J1 Japanese Standards
发布时间：
2019-04-11
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS2148; DS21Q48; DS21348; DS21Q348; DS2149; DS21Q42; DS21FF42; DS21FT42; DS2152; DS21352; DS21Q352; DS21552; DS21Q552; DS2155; DS21Q55
本应用笔记详细阐述了如何利用Dallas Semiconductor的设备构建符合J1日本标准的通信系统。资料深入解析了J1标准与T1标准的对应关系及具体规范要求，重点说明了通过DS2148、DS21Q42、DS2152等多款器件实现J1功能的技术路径，涵盖输出脉冲设置、CRC-6计算与检查以及“日本黄色警报”模式等关键配置。Dallas Semiconductor在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS21FT42/DS21FF42 4 x 3 12-Channel T1 Framer 4 x 4 16-Channel T1 Framer
080702
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯，无欠填充，144芯片级BGA插入器达拉斯半导体可靠性报告
05/06/2003
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
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| 数据手册 - 英文 |
DS21FT44/DS21FF44 4 x 3 12-Channel E1 Frame 4 x 4 16-Channel E1 Frame
2019/02/07
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性报告
01/31/2003
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| 数据手册 - 英文 |
DS21348/DS21Q348 3.3V E1/T1/J1 Line Interface
REV: 011206
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q55、B2版本、ASAT（无底部填充）Dallas Semiconductor的可靠性报告
01/23/2004
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| 数据手册 - 英文 |
DS2148/DS21Q48 5V E1/T1/J1 Line Interface Unit
REV: 011206
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2148/DS21Q48勘误表
Rev: 091202
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| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体公司DS2148 C1版产品可靠性报告
9/27/2006
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 031604
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21352/DS21Q352勘误表
Rev: 092905
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 测试报告 - 英文 |
DS21348可靠性报告，C1版本 Dallas Semiconductor
08/13/2003
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q348DK 3.3V E1/T1/J1线路接口设计套件子卡数据表
060303
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| 测试报告 - 英文 |
DS2149，版本B1达拉斯半导体产品可靠性报告
9/27/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21455/DS21458勘误表
Rev: 042204
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
DS21352可靠性报告，版本B2 Dallas Semiconductor
02/21/2003
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 092704
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21354/DS21Q354勘误表
Rev: 031604
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
带1+1冗余的无故障保护切换应用注388
本文介绍了如何使用Maxim的T1/E1/J1单芯片收发器（SCT）或线路接口单元（LIU）实现1+1冗余，以实现无中断保护切换。文章详细阐述了无中断保护的概念，以及如何通过硬件设计和软件寄存器设置来实现这一功能。此外，文章还讨论了使用继电器模块的缺点，并提供了具体的寄存器设置步骤和测试结果。
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DS2148、DS21348、DS21Q48、DS21Q348和DS21448应用说明402的附加脉冲幅度设置
本应用笔记介绍了如何通过未记录的设置来修改DS2148、DS21348、DS21Q48、DS21Q348和DS21448的输出脉冲幅度。文档提供了不同操作模式下的寄存器设置和相应的脉冲幅度变化，包括增强和衰减情况。此外，还介绍了如何通过设置测试寄存器2来获得额外的脉冲幅度设置。
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DS21352/552、DS2151、DS2152、DS2141A、DS21Q42编程SLC-96应用说明345
本应用笔记详细介绍了如何使用Dallas Semiconductor的T1帧器和单芯片收发器（SCT）中的SLC-96模式。SLC-96模式是AT&T为提供96个用户服务的数字环路载波系统而设计的，通过3到5条独立的T1线路进行服务。该笔记深入解释了SLC-96电路的工作原理，并说明了如何通过数据链路传输额外的C、M、A和S位信息。此外，还包括了用于软件设计的流程图，提供了在SLC-96数据链路上发送和接收数据的逐步指令。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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D4成帧和信令应用注释310
本应用笔记详细介绍了Maxim T1设备中D4帧格式和信令的配置与操作。内容包括D4帧格式的基本设置、传输和接收信令寄存器的编程、接收中断处理等。针对Maxim的T1帧器和单芯片收发器（SCTs）系列，提供了实现D4模式的必要信息。
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实时T1系统中的帧模式切换
本应用笔记探讨了在T1系统运行过程中切换帧模式的风险。在T1系统中，切换D4和ESF帧格式可能导致同步问题。特别是在接收器处于ESF模式而发送器从ESF切换到D4模式时，存在1/6的概率接收器不会宣布失去同步。笔记详细比较了D4和ESF帧格式的相似性，并解释了在正常操作中如何处理位错误和同步错误。
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在BITS/SSU应用中使用RCLK注370
本文讨论了如何在BITS/SSU应用中使用从T1或E1中恢复的时钟。BITS是网络同步中广泛使用的时钟类型，用于网络内所有需要同步的部署设备。本文介绍了同步标准，包括ITU-T、ANSI、ETSI和Telcordia的要求，以及时钟的分层结构和不同等级的准确性。文章还详细说明了BITS/SSU的工作原理，包括时钟的锁定、自由运行和保持状态。此外，本文以DS2155为例，说明了如何使用该芯片恢复时钟并传输BITS到其他设备，并介绍了如何使用DS2155的HDLC控制器传输和接收同步状态消息（SSM）。最后，文章总结了BITS和SSU方法在网络同步中的应用，并强调了使用Dallas Semiconductor的设备在时钟分配应用中的优势。
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编程和控制DS2141A、DS2151上的FDL应用说明461
本文档详细介绍了如何使用Maxim公司DS2141A和DS2151芯片上的设施数据链路（FDL）控制器。FDL用于T1通信中传递数据和信息，而不会干扰T1线路的正常运行。文档深入解释了FDL电路的工作原理和用于通过FDL传输信息的不同协议。此外，提供了软件设计流程图，包括在FDL上发送和接收数据的步骤说明。
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步升型电源在为负载供电的同时也为电池充电解决方案
本文档展示了一种基于IC1和IC2的电子设计示例，涉及充电控制、电压检测和放电速率监测等功能。设计包括充电/断电控制、快速/涓流充电模式选择、电压和放电速率的模拟/数字转换等。电路图包含多个电阻、电容、二极管和晶体管等元件，以及MAX472和MAX1771等集成电路。
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T1/E1成帧器初始化和编程应用说明342
本应用笔记详细介绍了Maxim T1/E1帧器的初始化和编程过程。内容包括了DS2155、DS21Q55和DS2156等型号的自动初始化，以及不同型号的特定初始化步骤，如DS2141、DS21Q41、DS21Q42、DS2143、DS21Q43、DS21Q44、DS2151、DS2152、DS2153、DS2154、DS21FF/FT42、DS21FF/FT44、DS21x52和DS21x54等。此外，还包括了特殊测试模式和功能的寄存器说明，以及如何处理无TCLK情况下的初始化。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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