T1/E1 and T3/E3 Transformer Selection Guide APPLICATION NOTE 351
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS2148; DS2151; DS2153; DS2156; DS33R11; DS3150; DS3170; DS21348; DS2152; DS2154; DS2155; DS33R41; DS3151; DS3171; DS21Q48; DS21352; DS21354; DS21Q55; DS3152; DS3172; DS21Q348; DS21552; DS21554; DS21455; DS3153; DS3173; DS21448; DS21Q552; DS21Q554; DS21458; DS3154; DS3174; DS2149; DS21Q352; DS21Q354; DS26502; DS3251; DS3181; DS21349; DS2196; DS21Q59; DS26503; DS3252; DS3182; DS26303; DS21Q58; DS26504; DS3253; DS3183; DS26324; DS21Q50; DS26518; DS3254; DS3184; DS26334; DS26519; DS32504; DS26521; DS32506; DS26522; DS32508; DS26524; DS32512; DS26528; DS2121Q552
本应用笔记详细阐述了适用于Maxim单芯片收发器(SCTs)和线路接口单元(LIUs)的变压器选择指南。资料基于变比、初级电感、漏感、层间电容及直流电阻等关键技术规格，针对5V和3.3V操作电压环境提供了具体的选型推荐，并列举了多家供应商的变压器型号与Maxim设备的匹配方案。指南强调实际性能表现取决于PCB设计的完整性及其他终端电路，建议用户在实际应用中进行验证。Maxim在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
07/29/2004
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/05
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1单片收发器TDM/UTOPIA II接口勘误表
REV: 042903
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
0.35μM特许工艺可靠性监控报告
11/03/2005
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS26556产品可靠性报告，版本A2 Maxim集成产品
Rev B
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2154勘误表
Rev: 052206
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS2154 Enhanced E1 Single-Chip Transceiver
REV: 011706
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体公司DS2148 C1版产品可靠性报告
9/27/2006
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 112102
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 091202
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS2152增强型T1单芯片收发器
011706
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS2148/DS21Q48 5V E1/T1/J1 Line Interface Unit
REV: 011206
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS21348可靠性报告，C1版本 Dallas Semiconductor
08/13/2003
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
DS3170DK DS3/E3 单芯片收发器开发板
REV: 091205
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性报告
01/31/2003
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3150 3.3V T3/E3/STS-1线路接口单元勘误表
REV: 012907
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3150 3.3V T3/E3/STS-1线路接口单元勘误表
090302
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3150 3.3V T3/E3/STS-1线路接口单元勘误表
110101
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS21348/DS21Q348 3.3V E1/T1/J1 Line Interface
REV: 011206
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
DS26522 Maxim集成产品的产品可靠性报告
Rev B
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
DS3150勘误表
Rev: 102507
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
DS2151、DS2152、DS2153、DS2154 T1/E1线路监视器应用说明323
本资料介绍了Maxim公司生产的DS2151、DS2152、DS2153和DS2154单芯片收发器（SCT）在非侵入式线路监控应用中的使用。这些芯片通过隔离电阻和变压器提升信号水平，适用于T1和E1线路监控。资料中提供了典型监控端口配置、电路终止电阻值以及相关产品信息。
阅读原文 >>
DS2152、DS2154、DS2151、DS2153、DS21X5Y和DS2155三通道拖放和插入
本应用笔记介绍了Maxim公司DS2152、DS2154、DS2151、DS2153、DS21X5Y和DS2155系列三通道降插卡器的设计和应用。内容涵盖降插卡器的工作原理、时钟调整、通道配置以及如何通过解码信号增加额外通道等。此外，还提到了相关型号的详细信息。
阅读原文 >>
电源故障保护布置图
本文探讨了如何针对第二级GR-1089/UL 60950标准中的两种情况修改PCB布局：熔丝快速熔断或熔丝完全不熔断。介绍了在设备网络接口发生电源故障后，如何通过修改电路布局来避免技术人员更换熔丝。文章详细讨论了PCB布局的注意事项，包括熔丝选择、热平面设计以及接地平面布局等，以实现电源故障保护。
阅读原文 >>
Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
阅读原文 >>
Engineering Journal 第四期:1-Wire技术及其应用概述/电信样板的测量与符合
本资料主要介绍了1-Wire技术及其应用，包括1-Wire网络的基本组成、数据传输方式、设备类型和接口电路等。资料中详细描述了1-Wire设备如DS2409、DS2406、DS2423等的功能和特性，以及如何通过1-Wire网络进行数据通信和设备控制。此外，还涉及了1-Wire技术在温度传感器、湿度传感器等领域的应用实例。
阅读原文 >>
在BITS/SSU应用中使用RCLK注370
本文讨论了如何在BITS/SSU应用中使用从T1或E1中恢复的时钟。BITS是网络同步中广泛使用的时钟类型，用于网络内所有需要同步的部署设备。本文介绍了同步标准，包括ITU-T、ANSI、ETSI和Telcordia的要求，以及时钟的分层结构和不同等级的准确性。文章还详细说明了BITS/SSU的工作原理，包括时钟的锁定、自由运行和保持状态。此外，本文以DS2155为例，说明了如何使用该芯片恢复时钟并传输BITS到其他设备，并介绍了如何使用DS2155的HDLC控制器传输和接收同步状态消息（SSM）。最后，文章总结了BITS和SSU方法在网络同步中的应用，并强调了使用Dallas Semiconductor的设备在时钟分配应用中的优势。
阅读原文 >>
DS2151、DS2152、DS2153、DS2154达拉斯单片机收发器晶体选型指南
本应用笔记325为Dallas单芯片收发器DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21552、DS21554、DS21352、DS21354和DS2155提供晶体选择指南。内容包括晶体规格、推荐制造商、振荡器制造商以及相关参数。DS2152、DS2154、DS21x5y和DS2155大多数应用无需晶体，而DS2151和DS2153则需要满足特定拉偏要求的晶体。
阅读原文 >>
DS2151、DS2153设备标识应用说明341
本应用笔记详细介绍了如何通过软件正确识别Maxim公司DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS2155和DS21x5y系列单芯片收发器（SCT）。内容包括了识别不同型号设备的步骤、设备识别寄存器（IDR）的解读方法以及如何通过IDR确定设备类型、版本号等信息。此外，还提供了相关设备的识别位图，以帮助用户快速识别特定型号的设备。
阅读原文 >>
步升型电源在为负载供电的同时也为电池充电解决方案
本文档展示了一种基于IC1和IC2的电子设计示例，涉及充电控制、电压检测和放电速率监测等功能。设计包括充电/断电控制、快速/涓流充电模式选择、电压和放电速率的模拟/数字转换等。电路图包含多个电阻、电容、二极管和晶体管等元件，以及MAX472和MAX1771等集成电路。
阅读原文 >>
T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
阅读原文 >>
DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
阅读原文 >>
