 22
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1249W 3.3V 2048kb非易失性SRAM
Rev 11/10
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
文件E141114 SR6680308报告
Vol. 2
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
文件E141114 SR6680308报告
Vol. 2
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
文件E141114 SR6680308报告
Vol. 2
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1258Y/AB 128k x 16非易失性SRAM
083006
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DAL 0.8μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1245Y/AB 1024k非易失性SRAM
Rev 11/10
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
1/29/2013
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1258W 3.3V 128k x 16 Nonvolatile SRAM
2019/08/19
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
DS1216使用达拉斯幻像实时时钟（RTCs）应用说明
本文档介绍了如何将达拉斯幽灵实时时钟（RTC）与微控制器内存系统接口，并描述了一些编程考虑因素和常见问题。达拉斯幽灵实时时钟是一种结合了透明CMOS计时器和非易失性静态RAM的设备，其时间保持器对RAM/ROM内存映射是透明的，不占用任何现有RAM/ROM位置。文档详细介绍了DS1315幽灵时间芯片、DS1216智能插座以及DS124x和DS1254非易失性SRAM模块，并提供了与8051微控制器接口的示例代码。此外，文档还讨论了故障排除、常见问题和常见陷阱。
阅读原文 >>
如何用等效密度幻像时钟模块替换DS1216 SmartSocket应用说明
本文介绍了如何使用与DS1216 SmartSocket兼容的等效密度5V Phantom时钟模块来替换DS1216 SmartWatch产品。由于PDIP SRAM的供应减少，DS1216 SmartWatch产品正迅速接近停产。大多数SmartWatch产品可以使用这种模块进行替换，提供即插即用的解决方案，并保证至少10年的数据保留寿命。文章还提供了替换模块的选择表，以及有关模块的技术规格和订购信息。
阅读原文 >>
币形锂电池：应用寿命预测应用说明
本文探讨了锂电纽扣电池在无系统电源情况下的使用寿命预测。文章分析了影响IC使用寿命的主要因素，包括电池容量、电流需求、温度等。同时，介绍了Maxim的电池备份产品设计和制造过程，以及如何通过电池控制器和模块产品来延长系统寿命。文章还提供了电池寿命的计算方法和实例。
阅读原文 >>
Engineering Journal 第五十六期:集成直流对数放大器/精密计时—自动化和大众化/用USB为电池充电
本资料主要探讨了集成直流对数放大器、精密计时技术以及USB电池充电技术。内容包括对数放大器的工作原理、分类、应用实例和误差分析，精密计时技术的改进方法，以及利用USB端口为电池充电的电路设计和注意事项。
阅读原文 >>
DS9034PCX PowerCap封装允许密度升级，表面贴装组件应用说明
本应用笔记概述了PowerCap产品线，该产品线允许在保持温度敏感的晶体和/或电池在单独的卡扣式组件中的同时，实现组件基座的表面贴装。PowerCap封装提供了易于升级内存密度的功能，无需更改PCB硬件布局。该产品支持从8k x 8到512k x 8不同密度的内存，并提供了多种时钟和NV SRAM选项。PowerCap和模块基座组装方式独特，保护锂电池免受回流焊高温的影响。
阅读原文 >>
状态机逻辑在二进制编码十进制（BCD）格式的实时时钟教程
本教程讨论了Maxim公司BCD格式实时时钟（RTC）中使用的计数器链结构。它提供了对芯片在安装不正确或非法内容时的预期行为的洞察。教程详细介绍了每个寄存器的正常状态机逻辑，包括如何从最小值递增到最大值，然后回滚到最小值并应用进位到下一个寄存器。此外，还讨论了非法数据写入时的结果，包括可能的计数器行为和潜在的时间错误。
阅读原文 >>
二进制编码十进制（BCD）格式实时时钟中的状态机逻辑
本教程讨论了Maxim的BCD格式实时时钟（RTC）中使用的计数器链结构。它提供了对芯片行为的洞察，如果安装了不正确或不合法的内容。教程详细介绍了每个寄存器的正常状态机逻辑，以及在不正确写入数据时可能出现的后果。
阅读原文 >>
编写防弹实时时钟控制代码教程的技巧
本文档提供关于编写可靠的实时时钟（RTC）控制代码的技巧。内容涵盖设备初始化、代码序列、时间同步、使用时间警报等关键方面。强调了正确初始化设备、设置中断输出、加载初始计数器值以及同步时间的重要性。此外，还介绍了如何使用时间警报以及如何处理中断。
阅读原文 >>
Maxim产品中锂电池含量应用说明
本文档介绍了Maxim产品中嵌入的锂电池内容。由于环境和运输法规的变化，客户询问了部分产品中的电池。表格1列出了含有锂硬币电池的活跃产品。文档还提供了如何查找相关电池的安全数据表（MSDS）的信息。
阅读原文 >>
DS1672 Maxim实时时钟设计注意事项应用说明
本文档为Maxim公司关于实时时钟（RTC）的设计考虑因素提供了详细指南。内容涵盖RTC操作概述、设计问题、故障排除技术、接口选择、电池备份功能、时钟模块、晶振和精度、晶振连接、振荡器启动时间、检查振荡、备份电源输入、电池寿命计算、读取和写入时间和日期、故障排除新设计等方面。旨在帮助设计师避免设计问题，确保RTC在系统中的可靠运行。
阅读原文 >>
非易失性存储器元件的替换规则
本文介绍了在现有设计中替换非易失性（NV）存储器组件的基本指南。文章详细解释了如何根据产品编号选择合适的存储器组件，包括内存密度、I/O配置、电源容忍度、功能速度和温度范围。此外，还提供了关于RoHS合规性和组件升级对系统性能影响的信息。文章强调了选择正确组件的重要性，并提供了替换规则和示例。
阅读原文 >>
使用NVSRAM时的时序考虑
本文介绍了Maxim非易失性SRAM（NVSRAM）在系统内存时序方面的考虑。内容包括NVSRAM模块的构成、操作模式、读写周期、时序图解析以及时序定义的重要性。文章强调了VCC电压、地址总线稳定性和周期时间等关键因素，并提供了读写操作的详细说明和时序要求。
阅读原文 >>
