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Keysight(是德科技) E5262A 2 Channel IV Analyzer/Source Monitor Unit(Two Medium Power SMUs) Keysight(是德科技) E5263A 2 Channel IV Analyzer/Source Monitor Unit(High Power SMU and Medium Power SMU)
发布时间: 2018-05-25
类型: 数据手册,规格书、Datasheet;PDF下载
品牌:
KEYSIGHT(是德)
型号:
E5262A; E5263A; B1500A; B1505A; E5270B; E5260A; B2900A; 4155B; 4155C; 4156B; 4156C
本数据手册详细介绍了Keysight(是德科技)推出的E5262A和E5263A低成本电流-电压特性分析解决方案。这两款产品支持双通道源测量单元(SMU),具备高精度电流测量性能,最低可达5 pA,并提供最小500 µs脉冲宽度的脉冲测量能力。设备支持斑点测量、扫描测量及快速测试模式,配合EasyEXPERT group+软件,用户可利用直观的图形用户界面完成从测量设置、数据分析到数据库记录的全过程,显著提高测量可靠性和效率。此外,该产品内置自检、自校准和诊断功能,支持远程控制编程及多种接口,既可作为独立分析器使用,也可作为系统组件,广泛应用于材料特性分析、活性/无源元件特性分析、半导体器件测试以及研发和制造测试领域。Keysight在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案,用户可通过平台获取原厂授权的正品器件,相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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加工定制
加工尺寸范围2~15英寸,产品有效加工尺寸:半断加工:2MM*600MM*900MM;全断加工:30MM*1600MM*2500MM;
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可定制1027S、1097、1093A、1099、991系列,粘度:900~2万;硬度:70~90D;固化速度:5~15min;粘接强度:15~20Mpa;不同规格包装形式。
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E5260A/E5262A/E5263A/E5270B精密IV分析仪
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Keysight E5260A IV分析仪/8槽高速测量主机
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Keysight(是德科技) E5260A IV Analyzer/8 Slot High Speed Measurement Mainframe Data Sheet
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EasyEXPERT Group+精密电流电压分析仪特性化软件系列技术概述
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E5262A 2通道IV分析仪/源监控单元
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Keysight(是德科技)利用 Desktop EasyEXPERT 软件增强E526xA/E5270B 的器件分析功能
2014 年8 月
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Keysight(是德科技) B1500A Semiconductor Device Analyzer Data Sheet
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Keysight E5270B精密IV分析仪/8插槽精密测量主机
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Keysight(是德科技) Precision IV Analyzer(E5260A/E5262A/E5263A/E5270B)
Edition 1, October 2015
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用于电路设计的B1506A功率器件分析仪
May 12, 2020
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Keysight(是德科技)电子元器件半导体/晶体管评测
August 3, 2014
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用于电路设计的Keysight Technologies B1506A电源设备分析仪
December 1, 2017
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November 30, 2019
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是德科技 E4727A 先进低频噪声分析仪 技术资料
February 1, 2017
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发现你在先进材料方面的下一个研究突破
December 18, 2019
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E4727A/E4727P3高级低频噪声分析仪/测量包软件E4727E3 WGFMU测量包软件数据表
September 28, 2018
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电力电子测试应用的挑战与对策
August 14, 2019
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汽车中功率器件的测试挑战和解决方案
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Keysight B1506A 适用于电路设计的功率器件分析仪
April 18, 2014
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Keysight Technologies(是德科技) Precision Current-Voltage Analyzer Series
December 1, 2017
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December 26, 2019
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带EasyEXPERT软件的Agilent B1500A半导体器件分析仪 Agilent Desktop EasyEXPERT软件
2009年8月
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Keysight(是德科技) B2900A系列精密型电源/测量单元
August 3, 2014
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IC-CAP器件建模软件
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E4727B/E4727P3高级低频噪声分析仪/测量包软件数据表
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技术论坛
怎么用Keysight B2900A输出超过42V的电压?
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在不用拓展模块的情况下,单单用B1505A的源表能否测试Wafer 级别的GAN的电性参数?
查看官方回答 >>
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据,覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器,超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据,不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持,更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务,贯穿硬件创新全链路,让研发更容易,让采购更便宜。
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应用/方案
在太阳能电池评估中使用Keysight(是德科技)精密SMU 产品的5 个主要理由
是德科技精密SMU产品在太阳能电池评估中的应用,包括方便器件评估的测量能力、易于整合其他设备、高速时域测量、直观的测试环境流程化数据分析、众多产品覆盖从研发到制造的各种应用、快速高效和可扩展的并行测量、以及EasyEXPERT软件的便捷性。
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Keysight Technologies(是德科技) Benefit from Dramatic Improvements with a Transition from the 4155/4156 Analyzer Series Precision Current-Voltage Analyzer Series Technical Overview
Keysight Technologies推出了新一代的精密电流-电压分析仪系列,旨在替代老旧的4155/4156分析仪系列。新系列具备更高效的文件管理、更先进的测量能力,包括低至0.1 fA的电流测量和电容-电压测量,以及支持高速脉冲/瞬态IV测量。此外,新系列还提供了灵活的自动化测试选项和用户编程环境,以及易于使用的EasyEXPERT group+软件,以加速表征任务。
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Keysight Technologies(是德科技) E5260A/E5262A/E5263A/E5270B Precision IV Analyzers Technical Overview
Keysight Technologies推出的E5260A/E5262A/E5263A/E5270B系列高精度IV分析仪,具备低至0.1 fA的电流测量能力,提供业界最佳的电流-电压特性分析解决方案。该系列分析仪采用EasyEXPERT group+软件和集成源测量单元(SMU),可实现快速、高精度的电流-电压测量。产品线包括固定配置的两通道模型和可配置的八槽模型,满足不同测试需求。EasyEXPERT group+软件支持从测量设置到数据分析的完整流程,并提供强大的分析功能和数据导出选项。
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【选型】Keysight(是德科技)精密电流电压分析仪快速选型指南
Keysight Technologies Precision Current-Voltage Analyzer Series
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为什么mos管电极会起名为源极栅极和漏极?
功率转换电路中的晶体管的作用非常重要,为进一步实现低损耗与应用尺寸小型化,一直在进行各种改良。如低损耗、高速开关、高温工作等,显而易见这些优势是非常有用的。本文将通过其他功率晶体管的比较,进一步加深对SiC-MOSFET的理解。
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MOSFET工作原理是怎样的?
MOSFET器件工作原理是什么,MOSFET属于什么器件?MOSFET是与施加电压相关的电容器。 MOSFET的栅极至衬底的电容取决于所施加的直流电压(我们在直流电压上叠加幅度小得多的交流电压进行测量)。
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Keysight(是德科技) Technolog iesEasyEXPERT group+ characterization software for Precision Current-Voltage Analyzer Series
EasyEXPERT group+软件是一款针对精密电流-电压分析仪系列的表征软件,旨在加速整个过程中的表征任务。该软件提供直观的图形用户界面和鼠标/键盘操作,支持从测量设置和执行到分析和数据管理的整个过程。软件具备强大的功能,如应用测试模式、经典测试模式、自动分析和图形显示等,可显著提高表征效率。此外,EasyEXPERT group+还支持数据管理、数据保护和远程控制等功能,为用户提供灵活的表征解决方案。
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安捷伦台式机EasyEXPERT for Agilent E5270B和E5260系列快速入门指南
本指南介绍了Agilent Desktop EasyEXPERT软件,用于Agilent E5270B和E5260系列探针测试仪。软件支持参数测试,提供图形化界面和实时数据列表。支持多种应用测试,如IV扫描、R-I、R-V等。可控制外部仪器,如E4980A、81110A等。支持探针控制,如Cascade Microtech和SUSS MicroTec。软件安装包括Agilent IO Library和Desktop EasyEXPERT,并需下载应用测试。常见问题解答涵盖启动软件、检查应用测试描述、详细操作指南等。
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Keysight(是德科技) B1542A Ten Nanosecond Pulsed IV Parametric Test Solution Proven, Accurate High-k/SOI Characterization by 10 nsec Pulse Width Technical Overview
该资料介绍了Keysight B1500A半导体器件分析仪及其脉冲IV参数测试解决方案。该方案利用10纳秒脉冲宽度,支持高k栅极介电层和硅基绝缘体(SOI)晶体管的参数表征。特点包括10纳秒门脉冲宽度、1微安电流测量分辨率、反馈回路确保ID-VD和ID-VG测量的准确性,以及易于在直流和脉冲测量之间切换。该方案支持Keysight 4155/4156(B、C系列)、Keysight E5260A、Keysight E5270B等仪器,并可通过Desktop EasyEXPERT软件进行设置和测量。
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B1505A功率器件分析仪/曲线描绘仪产品手册
B1505A是一款多功能功率器件分析仪/曲线追踪器,适用于广泛的工作条件(高达1500 A/10 kV和+250 °C)。该设备能够满足功率器件评估的关键需求,包括精确测量、可靠性验证、新型器件特性分析、安全高效的封装器件测试和功率器件开发成本降低。B1505A具备高精度测量能力,支持多种测试模块,并提供直观的软件环境,以简化数据分析和报告生成。
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材料科学/工程测试应用的关键技术挑战和解决方案
本文主要探讨了材料科学/工程测试应用中的挑战与解决方案。文章涵盖了有机材料、纳米技术设备、磁性材料、超导体和化合物半导体等材料的特性、应用和测试方法。重点介绍了电阻率/电导率测量、四点探针测量、电流-电压(IV)测量、脉冲IV测量、时域I/V测量、电容-电压(CV)测量、电荷泵测量、Van der Pauw测量、霍尔效应测量、光飞行时间测量、交流阻抗光谱学和温度依赖性测量等技术及其在材料测试中的应用。同时,文章还讨论了材料测试中面临的挑战,如超低信号水平测量、宽电流和电压范围、电压和电流源能力、快速脉冲控制、快速采样速度、材料/器件探针能力、敏感测量和测量资源同步等。最后,介绍了Keysight Technologies在材料测试领域的解决方案和产品。
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参数测量手册
本手册深入探讨了元器件行业的参数测量技术,涵盖了测量基础、源/监测单元(SMU)原理、晶圆上参数测量、时变和高速测量、电阻测量、二极管和晶体管测量、电容测量基础以及功率器件表征等多个方面。内容涉及测量术语、准确性和重复性、分辨率、可追溯性、屏蔽和防护、噪声分析、SMU操作模式、晶圆探针技术、高速测试结构设计、电阻测量基础、二极管和晶体管特性、电容测量方法等。手册旨在帮助工程师和研究人员进行精确的参数测量。
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Keysight Technologies(是德科技) E5260/E5270 Series of Parametric Measurement Solutions
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Keysight Technologies(是德科技) E5260/E5270 Series of Parametric Measurement Solutions VXIplug&play Driver User’s Guide
本资料为Keysight E5260/E5270系列参数测量解决方案的VXIplug&play驱动程序用户指南。内容包括驱动程序的安装、功能参考、编程示例等。指南详细介绍了系统要求、安装步骤、驱动程序功能列表、参数设置、状态码以及编程示例,适用于Visual Basic和C++编程环境。
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是德科技解析如何轻松掌握功率器件Rg测试技术的技巧
IGBT,绝缘栅双极型晶体管是电力控制和电力转换的核心器件,是由BJT-Bipolar Junction Transistor(双极型晶体管)和 MOS-Metal Oxide Semiconductor(绝缘栅型场效应管)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,具有高输入阻抗,低导通压降,高速开关特性和低导通状态损耗等特点,适合高电压和高电流的光伏逆变器、储能装置和新能源汽车等电力电子应用。
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参数测试的两种基本测量——参数测试逐点测量和扫描测量
扫描测量是产生矢量结果的一系列测量,它在扫描测量期间改变一个独立变化量,然后测量和绘制相关的变化量。起初可能认为扫描测量只是一系列的单点测量,但实际并非如此。为迅速完成扫描测量,仪器要对扫描中从一个测量点转到到下一个测量点的情况进行假设。基本假设是改变测量点不要求改变测量量程 (如果是限制量程或自动量程)。当然,如果扫描要求改变测量量程,那么测量电路应执行这一改变。
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芯片测试大讲堂——半导体参数测试与避坑指南
半导体元器件是构成现代电子设备和系统的基础,其性能的好坏、稳定性的高低直接影响到电子设备的性能和可靠性。从最笼统的角度说,我们可以利用半导体参数分析仪对半导体器件进行IV参数测试,即电压和电流关系的测试,也可以延展到CV参数测试即电容相关的测试。
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