DS21352/552, DS2151, DS2152, DS2141A,DS21Q42 Programming SLC-96 APPLICATION NOTE 345
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS21352; DS21552; DS2151; DS2152; DS2141A; DS21Q42; DS21Q41B; DS21FF42; DS21FT42; DS21Q352; DS21Q552; DS2155; DS21Q55
本应用笔记详细阐述了利用Dallas Semiconductor的T1帧器和单芯片收发器（SCT）实现SLC-96模式的具体方法。SLC-96模式作为AT&T设计的数字环路载波系统，旨在通过3至5条独立的T1线路为96个用户提供服务。该资料深入解析了SLC-96电路的工作原理，并说明了如何通过数据链路传输额外的C、M、A和S位信息。此外，笔记还提供了用于软件设计的流程图，包含在SLC-96数据链路上发送和接收数据的逐步指令，为相关系统的开发提供了详实的技术参考。Dallas Semiconductor在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS21FT42/DS21FF42 4 x 3 12-Channel T1 Framer 4 x 4 16-Channel T1 Framer
080702
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q352可靠性报告，版本B2 Dallas Semiconductor
09/22/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 092905
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 022304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 110805
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 051304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 063006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 060204
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q42增强型四通道T1成帧器数据表
2020/04/20
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT44/DS21FF44 4 x 3 12-Channel E1 Frame 4 x 4 16-Channel E1 Frame
2019/02/07
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 数据手册 - 英文 |
DS2141A T1控制器数据表
112099
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| 测试报告 - 英文 |
DS21552可靠性报告，B1版，Dallas Semiconductor
03/06/2003
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554 5V E1单片收发器勘误表
REV: 031604
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q41B四通道T1成帧器数据表
092299
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q552可靠性报告，B1版本 Dallas Semiconductor
09/22/2004
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| 数据手册 - 英文 |
DS31256 256通道高吞吐量HDLC控制器
REV: 012506
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DS21455/DS21458勘误表
Rev: 042204
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应用/方案
D4成帧和信令应用注释310
本应用笔记详细介绍了Maxim T1设备中D4帧格式和信令的配置与操作。内容包括D4帧格式的基本设置、传输和接收信令寄存器的编程、接收中断处理等。针对Maxim的T1帧器和单芯片收发器（SCTs）系列，提供了实现D4模式的必要信息。
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编程和控制DS2141A、DS2151上的FDL应用说明461
本文档详细介绍了如何使用Maxim公司DS2141A和DS2151芯片上的设施数据链路（FDL）控制器。FDL用于T1通信中传递数据和信息，而不会干扰T1线路的正常运行。文档深入解释了FDL电路的工作原理和用于通过FDL传输信息的不同协议。此外，提供了软件设计流程图，包括在FDL上发送和接收数据的步骤说明。
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J1日本标准
本应用笔记详细介绍了如何使用Dallas Semiconductor的设备来实现符合J1日本标准的系统。内容涵盖J1标准与T1标准的对应关系、J1标准的具体要求，以及如何通过Dallas Semiconductor的多种设备（如DS2148、DS21Q42、DS2152等）实现J1功能，包括输出脉冲设置、CRC-6计算与检查、以及“日本黄色警报”模式等。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
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实时T1系统中的帧模式切换
本应用笔记探讨了在T1系统运行过程中切换帧模式的风险。在T1系统中，切换D4和ESF帧格式可能导致同步问题。特别是在接收器处于ESF模式而发送器从ESF切换到D4模式时，存在1/6的概率接收器不会宣布失去同步。笔记详细比较了D4和ESF帧格式的相似性，并解释了在正常操作中如何处理位错误和同步错误。
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DS2151实现ANSI T1.231-1993应用注释337
本文档为Maxim公司发布的应用笔记，主要介绍了DS2151单芯片收发器在ANSI T1.231-1993标准下的实现。该标准涉及数字层次结构中第一层在服务数字传输性能监控的关键性能指标。文档详细列出了DS2151、DS2152、DS21352、DS21552和DS2155单芯片收发器中所有重要参数及其在芯片中的位置，并说明了这些参数如何用于收集和监控传输性能数据。
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连接到分数T1和E1应用注释309
本应用笔记介绍了使用Dallas Semiconductor/Maxim Communications Products的T1/E1单芯片收发器（SCT）和T1/E1帧同步器设计分数T1/E1电路的示例。内容涵盖分数T1/E1接口的配置、电路设计以及相关产品信息。
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T1、E1帧和收发器上的透明操作应用说明336
本应用笔记介绍了Maxim的T1和E1帧同步器及收发器在透明操作模式下的工作原理。该模式允许设备在接收和发送方向上不插入帧同步、信令或其他信息，如CRC或FDL。笔记详细说明了不同型号产品的寄存器配置，并提供了硬件考虑因素。
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成帧器和收发器的HDLC配置应用说明394
本文档为Maxim公司发布的应用笔记394，主要介绍了如何配置Maxim的帧器、收发器或单芯片收发器（SCTs）以路由HDLC数据。文档详细列出了不同帧器和收发器的寄存器描述，以及不同操作模式下的配置方法，帮助用户选择合适的配置。文档涵盖了DS21352、DS21552、DS21Q42、DS21354、DS21554、DS2155和DS2156等产品的HDLC配置。
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DS2151、DS2152、DS2153、DS2154达拉斯单片机收发器晶体选型指南
本应用笔记325为Dallas单芯片收发器DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21552、DS21554、DS21352、DS21354和DS2155提供晶体选择指南。内容包括晶体规格、推荐制造商、振荡器制造商以及相关参数。DS2152、DS2154、DS21x5y和DS2155大多数应用无需晶体，而DS2151和DS2153则需要满足特定拉偏要求的晶体。
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