Mask Set Errata for Mask 2P43B
发布时间:
2025-07-11
类型:
技术文档,技术说明、产品技术资料
品牌:
NXP(恩智浦)
型号:
MIMXRT595SFFOCR; MIMXRT595SFAWCR; MIMXRT555SFFOCR; MIMXRT595SFFOC; MIMXRT533SFFOCR; MIMXRT555SFFOC; MIMXRT533SFAWCR; MIMXRT533SFFOC
本资料为NXP Semiconductors公司发布的RT500系列芯片2P43B掩膜集错误报告,涉及多个产品型号。报告详细列出了针对这些产品的错误编号、标题、描述和解决方案。错误涉及ADC、核心、FlexIO、FlexSPI、FSGPIO、GPIO、I3C、MIPI DSI、非安全引导ROM、安全引导ROM、电源管理、TRNG、USBHSD和USBHSH等多个模块。报告提供了针对每个错误的详细描述、工作原理和解决方案,旨在帮助用户解决产品在使用过程中遇到的问题。
资料下载
加工定制
可定制板装式压力传感器支持产品量程从5inch水柱到100 psi气压;数字输出压力传感器压力范围0.5~60inH2O,温度补偿范围-20~85ºС;模拟和数字低压传感器可以直接与微控制器通信,具备多种小型SIP和DIP封装可选择。
立即提交 压力传感器定制 >>
提供蓝牙BLE芯片协议、蓝牙模块、蓝牙成品测试认证服务;测试内容分Host主机层,Controller控制器层,Profile应用层测试。支持到场/视频直播测试,资深专家全程指导。
立即提交 蓝牙资格认证(BQB) >>
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
带附录的I.MX RT500低功耗交叉处理器数据手册
Rev. 0.1
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
微控制器外设/通用(VDE)测试报告(287890-TL2-1)
Rev3
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
2P43B的掩码集勘误表
Rev. 2
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
2P43B的掩码集勘误表
Rev. 0
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
MIMXRT5xxSFFOC MIMXRT5xxSFFOCR MIMXRT5xxSFAWCR I.MX RT500低功耗分频处理器数据手册
Rev. 3
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
MKV1x、MKExx、MKLxx、MKE1xz、MK32W0x、MKV3x、MKV4x、MKV5x、MKE1xf、MIMXRT10xx VDE测试报告,供申请人参考(5016540-4970-0002/257989TL2/SCB)
2019-03-08
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
带附录的I.MX RT500低功耗交叉处理器数据表
Rev. 0.1
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
勘误表RT600
Rev. 1.9
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
勘误表RT600
Rev. 1.8
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
勘误表RT600
Rev. 1.7
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
采用32位Cortex®-M33和Xtensa HiFi4音频DSP CPU的双核微控制器产品数据表
Rev. 2.0
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
IMXRT1040CEC
Rev. 4
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
采用32位Cortex®-M33和Xtensa HiFi4音频DSP CPU的RT600双核微控制器产品数据表
Rev. 1.8
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩码0N00X的掩码集勘误表\n
Rev. 1.2
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩码0N00X的掩码集勘误表\n
Rev. 1.2
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
RT600双核微控制器产品数据表
Rev. 1.2
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
RT600双核微控制器产品数据表
Rev. 1.1
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩膜1N00X的掩膜组勘误表
Rev. 1.0
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩膜1N00X的掩膜组勘误表
Rev. 1.0
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩码0P94B的掩码设置勘误表
Rev. 1.1
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
IMXRT1040XEC
Rev. 4
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
采用32位Cortex-M33和Xtensa HiFi4Audio DSP CPU的RT600双核微控制器产品数据表
Rev. 1.7
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
用于工业产品的I.MX RT1170交叉处理器数据手册
Rev. 1, 05/2025
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
用于工业产品的I.MX RT1170交叉处理器数据手册
Rev. 2
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
用于工业产品的I.MX RT1170交叉处理器数据手册
Rev. 1
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
用于工业产品的I.MX RT1170交叉处理器数据手册
02/2021
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
掩码集勘误表0N97Y掩码集勘误表
Rev. 0
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
面向消费类产品的I.MX RT1060交叉处理器
Rev. 3
|
下载 |
| 产品勘误说明 - 英文 |
MIMXRT1170/MIMXRT1160-EVK主板勘误表
Rev. 1.1
|
下载 |
| 技术文档 - 英文 |
RT600 勘误表 RT600 修订版 2.2 — 2024年11月8日 勘误
Rev. 2.2
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
NXP半导体数据手册:技术数据
Rev. 4, 04/2024
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据,覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器,超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据,不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持,更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务,贯穿硬件创新全链路,让研发更容易,让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
I.MX RT500 FusionF1 DSP在低功耗设计中的应用
本文档介绍了如何在使用NXP Semiconductors的i.MX RT500 FusionF1 DSP时进行低功耗设计。主要内容包括:通过调整DSP运行频率、切换DSP时钟源和调整VDDCore电压来优化DSP在活动模式下的功耗;以及通过DSP stall和DSP power down两种方式来优化DSP在待机模式下的功耗。此外,还提供了相关代码示例和应用信息。
阅读原文 >>
MIMXRT595 EVK板硬件用户指南
阅读原文 >>
Xplorer for EVK-MIMXRT595快速入门支持信息
本资料为NXP Semiconductors提供的关于Xplorer for EVK-MIMXRT595的开发指南。内容涵盖Xplorer开发环境的安装、配置和使用,包括Xplorer IDE和工具链的安装、MCUXpresso SDK的下载和配置、DSP核心的初始化、使用Xplorer IDE运行和调试DSP应用等。此外,还介绍了从命令行环境进行编译和调试的方法。
阅读原文 >>
用户手册-MCUXpresso安全配置工具v3
阅读原文 >>
i.MX RT600跨界微控制器数据表
阅读原文 >>
I.MX RT系列交叉MCU
NXP推出的i.MX RT系列跨界MCU,结合了MCU的简单性和应用处理器的复杂性,旨在满足智能和安全性高性能产品对用户体验的需求。该系列MCU具有高性能、高集成度、低功耗和安全性等特点,适用于工业、物联网和汽车应用。主要特点包括:多种高性能Arm Cortex-M和DSP核心、硬件加速器、大容量低延迟片上SRAM内存、低功耗操作、高度集成多媒体GUI和HMI、丰富的内存接口选项、安全特性等。此外,NXP还提供了一系列开发工具和评估套件,以降低开发难度和缩短上市时间。
阅读原文 >>
I.MX RT系列交叉MCU
NXP的i.MX RT系列跨接MCU结合了MCU的简单性和应用处理器的复杂性,旨在满足智能和安全性高性能产品对增强用户体验的需求。该系列MCU具有高性能、高集成度和安全性,适用于工业、物联网和汽车应用。主要特点包括多种高性能Arm Cortex-M和DSP核心、硬件加速器、大容量低延迟片上SRAM内存、低功耗操作、高度集成的多媒体GUI和HMI、广泛的内存接口选项以及安全特性,如硬件保护密钥、数据加密引擎和硬件椭圆曲线加密。
阅读原文 >>
I.MX RT系列交叉MCU
NXP的i.MX RT系列跨界MCU结合了MCU的简单性和应用处理器的复杂性,旨在满足智能和安全性高性能产品对增强用户体验的需求。该系列MCU具有高性能、低功耗、高集成度和安全性等特点,适用于工业、物联网和汽车应用。主要特点包括:多种高性能Arm Cortex-M和DSP核心、硬件加速器、大容量低延迟片上SRAM内存、低功耗操作、高度集成多媒体功能、丰富的内存接口选项和安全性功能。此外,NXP还提供了全面的软件开发工具和评估套件,以简化设计和加速上市时间。
阅读原文 >>
使用嵌入式向导和MCUXpresso简化您的GUI开发
本文介绍了如何使用嵌入式Wizard和MCUXpresso简化GUI开发。文章重点介绍了NXP的i.MX RT系列应用处理器,包括其低功耗、高性能的特点和不同型号的规格。同时,文章还介绍了MCUXpresso软件和工具套件,以及TARA Systems的嵌入式Wizard GUI解决方案,旨在提高开发效率和GUI性能。
阅读原文 >>
GUI Guider用户指南
本指南介绍了GUI Guider,一款基于LVGL库的IDE,用于设计嵌入式图形应用UI。GUI Guider支持拖放控件进行WYSIWYG UI设计,并提供代码查看器和自动生成LVGL C代码的功能。指南涵盖了安装、使用、支持的控件和事件、硬件加速以及将项目移植到集成开发环境等详细信息。GUI Guider支持Windows 10和Ubuntu 20.04操作系统,兼容多种工具链,并支持多种硬件平台。
阅读原文 >>
IMXRT500HDG i.MX RT500 硬件设计指南
本指南详细介绍了基于i.MX RT500的硬件设计,包括电源域、外部时钟、调试和编程接口等。内容涵盖电源轨、GPIO电源域、ADC和内核逻辑电源、内置稳压器、PMIC电源分配、外部时钟配置等关键硬件设计要素。指南还提供了MIMXRT595-EVK板的设计建议和示例,以帮助用户进行实际开发。
阅读原文 >>
IMXRT500HDG i.MX RT500 硬件设计指南
本指南详细介绍了i.MX RT500硬件设计,包括电源域、外部时钟、调试和编程连接、布局建议等。指南涵盖了芯片的28FDSOI技术、Cortex-M33内核、Fusion F1 DSP、图形子系统、低泄漏SRAM、连接性和定时器等关键特性。此外,还提供了MIMXRT595-EVK开发板的推荐和示例,以说明设计概念。指南还涉及电源供应、温度范围、缩写词和缩写等详细信息。
阅读原文 >>
八通道DMIC板用户手册
本手册介绍了NXP Semiconductors的8通道DMIC插件板(8CH-DMIC),该板提供单通道至八通道数字麦克风(DMIC)解决方案。手册详细描述了板上的11个DMIC及其配置、跳线、LED、开关和其他接口。内容包括电源供应、DMIC接口、连接器、跳线和LED等。手册还提供了示例程序,可在MCUXpresso SDK软件中找到,用于在选定的EVK板上使用8CH-DMIC板。
阅读原文 >>
从MIMXRT595-EVK上的QSPI闪存启动
本文档介绍了如何在MIMXRT595-EVK开发板上从QSPI闪存启动。内容包括硬件和软件修改,以支持从QSPI闪存启动,包括硬件连接修改、软件配置调整、Flash配置块(FCB)的配置、FlexSPI0时钟频率的调整以及Flash驱动程序的配置。此外,还提供了使用Boot ROM和blhost工具获取FCB的步骤。
阅读原文 >>
为当今游戏市场开发成功的配件
NXP Technologies致力于为游戏市场开发高性能的游戏配件。公司提供包括处理器、无线技术、音频和视频技术在内的全面解决方案,以满足游戏配件的多样化需求。NXP的EdgeVerse™计算组合涵盖了从通用MCU到应用处理器的多种处理平台,支持蓝牙、Wi-Fi、UWB、NFC等多种无线连接选项。此外,NXP还提供了一系列支持游戏配件设计的硬件和软件工具,以简化设计流程并加速产品上市时间。
阅读原文 >>
适用于可穿戴设备和个人设备的智能电池友好型解决方案
本文介绍了可穿戴设备和个人设备市场的发展趋势,以及NXP公司在该领域的解决方案。文章指出,随着技术的进步,可穿戴设备市场正在迅速增长,涵盖了从智能手表到智能服装等多种形式。NXP提供了一系列微控制器、应用处理器、无线设备、传感器和电源管理集成电路,以满足可穿戴设备对低功耗、连续连接、智能传感和用户友好界面的需求。文章还强调了NXP在安全、小型化形式因素和先进安全方面的优势。
阅读原文 >>
恩智浦EdgeReady I.MX RT117F基于MCU的3D人脸识别解决方案
NXP EdgeReady i.MX RT117F MCU解决方案支持3D人脸识别,适用于智能家居、智能建筑和智能工业应用,提供安全用户身份验证。该解决方案具备高性能、实时响应,支持离线人脸识别和活体检测,无需云服务,降低隐私风险。开发套件SLN-VIZN3D-IOT提供集成软件,简化开发流程。
阅读原文 >>
I.MXRT系列USB2.0认证预测试应用笔记(AN13474)
本资料详细介绍了如何对i.MXRT系列微控制器进行USB2.0合规性预测试。内容包括测试板、测试设备、工具以及测试流程。测试项目包括电气测试、设备框架测试等,并提供了具体的测试步骤和注意事项。
阅读原文 >>
i.MXRT 系列芯片的 USB2.0 认证预测试应用笔记 (AN13474)
本文档介绍了如何对NXP的i.MXRT系列MCU进行USB2.0一致性认证预测试,包括测试准备工作、测试流程、注意事项及易失败项分析。测试涵盖了电气测试项、Device Framework测试等,并提供了详细的测试步骤和所需设备。
阅读原文 >>