DS21354/DS21554 vs. DS2154 Single Chip Transceivers APPLICATION NOTE 361
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS21354; DS21554; DS2154; DS21Q354; DS21Q554
本应用笔记详细阐述了Maxim DS21354/DS21554与DS2154单芯片收发器（SCT）之间的技术差异与升级特性。资料指出，DS21354/DS21554在保持与DS2154引脚排列和寄存器集一致的基础上，新增了HDLC控制器、交错总线操作（IBO）及JTAG测试等关键功能。文中深入解析了这些新增功能的寄存器使用方法、引脚排列的具体变化，并详细说明了与DS2154的兼容性设计，旨在帮助工程师理解器件升级带来的性能提升及迁移路径。Maxim在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体公司DS21Q554 C1版可靠性报告
09/22/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554 5V E1单片收发器勘误表
REV: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55 Quad T1/E1/J1 Transceiver
REV: 042204
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 数据手册 - 英文 |
DS2154 Enhanced E1 Single-Chip Transceiver
REV: 011706
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q354可靠性报告，C1版本 Dallas Semiconductor
09/22/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2154勘误表
Rev: 052206
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55DK四通道T1/E1/J1收发器设计套件子卡数据表
110106
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 051304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 063006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 060204
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q44 Enhanced Quad E1 Framer
2019/12/03
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q55、B2版本、ASAT（无底部填充）Dallas Semiconductor的可靠性报告
01/23/2004
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| 数据手册 - 英文 |
MAX4670 ntegrated T1/E1/J1 Short-Haul and Long-Haul Protection Switch
Rev 0
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155DK/DS2156DK T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver Design Kit Daughter Cards
REV: 110106
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21Q55 T1/E1/J1四路收发器勘误表
REV: 112003
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
DS2153编程，ETS 300-011远程报警生成
本应用笔记为构建软件以控制Dallas Semiconductor E1帧器和单芯片收发器（SCT）中的远程告警生成提供指南。基于欧洲电信标准协会（ETSI）标准ETS 300-011。该标准旨在为包含综合业务数字网络（ISDN）主速率用户-网络接口的系统描述层1操作和测试原则，包括远程告警生成。本笔记包含ETS 300-011的背景信息以及完整的软件流程图，说明如何根据规范正确生成远程告警。
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NRZ应用注释391
本应用笔记介绍了如何将帧器从线路接口单元（LIU）解耦，以便用户可以将LIU/帧器连接到双极性或NRZ模式的设备。内容涵盖了如何设置注册表以生成/检测双极性或NRZ数据格式，以及如何将帧器/格式化器连接到双极性或NRZ数据模式的设备。此外，还包括了相关芯片型号和引脚功能的说明。
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DS2156 Maxim T1/E1/J1收发器的T1/E1环回操作应用说明
本应用笔记概述了Maxim T1/E1/J1收发器的环路功能。环路模式用于设备的诊断测试。在环路模式下，设备将信号从设备的一端循环到发送设备的另一端，信号经过网络或特定链路后。两端信号的差异有助于追踪故障。Maxim T1/E1/J1收发器支持六种环路模式：远程环路（RLB）、本地环路（LLB）、帧环路（FLB）、诊断环路（DLB）、有效载荷环路（PLB）和通道环路（PCLB）。每种环路模式都有其特定的应用和配置方法，用于测试和调试不同层面的数据传输问题。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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Engineering Journal 第四期:1-Wire技术及其应用概述/电信样板的测量与符合
本资料主要介绍了1-Wire技术及其应用，包括1-Wire网络的基本组成、数据传输方式、设备类型和接口电路等。资料中详细描述了1-Wire设备如DS2409、DS2406、DS2423等的功能和特性，以及如何通过1-Wire网络进行数据通信和设备控制。此外，还涉及了1-Wire技术在温度传感器、湿度传感器等领域的应用实例。
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达拉斯半导体成帧器和SCTs应用注释393的E1操作
本应用笔记详细介绍了Maxim的帧器和单芯片收发器（SCT）在E1操作中的同步和重新同步过程。内容包括同步和重新同步的机制、如何设置帧器和SCT以同步到数据流、确定导致同步丢失的帧或多帧级别、解码接收帧错误引脚以及E1帧和多帧结构的教程。
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弹性门店运营申请单3208
本应用笔记详细介绍了Maxim T1、E1和J1设备中的弹性存储器操作。弹性存储器作为设备线路侧和系统侧之间的双端口缓冲器，允许两侧在不同的时钟域或频率下运行。笔记通过多个示例解释了弹性存储器的操作原理，包括不同工作模式下的缓冲位使用、读写指针操作、帧滑移机制等，旨在帮助理解弹性存储器在不同条件下的工作行为。
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选择T1/E1/J1单片收发器
本文探讨了如何选择T1/E1/J1单芯片收发器（SCT）。文章介绍了T和E载波网络的发展，T1和E1的传输速率和用途，以及SCT的关键特性，如线路接口单元（LIU）、帧同步、软件可编程线路终端、抖动衰减器、高级数据链路控制（HDLC）、误码率测试（BERT）和保护切换。此外，还讨论了多端口密度和低电压供电等特性。
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电源故障保护布置图
本文探讨了如何针对第二级GR-1089/UL 60950标准中的两种情况修改PCB布局：熔丝快速熔断或熔丝完全不熔断。介绍了在设备网络接口发生电源故障后，如何通过修改电路布局来避免技术人员更换熔丝。文章详细讨论了PCB布局的注意事项，包括熔丝选择、热平面设计以及接地平面布局等，以实现电源故障保护。
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Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。
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成帧器和收发器的HDLC配置应用说明394
本文档为Maxim公司发布的应用笔记394，主要介绍了如何配置Maxim的帧器、收发器或单芯片收发器（SCTs）以路由HDLC数据。文档详细列出了不同帧器和收发器的寄存器描述，以及不同操作模式下的配置方法，帮助用户选择合适的配置。文档涵盖了DS21352、DS21552、DS21Q42、DS21354、DS21554、DS2155和DS2156等产品的HDLC配置。
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DS2155与DS21x5y：软件和硬件考虑因素
本应用笔记详细介绍了将现有DS21x5y设计升级至使用DS2155设备时的软硬件考虑因素。DS2155是一款软件可选的T1、J1或E1单芯片收发器（SCT），具有更丰富的功能集。设计师在迁移到DS2155时需要在软件和硬件上进行调整。笔记包含软件迁移的详细信息，如寄存器位置变化、功能变更以及DS2155的新功能。此外，还涵盖了硬件接口迁移，包括与其他设备的接口、线路接口的变更以及DS2155的新功能。设计师可据此信息轻松地将使用DS21x5y的现有设计迁移到DS2155设备。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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