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Mask Set Errata for Mask 2N76P
发布时间: 2019-05-10
类型: 产品勘误说明,勘误表、错误修正说明
品牌:
NXP(恩智浦)
型号:
MPC5775K; MPC5774K
本勘误报告详细说明了NXP Semiconductors旗下MPC5775K和MPC5774K产品在2N76P掩膜版本中存在的已知错误。报告全面列举了多个关键模块的技术异常,涵盖ADC操作异常、AFE复位序列问题、CGM时钟及CMU监控问题、CTU中断错误、e200z4分支位移错误、eDMA主ID复制问题、End to End ECC错误、FCCU地址反馈错误、FlexCAN帧损坏、FlexPWM故障清除问题、FlexRAY帧丢失、I2C时钟脉冲问题、JTAGM中断问题、LFAST模块问题、LINFlexD状态问题、MC_ME配置错误、MEMU连续错误报告、M_CAN帧传输错误、NAL跟踪连接丢失、NPC问题、NZxC3问题、PIT接口访问失败、PLLDIG复位序列问题、PMC复位序列及自检问题、PMC温度事件状态寄存器问题、PMC模拟前端低电压检测中断问题、SIUL2传输错误、SPT DMA错误、SSCM状态问题、STCU2复位问题、SWT锁定故障、WGM配置错误以及XBIC记录信息错误等。针对上述每一项错误,报告均提供了具体的故障描述及工作绕过方法,并附有详细的修订历史,旨在协助开发人员在设计过程中规避潜在风险。NXP在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该资料,用户可通过平台获取原厂授权的正品器件,相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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资料平台
数据手册 - 英文
MPC5775K数据手册
Rev. 9.1
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产品勘误说明 - 英文
掩码2N76P的掩码集勘误表
Rev. 6 (10 MAR 2020)
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产品勘误说明 - 英文
掩码2N76P的掩码集勘误表
Rev. 5
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商品功能框图 - 英文
LFDBGK75KV1A BGA Aurora接口适配器MPC5775K 356针0.8mm间距
03/12/2015
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数据手册 - 英文
适用于优化雷达的微控制器:S32R37
Apr 25, 2022
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商品功能框图 - 英文
MPC57XX主板
Rev C
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数据手册 - 英文
汽车电气化解决方案面向下一代电气化汽车的半导体系统解决方案
REV 3
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产品勘误说明 - 英文
掩模3N45H的掩模设置勘误表
Rev. FEB2022
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产品勘误说明 - 英文
掩模3N45H的掩模设置勘误表
Rev. AUG2021
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产品勘误说明 - 英文
掩模3N45H的掩模设置勘误表
Rev. December 2019
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产品勘误说明 - 英文
掩模3N45H的掩模设置勘误表
Rev. June 2019
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产品勘误说明 - 英文
掩模3N45H的掩模设置勘误表
Rev. October 2018
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数据手册 - 英文
W波段雷达用76-77GHz射频发射机前端数据表
Rev. 6.0
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产品勘误说明 - 英文
掩码2N45H的掩码设置勘误表
Rev. FEB2022
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产品勘误说明 - 英文
掩码2N45H的掩码设置勘误表
Rev. AUG2021
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产品勘误说明 - 英文
掩码2N45H的掩码设置勘误表
Rev. October 2018
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数据手册 - 英文
S32R372产品介绍
Rev. 4
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数据手册 - 英文
S32R274/S32R264系列数据手册:支持S32R274K、S32R274J、S32 R264K和S32 R264J
Rev. 5
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数据手册 - 英文
S32R274数据表
05/2018
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数据手册 - 英文
MPC5775B BMS+VCU参考设计高电压,目标ISO 26262 ASIL D
REV.0
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数据手册 - 英文
MPC5775E/MPC5775B微控制器数据表
Rev. 2
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数据手册 - 英文
MPC5775E/MPC5775B微控制器数据表
Rev. 1
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数据手册 - 英文
用于电池管理和逆变器应用的MPC5775B-EVB和MPC5775E-EVB系统解决方案开发板
REV 0
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产品勘误说明 - 英文
掩码0N78S的掩码集勘误表
Rev. 5
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产品勘误说明 - 英文
掩码0N78S的掩码集勘误表
Rev. 4
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产品勘误说明 - 英文
掩码0N78S的掩码集勘误表
Rev. 3
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产品勘误说明 - 英文
掩码0N78S的掩码集勘误表
Rev. 2
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数据手册 - 英文
MPC5775B电池管理+电池单元控制器系统:针对ISO 26262的高压电池管理
REV 1
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产品勘误说明 - 英文
MPC5748G掩模1N81M的掩模设置勘误表
Rev. 3
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数据手册 - 英文
MPC5748G微控制器产品介绍
Rev. 6
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数据手册 - 英文
MPC5748G微控制器产品介绍
Rev. 4
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产品勘误说明 - 英文
掩码1N84S的掩码集勘误表
Rev. 5
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世强AI
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应用/方案
MPC5775K参考手册支持MPC5774K、MPC5775K
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MPC5775K硬件设计指南
本资料为Freescale Semiconductor公司发布的MPC5775K硬件设计指南,主要介绍了MPC5775K微控制器的硬件设计要点。内容包括:MPC5775K概述、封装选项、电源配置、时钟配置、设备复位配置、推荐调试连接器和引脚定义等。资料详细阐述了MPC5775K的电源管理、时钟配置、复位机制以及调试接口等关键硬件设计方面,为开发者提供了全面的设计指导。
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MPC5775K旋转因子生成器用户指南应用说明
本资料为Freescale Semiconductor发布的MPC5775K Twiddle Factor Generator用户指南,主要介绍了Twiddle Factor Generator的使用方法。指南详细阐述了Twiddle Factor的概念、生成过程以及如何使用Matlab脚本生成Twiddle Factor,并提供了示例输出和Matlab源代码。指南旨在帮助用户编程MPC5775K MCU的片上FFT加速器。
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混合电动汽车(HEV)应用
本文介绍了NXP为混合动力汽车(HEV)应用提供的解决方案,包括转换器和充电器、启动/停止系统和混合动力控制单元。转换器和充电器部分涉及电池包控制、12V电池监控和DC/DC转换器,推荐产品包括MPC560xB MCU、S12XE MCU、S12XS MCU、S12P MCU、S12G MCU、MM912_637电池传感器和56F824X_825X数字信号控制器。动力系统部分包括安全SBC、门驱动器、微控制器(MCU)、输入信号和传感器接口、输出驱动器和外部输入(IVN & Gateway),推荐产品包括FS6600安全SBC、GD3100门驱动器、S32S微控制器、MPC574xP MCU、MPC5777C MCU、MPC564xL MCU、CD1020低成本22通道多开关检测接口和MPC574xB-C-G MCU。启动/停止系统部分涉及微控制器(MCU)、安全SBC、CAN/LIN收发器、预驱动模块和MOSFET低RDs,推荐产品包括MPC560xB MCU、S12XE MCU、S12XS MCU、S12P MCU、S12G MCU、S32 Automotive Platform、FS4500安全SBC、FS26安全SBC、FS6600安全SBC、CAN收发器、MC33937 3相场效应晶体管预驱动器和MC12XS2 12V多用途低RDSON极端开关。
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MPC5775B和MC33771高压BMS评估系统
本资料介绍了MPC5775B电池管理系统控制器(BMC)与MC33771电池单元控制器(BCC)组成的系统,展示了如何高效、简便地实现高压(HV)电池管理系统(BMS)。系统包括硬件和软件支持,适用于电池管理。
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电动汽车电源逆变器
电动汽车牵引逆变器需提供高功率输出,承受高温,并尽可能小型轻便。逆变器将高压电池能量转换为多相交流电流驱动牵引电机,关键性能参数包括高效率、高功率密度和功能性安全。NXP提供多核MCU、锁步MCU、SBC、CAN PHY和高电压栅极驱动器等组件,支持ASIL D系统级功能性安全。NXP还提供设计平台和系统使能软件,以及用于IGBT或SiC MOSFET模块的原理图、BOM、布局文件和安全文档。
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MPC5775K旋转因子生成器用户指南
本资料为Freescale Semiconductor发布的MPC5775K Twiddle Factor Generator用户指南,主要介绍了Twiddle Factor Generator的使用方法。该指南详细说明了Twiddle Factor Generator的结构和功能,包括如何使用Matlab脚本生成Twiddle因子,并将其保存为C风格头文件和文本文件。指南还提供了使用示例和Matlab源代码,以及Twiddle RAM的初始化和计算方法。
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用于ADAS应用的MPC5775K Nexus Aurora SPT跟踪
本资料详细介绍了Freescale Semiconductor的MPC5775K微控制器在高级驾驶辅助系统(ADAS)应用中的Nexus Aurora SPT Trace功能。资料涵盖了SPT Trace的架构、支持、客户端操作以及具体的应用实例。重点介绍了如何通过Nexus Aurora接口监控SD ADC和SPT操作,包括SPT-ACQ、SPT-DMA和SPT-SEQ的迹线操作,以及如何配置和解释迹线数据。
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MPC5775K Nexus Aurora SPT Trace for ADAS应用说明
本资料介绍了Freescale Semiconductor的MPC5775K微控制器在高级驾驶辅助系统(ADAS)应用中的Nexus Aurora SPT Trace功能。资料详细阐述了SPT Trace的架构、支持的功能、客户端操作以及如何通过Nexus Aurora接口进行诊断。此外,还提供了SPT Trace的配置示例和调试工具的使用说明。
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从MPC5675K迁移到MPC5775K
本文档介绍了从Freescale Semiconductor的MPC5675K微控制器迁移到MPC5775K的过程。主要内容包括MPC5675K和MPC5775K之间的硬件和软件差异,以及迁移过程中需要注意的软件和硬件考虑因素。文档详细比较了两个微控制器的核心、外设、内存管理、时钟架构、中断控制器、电源管理等方面的差异,并提供了相应的软件和硬件更新建议。
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从MPC5675K迁移到MPC5775K应用说明
本文档为Freescale Semiconductor的应用笔记,主要介绍了如何从MPC5675K迁移到MPC5775K。MPC5775K是MPC5675K的55nm后继产品,具有更高的性能和更多的功能。文档详细比较了两款MCU的硬件和软件差异,包括核心架构、外设、内存管理、时钟架构、中断控制器等,并提供了迁移过程中需要注意的软件和硬件方面的考虑。
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AN12553 S32R274初始化过程-从MCU通电到主功能输入应用说明
本资料详细介绍了NXP S32R274微控制器的初始化过程,从上电到主函数入口。内容包括复位和引导过程、引导模式选择、设备配置、引导位置、串行引导、软件启动、Z7核心启动等。资料还涉及了C代码中的寄存器实例化、复位状态机、模块状态、引导序列、外部信号、模块状态、引导模式选择、设备配置、引导位置、串行引导、软件启动、核心配置、SRAM初始化、缓存启用、C运行时寄存器设置等关键步骤。
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MPC5775B BMS和VCU参考设计
该资料介绍了MPC5775B BMS和VCU参考设计(RDVCU5775EVM),这是一个集成电池管理系统(BMS)和车辆控制单元(VCU)高压功能的参考设计。该设计基于32位Power Architecture MPC5775B MCU、FS6523功能安全SBC和MC33664高速转换物理层(TPL)网络,支持MC3377x电池单元控制器EVB级联链和CD1030 33通道多开关检测接口(MSDI)的可编程电流。设计适用于ISO 26262 ASIL D汽车应用。
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采用GD3160的VE-TRAC™驱动器SiC模块的三相参考设计
该资料介绍了NXP公司的一款三相参考设计和评估套件RDGD31603PHSEVM,该套件包含六个GD3160栅极驱动器,用于IGBT/SiC MOSFET设备。套件包括Freedom KL25Z微控制器硬件,用于与PC接口。用户需在PC上安装Flex GUI软件,通过SPI寄存器与GD3160通信。该套件允许用户配置设备,无需软件开发,并能在单相上进行SC或双脉冲操作。此外,该套件与NXP MPC5775B/E-EVB兼容,可使用软件示例实现全面电机控制。评估套件设计用于连接到VE-Trac SiC OnSemi模块或任何具有相同引脚配置的模块。
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基于汽车处理器和微控制器的电气化解决方案
该资料主要介绍了基于汽车处理器和微控制器的电气化解决方案。内容涵盖电动汽车(EV)和混合动力汽车(HEV)的电气化系统,包括电池管理系统(BMS)、混合动力汽车和电力逆变器等。资料详细介绍了NXP提供的各种开发平台、软件工具和参考设计,旨在帮助汽车制造商和开发者应对市场对成本和时间的需求。
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S32R上的SPT编程
本文档为NXP Semiconductors公司发布的关于S32R系列微控制器中SPT(Signal Processing Toolbox)编程的应用笔记。主要内容包括S32R系列微控制器S32R274的介绍,SPT的功能和特点,SPT的编程方法和工具,以及SPT在雷达信号处理中的应用。文档详细介绍了SPT的硬件架构、内部内存、指令集、编程方法,并提供了基于RSDK和图形工具的编程示例。
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MPC5775K为ADAS应用程序优化Nexus Aurora SPT跟踪应用说明
本文介绍了Freescale Semiconductor的MPC5775K微控制器在高级驾驶辅助系统(ADAS)应用中如何优化Nexus Aurora SPT跟踪功能。文章详细描述了数据流和Nexus跟踪诊断流程,包括高精度雷达信号处理、实时诊断要求以及如何通过Lauterbach的TRACE32调试器实现实时诊断。此外,还提供了配置Lauterbach TRACE32调试工具和软件的步骤,以及优化Nexus跟踪流和控制Nexus FIFO水印和PDMA传输速率的设置。
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MPC57XX应用说明的晶体故障处理
本文档为Freescale Semiconductor的应用笔记,主要针对MPC57XX系列系统单芯片(SoC)在处理外部晶振故障时的软件处理方法进行讨论。内容涵盖了晶振故障检测逻辑、故障反应机制以及软件配置方法,旨在确保系统在晶振故障时能够安全稳定运行。
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