DS21Q44 vs. DS21Q43A APPLICATION NOTE 356
发布时间：
2019-04-09
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS21Q44; DS21Q43A
本应用笔记详细阐述了Dallas Semiconductor四端口帧同步器DS21Q44与DS21Q43A之间的硬件与软件差异，旨在指导用户完成从DS21Q43A到DS21Q44的平滑迁移。资料指出，DS21Q44在保留DS21Q43A原有功能的基础上，提供了更为丰富的功能集，并深入解析了迁移过程中所需的软件和硬件更改信息，具体涵盖寄存器位置变化、功能变更细节、新增功能介绍以及硬件接口的迁移方案。该文档为工程师在系统升级或新设计选型时提供了详尽的技术参考，确保兼容性与性能优化的双重实现。Dallas Semiconductor在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q44 Enhanced Quad E1 Framer
2019/12/03
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q43可靠性数据可靠性报告
Tuesday, December 18, 2001
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 091202
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT40 4 x 3 12信道e1成帧器
2019/09/06
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q42和DS21Q44达拉斯半导体可靠性报告
12/04/2002
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q43A四路E1成帧器数据表
092299
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| 测试报告 - 英文 |
DS21FF44 300针MCMBGA达拉斯半导体可靠性报告
12/04/2002
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT44/DS21FF44 4 x 3 12-Channel E1 Frame 4 x 4 16-Channel E1 Frame
2019/02/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT42/DS21FF42 4 x 3 12-Channel T1 Framer 4 x 4 16-Channel T1 Framer
080702
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
07/29/2004
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/05
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 092905
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q59 E1四通道收发器
REV: 090104
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
0.35μM特许工艺可靠性监控报告
11/03/2005
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55 Quad T1/E1/J1 Transceiver
REV: 042204
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
10/25/04
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
1/20/05
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
3/12/2007
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
3/13/2007
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21455/DS21458勘误表
Rev: 042204
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
0.6μm工艺6“达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS21455/DS21458 Quad T1/E1/J1 Transceivers
REV: 051507
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世强AI
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应用/方案
达拉斯半导体成帧器和SCTs应用注释393的E1操作
本应用笔记详细介绍了Maxim的帧器和单芯片收发器（SCT）在E1操作中的同步和重新同步过程。内容包括同步和重新同步的机制、如何设置帧器和SCT以同步到数据流、确定导致同步丢失的帧或多帧级别、解码接收帧错误引脚以及E1帧和多帧结构的教程。
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传统T1/E1 8MHz背板操作
本应用笔记介绍了如何使用Dallas Semiconductor/Maxim的SCTs和framer将四个PCM流复用到单一的8MHz系统背板中。讨论了不包含内部交织总线操作（IBO）模式的framer的要求，并推荐了包含IBO功能的DS2155、DS26528、DS26524、DS26522、DS26521、DS26519和DS26518等芯片。详细说明了T1或E1 PCM信号如何与8MHz系统背板接口，以及如何通过弹性存储器在2.048MHz SYSCLK模式下实现字节交织的8.192MHz PCM流。此外，还讨论了主时钟源、主时钟故障以及背板信息等相关内容。
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DS2141、DS21Q41、DS21Q43 8-MHz系统时钟操作
本应用笔记介绍了如何设计一个8.192MHz的背板，该背板可同时连接以下四种帧器：DS21Q41四路T1帧器、DS21Q43 E1帧器、DS2141 T1控制器、DS2151 T1单片收发器（SCT）和DS2153 E1 SCT。DS2141、DS21Q41、DS21Q43、DS2151和DS2153的PCM信号可以连接到8MHz系统背板。通常，此应用用于将四个2.048MHz PCM流复用到单个8MHz PCM流上。为此，启用弹性存储器并将其置于2.048MHz SYSCLK模式。图1描述了一个生成单个RSYNC以供所有四个帧器使用的时序方案。每个帧器依次由8.192MHz时钟脉冲驱动，每个脉冲使弹性存储器输出1个DS0，从而产生字节交错8.192MHz PCM流。
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T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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DS21Q41、DS21Q43与MC68MH360 QUICC32接口应用说明
本应用笔记提供了将Motorola MC68360处理器与DS2141Q或DS2143Q Dallas Semiconductor T1或E1帧器连接所需的信息。内容涵盖地址和数据处理器总线以及通信串行总线的接口。笔记详细介绍了MC68360处理器与DS21Q41或DS21Q43之间的连接，包括如何配置MC68360的通信处理器模块以支持TDM通道，以及如何设置HDLC协议。此外，还提供了电路图和配置细节，以帮助设计师完成基本原理图设计。
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T1、E1帧和收发器上的透明操作应用说明336
本应用笔记介绍了Maxim的T1和E1帧同步器及收发器在透明操作模式下的工作原理。该模式允许设备在接收和发送方向上不插入帧同步、信令或其他信息，如CRC或FDL。笔记详细说明了不同型号产品的寄存器配置，并提供了硬件考虑因素。
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DS2153编程，ETS 300-011远程报警生成
本应用笔记为构建软件以控制Dallas Semiconductor E1帧器和单芯片收发器（SCT）中的远程告警生成提供指南。基于欧洲电信标准协会（ETSI）标准ETS 300-011。该标准旨在为包含综合业务数字网络（ISDN）主速率用户-网络接口的系统描述层1操作和测试原则，包括远程告警生成。本笔记包含ETS 300-011的背景信息以及完整的软件流程图，说明如何根据规范正确生成远程告警。
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DS21Q4x、DS215x和DS21x5y测试寄存器
本应用笔记详细介绍了Maxim公司DS21Q4x、DS215x和DS21x5y系列设备中的测试寄存器使用方法。这些寄存器用于实现特殊功能，如错误计数、衰减级别修改等。笔记中针对不同型号的设备提供了具体的寄存器设置方法和操作步骤，包括TEST1、TEST2、TEST3等寄存器的详细说明和操作指南。
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在BITS/SSU应用中使用RCLK注370
本文讨论了如何在BITS/SSU应用中使用从T1或E1中恢复的时钟。BITS是网络同步中广泛使用的时钟类型，用于网络内所有需要同步的部署设备。本文介绍了同步标准，包括ITU-T、ANSI、ETSI和Telcordia的要求，以及时钟的分层结构和不同等级的准确性。文章还详细说明了BITS/SSU的工作原理，包括时钟的锁定、自由运行和保持状态。此外，本文以DS2155为例，说明了如何使用该芯片恢复时钟并传输BITS到其他设备，并介绍了如何使用DS2155的HDLC控制器传输和接收同步状态消息（SSM）。最后，文章总结了BITS和SSU方法在网络同步中的应用，并强调了使用Dallas Semiconductor的设备在时钟分配应用中的优势。
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连接到分数T1和E1应用注释309
本应用笔记介绍了使用Dallas Semiconductor/Maxim Communications Products的T1/E1单芯片收发器（SCT）和T1/E1帧同步器设计分数T1/E1电路的示例。内容涵盖分数T1/E1接口的配置、电路设计以及相关产品信息。
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