Clock-Rate-Adapter (CLAD) Features for DS325X,DS316X, DS317X, and DS318X APPLICATION NOTE
发布时间：
2019-03-20
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS3251; DS3252; DS3253; DS3254; DS3161; DS3162; DS3163; DS3164; DS3166; DS3168; DS3171; DS3172; DS3173; DS3174; DS3181; DS3182; DS3183; DS3184; DS325X; DS316X; DS317X; DS318X
本应用笔记详细阐述了DS325X、DS316X、DS317X及DS318X设备中时钟速率适配器（CLAD）功能的配置与应用方法。文档重点介绍了如何利用CLAD创建多个时钟源，这些时钟源可根据具体应用需求灵活配置为线路接口单元（LIU）参考时钟或传输时钟。内容深入解析了CLAD在不同模式下的时钟合成机制、输出控制策略以及相关寄存器的具体设置步骤，为工程师实现精准的时钟管理提供了详尽的技术指导。针对文中所述器件，[品牌]在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
DS3161/DS3162/DS3163/DS3164 Single/Dual/Triple/Quad ATM/Packet PHYs for DS3/E3/STS-1
REV: 113006
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| 测试报告 - 英文 |
DS3164产品可靠性报告，A2版本 Dallas Semiconductor
02/03/05
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3161/DS3162/DS3163/DS3164 DS3/E3/STS-1勘误表的单/双/三/四ATM/分组物理
REV: 111504
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3161/DS3162/DS3163/DS3164 DS3/E3/STS-1勘误表的单/双/三/四ATM/分组物理
REV: 072604
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| 数据手册 - 英文 |
DS3251/DS3252/DS3253/DS3254 Single/Dual/Triple/Quad DS3/E3/STS-1 LIUs
REV: 030106
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| 测试报告 - 英文 |
DS3163产品可靠性报告，A2版本 Dallas Semiconductor
02/03/05
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| 数据手册 - 英文 |
DS32506/DS32508/DS32512 6-/8-/12-Port DS3/E3/STS-1 LIU
REV: 103008
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| 测试报告 - 英文 |
DS3162产品可靠性报告，A2版本 Dallas Semiconductor
02/03/05
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3251/DS3252/DS3253/DS3254单/双/三/四DS3/E3/STS-1 LIUs勘误表
REV: 030807
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3251/DS3252/DS3253/DS3254单/双/三/四DS3/E3/STS-1 LIUs勘误表
REV: 022306
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| 数据手册 - 英文 |
DS3254DK Quad DS3/E3/STS-1 LIU Demo Kit
REV: 050205
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体公司DS3161 A2版产品可靠性报告
02/03/05
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| 数据手册 - 英文 |
用于DS3/e3/STS-1演示套件的DS3164DK四通道ATM/分组物理层
REV: 060106
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μM特许工艺可靠性监控报告
11/03/2005
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS32506/DS32508/DS32512勘误表
Rev: 062807
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS32506/DS32508/DS32512勘误表
Rev: 121808
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| 数据手册 - 英文 |
DS32kHz 32.768kHz温度补偿晶体振荡器
REV: 111319
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| 数据手册 - 英文 |
DS32kHz 32.768kHz温度补偿晶体振荡器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
DS3253产品可靠性报告，A3版本 Dallas Semiconductor
2/6/2007
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| 测试报告 - 英文 |
DS3252产品可靠性报告，A3版本 Dallas Semiconductor
2/6/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3231M勘误表
Rev 0
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| 产品勘误说明 - 中文 |
DS3231M 勘误表
Rev 0
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| 数据手册 - 英文 |
带集成TCXO/Crystal/FRAM的DS32B35/DS32C35精确I²C RTC产品介绍
Rev 3
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| 测试报告 - 英文 |
DS3251产品可靠性报告，A3版本 Dallas Semiconductor
2/6/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS3231极其精确的I²C集成RTC/TCXO/晶体
Rev 9
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| 测试报告 - 英文 |
DS3254产品可靠性报告，A3版本 Dallas Semiconductor
2/6/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3232M勘误表
Rev 0
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| 数据手册 - 英文 |
DS3231精度极高的I2c集成RTc/TcXO/晶体
Rev 10
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| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
2/15/2020
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| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
8/1/2019
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| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
10/28/05
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| 测试报告 - 英文 |
BGA封装可靠性监测报告
04/27/2005
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| 数据手册 - 英文 |
DS3234 Extremely Accurate SPI Bus RTC with Integrated Crystal and SRAM
Rev 4
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| 数据手册 - 英文 |
DS3232 Extremely Accurate I²C RTC with Integrated Crystal and SRAM
Rev 5
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DS3234SN＃ 美信这颗RTC 目前采购不到物料价格飙升，能否大家推介一款替代品？
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应用/方案
用软件实现DS325x-LIUs发射脉冲的整形
本应用笔记介绍了如何通过软件调整DS3254、DS3253、DS3252和DS3251 DS3、E3、STS-1线路接口单元（LIU）的发送脉冲设置，包括幅度和形状，而无需修改外部组件。内容涵盖了如何通过寄存器调整脉冲幅度和形状，以及在不同模式下如何设置这些寄存器以实现所需的脉冲输出。
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在没有微控制器的情况下配置Maxim LIUs
本应用笔记介绍了如何在不添加微控制器的情况下配置Maxim的线路接口单元（LIU）。通过使用具有SPI接口的PROM，可以实现LIU的配置。笔记中详细说明了SPI总线的工作原理、Xilinx XC18V00设备与Maxim LIU的连接方式，以及如何通过编程来实现不同的操作模式。
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修改DS3150、DS315x和DS325x应用说明404的E3模板符合性
本应用笔记介绍了如何修改DS3150、DS315x和DS325x线路接口单元（LIU）的脉冲形状（幅度、上升和下降时间）。通过修改与LIU一起使用的离散元件，可以改变脉冲的幅度和上升下降时间。笔记中详细描述了使用电容器和电阻分压器来改善脉冲幅度和形状的方法，并提供了不同电缆长度下的脉冲形状示例。
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利用MAX17224 nanoPower boost转换器重新定义动作捕捉客户成功案例
Noitom Limited利用MAX17224 nanoPower boost转换器等Maxim IC，成功开发Hi5 VR手套，实现虚拟实境下的全沉浸式双手交互。该手套通过IMU传感器提供无线、全手指操作，并满足高效率、低静态电流、大输入范围、低启动电压和小尺寸等严苛要求。Maxim IC在电源调节、数据传输等方面支持Noitom产品稳定、可靠工作。
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MAX17224纳米功率提升客户成功案例
Noitom Limited利用MAX17224 nanoPower boost转换器等Maxim IC，成功开发Hi5 VR手套，实现虚拟实境下的全沉浸式双手交互。该手套通过IMU传感器提供无线、全手指操作，并满足高效率、低静态电流、大输入范围、低启动电压和小尺寸等严苛要求。Maxim IC的稳定性和可靠性得到Noitom公司CTO戴若犁博士的高度认可。
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Engineering Journal 第五十六期:集成直流对数放大器/精密计时—自动化和大众化/用USB为电池充电
本资料主要探讨了集成直流对数放大器、精密计时技术以及USB电池充电技术。内容包括对数放大器的工作原理、分类、应用实例和误差分析，精密计时技术的改进方法，以及利用USB端口为电池充电的电路设计和注意事项。
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T3和E3网络接口布局指南应用说明3410
本应用笔记提供了Maxim T3/E3网络接口单元（LIU）的布局指南，以DS315x产品为例。内容涵盖阻抗保持、布局考虑因素、具体布局示例等，旨在确保网络接口的正确阻抗和性能。
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使用Advantest R3132频谱分析仪测量回波损耗
本应用笔记介绍了使用Advantest R3132频谱分析仪测量反射损耗的基本操作步骤，适用于实验室环境。内容涵盖了反射损耗的要求、测量设置、频谱分析仪主要功能配置、跟踪发生器设置、轨迹控制设置以及测量反射损耗的具体步骤。笔记还提供了与测量相关的设备和技术参数。
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测量T3/E3/STS-1 LIU的回波损耗
本应用笔记详细介绍了如何测量和改善Maxim DS3150线路接口单元（LIU）的反射损耗（RL）。内容包括反射损耗的定义、要求、测量方法和改善措施。针对E3、ITU G.703和ETS 300-686标准，讨论了输入和输出端口的最小反射损耗要求。此外，还提供了测量反射损耗的测试设置和步骤，以及通过改变终止电阻值和更换变压器等方法来提高反射损耗的具体操作。
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T1/E1和T3/E3变压器选型指南应用注释351
本应用笔记提供了适用于Maxim单芯片收发器(SCTs)和线路接口单元(LIUs)的变压器选择指南。指南基于变压器规格，包括变比、初级电感、漏感、层间电容和直流电阻，针对5V和3.3V操作进行了推荐。实际结果取决于PCB设计的完整性和其他终端电路，应由客户进行验证。资料列出了多个供应商的变压器型号，并与Maxim设备进行了匹配。
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使用MAX17224纳米功率升压转换器重新定义运动捕捉客户成功案例
Noitom Limited的Hi5 VR Glove业务版通过MAX17224 nanoPower Boost Converter重新定义了动作捕捉技术。该手套利用惯性测量单元（IMU）传感器实现无线全指动作，实时传输无遮挡运动数据。Noitom团队使用Maxim的多种IC组件，如MAX17224、MAX14841E、MAX809S、MAX14527、MAX8887、DS3231M和MAX8881，以满足高效率、低静态电流、大输入范围、低启动电压、高数据率和小型化等要求。这些组件确保了产品在稳定可靠的方式下工作。
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MAXIM电信常见问题
本资料为Maxim公司关于电信设备常见问题的FAQ，涵盖T1、E1等通信技术的基本概念、设备操作、帧/单芯片收发器、线路接口、BERT、HDLC、设计套件和TDM-over-Packet等方面的问题和解答。内容涉及T1和E1的区别、帧结构、信号方式、设备初始化、软件支持、常见问题及解决方案等。
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MAXIM电信常见问题
本资料为Maxim公司关于电信设备常见问题的FAQs，涵盖T1/E1通信设备的使用、操作、设计等方面。内容包括T1/E1技术差异、设备操作、帧/单芯片收发器、线路接口、BERT、HDLC、设计套件、TDM-over-Packet等主题，旨在帮助用户解决在使用Maxim电信设备时遇到的问题。
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DS3232、DS3234、DS3231、DS3231M、DS32B35、DS32C35精确实时时钟电源注意事项应用说明
本文介绍了如何通过利用DS3231/DS3232中的可编程温度更新时间功能，在保持高时间保持准确性的同时，降低准确实时时钟的总电流需求。文章详细讨论了DS3231的精度、电流需求、DS3232/DS3234的温度更新时间调整方法以及温度控制功能，总结了如何通过调整温度更新时间来降低电流消耗，并讨论了温度更新时间对精度的影响。
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