80E01,80E02,80E03,80E04&80E06 ElectricalSamplingModules 071-0434-05
发布时间：
2018-08-01
类型：
用户指南，使用手册、操作指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
071-0434-05; 80E01; 80E02; 80E03; 80E04; 80E06; 015-0703-xx; 015-1022-xx; 004-5091-xx; 004-5165-xx; 80N01; 015-1001-xx; 015-1002-xx; 015-0565-xx; 020-1693-xx; 015-0552-xx; 015-0553-xx; 015-0549-xx; 131-0112-xx; 071-0438-xx; 071--2049--xx; 015-0558-xx; 071-0434-xx
本用户手册详细介绍了Tektronix公司80E01至80E06系列电气采样模块的安装、操作、维护及故障排除方法。作为高性能测试设备，该系列手册涵盖了模块概述、安装配置、操作基础及参考信息等核心内容，具体包括前面板控制、信号连接、系统交互，以及TDR测量、连接器维护、阻抗测量和故障检测等关键技术点。此外，手册还提供了详尽的电气性能与机械尺寸技术规格，旨在帮助用户全面掌握模块特性并确保测试精度。Tektronix在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该手册内容，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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数字串行分析仪采样示波器
2017/12/24
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高速串行测试方案介绍
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80A09 26GHz ESD 保护装置产品技术资料
10 Jul 2014
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选项SST测试溶液参考
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电气采样模块数据表
18 May 2017
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电气采样模块数据表
18 May 2017
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DSA8300 产品技术资料
26 Apr 2017
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电接口采样模块产品技术资料
18 May 2017
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阅读第一篇80C00、80E00、80A00和82A00系列模块安全处理模块
Version 5.0
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DSA8300数字串行分析仪采样示波器数据表
2015/6/5
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用于DSA8300采样示波器的IConnect®SW 80SICMX•80SICON•80SSPAR规格书
6 Oct 2020
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DSA8300数据表数字串行分析仪采样示波器
08 Nov 2017
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差分SMA探头家族
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用于DSA8300的80A02 EOS/ESD隔离模块80A02 EOS ESD隔离模块数据表
13 Oct 2017
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任意波形发生器 AWG70000A系列
18 May 2018
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任意波形发生器 AWG70000A 系列
17 Mar 2017
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技术参考 P7380 8 GHz 5X/25X 差分探头 071-1717-01
2017/12/31
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IConnect®SW用于DSA8300*1采样示波器80SICMX•80SICON•80SSPAR数据表
25 Jan 2012
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技术参考 P7360 6 GHz 5X/25X 差分探头 071-1867-00
2017/12/31
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为 DSA8300 专门开发的 80A02 EOS/ESD 隔离模块 80A02 EOS ESD 隔离模块产品技术资料
16 Oct 2017
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DSA8300数字串行分析仪和80A00、80C00、80E00、82A00采样模块80N01、80X00电气采样模块延长电缆解密和安全说明
Revision A
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82A04B数据表DSA8300采样示波器的相位参考模块
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大幅节省：使用TekSelect可节省10-70%
08 Sep 2009
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DSA8300采样示波器80C00光接口模块产品技术资 料
07 May 2018
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
阅读本标准附件
该资料列出了与仪器一同提供的当前标准配件清单，取代了80E00系列电气采样模块用户手册（编号071-0434-03）中列出的标准配件。配件包括可追溯校准证书、模块升级套件、适配器、SMA终端、用户手册以及防静电保护运输箱。部分配件仅适用于特定型号。
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DSA8300数字串行分析仪、80C00、80E00采样模块、80A00辅助模块性能验证技术参考
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80A09 26 GHz ESD保护装置说明书
Tektronix 80A09是一款用于保护电采样模块输入免受电过载应力（EOS）和静电放电（ESD）损坏的直流耦合电压限制器。该设备通过降低高电压达到敏感的高带宽采样二极管的风险，确保采样模块性能不受影响。资料中详细介绍了安装、使用和测试80A09的步骤，包括防静电放电（ESD）的最佳实践和注意事项。
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80C00和80E00系列光电采样模块
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、电气和光学信号的连接、远程模块安装、清洁和维护等。此外，还提供了模块与仪器和软件的兼容性信息、可选配件和附件列表，以及电气连接器的扭矩设置。
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80C00和80E00系列光电采样模块
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、软件兼容性、操作基础、连接光信号和电信号的方法、清洁模块和光学连接器等。此外，还提供了模块的兼容性表格、附件和选项信息，以及电气连接器扭矩设置指南。
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、电气和光学信号的连接、操作基础、模块控制和指示器的使用、远程模块安装、清洁模块和光学连接器等。此外，还提供了模块与仪器和软件的兼容性信息、附件和选项、电气连接器扭矩设置等内容。
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、软件兼容性、操作基础、连接光学和电信号的方法、清洁模块和光学连接器等。此外，还提供了模块的兼容性表格、附件和选项信息，以及电气连接器扭矩设置指南。
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、软件兼容性、操作基本步骤、连接光信号和电信号的方法、清洁模块和光学连接器等。此外，还提供了模块的兼容性表格、附件和选项信息，以及电气连接器扭矩设置指南。
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
本手册详细介绍了Tektronix公司80C00和80E00系列光电器件和电电器件模块的安装、操作和维护。内容包括模块与仪器和软件的兼容性、典型模块配置、安装和拆卸模块的步骤、操作基本原理、连接光信号和电信号的方法、远程模块安装、模块清洁等。此外，还提供了模块、仪器和软件兼容性表、附件和选项、电气连接器扭矩设置等信息。
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80C00和80E00系列光电采样模块用户手册
本资料为Tektronix公司80C00和80E00系列电气和光采样模块的用户手册。手册详细介绍了模块的安装、操作、维护和兼容性信息。内容包括模块的物理安装、电气和光学信号的连接、操作基础、远程模块安装、清洁和维护等。此外，还提供了模块、仪器和软件的兼容性信息，以及可选配件和附件的列表。
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DSA8300数字串行分析仪，80C00系列光学采样模块，80E00系列电气采样模块，80A00模块规格技术参考
本资料为Tektronix公司DSA8300数字串行分析仪及相关模块的技术规格说明书。内容包括DSA8300主机的信号采集、时基、触发、显示、端口、数据存储、功耗、冷却等规格参数，以及80E00系列电气采样模块、80C00系列光学采样模块、80A00模块的详细规格。资料还提供了保修信息、相关文档列表和模块安装说明。
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DSA8300数字串行分析仪，80C00系列光学采样模块，80E00系列电气采样模块，80A00模块规格技术参考
本资料为Tektronix公司DSA8300数字串行分析仪及相关模块的技术规格说明书。内容包括DSA8300主机的信号采集、时基、触发、显示、端口、数据存储、功耗、保险丝和冷却等规格参数，以及80E00系列电气采样模块、80C00系列光学采样模块、80A00模块的详细规格。资料还提供了保修信息、相关文档列表和模块安装说明。
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用户手册80A01触发预刻度限制前置放大器模块071-0873-00
本手册为80A01触发预分频限制放大器模块的用户手册，介绍了模块的功能、安装方法、操作说明和规格参数。模块适用于CSA8000通信信号分析仪和TDS8000数字采样示波器，用于提高8000系列仪器的预分频触发输入灵敏度至200 mVpk-pk。手册详细说明了模块的安装、操作、系统交互、用户调整和编程接口，并提供了模块的详细规格参数。
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DSA8200数字串行分析仪技术规范及性能验证技术参考
本资料为Tektronix DSA8200数字串行分析仪的技术参考，包含规格说明和性能验证流程。资料详细介绍了DSA8200系统的规格参数，包括信号采集、时基、触发、显示、端口、数据存储、功耗、机械和环境等。此外，还提供了性能验证的步骤和测试方法，涵盖电气和光学输入通道的验证、时间基准工作验证、门控触发测试等。
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技术参考P7360 6 GHz 5X/25X差分探头071-1868-00
本资料为Tektronix公司P7360 5X/25X差分探针的技术参考手册。内容涵盖探针的操作理论、输入电压限制、差分模式信号范围、共模抑制比、探针技术、输入阻抗和探针负载、附件的电气效应、单端测量、差分测量、串行总线标准、规格、性能验证、用户服务等方面。资料详细介绍了探针的电气特性和机械特性，以及如何进行性能验证和用户维护。
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使用差分探头进行单端测量
本文介绍了使用差分探头进行单端测量的方法及其优势。随着高速差分信号在数字通信领域的广泛应用，差分探头技术也得到了发展。文章首先概述了差分探头的基本原理和设计，然后详细讨论了使用差分探头进行单端测量的方法和注意事项，包括探头接地、信号保真度、共模噪声抑制等方面。最后，文章通过实际案例展示了差分探头在单端测量中的应用，并强调了其在高速信号测量中的重要性。
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用于高性能SMA过渡设计的混合测量和场求解方法应用说明
本文介绍了一种混合测量和场求解器方法，用于高性能SMA T转换的设计。该方法结合了场求解器和基于测量的建模方法，通过验证全波和准静态计算结果，提高了设计信心。该方法使用通用、非专业、低成本材料，在短时间内实现最优低成本生产设计，并确保时间域和频域性能。文章详细讨论了场求解器和测量方法的优势，并通过实际案例展示了如何通过优化设计来提高SMA转换的性能。
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DSA8300数字串行分析仪性能验证技术参考
本资料为Tektronix公司DSA8300数字串行分析仪的性能验证技术参考，内容包括安全信息、操作指南、性能验证程序等。资料详细介绍了DSA8300分析仪的功能测试、性能测试、仪器和模块补偿等操作步骤，旨在确保仪器正常工作并提供高质量的测量结果。
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DSA8300数字串行分析仪性能验证技术参考
本资料为Tektronix公司DSA8300数字串行分析仪的性能验证技术参考。内容包括安全概述、服务安全概述、前言、手册结构、相关文档、性能验证程序、功能测试程序等。详细介绍了DSA8300分析仪的性能验证流程，包括功能测试、仪器和模块补偿、仪器功能测试等，以及所需设备和测试步骤。
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应用说明TDR和S参数测量-您需要多少性能？
本文探讨了高速串行数据网络分析（SDNA）中的TDR和S参数测量技术。随着计算机、通信和消费电子行业从并行到高速串行数据的转变，对数据传输速率的要求越来越高，导致信号完整性问题更加突出。文章重点介绍了TDR技术及其在S参数测量中的应用，与传统的矢量网络分析仪（VNA）相比，TDR具有成本效益高、易于使用、易于校准、精度高和吞吐量高等优点。此外，文章还讨论了TDR的分辨率要求、上升时间要求、动态范围和带宽要求，以及Tektronix TDR模块如何满足这些要求。
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技术参考P7313 12.5 GHz Z-Activet差分探头071-1704-03
本资料详细介绍了Tektronix公司生产的P7313 12.5 GHz Z-Active差分探头的使用和性能。内容包括探头的操作原理、输入电压限制、带宽最大化技巧、输入阻抗和探头负载、附件的电气效应、单端和差分测量方法、共模抑制比（CMRR）评估、输入阻抗对CMRR的影响、串行总线标准、规格参数、性能验证流程以及用户服务信息。资料还提供了探头的典型和规范特性，以及不同类型附件的带宽性能。
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技术说明矢量网络分析仪和TDA系统IConnect®生成S参数的比较
本技术笔记比较了使用矢量网络分析仪（VNA）和TDA Systems IConnect®软件生成的单端插入损耗（SE IL）和回波损耗（SE RL）数据。研究结果表明，两种方法在测量6英寸和1米长度的Samtec EQCD系列电缆组件时，结果高度可比。笔记还讨论了IConnect®软件在生成这些参数作为VNA生成数据的替代方案的应用。
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TDR 阻抗测量：信号完整性的基础 应用文章
本文主要介绍了时域反射计（TDR）在信号完整性测试中的应用。随着数字系统工作频率的提高，信号完整性变得尤为重要。TDR技术通过测量信号在传输环境中的反射，帮助工程师了解和控制阻抗，从而提高信号质量。文章详细解释了TDR的工作原理、测量方法以及如何使用TDR解决信号完整性问题，并介绍了TDS8000示波器和80E04 TDR取样模块等设备的应用。
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IConnect® 信号完整性,TDR和S参数测量软件
IConnect® 信号完整性、TDR 和 S 参数测量软件是一款用于分析互连抖动、损耗、串扰等问题的软件。它支持时域和频域分析，提供精确的阻抗和 S 参数测量，并支持自动生成 SPICE 模型。软件具备快速简便的故障定位功能，支持多种标准的眼图模板测试，并可与 SPICE 仿真器集成，提高设计效率和可靠性。
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了解和进行 USB 2.0 物理层测试 应用指南
本文主要介绍了USB 2.0物理层测试的应用指南，包括USB 2.0设备设计、检测和验证。指南详细阐述了USB 2.0的物理层测量和电气特性一致性测试，如信号质量、浪涌电流、下跌和衰落测试等，并讨论了每种测试所需的仪器。此外，还介绍了高速测试，包括接收机灵敏度、CHIRP、单调性和阻抗测试。指南强调了泰克提供的测试工具和软件在USB 2.0测试中的重要性。
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