Interleaved Bus Operation APPLICATION NOTE 3760
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS21FF44; DS31256; DS3112; DS3150; DS21FF42; DS21FT42; DS21Q44; DS21354; DS21554; DS21Q42; DS21352; DS21552; DS21602; DS21FT44; DS21Q352; DS21Q354; DS21Q552; DS21Q554
该应用笔记详细阐述了DS21FF44帧器与DS31256 HDLC控制器在PCI总线上的交错总线操作（IBO）配置方法。文档深入解析了实现IBO所需的关键技术环节，涵盖了硬件连接的具体细节、时钟同步机制以及软件设置步骤。同时，针对T1帧器的硬件连接差异及相应的软件配置要点，文中也进行了明确说明，旨在帮助用户解决多器件协同工作中的接口匹配与数据传输问题，确保系统在复杂总线环境下的稳定运行。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。针对文中所述器件，平台提供专职FAE团队支持，协助用户进行选型指导、设计验证及调试，有效缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS3112 TEMPE T3/E3 Multiplexer 3.3V T3/E3 Framer and M13/E13/G.747 Mux
REV : 092706
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
07/29/2004
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/05
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT44/DS21FF44 4 x 3 12-Channel E1 Frame 4 x 4 16-Channel E1 Frame
2019/02/07
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| 数据手册 - 英文 |
DS31256 256通道高吞吐量HDLC控制器
REV: 012506
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μM特许工艺可靠性监控报告
11/03/2005
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554 5V E1单片收发器勘误表
REV: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT42/DS21FF42 4 x 3 12-Channel T1 Framer 4 x 4 16-Channel T1 Framer
080702
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| 测试报告 - 英文 |
PBGA封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
PBGA封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q42和DS21Q44达拉斯半导体可靠性报告
12/04/2002
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 051304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 063006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 060204
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q44 Enhanced Quad E1 Framer
2019/12/03
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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| 测试报告 - 英文 |
DS21FF44 300针MCMBGA达拉斯半导体可靠性报告
12/04/2002
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
DS31256—T3/E3 MUX/DS3112硬件连接应用说明3344
本应用笔记详细介绍了如何配置与Dallas Semiconductor设备（如HDLC控制器、帧器、MUX和线路接口单元）相关的硬件连接。内容涵盖DS3112 E13 MUX与E1帧器（DS21FF44）和T1帧器（DS21FF42）的连接示例，以及如何将28个T1线路复用到单个DS3线路。此外，还包括DS21FF44与DS31256之间的连接，展示了在DS21FF44上使用交错总线操作（IBO）的方法。
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DS31256应用示例应用说明3345
本应用笔记提供了DS31256 HDLC控制器的应用实例。DS31256具备256个独立的单向HDLC通道，支持高达64个T1或E1数据流。它拥有16个通道化或非通道化端口，每个通道化端口可处理一个、两个或四个T1或E1线路。此外，DS31256还设有三个快速端口，可在发送和接收方向上处理高达52Mbps的数据，适用于HSSI或清晰通道T3应用。所有端口在非通道化模式下操作时，均可从0到10Mbps运行。应用实例包括16个T1/E1链路与DS31256的接口，以及T3线路的接口示例。
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成帧器和收发器的HDLC配置应用说明394
本文档为Maxim公司发布的应用笔记394，主要介绍了如何配置Maxim的帧器、收发器或单芯片收发器（SCTs）以路由HDLC数据。文档详细列出了不同帧器和收发器的寄存器描述，以及不同操作模式下的配置方法，帮助用户选择合适的配置。文档涵盖了DS21352、DS21552、DS21Q42、DS21354、DS21554、DS2155和DS2156等产品的HDLC配置。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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Engineering Journal 第四期:1-Wire技术及其应用概述/电信样板的测量与符合
本资料主要介绍了1-Wire技术及其应用，包括1-Wire网络的基本组成、数据传输方式、设备类型和接口电路等。资料中详细描述了1-Wire设备如DS2409、DS2406、DS2423等的功能和特性，以及如何通过1-Wire网络进行数据通信和设备控制。此外，还涉及了1-Wire技术在温度传感器、湿度传感器等领域的应用实例。
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T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
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DS2153编程，ETS 300-011远程报警生成
本应用笔记为构建软件以控制Dallas Semiconductor E1帧器和单芯片收发器（SCT）中的远程告警生成提供指南。基于欧洲电信标准协会（ETSI）标准ETS 300-011。该标准旨在为包含综合业务数字网络（ISDN）主速率用户-网络接口的系统描述层1操作和测试原则，包括远程告警生成。本笔记包含ETS 300-011的背景信息以及完整的软件流程图，说明如何根据规范正确生成远程告警。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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达拉斯半导体成帧器和SCTs应用注释393的E1操作
本应用笔记详细介绍了Maxim的帧器和单芯片收发器（SCT）在E1操作中的同步和重新同步过程。内容包括同步和重新同步的机制、如何设置帧器和SCT以同步到数据流、确定导致同步丢失的帧或多帧级别、解码接收帧错误引脚以及E1帧和多帧结构的教程。
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Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。
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用Maxim镜头驱动为视障人士聚焦世界
Evergaze公司开发的seeBOOST可穿戴设备，通过集成电子视觉增强系统，帮助视力受损者改善视力。该设备采用自动对焦、对比度和亮度增强、可选颜色模式和可调节放大等功能。Evergaze与Maxim Integrated合作，使用其MAX44009镜头驱动器等组件，满足了小尺寸、低功耗和高可靠性的要求。seeBOOST眼镜为用户提供了即时的视觉改善，帮助他们完成日常任务，如阅读邮件、支付账单或玩桥牌游戏。
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电源•接口•模拟•通信•传感器嵌入式安全•iButton•微控制器
Maxim Integrated提供广泛的元器件产品，涵盖电源、接口、模拟、通信、传感器、嵌入式安全和微控制器等领域。产品包括电池管理、充电器、开关、模拟开关、宽带开关、DC-DC转换器、控制器、音频设备、电源管理IC、数字I/O、电源模块、时钟发生器、MOSFET驱动器、高速信号、充电泵、数据转换器、IO-Link、显示电源和控制、隔离IC、滤波器、保护和控制、实时时钟、电平转换器、隔离电源、传感器接口、视频产品、LED驱动器、信号线保护、电压参考、低 dropout线性稳压器、信号完整性、以太网供电、收发器、电机驱动器、监控器和序列器、USB产品。此外，还提供iButton、内存、传感器和微控制器等解决方案。
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DS21Q4x、DS215x和DS21x5y测试寄存器
本应用笔记详细介绍了Maxim公司DS21Q4x、DS215x和DS21x5y系列设备中的测试寄存器使用方法。这些寄存器用于实现特殊功能，如错误计数、衰减级别修改等。笔记中针对不同型号的设备提供了具体的寄存器设置方法和操作步骤，包括TEST1、TEST2、TEST3等寄存器的详细说明和操作指南。
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