Analysis of ADC System Distortion Caused by Source Resistance
发布时间：
2019-03-19
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
MAX1132; MAX1133; MAX1134; MAX1135; MAX1142; MAX1143; MAX1144; MAX1145; MAX1159; MAX1189; MAX 1132; MAX 1133; MAX 1134; MAX 1135; MAX 1142; MAX 1143; MAX 1144; MAX 1145; MAX 1157; MAX 1159; MAX 1175; MAX 1179; MAX 1187; MAX 1189; MAX1270; MAX1271; MAX127; MAX128; MAX 196; MAX 197; MAX 198; MAX 199
该技术资料深入分析了由源电阻引起的ADC系统失真问题及其对整体性能的影响。文中详细阐述了低输入阻抗如何导致增益误差和信号失真，重点探讨了源电阻对采样电容充电时间的影响，指出这会引发建立时间误差。此外，资料还揭示了电压依赖性电容特性所带来的失真风险，并提供了通过选择合适的ADC产品来有效减少这些负面影响的策略。针对文中所述的ADC技术方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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加工定制
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可定制烧结NdFeB磁铁的剩磁最高1.45T，易加工成各种尺寸。充磁方向：径向充磁、轴向充磁、辐射充磁等；镀层：Zn、Sn、Ni、电泳等，最高工作温度220℃。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
MAX1142/MAX1143 14位ADC，200ksps，+5V单电源，提供参考数据手册
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| 测试报告 - 英文 |
MAX114ENG+塑料封装器件MAXIM综合可靠性报告
October 28, 2014
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1132/MAX1133 16-Bit ADC, 200ksps, 5V Single-Supply with Reference
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
MAX118xxI塑料封装器件可靠性报告
Rev. B
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1144/MAX1145 14位ADC，150ksps，3.3V单电源数据手册
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
MAX1133BEAP+塑封器件可靠性报告
November 16, 2011
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1132评估套件/评估系统（评估：MAX1132/MAX1133）
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
MAX1179ACUI+（MAX1179/MAX1187/MAX1189）塑封器件可靠性报告
March 16, 2009
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1134/MAX1135 16-Bit ADCs, 150ksps, 3.3V Single Supply
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
MAX115CAX+/MAX115EAX+塑料封装器件可靠性报告
September 1, 2011
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| 数据手册 - 英文 |
MAX113/MAX117+3V、400ksps、4/8通道、8位ADC，具有1μA掉电模式
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
MAX11359AETL+塑料封装器件可靠性报告
July 13, 2009
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| 数据手册 - 英文 |
MAX114/MAX118+5V、1Msps、4通道和8通道、8位ADC，具有1μA掉电模式
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
SSOP包的可靠性监控报告
9/2/2010
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| 测试报告 - 英文 |
SSOP包的可靠性监控报告
10/8/2010
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| 测试报告 - 英文 |
SSOP包的可靠性监控报告
1/14/2011
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| 测试报告 - 英文 |
SSOP包的可靠性监控报告
10/14/2016
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| 测试报告 - 英文 |
SSOP包的可靠性监控报告
1/17/2017
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1179评估套件
Rev 1
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Epson 0.4μm硅栅（S4）可靠性监测报告
1/15/2016
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1179/MAX1187/MAX1189 16位、135ksps、单电源ADC，双极性模拟输入范围数据手册
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
mfn1.2μm硅栅CMOS（S12）可靠性监测报告
10/8/10
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| 测试报告 - 英文 |
mfn1.2μm硅栅CMOS（S12）可靠性监测报告
10/14/2016
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| 测试报告 - 英文 |
mfn1.2μm硅栅CMOS（S12）可靠性监测报告
1/17/2017
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| 数据手册 - 英文 |
MAX1157/MAX1159/MAX1175 14位、135ksps、单电源ADC，双极性模拟输入范围数据手册
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
爱普生0.4μm硅栅（S4）MAXIM集成可靠性监测报告
10/14/2015
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| 数据手册 - 英文 |
MAX11335–MAX11340 500ksps，12-/10位，4-/8-/16通道ADC，带Mux后外部信号调节访问数据表
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| 数据手册 - 中文 |
MAX11335–MAX11340 500ksps、12/10位、4/8/16通道ADC，提供外部信号调理复用输入 Data Sheet
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| 数据手册 - 英文 |
MAX117评估套件数据表
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
MAX1184ECM+塑料封装器件可靠性报告
November 20, 2009
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| 数据手册 - 英文 |
MAX11329–MAX11332 3Msps，12-/10位，8-/16通道ADC，带Mux后外部信号调节访问数据表
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
MAX1183ECM+塑料封装器件可靠性报告
November 20, 2009
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MAX115/MAX116 2X4通道、同步采样12位ADC数据手册
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| 数据手册 - 英文 |
MAX115评估套件数据表
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
选择SPI时钟模式以连接MAX1132 ADC与MAXQ2000微控制器参考设计
本文档介绍了如何选择SPI时钟模式以优化MAX1132 ADC与MAXQ2000微控制器之间的接口性能。文档详细描述了8位、16位和组合时钟模式，并通过实验结果分析了不同模式下的性能。实验结果表明，在MAX1132使用24个时钟帧的情况下，组合模式（先8位发送控制字节，再16位接收数据）是最优选择。文档还提供了MAX1132 EV套件和MAXQ2000-KIT的硬件连接图、软件固件和示例C程序。
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MAX1115了解SAR ADC：它们的体系结构和与其他ADC的比较教程，应用说明
本文介绍了逐次逼近寄存器（SAR）模数转换器（ADC）的工作原理、架构以及与其他ADC架构的比较。SAR ADC以其高分辨率、低功耗和小型封装在中等至高分辨率ADC市场中占据主导地位。文章详细解释了SAR ADC的运作方式，包括二进制搜索算法、电容式DAC和高速比较器。此外，还对比了SAR架构与流水线、闪存和Σ-Δ ADC的优缺点。
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MAX1132心电监护仪简介，应用说明
本应用笔记介绍了心电图（ECG或EKG）的基本原理，包括心脏信号如何通过电子方式测量和显示。内容涵盖了ECG设备的模拟前端（AFE）部分，以及如何数字化心率数据。此外，还讨论了多种ECG应用，如自动体外除颤器（AED）、患者监护仪和高端诊断ECG，以及它们可能提供的功能变化。
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SAR-adc的体系结构及其与其它adc的比较
本文介绍了逐次逼近寄存器（SAR）模数转换器（ADC）的工作原理、架构及其与其他ADC架构的比较。SAR ADC广泛应用于中等至高分辨率ADC市场，提供高达5Msps的采样率，分辨率从8位到18位。文章详细解释了SAR ADC如何通过二进制搜索算法对输入信号进行逼近，并深入分析了SAR ADC的核心组件，如电容式DAC和高速比较器。此外，文章还对比了SAR架构与流水线、闪存和Σ-Δ ADC架构的优缺点。
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步升型电源在为负载供电的同时也为电池充电解决方案
本文档展示了一种基于IC1和IC2的电子设计示例，涉及充电控制、电压检测和放电速率监测等功能。设计包括充电/断电控制、快速/涓流充电模式选择、电压和放电速率的模拟/数字转换等。电路图包含多个电阻、电容、二极管和晶体管等元件，以及MAX472和MAX1771等集成电路。
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用于同时采样的ADC
本文介绍了多通道模数转换器（ADC）在同时采样中的应用。重点讨论了同时采样ADC在无线应用、电机控制和电力监测等领域的应用。文章详细介绍了MAX125和MAX126两款14位数据采集系统，它们能够同时采样四个输入通道。此外，文章还探讨了同时采样ADC在矢量控制、线故障保护和科里奥利质量流量计等应用中的具体实现。
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了解FLASH adc
本文介绍了闪速模数转换器（Flash ADCs），这是将模拟信号转换为数字信号最快的方法。Flash ADCs适用于需要非常宽带宽的应用，但它们消耗的功率比其他ADC架构要多，并且通常限于8位分辨率。文章讨论了Flash ADCs的架构细节，包括其工作原理、可能出现的错误（如Sparkle Codes和Metastability），以及与SAR ADCs、流水线ADCs、积分ADCs和Σ-Δ ADCs等其他ADC架构的比较。此外，文章还讨论了时钟抖动对ADC性能的影响，以及不同ADC架构在转换时间、组件匹配要求、芯片尺寸、成本和功耗等方面的权衡。
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微分增益和相位如果你看不见，为什么要测量它？
本文探讨了视频信号中的差分增益（DG）和差分相位（DP）的重要性。虽然这些参数在视觉上不可见，但它们对视频质量至关重要。文章解释了DG和DP如何影响视频信号，并说明了为什么在视频信号传输过程中需要测量这些参数。此外，文章还讨论了DG和DP在放大器、模数转换器（ADC）和数模转换器（DAC）中的应用，以及如何通过特定的测试信号来检测这些参数。
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视频滤波器热设计注意事项应用说明
本文探讨了视频滤波器在电路设计和PCB设计中的热设计考虑因素。主要内容包括热特性定义、热设计问题、MAX11500–MAX11509系列低成本视频滤波器的热设计问题。文章详细介绍了热阻、热模型等概念，并提供了计算实例和实际测量结果，以确保设备在恶劣条件下不会过热。
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MAX11800–MAX11803和MAX11811触摸屏控制器快速入门程序员指南
本应用笔记介绍了如何快速开发代码以操作MAX11800–MAX11803和MAX11811电阻式触摸屏控制器，并使其在直接或自主模式下运行。内容包括配置寄存器的设置、转换命令的发送以及数据的读取。此外，还提供了基于寄存器设置的软件，用于计算数据转换的时间。
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使用MAX1311内部和外部温度传感器启动电机和风扇
本应用笔记介绍了如何使用MAX11311芯片的内部和外部温度传感器来激活电机和风扇。MAX11311是一款具有12位ADC、12位DAC、模拟开关和GPIO的可编程混合I/O设备。通过SPI接口，Atmel ATMEGA328可以与MAX11311通信。笔记中包含了完整的电路图和固件，并展示了如何通过控制回路设计MAX11311，以及如何将内部和外部温度传感器用于控制直流电机、LED、警报和风扇。
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触摸屏系统中校准的简单解释
本文详细解释了触摸屏系统中的校准过程。文章首先介绍了机械偏差和缩放因子如何导致触摸屏面板与显示屏幕之间的值不匹配。接着，文章讨论了如何通过数学技术校准触摸屏面板以匹配显示屏幕。文章深入探讨了图像变换（平移、旋转和缩放）的数学原理，并提供了三个点校准和N点校准的具体示例。最后，文章总结了校准过程，并提供了相关的参考资料和产品信息。
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高速模数转换器动态试验第2部分
本文详细介绍了高速模数转换器（ADC）的动态测试方法，包括测试设置、硬件配置、软件工具以及数据捕获和分析过程。文章重点讨论了动态参数的定义、测试设置、硬件配置、功率谱、频谱泄漏、窗口函数以及软件工具的使用。此外，还提供了测试高速数据转换器时可能遇到的陷阱和注意事项。
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高速模数转换器动态参数的定义和测试第1部分
本文探讨了高速模数转换器（ADC）中动态参数的定义和测试，主要涉及信号与噪声比（SNR）、信号与噪声和失真比（SINAD）、有效位数（ENOB）、总谐波失真（THD）、无杂散动态范围（SFDR）、双音互调失真（TTIMD）、多音互调失真（MTIMD）和电压驻波比（VSWR）等参数。文章详细解释了这些参数的定义、数学基础、评估动态性能的技术以及它们与ADC性能的相关性。
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MAX11312PMB#外围模块和Munich2（USB2PMB2#）适配器板快速入门指南
本指南详细介绍了如何使用MAX11312PMB#板与Munich2（USB2PMB2#）适配器板进行交互，并说明了如何使用图形用户界面（GUI）。MAX11312PMB#外围模块提供了将MAX11312 12端口可编程混合信号I/O设备连接到任何使用Pmod兼容扩展端口（可配置为I2C通信）的系统所需的硬件。指南中包含了安装软件、连接设备、配置MAX11312设备以及使用Munich GUI进行操作的具体步骤和示例。
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高速ADC正弦波测试中最佳测试音调和测试设备的选择
本教程详细介绍了如何选择最佳测试音和测试设备，以成功进行高速模数转换器（ADC）的正弦波测试。内容涵盖了相干采样与窗口采样的比较，以及如何精确选择采样频率、输入测试音和数据记录大小。此外，还提供了推荐的测试设备和软件工具，以及如何使用这些工具进行数据捕获和分析。教程强调了信号发生器、逻辑分析仪和MATLAB软件在高速ADC测试中的重要性。
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