Pulse Template Measu_代理商_研发采购服务

Pulse Template Measurement

发布时间： 2019-04-11

类型：应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南

品牌：

Maxim（美信）

型号：

DS21Q55; DS3154; DS3153; DS3152; DS3151; DS2155; DSMAT110X8; DSMAT75X12

本技术资料详细阐述了T1、T3、E1和E3脉冲模板的规格标准，以及传输信号脉冲模板合规性的测试方法。文章概述了电信设备设计需遵循的应用依赖性规范，深入探讨了不同系统传输信号的质量规范及具体测量手段。针对多端口传输设备测试中可能遇到的挑战，资料重点介绍了Maxim Integrated提供的多端口收发器及支持硬件，旨在简化测试流程并提升效率。基于该方案，Maxim Integrated在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。此外，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。

资料下载

资料平台

数据手册 - 英文	DS3151/DS3152/DS3153/DS3154 Single/Dual/Triple/Quad DS3/E3/STS-1 LIUs REV: 030607	下载
测试报告 - 英文	0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告 07/29/2004	下载
测试报告 - 英文	0.35μm特许工艺达拉斯半导体可靠性监测报告 1/20/05	下载
产品勘误说明 - 英文	DS3151/DS3152/DS3153/DS3154单/双/三/四DS3/E3/STS-1 LIUs勘误表 REV: 030807	下载
产品勘误说明 - 英文	DS3151/DS3152/DS3153/DS3154单/双/三/四DS3/E3/STS-1 LIUs勘误表 REV: 040403	下载
产品勘误说明 - 英文	DS3151/DS3152/DS3153/DS3154单/双/三/四DS3/E3/STS-1 LIUs勘误表 REV: 030807	下载
数据手册 - 英文	DS21Q55 Quad T1/E1/J1 Transceiver REV: 042204	下载
测试报告 - 英文	DS21Q55、B2版本、ASAT（无底部填充）Dallas Semiconductor的可靠性报告 01/23/2004	下载
数据手册 - 英文	DS31256 256通道高吞吐量HDLC控制器 REV: 012506	下载
数据手册 - 英文	DS21Q55DK四通道T1/E1/J1收发器设计套件子卡数据表 110106	下载
测试报告 - 英文	0.35μM特许工艺可靠性监控报告 11/03/2005	下载
产品勘误说明 - 英文	DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表 REV: 051304	下载
产品勘误说明 - 英文	DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表 REV: 063006	下载
产品勘误说明 - 英文	DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表 REV: 060204	下载
数据手册 - 英文	MAX4670 ntegrated T1/E1/J1 Short-Haul and Long-Haul Protection Switch Rev 0	下载
测试报告 - 英文	DS2155的产品可靠性报告，修订版C2 Maxim集成产品 10/2/2008	下载
数据手册 - 英文	DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器 REV: 080607	下载
测试报告 - 英文	DS3152产品可靠性报告，B1版本，Dallas Semiconductor 2/6/2007	下载
数据手册 - 英文	DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface REV: 011606	下载
测试报告 - 英文	DS26556产品可靠性报告，版本A2 Maxim集成产品 Rev B	下载
产品勘误说明 - 英文	DS21Q55 T1/E1/J1四路收发器勘误表 REV: 112003	下载
数据手册 - 英文	DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR December 29, 1998	下载
测试报告 - 英文	达拉斯半导体公司DS3153 B1版产品可靠性报告 2/6/2007	下载
产品勘误说明 - 英文	DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表 REV: 022304	下载
产品勘误说明 - 英文	DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表 REV: 110805	下载
数据手册 - 英文	DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers REV: 021004	下载
测试报告 - 英文	DS3151产品可靠性报告，B1版，Dallas Semiconductor 2/6/2007	下载
数据手册 - 英文	3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers Revision 8-16-99	下载
测试报告 - 英文	DS26522 Maxim集成产品的产品可靠性报告 Rev B	下载
产品勘误说明 - 英文	DS21554/DS21Q554勘误表 Rev: 080508	下载
产品勘误说明 - 英文	DS21554/DS21Q554勘误表 Rev: 080508	下载
数据手册 - 英文	DS21455/DS21458 Quad T1/E1/J1 Transceivers REV: 051507	下载
测试报告 - 英文	DS3154产品可靠性报告，版本B1 2/6/2007	下载
数据手册 - 英文	DS3146/DS3148/DS31412 6-/8-/12-Channel DS3/E3 Framers REV: 071103	下载
测试报告 - 英文	LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告 11/5/04	下载

世强AI

世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。

去使用世强AI >>

应用/方案

T3/E3/STS-1二次浪涌保护设计应用说明398

本应用笔记398为设计人员提供了使用Dallas Semiconductor T3、E3或STS-1线接口单元（LIU）构建网络接口电路的全面指南。该指南重点介绍了建筑物内连接所需的过压/过流保护。内容涵盖保护网络设计、金属保护电路示例、组件选择指南以及相关测试规范。

阅读原文 >>

T3/E3/STS-1网络的冗余保护

本文探讨了T3/E3/STS-1网络接口的冗余保护方案。针对网络设备高可靠性需求，文章介绍了1:1保护和1:4保护两种冗余方案，并详细解释了如何使用Maxim的DS315x系列线接口单元（LIU）实现这些方案。文章重点阐述了使用功率分配器/组合器网络来切换线路卡，确保网络接口的连续性，并提供了相关电路图和元件清单。

阅读原文 >>

将Agere Ultramapper设备系列连接到Maxim T3/E3 LIUs

本应用笔记介绍了如何将Maxim的T3/E3线路接口单元（LIU）与Agere的Ultramapper设备家族连接。内容涵盖了T3/E3清晰通道、TransMUX以及Map/DeMap应用，并详细说明了如何配置Maxim的DS3150或DS315x系列LIU与Agere的UltramapperLite和Ultraframer设备进行连接。此外，还包括了不同应用场景下的配置方法和接口连接细节。

阅读原文 >>

工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望

本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。

阅读原文 >>

Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样

这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。

阅读原文 >>

Engineering Journal 第四期:1-Wire技术及其应用概述/电信样板的测量与符合

本资料主要介绍了1-Wire技术及其应用，包括1-Wire网络的基本组成、数据传输方式、设备类型和接口电路等。资料中详细描述了1-Wire设备如DS2409、DS2406、DS2423等的功能和特性，以及如何通过1-Wire网络进行数据通信和设备控制。此外，还涉及了1-Wire技术在温度传感器、湿度传感器等领域的应用实例。

阅读原文 >>

用测试寄存器修改DS315x的脉冲波形

本应用笔记介绍了如何修改DS3151、DS3152、DS3153和DS3154（DS315x）的脉冲形状。通过更改内部测试寄存器的值，可以修改T3、E3和STS-1模式下的脉冲宽度、幅度以及T3和STS-1模式下的脉冲波形。笔记中详细说明了如何通过设置不同的寄存器地址来调整脉冲参数，并提供了相应的波形图进行说明。

阅读原文 >>

连接Agere Supermapper™ 达拉斯T3 LIUs设备系列申请说明3263

本应用笔记介绍了如何将Maxim的T3/E3线路接口单元（LIU）与Agere的Supermapper™设备系列连接。内容涵盖了T3 Clear-Channel、T3 TransMUX以及T3和T1/E1的Map/DeMap应用。详细说明了如何配置Dallas DS3150或DS315x系列T3 LIU与Agere SupermapperLite和Supermapper之间的连接，并提供了相应的配置图和寄存器设置信息。

阅读原文 >>

HFTA-09.0:T3/E3/STS-1光纤扩展应用说明

本文介绍了设计T3/E3/STS-1光纤到铜媒体转换器的需求。这种设备将铜信号转换为光信号，通过光纤链路传输。一对转换器可以将T3/E3/STS-1信号扩展到其铜规格之外，透明地延长信号传输距离。文章讨论了光纤连接的设计，包括单模或多模光纤、不同波长的使用，以及光接收器和发射器的设计。此外，还介绍了Maxim公司提供的相关组件和系统设计。

阅读原文 >>

在没有微控制器的情况下配置Maxim LIUs

本应用笔记介绍了如何在不添加微控制器的情况下配置Maxim的线路接口单元（LIU）。通过使用具有SPI接口的PROM，可以实现LIU的配置。笔记中详细说明了SPI总线的工作原理、Xilinx XC18V00设备与Maxim LIU的连接方式，以及如何通过编程来实现不同的操作模式。

阅读原文 >>

Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算

本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。

阅读原文 >>

DS3144成帧器与DS3154线路接口单元（LIU）的接口

本文档详细介绍了Maxim公司的DS3144帧器和DS3154线路接口单元（LIU）之间的接口设计。DS3144帧器具有四个独立的DS3/E3帧器，支持多种帧格式和告警检测。DS3154 LIU则负责物理层接口，包括接收和发送路径，以及内置的抖动衰减器。文档涵盖了接口引脚配置、数据接口类型、时钟信号处理、以及硬件和CPU总线配置选项。此外，还提供了DS3144和DS3154的寄存器映射表，以及接口实现的具体步骤。

阅读原文 >>

测量T3/E3/STS-1 LIU的回波损耗

本应用笔记详细介绍了如何测量和改善Maxim DS3150线路接口单元（LIU）的反射损耗（RL）。内容包括反射损耗的定义、要求、测量方法和改善措施。针对E3、ITU G.703和ETS 300-686标准，讨论了输入和输出端口的最小反射损耗要求。此外，还提供了测量反射损耗的测试设置和步骤，以及通过改变终止电阻值和更换变压器等方法来提高反射损耗的具体操作。

阅读原文 >>

修改DS3150、DS315x和DS325x应用说明404的E3模板符合性

本应用笔记介绍了如何修改DS3150、DS315x和DS325x线路接口单元（LIU）的脉冲形状（幅度、上升和下降时间）。通过修改与LIU一起使用的离散元件，可以改变脉冲的幅度和上升下降时间。笔记中详细描述了使用电容器和电阻分压器来改善脉冲幅度和形状的方法，并提供了不同电缆长度下的脉冲形状示例。

阅读原文 >>

用脉冲掩模模板测量电信系统

本文探讨了电信系统中T1/E1和T3/E3脉冲掩模的测量方法，以及如何将这些测量结果与规范进行比较。文章详细介绍了T1、E1、T3和E3脉冲掩模的规格，并讨论了在测试多端口传输设备时可能遇到的问题。Maxim公司提供了一系列多端口收发器和支持硬件，以简化脉冲掩模的测试过程。文章还涉及了国际电信联盟（ITU）和美国国家标准协会（ANSI）的相关规范。

阅读原文 >>

资料资料平台世强AI 应用/方案