Nanovolt Scanner Test System
发布时间：
2018-08-01
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
78B; 7168; 7001; 2182A
本技术手册详细介绍了Model 78B Nanovolt Scanner Test System，这是一款专为扫描和测量低电压而设计的高精度测试系统。该系统集成了Model 7168 Nanovolt Scanner Card、Model 7001 Scanner以及Model 2182A Nanovoltmeter等核心设备，主要应用于多点低电压测试场景，包括热电偶测试及低电阻测量等。系统通过IEEE-488总线与计算机连接，能够高效实现数据的采集与计算，满足精密测量需求。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。同时，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
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低压/低电阻表
2018/06/17
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探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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如何实现精确的低电压和低电阻测量
No. 3128
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7168 8通道，2极纳伏扫描卡
2011/12/21
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纳伏表
2017/12/21
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规格型号7168 nV扫描卡
2017/12/31
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2600系列系统源表多通道I-V测试解决方案
Rev.708
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2182A型纳伏表仪器规范
Rev. F
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7158 10通道低电流扫描卡
2013/2/23
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如何搭建高性能开关应用指南应用于自动化测试
11.11.13
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7019-C 6线欧姆矩阵卡，用于2400系列SourceMeter®仪器
2011/12/21
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7012-C 7012-S 4x10矩阵卡。
2018/06/27
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为7001/7002型交换机系统配置非701X系列卡
Rev. A
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4299-7型固定机架安装套件装配和安装说明
Rev. D
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| 数据手册 - 中文 |
2401 低压数字源表 数据手册
08.17.11
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用于设备测试和特性描述的精密低电流源型号6220直流电流源型号6221交流和直流电流源
2017/12/22
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6220型 6221型直流电流源 交流和直流电流源
2019/03/30
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定制射频/微波信号路由系统
2018/07/10
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7090光交换卡
2017/12/23
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直流电流源交直流电流源
2017/12/21
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霍尔效应卡
2017/12/29
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7001高密度开关系统
Rev. C
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2001型万用表和7001/7002型开关系统支持软件
2018/07/10
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进行精密的低电压和低电阻测量
2017/12/22
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Keithley 580型替代品
25-Sept-2007
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高阻抗半导体电阻率和霍尔效应测试配置
2017/12/23
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更大程度的信心是转换考虑的指南
2017/12/21
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哪种Keithley纳米技术解决方案最适合您的采购或测量应用？
2017/12/27
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微弱信号测量专题专注于纳米，半导 体，物理，化学，生物等全新领域.. 以超高的灵敏度超越数字万用表的测量极限带您探索微观世界
2017/12/30
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
2182/2182A型纳伏表
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 2182/2182A纳米伏特计的用户手册。手册详细介绍了仪器的使用、维护和操作，包括安全注意事项、电压和温度测量、范围、数字、速率和滤波器设置、相对、mX+b和百分比测量、比率、Delta测量、缓冲操作、触发、限制、步进和扫描、模拟输出、远程操作、常见命令、SCPI信号导向测量命令、SCPI参考表、附加SCPI命令、规格、状态和错误信息、测量考虑因素、Model 182仿真命令、示例程序、IEEE-488总线概述、IEEE-488和SCPI符合性信息以及测量查询等内容。
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统，包括622X电流源和2182A纳伏表，提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计，并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成，支持多种测试模式，如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位，包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元（SMU）和低电阻测量技术，以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外，还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术，以及相关产品和应用案例。
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2182/2182A型纳伏表维修手册
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7001型交换机系统快速参考指南
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 7001开关系统快速参考指南。内容包括安全注意事项、操作概述、菜单结构、默认条件、错误和状态信息、IEEE-488.2通用命令和查询、SCPI命令子系统等。主要涉及产品使用安全、操作方法、菜单操作、默认设置、错误处理等方面。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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半导体材料与器件科学云讲堂——二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
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半导体材料与器件科学云讲堂--二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲，内容涵盖二维材料/石墨烯及其电子器件的IV和CV测试方法。讲座介绍了二维/石墨烯材料的四探针测试和霍尔效应测试，以及二维MOSFET器件的电性能测试。此外，还探讨了高性价比和高性能测试方案，并针对石墨烯电子器件的测试挑战提出了相应的解决方案。
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纳米技术测量手册纳米科学应用的电测量指南
本资料主要介绍了纳米技术测量中的低级测量技术，包括测量误差的来源、降低误差的方法、测量系统配置以及不同测量方法的应用。内容涵盖了外部漏电流、接地和屏蔽、噪声、建立时间、系统漏电流、额外电流误差等方面，并举例说明了在纳米电子和分子电子设备上的低电流测量实例。此外，还讨论了低功耗纳米技术和敏感设备的AC与DC测量方法，包括锁相放大器和DC反转测量技术，以及这些技术在低电阻、高电阻和中电阻测量中的应用。
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使用2400型SourceMeter®和7001型交换机主机对GMR磁头进行生产测试
本文介绍了使用Keithley Model 2400 SourceMeter和Model 7001 Switch Mainframe进行GMR磁头生产测试的方法。文章详细描述了GMR磁头的测试过程，包括电阻测量、隔离电阻测量和电感写线圈电阻测量。此外，还讨论了测试系统配置、测试方法和技巧，以及如何避免测试中的错误和安全隐患。
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使用Keithley Series 2000 DMMs和7001/7002交换系统优化交换/读取速率
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keithley低压/低电阻表
本资料为低电压/低电阻测量仪器的选择指南，涵盖了多种型号的仪器及其技术参数。包括电压范围、电流范围、电阻范围、热电偶温度范围、输入电压噪声等关键性能指标。此外，还介绍了仪器的特殊功能，如IEEE-488、RS-232接口，低电平测量与源，以及可选的配件和模块。
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比较7000系列SCPI应用程序和3700系列脚本应用程序说明
本文介绍了Keithley仪器公司Series 7000和Series 3700系列测试仪器的SCPI命令与脚本编程方法的比较。文章详细阐述了两种方法在仪器控制、功能划分、通信方式等方面的异同，并通过具体实例展示了如何将Series 7000的SCPI应用转换为Series 3700的脚本应用。此外，文章还对比了两种方法在编程语法和功能特性上的差异，为用户提供了选择和使用不同编程方法的参考。
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keithley选择器导向功能/脉冲/任意/模式发生器
本资料为元器件行业中的函数/脉冲/任意波形/图案发生器产品选型指南。内容包括不同型号产品的描述、功能特点、电压脉冲、电流脉冲、脉冲宽度、电压源、电流源、图案模式以及集成测量等参数对比。涉及产品包括EPSON、Silicon Labs等品牌。
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1818用2400型SourceMeter®仪器配置电阻网络测试系统
本文介绍了如何使用Model 2400 SourceMeter®仪器配置电阻网络测试系统。该系统适用于生产测试，旨在验证电阻网络在不同生产阶段的性能，并确保产品符合制造商的规格。文章详细描述了测试系统的组装和配置，包括使用Model 7001开关主框架和Model 7019矩阵卡。此外，还介绍了不同类型的电阻网络测试方法，如标准4线Kelvin测量、6线 guarded ohms测量和“Y”电路或埋节点电阻测量。文章强调了Model 2400在提高生产吞吐量方面的优势，并提供了测试系统配置和电缆连接的详细信息。
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高强度可见光led的生产测试
本文介绍了高亮度LED的生产测试方法，包括直流测试（正向电压、反向击穿电压和漏电流）和光学测试（发光强度和波长验证）。文章详细描述了测试过程、所需设备、测试系统配置以及如何避免常见错误，如结温升高、引线电阻、漏电流和静电干扰等。此外，还提供了测试程序和设备清单。
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7065霍尔效应卡使用手册附录
本资料为Keithley Instruments公司Model 7065霍尔效应卡的补充说明，旨在提供最新信息。内容包括设备变更、Model 7001开关系统特性、IEEE-488总线编程、示例电阻率和霍尔电压程序等。资料详细说明了如何使用Model 7065卡与Model 7001开关系统配合，包括设置主地址、示例程序要求等。
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2010型万用表用户手册
本资料为Keithley Model 2010数字多用表的用户手册，主要内容包括：产品概述、基本测量功能、测量选项、远程操作、SCPI命令参考、状态和错误信息、示例程序等。手册详细介绍了Model 2010的规格参数、操作方法、安全注意事项以及与远程操作和编程相关的信息。
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Keithley电化学测试仪器方法及应用
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