NanoSpice SI 信号完整性分析解决方案
发布时间：
2026-04-29
类型：
商品及供应商介绍，产品与供应商信息、器件厂商资料、供应商档案
品牌：
概伦电子（Primarius）
型号：
NanoSpice SI
加工定制
深圳市启威测实验室，面向所有企业提供信号完整性测试服务，主要包括USB、HDMI 、DP、MIPI、PCIe 、SD/EMMC、DDR接口信号测试。测试手段有波形测试、眼图测试、抖动测试等。
立即提交 信号完整性测试 >>
使用FloTHERM和Smart CFD软件，提供前期热仿真模拟、结构设计调整建议、中期样品测试和后期生产供应的一站式服务，热仿真技术团队专业指导。
立即提交 散热方案设计 >>
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
NanoWave - 高效便捷的波形测量工具
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
功率器件及电源芯片设计分析验证 产品简介
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
PathInspector - 晶体管级关键路径追踪与提取解决方案
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
NanoDesigner 全定制设计平台产品简介
阅读原文 >>
NanoSpice X SPICE仿真器 产品简介
阅读原文 >>
NanoSpice MS 高性能混合信号仿真解决方案
阅读原文 >>
NanoYield 高西格玛良率分析解决方案
阅读原文 >>
NanoSpice Pro X 先进高速 FastSPICE 仿真器
NanoSpice Pro X是一款先进的高速FastSPICE仿真器，采用自适应双引擎技术，集成FastSPICE和NanoSpice X模拟引擎，确保高精度和数字性能。它支持3D-IC和多工艺仿真，优化仿真结果输出和电路检查效率。产品优势包括效率更高、精度更高、覆盖更全、成本效益更高和容量更大。应用范围涵盖Flash/DRAM/SRAM功能验证、时序和功耗分析、复杂混合信号仿真、定制数字电路和SoC全芯片仿真。技术规格全面，支持多种标准输出格式和器件模型。
阅读原文 >>
NanoSpice Giga 千兆级高精度电路仿真器
NanoSpice Giga 是一款由概伦电子自主研发的千兆级晶体管级 SPICE 电路仿真器，具备高精度、高性能特点，适用于存储器电路、定制数字电路和全芯片仿真验证。该仿真器采用 True SPICE 精度级仿真引擎，确保先进工艺节点下芯片设计中功耗、漏电、时序、噪声等精度要求。NanoSpice Giga 支持多进程、多线程，实现快速仿真，并兼容 HSPICE/Spectre 格式输入网表，支持全面的器件模型和 SPICE 分析类型。
阅读原文 >>
NanoSpice Pro 高性能 FastSPICE 电路仿真器
NanoSpice Pro是一款高性能FastSPICE电路仿真器，具备卓越性能和超大容量。它通过独特的双引擎架构，提升芯片设计人员生产力，解决复杂设计的验证难题。其突破性的FastSPICE算法、智能拓扑识别和自动分区技术，提供业内领先的仿真速度和容量。NanoSpice Pro支持全面器件模型，包括MOSFET、BJT、TFT等，并支持多种标准输出格式和混合仿真。主要应用于存储器电路动态功耗和时序仿真、SoC全芯片电路快速时序和功能验证等。
阅读原文 >>
NanoSpice CCK 产品简介
NanoSpice CCK是一款先进的电路检查可靠性分析工具，支持静态和动态电路检查，包括ERC、SOA电路检查。它具备高效的电压传播算法和并行仿真技术，提供准确、简洁的测试结果，帮助设计人员及时发现电路问题。产品优势包括高性能、高精准、并行仿真和大容量，兼容性强，易于使用。应用范围涵盖模块级模拟到全芯片SoC电路检查，以及全芯片存储器电路检查等。
阅读原文 >>
DP1.4眼图信号质量差解决方案详解
眼图测试是验证信号质量的基本方法。通过观察信号眼图的眼宽和眼高，以及是否触碰到Eye Mask，可以判断源设备输出的信号是否足以被接收设备识别。此外，数字信号的眼图还包含丰富的信息，能够反映数字信号的整体特性，帮助评估信号质量。因此，眼图分析是数字系统信号完整性分析的关键之一。 想要解决DP1.4眼图质量差的问题，需要从多个方面进行深入分析。
阅读原文 >>
信号及电源完整性解决方案 法动EDA系列解决方案
法动科技提供的信号及电源完整性解决方案，利用三维全波电磁仿真技术和频域/时域电路仿真算法，帮助工程师进行封装及电路板的仿真分析。该方案支持信号完整性和电源完整性分析，包括时域仿真、频域仿真和IR Drop分析，旨在优化设计并提高电路性能。软件界面友好，易于操作，可与业界主流PCB设计环境集成。
阅读原文 >>
中科亿海微采用特种FPGA的高可靠自主可控随钻测量方案，提升测井系统的性能及扇区分辨率
中科亿海微多扇区随钻测量系统为石油测井中地质测量、地质信息采集、井下岩石或流体的物理特性分析提供了完整解决方案。该方案利用了FPGA芯片天然的高灵活性和算法并行性优势，采用中科亿海微特种FPGA实现随钻测量系统、测井仪等设备中地质信息采集、复杂信号实时处理和外设器件控制等功能，进而提升测井系统的性能及扇区分辨率。
阅读原文 >>
信号完整性基础入门
本文深入探讨了信号完整性的基本概念，分析了数字技术发展对信号完整性带来的挑战，并介绍了信号完整性问题的原因、特征、影响和解决方案。文章涵盖了信号完整性测量要求、逻辑分析仪和示波器在信号完整性分析中的应用，以及如何通过眼图、时域反射测量等工具来发现和解决数字故障。
阅读原文 >>
电气封装特性服务解决方案
Amkor的电气团队在电气封装表征、电气协同设计和建模方面拥有丰富经验，提供高质量的电气服务。服务包括：高性能、可靠和精确的设计，使用Cadence Allegro Package Designer、SiP Layout、Design for Performance (DFP)、Design for Cost (DFC) 和 Design for Manufacturing (DFM) 等工具。Amkor还提供全面的信号和电源完整性分析，使用行业标准的2D、3D、准静态和全波场求解器，确保设计满足性能和可靠性要求。
阅读原文 >>
电源完整性分析仪，参考解决方案
Keysight Technologies推出的电源完整性分析参考解决方案，旨在帮助用户在集成电路设计中降低功耗，提高电源质量。该方案包括10位、8GHz的Infiniium S系列示波器、专用的N7020A电源轨探头、高灵敏度N2820A电流探头等硬件，以及N8834A MultiScope应用软件和N5467B用户自定义应用软件等软件。该方案能够帮助用户更轻松地找到和分析DC电源的AC信号，确保电源轨清洁。
阅读原文 >>
SocialNext将在年度设计大会上重点介绍先进的SoC设计和解决方案
Socionext将在2017年DesignCon展会上展示其高性能SoC设计和先进封装解决方案。展会期间，公司将重点介绍其56Gb/s PAM4和56Gb/s NRZ收发器、100Gbps收发器以及“Chip-Package-PCB co-design”方法论。此外，Socionext将与Micron和Mentor Graphics共同进行技术演讲，探讨DDR总线读/写操作转换期间的信号完整性分析。
阅读原文 >>
法动科技EDA系列：信号及电源完整性解决方案
本案例介绍了采用法动科技的SuperEM®对封装及电路板中的信号线仿电磁特性、提取参数，使用FDSPICE®进行时域仿真的流程。软件界面易于上手，可快速完成建模仿真，可满足用户对设计进行信号完整性分析的需求。
阅读原文 >>
内存测试解决方案：快速准确的测试解决方案，解决您的内存设计挑战应用程序数据表
本文档介绍了Tektronix提供的SDRAM测试解决方案，旨在帮助用户快速有效地解决内存设计挑战。内容涵盖数字验证和调试、电气验证和调试以及信号路径特性分析等方面，涉及SDRAM初始化分析、命令序列和时序分析、数据有效窗口分析、时钟、选通和数据信号完整性分析等。此外，还介绍了TLA系列逻辑分析仪、DPO/DSA/MSO系列示波器和分析软件、DSA系列采样示波器和应用软件以及TriMode探头、中间件和总线探头等测试工具。
阅读原文 >>
用于移动无线设备的DigRF V3数字串行接口解决方案
Keysight Technologies 提供针对 DigRF v3 数字串行接口的测量解决方案，以应对移动无线设备中的测量挑战。该方案包括 N4850A 和 N4860A 探针，与 16800 和 16900 系列逻辑分析仪配合使用，提供数字串行数据采集和刺激能力。此外，还提供信号完整性分析、RF 信号生成和分析工具，以支持 DigRF v3 设计的快速部署和验证。
阅读原文 >>
Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
本文探讨了高速串行数据技术发展趋势，包括性能指标的提升、新技术和新标准的出现。文章重点介绍了TDR（时域反射计）在高速串行互连测试和验证中的应用，包括TDR的原理、信号完整性分析、阻抗测量和差分阻抗测量。此外，还讨论了TDR在PCB验证、串扰测试和频域S参数测量等方面的应用，以及泰克公司TDR测试解决方案的特点和优势。
阅读原文 >>
物联网智能设备的测试挑战和关键点解决方案
本文主要介绍了物联网（IoT）智能设备在测试过程中面临的挑战以及Keysight Technologies提供的解决方案。文章涵盖了电池寿命最大化、多格式无线连接干扰、信号和电源完整性问题以及电磁干扰（EMI）合规性和无线认证等方面的挑战。Keysight Technologies提供了包括低功耗测试解决方案、无线测试解决方案、信号和电源完整性分析工具以及EMI合规性和无线认证测试系统在内的多种解决方案，以帮助工程师加速开发并缩短产品上市时间。
阅读原文 >>
嵌入式系统调试及实时数 字系统验证测试解决方案
本文主要介绍了嵌入式系统调试及实时数字系统验证测试解决方案，包括泰克设计与制造仪器产品部的应用工程师常羽飞对嵌入式系统、通讯、国家研究项目等领域的调试与测试需求的分析。文章详细阐述了当前流行的嵌入式系统级调试方法，以及泰克提供的多种测试解决方案，如高速数字系统测试验证、信号完整性测试和验证、一致性分析以及验证等。此外，文章还介绍了泰克提供的各种测试仪器和软件，如逻辑分析仪、示波器、探头和应用软件等，以帮助工程师进行高效的调试和测试工作。
阅读原文 >>
Keysight（是德科技） 消费电子物联网设备测试的挑战与解决方案
本文介绍了是德科技针对物联网（IoT）在消费电子设备中的应用所提供的测试解决方案。文章详细阐述了物联网设备在开发过程中面临的挑战，如电池寿命、电源管理、信号完整性、无线连通性、EMI/EMC兼容性等，并针对这些挑战提出了相应的测试解决方案。文章涵盖了低功耗测试、无线连通性测试、信号和电源完整性分析、EMI/EMC兼容性和无线一致性测试等多个方面，旨在帮助工程师克服设计难题，加快产品开发速度。
阅读原文 >>
2014年泰克测试测量技术研讨会-厦门 信号完整性测试及实时数字系统分析解决方案
本资料主要探讨了信号完整性测试及实时数字系统分析解决方案。内容涵盖了并行传输原理、信号完整性分析、波形完整性、时序完整性、电源完整性等方面。详细介绍了误码的根源、信号完整性分析的目的、系统设计中可能引起信号完整性的因素、波形完整性问题的原因及消除方法、链路的阻抗匹配、传输线的原理、TDR测试方法、链路的损耗、信号的衰减/链路损耗评估、时序完整性问题、眼图和抖动的测试分析、眼图形成的原理、影响眼图质量的原因、抖动的定义及分类等。
阅读原文 >>
嵌入式系统的调试及实时数字系统验证测试决方案
本文主要介绍了嵌入式系统调试及实时数字系统验证测试解决方案，涉及串行总线、并行总线、ADC/DAC/Codec编解码、Tx/Rx & WLAN、电池与开关电源管理等方面。文章详细阐述了嵌入式系统调试的五个阶段：探测、发现、捕获、搜索、分析，并介绍了泰克提供的多种测试测量解决方案，包括高速数字系统测试验证、信号完整性测试和验证、一致性分析以及验证等。此外，文章还介绍了泰克最新测试测量解决方案的架构和关键指标，以及示波器、探头和应用软件等。
阅读原文 >>
Tektronix高速Cable测试和验证解决方案
本文探讨了高速串行数据技术对测试测量带来的挑战，重点介绍了TDR（时域反射计）在高速串行互连测试和验证中的应用。文章详细阐述了TDR的原理、应用，包括阻抗测量、信号完整性分析、串扰测试等。同时，文章还介绍了泰克公司的TDR测试解决方案，以及TDR与高级分析软件的结合，如IConnect软件，用于频域参数测量、眼图测试等。此外，文章还讨论了新标准下的测试规范和测试要求。
阅读原文 >>
MeQLab 一站式射频建模平台 产品简介
阅读原文 >>
BSIMProPlus 先进器件建模平台 产品简介
阅读原文 >>
TRASTA TRASTA
TRASTA是一款门级晶体管级混合时序分析解决方案，旨在提高IC设计中的时序分析效率。该产品能够自动识别关键路径，并支持混合信号设计的时序分析。TRASTA提供晶体管级路径分析、混合层级静态时序分析等功能，并支持第三方电路仿真器接口。其优势包括定制单元快速特征化、高效的全芯片关键路径定位等。
阅读原文 >>
SDEP
SDEP是一款半导体器件SPICE模型提取自动化平台，具备强大的API和图形化界面，支持用户定制和优化模型提取流程。平台集成模型数据分析、参数提取和质量检查技术，提供高效建模解决方案，并支持模型库开发、建模人才培训和知识传承。
阅读原文 >>
芯片级HBM静电防护分析平台ESDi 产品简介
ESDi平台是一款先进的芯片级ESD（静电防护）验证平台，提供原理图级和芯片级HBM（人体模型）检查工具，以及多线程仿真分析工具。该平台通过非线性仿真技术和ESD器件的TLP模型，确保对HBM静电防护放电路径的精确仿真，并支持版图提取、pad和ESD器件识别。ESDi平台可用于检查内部电路器件过载、HBM ESD放电导致pad电压过高、电迁移问题等，并提供全面的HBM验证解决方案，适用于设计全流程。
阅读原文 >>
LibWiz - 标准单元库验证解决方案 产品简介
LibWiz是一款针对标准单元库验证的解决方案，旨在确保库中不同PVT组合的一致性和有效性。该工具支持多种库格式，如Verilog HDL、OASIS（GDS-II）、SPICE、Liberty和LEF，并提供交叉检查功能以验证库的一致性。LibWiz还支持生成数据手册和简化版图，并具备友好的图形用户界面。
阅读原文 >>
ME-Pro集成电路工艺与设计验证评估平台
ME-Pro集成电路工艺与设计验证评估平台是一款由概伦电子自主研发的创新性平台，旨在为集成电路设计、CAD、工艺开发、SPICE模型和PDK专业从业人员提供共用平台。该平台支持对半导体器件模型进行仿真分析和验证，对应工艺平台性能评估，以及工艺/器件/电路的互动设计。ME-Pro通过内置的NanoSpice仿真引擎和先进的并行计算算法，大幅提升了评估分析效率，支持系统化评估器件和电路特征，提升设计和工艺的互动效率。
阅读原文 >>
VeriSim 先进数字仿真器 产品简介
VeriSim是一款先进的数字仿真器，专为大型SoC设计提供全面的数字设计验证解决方案。它支持多种硬件描述语言，包括Verilog、VHDL、SystemVerilog和SystemC，提供行为级、RTL级和门级仿真，以及SystemVerilog和SystemC混合仿真。VeriSim具备高性能仿真引擎、约束求解器，支持多种测试和验证方法，如UVM和代码覆盖率测试，并集成NanoSpice提供混合信号验证解决方案。
阅读原文 >>
