T1/E1/J1 Dual Connector Interface
发布时间：
2019-04-11
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS2155; DS2156; DS21348
本技术资料详细介绍了T1/E1/J1双连接器接口的设计原理与应用方案。内容涵盖了不同传输系统下的电缆与连接器类型选型，重点阐述了如何利用单变压器解决方案来实现成本效益的最大化及空间节省。文章深入解析了接收与发送端接口的电路设计细节，包括变压器的选择策略、阻抗匹配方法以及线路构建的关键步骤，并提供了相应的软件配置建议，以确保设备在各类传输系统中能够正确、稳定地运行。针对文中所述的接口设计需求，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件与技术支持。相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并拥有充足库存，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。平台专职FAE团队可提供专业的选型指导、设计验证及调试服务，助力用户有效缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 测试报告 - 英文 |
DS21348可靠性报告，C1版本 Dallas Semiconductor
08/13/2003
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1单片收发器TDM/UTOPIA II接口勘误表
REV: 042903
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
DS2156，A2（8“）Maxim集成产品的产品可靠性报告
11/7/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112801
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 112102
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21348/DS21Q348勘误表
Rev: 092402
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| 数据手册 - 英文 |
DS21348/DS21Q348 3.3V E1/T1/J1 Line Interface
REV: 011206
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯半导体可靠性报告
01/31/2003
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55 Quad T1/E1/J1 Transceiver
REV: 042204
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| 测试报告 - 英文 |
CSBGA包MAXIM集成产品可靠性监控报告
1/25/2008
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| 测试报告 - 英文 |
CSBGA包MAXIM集成产品可靠性监控报告
4/20/2008
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 051304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 063006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 060204
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| 数据手册 - 英文 |
3.3V DS21352 and 5V DS21552 T1 Single-Chip Transceivers
Revision 8-16-99
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155DK/DS2156DK T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver Design Kit Daughter Cards
REV: 110106
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| 测试报告 - 英文 |
达拉斯，无欠填充，144芯片级BGA插入器达拉斯半导体可靠性报告
05/06/2003
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 022304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 110805
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| 数据手册 - 英文 |
DS2154 Enhanced E1 Single-Chip Transceiver
REV: 011706
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
电源故障保护布置图
本文探讨了如何针对第二级GR-1089/UL 60950标准中的两种情况修改PCB布局：熔丝快速熔断或熔丝完全不熔断。介绍了在设备网络接口发生电源故障后，如何通过修改电路布局来避免技术人员更换熔丝。文章详细讨论了PCB布局的注意事项，包括熔丝选择、热平面设计以及接地平面布局等，以实现电源故障保护。
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DS2155与MPC8260应用程序接口说明381
本文档详细介绍了如何将Maxim的DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器（SCT）与Motorola的MPC8260处理器进行接口连接。内容包括处理器总线与DS2155的接口连接，以及通信串行总线的连接。文档提供了详细的地址和数据线映射，并讨论了可能需要添加的外部逻辑以隔离处理器总线上的其他外围设备。此外，还提供了处理器接口和通信串行接口的示例电路图，以及如何将DS2155用作主定时源或环路定时源的应用实例。
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DS2155、DS21Q55、DS2156编程SLC-96应用说明2731
本应用笔记详细介绍了如何在DS2155、DS21Q55和DS2156中使用SLC-96多帧。内容包括SLC-96帧结构、接收和发送侧的应用配置、RFDL和TFDL寄存器操作流程，以及如何通过这些寄存器提取和插入SLC-96消息字段。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。
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DS2155内部编程
本应用笔记详细介绍了如何使用 Dallas Semiconductor DS2155 单芯片收发器（SCT）内部的比特错误率测试（BERT）控制器。内容包括如何配置BERT、选择测试模式、执行比特错误率测试以及读取测试结果。笔记提供了编程BERT的步骤和所需设置的详细说明，旨在帮助设计者在目标系统中实现必要的比特错误率测试。
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带1+1冗余的无故障保护切换应用注388
本文介绍了如何使用Maxim的T1/E1/J1单芯片收发器（SCT）或线路接口单元（LIU）实现1+1冗余，以实现无中断保护切换。文章详细阐述了无中断保护的概念，以及如何通过硬件设计和软件寄存器设置来实现这一功能。此外，文章还讨论了使用继电器模块的缺点，并提供了具体的寄存器设置步骤和测试结果。
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NRZ应用注释391
本应用笔记介绍了如何将帧器从线路接口单元（LIU）解耦，以便用户可以将LIU/帧器连接到双极性或NRZ模式的设备。内容涵盖了如何设置注册表以生成/检测双极性或NRZ数据格式，以及如何将帧器/格式化器连接到双极性或NRZ数据模式的设备。此外，还包括了相关芯片型号和引脚功能的说明。
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DS2155和DS26502软件比较应用说明3360
本应用笔记比较了Maxim公司DS2155和DS26502两种T1/E1/J1单芯片收发器的软件差异。DS26502是一款具备T1/E1/J1/64kHz复合时钟位元素的设备，同时作为功能减少的SCT。由于DS26502基于DS2155设计，两者在内存映射和寄存器集上有许多相似之处，便于将现有的DS2155软件驱动迁移到DS26502。但鉴于新增功能、删除功能和内存映射及寄存器集的通用变化，仍需进行一些调整。资料中详细列出了直接映射、修改和新增的寄存器，以及删除的寄存器。
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用Maxim镜头驱动为视障人士聚焦世界
Evergaze公司开发的seeBOOST可穿戴设备，通过集成电子视觉增强系统，帮助视力受损者改善视力。该设备采用自动对焦、对比度和亮度增强、可选颜色模式和可调节放大等功能。Evergaze与Maxim Integrated合作，使用其MAX44009镜头驱动器等组件，满足了小尺寸、低功耗和高可靠性的要求。seeBOOST眼镜为用户提供了即时的视觉改善，帮助他们完成日常任务，如阅读邮件、支付账单或玩桥牌游戏。
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电源•接口•模拟•通信•传感器嵌入式安全•iButton•微控制器
Maxim Integrated提供广泛的元器件产品，涵盖电源、接口、模拟、通信、传感器、嵌入式安全和微控制器等领域。产品包括电池管理、充电器、开关、模拟开关、宽带开关、DC-DC转换器、控制器、音频设备、电源管理IC、数字I/O、电源模块、时钟发生器、MOSFET驱动器、高速信号、充电泵、数据转换器、IO-Link、显示电源和控制、隔离IC、滤波器、保护和控制、实时时钟、电平转换器、隔离电源、传感器接口、视频产品、LED驱动器、信号线保护、电压参考、低 dropout线性稳压器、信号完整性、以太网供电、收发器、电机驱动器、监控器和序列器、USB产品。此外，还提供iButton、内存、传感器和微控制器等解决方案。
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Tecnofingers（TNFG）通过Maxim电源管理和传感器ic加速电子产品开发客户成功案例
Tecnofingers (TNFG) 利用Maxim的电源管理和传感器IC，开发了rhomb.io模块化系统，以加速电子产品开发。该系统提供多种预组装组件，如处理器核心和功能模块，支持设计师快速构建、设计和测试产品。Maxim的IC产品，如MAX30101脉搏血氧仪和心率传感器、MAX44005 RGB颜色、温度和红外接近传感器、MAX8814 28V线性Li+电池充电器等，满足了TNFG对小型化IC和良好技术支持的需求，支持了其产品开发。
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DS2156 Maxim T1/E1/J1收发器的T1/E1环回操作应用说明
本应用笔记概述了Maxim T1/E1/J1收发器的环路功能。环路模式用于设备的诊断测试。在环路模式下，设备将信号从设备的一端循环到发送设备的另一端，信号经过网络或特定链路后。两端信号的差异有助于追踪故障。Maxim T1/E1/J1收发器支持六种环路模式：远程环路（RLB）、本地环路（LLB）、帧环路（FLB）、诊断环路（DLB）、有效载荷环路（PLB）和通道环路（PCLB）。每种环路模式都有其特定的应用和配置方法，用于测试和调试不同层面的数据传输问题。
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实时T1系统中的帧模式切换
本应用笔记探讨了在T1系统运行过程中切换帧模式的风险。在T1系统中，切换D4和ESF帧格式可能导致同步问题。特别是在接收器处于ESF模式而发送器从ESF切换到D4模式时，存在1/6的概率接收器不会宣布失去同步。笔记详细比较了D4和ESF帧格式的相似性，并解释了在正常操作中如何处理位错误和同步错误。
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