AUTO RADIO HEAD UNITS: MORE DEMANDS, HARSH ENVIRONMENT DRIVE NEED FOR SOPHISTICATED POWER-MANAGEMENT ICS APPLICATION NOTE
发布时间：
2019-03-29
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
MAX16930; MAX16993
该应用笔记详细介绍了汽车收音机头单元中使用的两款集成稳压器MAX16993和MAX16930，阐述了这些器件针对汽车设计进行的优化及其在应对复杂电源管理和电磁干扰挑战中的关键作用。文中指出，MAX16993提供一路高压和两路低压输出，而MAX16930则提供两路高压输出并配备预升压稳压器，两者均具备卓越的电压、温度和EMI性能，能够满足车载电子系统对电源稳定性的严苛要求。针对文中所述器件，Maxim在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。此外，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16930评估套件（评估：MAX16930、MAX16931）
Rev 2
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| 测试报告 - 英文 |
MAX16993ATJA+塑料封装器件可靠性报告
August 3, 2015
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| 技术文档 - 英文 |
为下一代汽车选择合适的汽车集成电路
July 2018
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| 数据手册 - 中文 |
MAX16930 2MHz、36V、双通道降压转换器， 带有预升压，20μA静态电流 数据手册
Rev 3
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| 测试报告 - 英文 |
文件E211395项目00SC09587报告
Vol.1
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16930 2MHz、36V、双通道降压，带预升压和20μA静态电流
Rev 13
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| 测试报告 - 英文 |
20131106-E211395 MAX 1607 UL合格证书
2013-NOVEMBER-06
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16930/MAX16931 2MHz、36V、双通道降压、带预升压和20μA静态电流数据手册
Rev 14
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| 测试报告 - 英文 |
MAX1812EUB+塑料封装器件可靠性报告
May 7, 2015
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16993 Step-Down Controller with Dual 2.1MHz Step-Down DC-DC Converters
Rev 14
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| 测试报告 - 英文 |
MAX4786EXS+T塑料封装器件可靠性报告
May 11, 2015
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| 测试报告 - 英文 |
X3 0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监控报告
4/23/2015
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| 测试报告 - 英文 |
X3 0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监控报告
7/10/2015
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| 测试报告 - 英文 |
X3 0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监控报告
10/14/2015
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| 数据手册 - 英文 |
带双通道2.1MHz降压DC-DC转换器的MAX16993降压控制器数据表
Rev 14
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| 测试报告 - 英文 |
MAX4785EXK+塑封器件可靠性报告
January 23, 2012
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| 数据手册 - 英文 |
带故障消隐的MAX1693/（MAX1693H）/MAX1694 USB限流开关
Rev 2
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| 测试报告 - 英文 |
MAX4788EXS+塑封器件可靠性报告
December 11, 2009
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监测报告
4/23/2015
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监测报告
7/10/2015
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监测报告
10/14/2015
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16993评估套件
Rev 2
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| 技术文档 - 英文 |
简化更大、更高分辨率汽车显示器的设计
January 2019
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16932/MAX16933 2.2MHz、36V、双通道降压，静态电流20μA
Rev 10
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16936评估套件（评估：MAX16936/MAX16938/MAX16939）
Rev 1
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥S4可靠性监测报告
12/19/2019
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥S4可靠性监测报告
2/15/2020
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥S4可靠性监测报告
8/1/2019
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16936评估套件
Rev 2
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| 测试报告 - 英文 |
MAX16932BATIS+塑料封装器件可靠性报告
February 29, 2016
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| 数据手册 - 英文 |
带28μA静态电流的MAX16935/MAX16939 36V、3.5A、2.2MHz降压转换器数据表
Rev 17
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥0.18μm硅栅可靠性监测报告（S18）
10/23/2014
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| 测试报告 - 英文 |
圣安东尼奥0.18μm硅栅可靠性监测报告（S18）
1/15/2016
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| 数据手册 - 英文 |
带有28μA静态电流的MAX16936/MAX16938 36V、220kHz至2.2MHz降压转换器数据表
Rev 18
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| 测试报告 - 英文 |
MAX16936xATEx/V+T/MAX16936xAUEx/V+T塑封器件可靠性报告
December 11, 2012
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16935/MAX16939静态电流为28μA的36V、3.5A、2.2MHz降压转换器
Rev 17
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| 数据手册 - 英文 |
MAX16932评估套件
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
TSSOP包MAXIM综合可靠性监控报告
4/17/2013
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| 测试报告 - 英文 |
TSSOP包MAXIM综合可靠性监控报告
4/16/2014
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| 测试报告 - 英文 |
TSSOP包MAXIM综合可靠性监控报告
7/22/2014
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| 测试报告 - 英文 |
TSSOP包MAXIM综合可靠性监控报告
7/10/2015
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
汽车解决方案指南
本资料为Maxim Integrated的第八版汽车解决方案指南，涵盖了汽车电子领域的关键技术和产品。内容包括信息娱乐系统、安全系统、动力系统、接入系统和汽车质量标准。资料详细介绍了Maxim Integrated在汽车电子领域的创新解决方案，如高度集成的PMIC、RF到Bits调谐器、LED驱动器、安全摄像头、电池管理系统、无钥匙进入系统和汽车质量管理体系等。
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汽车解决方案指南
本资料为Maxim Integrated的第八版汽车解决方案指南，涵盖了汽车电子领域的多个方面。内容包括信息娱乐系统、安全系统、动力系统、接入系统和汽车质量标准。资料详细介绍了Maxim Integrated在汽车电子领域的创新技术和产品，如高度集成的PMIC、RF到Bits调谐器、LED驱动器、安全摄像头、电池管理系统、无钥匙进入系统等。此外，还介绍了Maxim Integrated的汽车质量标准和相关技术支持。
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汽车动力控制
本文探讨了汽车应用中对动力控制、信息娱乐和车身电子的需求和设计考虑，并介绍了Maxim Integrated的多款适用于汽车动力应用的器件。文章涵盖了MAX20003三路输出降压DC-DC转换器、MAX16946内置电流检测放大器和开关的远程天线LDO、以及MAX16833内置高压CSA的HB LED驱动器等产品的应用。Maxim Integrated致力于开发针对汽车信息娱乐、车身电子安全/安全和发动机控制及动力系统的应用。
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Engineering Jrournal 第37期:硅绪技术改善射频前端性能/便携式CPU内核的供电问题/统计置信度应用于误差概率估计
这份资料主要介绍了多种类型的元器件，包括ADC、DAC、LNA、VCO、CPU等，并详细列出了它们的规格参数和应用场景。资料中涉及了不同品牌和型号的元器件，如MAX108、MAX1290–MAX1297、MAX5302/MAX5304等，并对它们的性能指标进行了详细描述。此外，资料还包含了一些关于元器件设计的理论知识和实际应用案例。
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X3 0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监控报告
本报告为MAXIM INTEGRATED公司关于X3 0.18µm硅栅工艺的可靠性监控报告。报告内容包括不同产品在高温操作寿命、存储寿命、温度循环和温度湿度偏置等条件下的可靠性数据。报告显示，该工艺的器件故障率为0，平均无故障时间（MTTF）为64637年，涉及产品包括MAX14900EAG、MAX15157ATJ+等。
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圣安东尼奥0.4μm硅栅（S4）MAXIM集成可靠性监测报告
本报告为MAXIM INTEGRATED的可靠性监控报告，针对San Antonio 0.4µm硅栅（S4）工艺的多个产品进行可靠性测试。报告内容包括产品列表、失效率、平均无故障时间（MTTF）、测试参数以及详细的可靠性数据，涉及高温操作寿命、存储寿命、温度循环、温度湿度偏置和未偏置湿度电阻等测试条件。
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圣安东尼奥0.18μm硅栅（S18）MAXIM集成可靠性监测报告
本报告为MAXIM INTEGRATED公司关于San Antonio 0.18µm硅栅（S18）工艺的可靠性监控报告。报告内容包括该工艺下多种产品的可靠性数据，如MAX14562ETA+、MAX14676AEW等，涉及高温操作寿命、存储寿命、温度循环、温度湿度偏压和未偏压湿度阻值等测试项目。报告显示，该工艺产品的平均失效时间（MTTF）为228252年，总数量为1721个，无失效记录。
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product list 快速参考指南
该资料提供了多种元器件的产品信息，包括产品型号、工艺流程和封装类型。资料中列出了多个产品型号，如806-0393、806-0403等，并详细说明了每个产品的工艺流程（如Dual Poly NPN Bipolar、SiGe HBT BiPolar等）和封装类型（如LQFP、SBGA、SOIC等）。资料旨在帮助用户根据需求选择合适的产品。
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按产品监控报告
该资料提供了一系列元器件产品的详细信息，包括产品型号、工艺流程、封装类型等。资料中列出了多种产品型号，如806-0393至DS1825，并详细说明了每个产品对应的工艺流程（如Dual Poly NPN Bipolar、SiGe HBT BiPolar等）和封装类型（如LQFP、SBGA、SOIC等）。此外，资料还涉及了不同硅栅工艺（如0.6µm、1.2µm、3.0µm等）的应用。
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