Model 4200-CVU-PROBER-KIT
发布时间：
2018-08-01
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
4200-CVU-PROBER-KIT
本产品说明书详细介绍了Keithley Instruments推出的Model 4200-CVU-Prober-KIT，这是一套专为多种探针台设计的标准电容-电压测量常用配件集合。该套件的核心功能在于补充Model 4200-CVU及其升级产品标准配备的1.5米电缆，额外提供了3米长度的电缆，从而有效延伸测量范围，满足更复杂的测试环境需求。资料中明确提及了7078-TRX-GND和7078-TRX-BNC的具体规格及包装清单信息，为用户在选型和配置时提供了详实的技术参考。Keithley在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该配件方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请、批量询价及库存充足，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。同时，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统解密和安全说明
v121515
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
4200-CVU-PWR型零件包
Rev. C
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| 技术文档 - 英文 |
4200-SCS型集成C-V选件
Oct. 07
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4200A-SCS参数分析仪数据表
120120
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4200A-SCS参数分析仪数据表
2017/12/22
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| 数据手册 - 中文 |
4200A-SCS参数分析仪产品技术资料
2019/10/23
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4200A-SCS 参数分析仪产品技术资料
2018/07/03
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4200A-SCS 参数分析仪 产品技术资料
2017/12/22
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4200A-SCS 参数分析仪
2021/10/13
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4200A-SCS参数分析仪
2021/10/13
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4200A-SCS参数分析仪
2017/12/21
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| 技术文档 - 英文 |
适配器、电缆、探头和稳定器套件
2018/07/02
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先进半导体器件与材料特性分析系统 –4200-SCS的最新技术进展
2017/12/23
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4200-SCS 半导体特性分析系统技术指标
Rev. M
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| 数据手册 - 英文 |
DMM7512型7-1/2位采样万用表规格
Rev. B
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MTS400系列MPEG分析工具基本流（ES）分析仪数据表
02 Oct 2011
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TPP0502 500MHz 2x无源探头说明
2018/10/13
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
用4200-CVU电容电压单元测量电感
本文介绍如何使用Keithley Model 4200半导体表征系统中的4200-CVU电容选项间接测量电感。通过测量阻抗、相位角和测试频率，用户可以计算出电感值。文章详细说明了操作步骤，包括创建交互式测试模块、设置测量参数和使用公式计算电感。此外，还讨论了测量范围、误差来源和最佳实践。
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使用4200-SCS型半导体表征系统对MOS电容器进行C-V表征
本文介绍了使用Keithley Model 4200-SCS半导体表征系统及其4200-CVU集成C-V选项进行MOS电容器C-V测量的方法。文章详细阐述了MOS电容器的C-V测量原理、测量技术、常见C-V参数的提取以及测量优化技巧。此外，还介绍了如何通过C-V数据提取MOS器件参数，如氧化层厚度、阈值电压、掺杂浓度等。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案及应用指南
本资料由泰克科技（中国）有限公司提供，主要针对当代材料科学研究中电学特性测试方案及应用进行详细阐述。内容涵盖电输运特性、量子材料、超导材料、半金属、异质结构等材料的物性表征测试方案；新一代高速存储单元及类脑计算、神经元网络测试方案；MEMS、宽禁带材料、纳米结构材料等测试方案。资料详细介绍了各类材料的测试挑战、解决方案、测试流程及泰克公司提供的测试方案配置和优势。
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用css-4200-u-C型大功率半导体器件进行大电流测量
本资料介绍了使用Model 4200-SCS半导体表征系统及其C-V Power Package进行高电压和高电流C-V测量的方法。资料详细说明了如何连接设备、使用KITE软件控制测量、设置参数以及优化测量过程。此外，还提供了针对齐纳二极管、MOS电容、电容器和肖特基二极管的测试示例。
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元件和半导体器件的C-V试验应用指南
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用4200A-SCS参数分析仪测量高压大电流C-V
本文介绍了使用4200-CVU-PWR C-V功率包和4200A-SCS参数分析仪进行高电压和高电流C-V测量的方法。该方案允许进行高达±200V或400V差分（0至±400V）的直流电压偏置和高达300mA的电流输出。文章详细说明了如何连接设备、使用Clarius软件控制高电压C-V测量，并提供了针对齐纳二极管、MOS电容器、电容器和肖特基二极管的测试示例。此外，还讨论了优化测量和测试系统安全的重要性。
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用4200A-SCS参数分析仪对4200-CVU-PWR C-V功率包进行高电压大电流C-V测量
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4200A-SCS型参数分析仪参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4200A-SCS参数分析仪的用户手册。手册详细介绍了该分析仪的概述、连接配置、源测量单元（SMU）、脉冲测量和发生器单元、多频率电容-电压单元（CVU）以及Clarius软件的使用。内容涵盖安全注意事项、硬件配置、软件操作、测试项目和故障排除等，旨在指导用户正确使用和维护该分析仪。
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660型保护直流差分电压表使用手册
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DAS-1800HC系列用户指南
本资料为DAS-1800HC系列数据采集板用户手册，详细介绍了该系列板卡的安装、接口要求、功能及操作。手册内容涵盖板卡特性、配件、软件选项、操作功能、软件安装、配置、典型连接、DriverLINX软件操作、校准和故障排除等。手册适用于熟悉IBM PC或兼容机在Windows 95/98或Windows NT环境下操作、数据采集原理及其应用的人员。手册结构清晰，内容详实，为用户提供了全面的使用指导。
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DAS-1800HC系列用户指南
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串行数据链路分析（SDLA）：用于Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器的SLE/SLA选项
Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器SLE/SLA选项提供先进的串行数据链路分析（SDLA）功能，包括均衡、链路预算和“假设”分析。该软件支持多种高速串行数据标准，如6 Gb/s、USB 3.0、SATA、PCIe、OIF CEI等，并具备参数化信道仿真、信号路径拓扑结构灵活性和网络测量工具等功能，以帮助工程师优化设计并确保测试的准确性。
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720型可变孔径积分模数转换器说明书
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FOR-16手动
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完整的SmartLink™用户手册
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捕获性能：下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案，涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
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下一代示波器
新一代示波器系列，包括3系列MDO、4系列MSO、5系列B MSO和6系列B MSO，提供卓越的调试速度和洞察力。这些示波器具备触摸屏界面、高分辨率显示屏、多通道输入、集成频谱分析、强大的分析工具和多种协议选项。此外，它们还支持高级测量和分析，如眼图、抖动分析和功率完整性验证。
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重新设想5G测量
Tektronix推出的SignalVu Vector Signal Analysis Software能够为Tektronix的示波器提供广泛的射频测量功能，包括6系列B MSO和DPO70000SX系列示波器。SignalVu 5GNR选项允许用户检查5G NR物理层信号，以确认DUT性能并确保符合3GPP测量规范。软件支持多种测量，包括输出功率水平、动态、发射信号质量、信道、占用带宽、频谱发射、相邻信道功率等。此外，还提供了时间概述、ACPR、MCPR、AM、FM、PM分析等功能。6系列B MSO与SignalVu和5GNR分析结合，可分析高达10 GHz频率范围和2 GHz带宽的信号，并实现时域和频域的同步视图。DPO70000SX系列示波器也支持SignalVu和5GNR分析，提供高精度测量和灵活的配置选项。
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615型数字静电计
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502型毫欧表使用手册
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181型数字纳伏表操作手册
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610型多功能静电计及附件
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CTM-05用户指南
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FOR-488手册
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1685型夹式交流电流探头说明书
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020-2719-XX ChipCool 1&2、020-2616-XX ChipCool 1&2、020-2617-XX Desktop、025-2618-XX Cooler Master散热器硬件安装说明
本资料为元器件行业的热沉硬件安装指南。内容包括热沉硬件的安装步骤、所需工具、配件清单以及注意事项。指南详细介绍了如何将热沉硬件安装到目标系统上，并提供了相应的配件和工具列表。
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Kickstart指南
本资料为KickStart许可证管理器使用指南，涵盖安全预防措施、许可证管理、应用程序安装与运行、数据记录与图形视图操作等内容。指南强调安全使用仪器的重要性，并指导用户如何通过TekAMS管理许可证，以及如何安装和激活许可证以使用KickStart应用程序。此外，还介绍了如何选择仪器、启动应用程序、进行数据记录和图形分析等操作。
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Kickstart指南
本文档介绍了KickStart软件的使用指南，包括安全注意事项、许可证管理、仪器选择、应用程序启动和数据记录功能。用户需遵守安全操作规程，通过许可证管理器激活软件功能。文档还涵盖了数据记录、图表视图、测试运行和历史数据查看等功能。
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2018全国大学生电子设计竞赛考题和评测方法
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Tektronix MDO3000系列示波器演示指南
本资料为Tektronix MDO3000系列示波器演示指南，详细介绍了MDO3000系列示波器的功能和使用方法。指南涵盖了示波器的基本操作、高级功能演示，包括快速波形捕获、波形导航和搜索、串行总线解码和搜索、模拟和数字信号采集、集成频谱分析仪、任意函数发生器和数字万用表等。此外，还提供了示波器面板概述、连接和电源开启步骤、信号定位指南等内容。
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LPDDR5存储器接口的高效验证与调试
本文主要介绍了Tektronix公司针对LPDDR5内存接口的验证和调试解决方案。该方案通过自动化系统级测试，帮助用户快速、高效、可靠地验证和调试LPDDR5设计，满足超过50项JEDEC定义的电气和时序测量要求。方案包括自动化测试、用户自定义的采集模式、改进的读写突发分离算法、增强的s参数验证和TriMode探头等，旨在加速产品上市时间，提高调试和验证效率。
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UMTS协议与协议测试
本文介绍了UMTS（通用移动通信系统）的协议和协议测试。内容涵盖移动通信的演变，从1G到3G，再到3G的UMTS标准。文章详细阐述了UMTS网络架构，包括核心网络、无线接入网络和用户设备。此外，还介绍了UMTS中的不同接口和协议，如Uu、Iub、Iur和Iu接口，以及相关的控制平面和应用协议。最后，文章讨论了UMTS的物理层和传输网络层，以及它们在UMTS系统中的作用。
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磁性器件损耗测试方案
该资料主要介绍了磁性器件损耗测试方案，包括测试原理、平台搭建、测试说明和方案配置。测试原理部分阐述了在开关式电源中，电感器和变压器的重要性以及实际工作条件下测量这些器件的必要性。测试平台搭建部分描述了电压和电流通道的设置以及电感和电流与电压积分的关系测量。测试说明部分强调了5-PWR磁属性测量在检查磁性器件饱和性方面的作用，以及磁损耗测量在计算总磁损耗和铜缆损耗中的应用。方案配置部分推荐了MSO54+5-PWR+THDP0200+TCP0030A解决方案，并说明了其特点。
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