DS2155 Internal BERT Programming
发布时间：
2019-04-11
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
Maxim（美信）
型号：
DS2155; DS2172; DS217; DS2156; DS21Q55
本应用笔记详细阐述了Dallas Semiconductor DS2155单芯片收发器（SCT）内部比特错误率测试（BERT）控制器的使用方法。资料重点介绍了BERT的配置流程、测试模式的选择、具体的测试执行步骤以及测试结果的读取操作，并提供了编程所需的详细设置说明，旨在帮助设计者在目标系统中高效实现必要的比特错误率测试。针对文中所述器件，Dallas Semiconductor在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。同时，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55 Quad T1/E1/J1 Transceiver
REV: 042204
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| 测试报告 - 英文 |
DS21Q55、B2版本、ASAT（无底部填充）Dallas Semiconductor的可靠性报告
01/23/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1单片收发器TDM/UTOPIA II接口勘误表
REV: 042903
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| 数据手册 - 英文 |
DS2156 T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver TDM/UTOPIA II Interface
REV: 011606
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| 测试报告 - 英文 |
DS2172可靠性报告，版本A2
08/19/2004
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 051304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 063006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单片收发器勘误表
REV: 060204
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| 数据手册 - 英文 |
DS2172误码率测试仪（BERT）数据表
101000
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| 测试报告 - 英文 |
DS2156，A2（8“）Maxim集成产品的产品可靠性报告
11/7/2007
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155 T1/E1/J1单芯片收发器
REV: 080607
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| 测试报告 - 英文 |
DS2155的产品可靠性报告，修订版C2 Maxim集成产品
10/2/2008
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q55DK四通道T1/E1/J1收发器设计套件子卡数据表
110106
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
11/5/04
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
1/21/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
07/28/2004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/20/06
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
4/20/07
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
7/20/2007
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP封装达拉斯半导体可靠性监测报告
10/22/2007
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21Q55 T1/E1/J1四路收发器勘误表
REV: 112003
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| 数据手册 - 英文 |
MAX4670 ntegrated T1/E1/J1 Short-Haul and Long-Haul Protection Switch
Rev 0
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
8/2/05
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
04/27/2005
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
05/02/2006
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包可靠性监测报告
7/20/2006
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 022304
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21552/DS21Q552 5V增强型T1单片收发器勘误表
REV: 110805
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| 数据手册 - 英文 |
DS21Q552/DS21Q554 DALLAS SEMICONDUCTOR
December 29, 1998
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| 测试报告 - 英文 |
DAL 0.35μm“D”硅栅CMOS-MAXIM集成产品可靠性监测报告
4/20/2008
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| 数据手册 - 英文 |
DS2155DK/DS2156DK T1/E1/J1 Single-Chip Transceiver Design Kit Daughter Cards
REV: 110106
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 产品勘误说明 - 英文 |
DS21554/DS21Q554勘误表
Rev: 080508
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| 数据手册 - 英文 |
DS21354/DS21554 3.3V/5V E1 Single-Chip Transceivers
REV: 021004
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包MAXIM集成产品可靠性监控报告
1/25/2008
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| 测试报告 - 英文 |
LQFP包MAXIM集成产品可靠性监控报告
4/20/2008
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
DS2155、DS21Q55、DS2156编程SLC-96应用说明2731
本应用笔记详细介绍了如何在DS2155、DS21Q55和DS2156中使用SLC-96多帧。内容包括SLC-96帧结构、接收和发送侧的应用配置、RFDL和TFDL寄存器操作流程，以及如何通过这些寄存器提取和插入SLC-96消息字段。
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实时T1系统中的帧模式切换
本应用笔记探讨了在T1系统运行过程中切换帧模式的风险。在T1系统中，切换D4和ESF帧格式可能导致同步问题。特别是在接收器处于ESF模式而发送器从ESF切换到D4模式时，存在1/6的概率接收器不会宣布失去同步。笔记详细比较了D4和ESF帧格式的相似性，并解释了在正常操作中如何处理位错误和同步错误。
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NRZ应用注释391
本应用笔记介绍了如何将帧器从线路接口单元（LIU）解耦，以便用户可以将LIU/帧器连接到双极性或NRZ模式的设备。内容涵盖了如何设置注册表以生成/检测双极性或NRZ数据格式，以及如何将帧器/格式化器连接到双极性或NRZ数据模式的设备。此外，还包括了相关芯片型号和引脚功能的说明。
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工程期刊卷二：网络接口DS2155单片收发信机/币形锂电池二次保护电路设计与应用展望
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器在网络接口和电路设计方面的内容，包括其作为T1/E1设备接口的传统电路设计，以及针对纵向（共模）浪涌和金属浪涌的二次电压保护设计。资料还详细讨论了接收和发送接口的设计，包括匹配阻抗、过压保护和浪涌抑制电路。此外，资料还涉及了锂硬币电池的应用寿命预测，以及影响集成电路（IC）电池供电寿命的主要因素。
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Engineering Journal 第三期:数控电位器/电阻与激光驱动器的连接/库仑计量应用中的频率欠采样
这份资料主要涉及了元器件行业中的多种产品和技术，包括电池测试器、GPS模块、ADC转换器、激光驱动器、调制器、功率放大器等。资料详细介绍了这些元器件的原理、功能、应用以及相关的技术参数。此外，还涉及了电池燃料计量、实时时钟、接口设计等内容，并提供了相关产品的品牌和型号。
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Engineering Journal 第四期:1-Wire技术及其应用概述/电信样板的测量与符合
本资料主要介绍了1-Wire技术及其应用，包括1-Wire网络的基本组成、数据传输方式、设备类型和接口电路等。资料中详细描述了1-Wire设备如DS2409、DS2406、DS2423等的功能和特性，以及如何通过1-Wire网络进行数据通信和设备控制。此外，还涉及了1-Wire技术在温度传感器、湿度传感器等领域的应用实例。
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电源故障保护布置图
本文探讨了如何针对第二级GR-1089/UL 60950标准中的两种情况修改PCB布局：熔丝快速熔断或熔丝完全不熔断。介绍了在设备网络接口发生电源故障后，如何通过修改电路布局来避免技术人员更换熔丝。文章详细讨论了PCB布局的注意事项，包括熔丝选择、热平面设计以及接地平面布局等，以实现电源故障保护。
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DS2156 Maxim T1/E1/J1收发器的T1/E1环回操作应用说明
本应用笔记概述了Maxim T1/E1/J1收发器的环路功能。环路模式用于设备的诊断测试。在环路模式下，设备将信号从设备的一端循环到发送设备的另一端，信号经过网络或特定链路后。两端信号的差异有助于追踪故障。Maxim T1/E1/J1收发器支持六种环路模式：远程环路（RLB）、本地环路（LLB）、帧环路（FLB）、诊断环路（DLB）、有效载荷环路（PLB）和通道环路（PCLB）。每种环路模式都有其特定的应用和配置方法，用于测试和调试不同层面的数据传输问题。
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T1/E1/J1双连接器接口
本文介绍了T1/E1/J1双连接器接口的设计与应用。主要内容包括不同传输系统（T1、J1、E1）的电缆和连接器类型，以及如何通过使用单变压器解决方案实现成本效益和节省空间。文章详细描述了接收和发送端接口的电路设计，包括变压器选择、阻抗匹配和线路构建等关键步骤。此外，还提供了软件配置建议，以确保设备在不同传输系统中的正确操作。
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Engineering Journal 第二期：为DS2155单片收发器提供次级保护的网络接口和电路设计/锂纽扣：应用寿命估算
本资料主要介绍了DS2155单芯片收发器的设计和应用。内容包括DS2155的内部结构、工作原理、电路设计、性能参数以及在不同应用场景下的使用方法。资料还涉及了1-Wire总线技术、ASIC设计、Verilog语言编程等内容。
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用Maxim镜头驱动为视障人士聚焦世界
Evergaze公司开发的seeBOOST可穿戴设备，通过集成电子视觉增强系统，帮助视力受损者改善视力。该设备采用自动对焦、对比度和亮度增强、可选颜色模式和可调节放大等功能。Evergaze与Maxim Integrated合作，使用其MAX44009镜头驱动器等组件，满足了小尺寸、低功耗和高可靠性的要求。seeBOOST眼镜为用户提供了即时的视觉改善，帮助他们完成日常任务，如阅读邮件、支付账单或玩桥牌游戏。
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电源•接口•模拟•通信•传感器嵌入式安全•iButton•微控制器
Maxim Integrated提供广泛的元器件产品，涵盖电源、接口、模拟、通信、传感器、嵌入式安全和微控制器等领域。产品包括电池管理、充电器、开关、模拟开关、宽带开关、DC-DC转换器、控制器、音频设备、电源管理IC、数字I/O、电源模块、时钟发生器、MOSFET驱动器、高速信号、充电泵、数据转换器、IO-Link、显示电源和控制、隔离IC、滤波器、保护和控制、实时时钟、电平转换器、隔离电源、传感器接口、视频产品、LED驱动器、信号线保护、电压参考、低 dropout线性稳压器、信号完整性、以太网供电、收发器、电机驱动器、监控器和序列器、USB产品。此外，还提供iButton、内存、传感器和微控制器等解决方案。
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编程和控制DS2141A、DS2151上的FDL应用说明461
本文档详细介绍了如何使用Maxim公司DS2141A和DS2151芯片上的设施数据链路（FDL）控制器。FDL用于T1通信中传递数据和信息，而不会干扰T1线路的正常运行。文档深入解释了FDL电路的工作原理和用于通过FDL传输信息的不同协议。此外，提供了软件设计流程图，包括在FDL上发送和接收数据的步骤说明。
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DS2172 BERT接口到所有达拉斯成帧器和收发器应用说明334
本应用笔记介绍了如何将Maxim的DS2172/DS21372比特错误率测试器（BERT）连接到Dallas Semiconductor家族的T1/E1帧器及单芯片收发器（SCT）。内容涵盖了接口电路设计、配置寄存器设置以及如何通过BERT进行系统测试。
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