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China RoHS PBSS4350Z_ZL
发布时间: 2019-04-02
类型: 测试报告,认证报告、性能测试报告
品牌:
Nexperia(安世半导体)
型号:
PBSS4350Z_ZL
本资料为恩智浦关于产品PBSS4350Z_ZL的RoHS指令符合性声明,详细阐述了该产品在环保合规方面的具体指标。声明内容严格依据SJ/T11363-2006标准,对产品中各部件所含的铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯及多溴二苯醚等有害物质进行了全面披露。经检测,所有相关有害物质含量均低于标准规定的限量要求,确保了产品的绿色环保属性。此外,恩智浦还明确承诺该产品具有50年的环保使用期限,并对资料中信息的准确性承担全部责任,充分体现了对环境法规的严格遵守及对产品质量的信心。恩智浦在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该合规声明,用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件,相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请、批量询价及库存充足,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。同时,平台提供专职FAE团队支持,协助用户进行选型、设计验证及调试,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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资料平台
数据手册 - 英文
PBSS4350Z 50V低压VCEsat NPN晶体管
26 June 2018
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数据手册 - 英文
PBSS4350Z 50V低压VCEsat NPN晶体管
2003 May 13
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350ZèZL
2018/04/29
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350ZèZL
2018/03/10
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技术文档 - 英文
完整材料声明为PBSS4350D
2025/07/01
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数据手册 - 英文
PBSS4350Z材料清单
2025/07/01
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测试报告 - 中文
中国RoHS PBSS4350ZïZL
2018/03/10
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数据手册 - 英文
PBSS4350Z-Q材料清单
2025/07/01
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350Z
2019/01/05
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350Z
2018/10/25
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350Z
2018/04/29
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测试报告 - 中文
中国RoHS PBSS4350Z
2018/03/10
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数据手册 - 英文
PBSS5350Z 50 V,3 A PNP低VCEsat(BISS)晶体管数据表
v.5
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测试报告 - 英文
PBSS4350Z型产品的可靠性结果
2017/12/30
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数据手册 - 英文
PBSS4350T材料清单声明
2025/07/01
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数据手册 - 英文
pbss4350x50v,3anpn低VCEsat(BISS)晶体管
2004 Nov 04
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数据手册 - 英文
完整材料声明,适用于PBSS4350D-Q
2025/07/01
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数据手册 - 英文
PBSS4350SS 50 V,2.7 A NPN/NPN低VCEsat(BISS)晶体管产品数据表
Rev. 01
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350Z
2018/10/25
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350Z
2018/04/29
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350Z
2018/03/10
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数据手册 - 英文
PBSS4350PAS材料清单声明
2025/07/01
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数据手册 - 英文
50v,2.7a NPN/NPN低VCEsat(BISS)晶体管
Rev. 01
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测试报告 - 英文
PBSS4350Z产品质量信息
2019/07/11
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数据手册 - 英文
PBSS4350T 50 V;3 A NPN低VCEsat晶体管
v.3
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数据手册 - 英文
PBSS4350X材料清单
2025/07/01
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350X
2019/01/05
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350X
2018/04/23
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测试报告 - 中文
中国RoHS PBSS4350X
2018/03/05
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数据手册 - 英文
PBSS4350x 50 V、3 A NPN低VCEsat晶体管
v.3
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测试报告 - 英文
PBSS4350X型产品的可靠性结果
2017/12/20
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数据手册 - 英文
PBSS4350D 50 V低压VCEsat NPN晶体管
2001 Jul 13
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350T
2020/03/17
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350T
Version 10
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350T
2018/04/23
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测试报告 - 英文
化学成分PBSS4350T
2018/03/05
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数据手册 - 英文
PBSS4350T 50 V;3 A NPN低VCEsat(BISS)晶体管
2004 Jan 09
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350D
2019/01/05
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350D
2018/04/23
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测试报告 - 中文
中国RoHS PBSS4350D
2018/03/05
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数据手册 - 英文
50v,2.7a NPN/PNP低VCEsat(BISS)晶体管
Rev. 01
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测试报告 - 英文
PBSS4350SPN产品可靠性
2019/07/11
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数据手册 - 英文
PBSS4350SPN 50 V,2.7 A NPN/PNP低VCEsat(BISS)晶体管产品数据表
Rev. 01
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数据手册 - 英文
50V,3A NPN低VCEsat晶体管
v.2
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数据手册 - 英文
50V,3A NPN低VCEsat晶体管
v.2
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350T
2019/01/05
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测试报告 - 英文
中国RoHS PBSS4350T
2018/04/23
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测试报告 - 中文
中国RoHS PBSS4350T
2018/03/05
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数据手册 - 英文
PBSS4350T-Q 50 V;3 A NPN低VCEsat晶体管
v.1
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应用/方案
BISS晶体管和超大肖特基整流器.分立半导体的改进技术
本资料主要介绍了Nexperia公司(原NXP Standard Product业务)的产品和技术发展,重点关注BISS晶体管和MEGA肖特基整流器等离散半导体器件。资料详细阐述了这些器件的技术优势,包括降低损耗、提高热传导性、降低饱和电压、提高电流增益等,以及它们在汽车、工业、计算、消费和可穿戴应用市场中的应用。此外,资料还提供了关于BISS晶体管和MEGA肖特基整流器的具体应用案例,如低边开关、反向极性保护二极管和OR’ing等。
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