Series 2600 System SourceMeter®
发布时间：
2018-08-01
类型：
用户指南，使用手册、操作指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2600S-903-01; 2600
本用户指南详细介绍了Keithley Instruments Series 2600 System SourceMeter®的测量操作与编程方法，旨在帮助用户掌握设备连接、源测量参数设置及测试脚本编写。文档深入阐述了如何利用Test Script Builder (TSB)编写Lua脚本，以实现对仪器的精准控制，包括执行电压扫描、设置合规极限、选择测量函数及量程等关键技术环节。此外，该指南还提供了通过GPIB/RS-232接口进行远程通信的详细说明，为自动化测试系统的搭建提供了完整的技术参考。Keithley在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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CVU-3K-KIT 3 kV偏置三通套件
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内存接口电气验证和调试DDRA和DDR-LP4数据表
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Z-Active® 差分探头家族 P7313•P7380A•P7360A•P7340A 产品技术资料
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型号2600-FIX-TRX 2600A-FIX-TRX接地Phoenix至Triax电缆适配器系列
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
2600系列系统SourceMeter®仪器
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2600系列系统源表®
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使用2600系列系统SourceMeter®仪器进行二极管生产测试
本文介绍了使用Keithley Series 2600 System SourceMeter仪器进行二极管生产测试的方法。文章详细描述了二极管的基本直流参数测试，包括正向电压测试（VF）、击穿电压测试（VR）和漏电流测试（IR），以及极性测试。此外，文章还讨论了测试系统的配置、远程操作和使用测试脚本处理器的技巧。通过使用Series 2600仪器，测试工程师可以配置一个使用单个仪器进行电流和电压源和测量的测试系统，从而提高生产效率。
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使用2600系列系统SourceMeter®仪器进行IDDQ测试和备用电流测试
本文介绍了使用Keithley Series 2600 System SourceMeter仪器进行IDDQ测试和待机电流测试的方法。文章详细描述了IDDQ测试的原理和过程，包括测试设置、测试向量应用、电流测量和阈值比较。此外，还介绍了待机电流测试的配置和实施，以及如何使用Series 2600仪器进行这些测试。文章还提供了测试脚本示例，说明了如何使用Test Script Processor进行测试编程和数据收集。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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使用Keithley系列2600 System SourceMeter®仪器提高多引脚设备的生产能力
本文探讨了使用Keithley系列2600系统SourceMeter仪器在生产环境中提高多引脚器件生产吞吐量的方法。文章详细介绍了如何实施和优化系列2600的嵌入式测试脚本处理器（TSP）和即时通过/失败功能，以减少通信时间并提高吞吐量。文章通过一个实际生产测试BJT器件的例子，展示了如何使用2602型号仪器进行测试，并提供了测试脚本和代码示例。此外，文章还讨论了提高测试吞吐量的原因，以及如何通过减少通信量来提高效率。
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2889号通过TSP使用3700系列系统开关/万用表和2600系列系统源表®仪器优化切换测量
本文介绍了使用Keithley Instruments的Series 3700系统开关/万用表和Series 2600系统SourceMeter®仪器通过Test Script Processor (TSP)优化开关测量的方法。文章重点阐述了TSP技术如何提高测试系统吞吐量，并提供了多种编程/吞吐量场景，帮助用户选择最适合其应用的方法。此外，文章还探讨了TSP-Link™技术，它允许通过高速触发同步/单元间通信总线连接多个仪器，从而实现并行测试和更高的测试速度。
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2616将2400系列源代码表SCPI应用程序转换为2600系列系统源代码表脚本应用程序
本文档介绍了如何将基于SCPI命令的Series 2400 SourceMeter应用转换为Series 2600 System SourceMeter脚本应用。文章首先概述了SCPI命令和Series 2600脚本语言的特点，包括命令数量、编程接口和执行效率。接着，通过比较SCPI命令和TSP脚本在简单源测量循环中的应用，展示了两种编程方法的差异。最后，通过将Series 2400 SCPI程序转换为Series 2600脚本，展示了如何利用TSP语言简化应用开发。
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从2600系列系统SourceMeter®仪器迁移到2600A系列
本文介绍了从Series 2600 System SourceMeter® Instruments迁移到Series 2600A System的注意事项。Series 2600A在触发模型、脉冲定时、并行测试、数据存储和通信等方面进行了改进，提高了测试效率和精度。本文详细比较了Series 2600A和Series 2600的主要差异，并提供了迁移指南和示例代码。
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机架安装系列2600/2600A/2600B仪表的热指南
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用2600系列数字源表进行I-DDQ测试和待机电流测试
本文介绍了使用2600系列数字源表进行CMOS集成电路的IDDQ测试和待机电流测试。文章详细阐述了IDDQ测试的目的、测试设置、测试过程以及如何使用2600系列源表进行高效测试。同时，还介绍了待机电流测试的设置和实施方法，以及如何通过测试确保电池供电产品的性能。文章强调了测试速度和准确度的重要性，并提供了测试脚本实例，以帮助读者更好地理解和应用测试技术。
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8010型大功率器件测试夹具互连参考指南
本资料为Keithley Instruments Model 8010高功率器件测试夹具的连接参考指南。指南介绍了Model 8010测试夹具的特性和使用方法，包括可更换的插座模块、与不同型号高功率源表（如Model 2657和2651）的连接方式，以及如何进行典型测试连接。此外，还提供了安全注意事项和外部接线图。
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2600-PCT-XB系列参数曲线描绘仪用户手册
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2600-TRIAX SMU连接器用户指南
Model 2600-TRIAX SMU 连接器组件提供从 Model 260x 后面板上的 SMU 终端块到三个三轴连接器的通路。连接器通路描述包括外屏蔽、内导体和内屏蔽的连接信息。此外，还提供了一根低噪声机箱地香蕉插孔电缆（Model CA-186-1），用于将连接器与低噪声机箱地香蕉插孔连接，作为输入/输出 LO 的公共信号地。操作时需注意安全措施，包括避免接触连接器、使用安全屏障和遵循清洁维护程序。
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泰克MOSFET测试方案简介
这份资料主要涉及元器件行业的技术规格和性能参数。内容包括了元器件的型号、技术参数、应用场景以及相关的性能指标。资料中详细描述了元器件的电气特性、物理尺寸和工作环境要求，并提供了相应的测试数据和图表。此外，还涉及了元器件的选型指南和注意事项，旨在帮助工程师和采购人员更好地理解和应用这些元器件。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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来自Keithley的捆绑特性描述解决方案为今天的测量和预算挑战提供了性能和价格的卓越平衡！
Keithley提供了一系列集成的表征解决方案，旨在平衡性能与价格，满足当前测量和预算挑战。这些解决方案包括不同型号的IV测量系统和参数分析仪，如Model 2636A和4200系列，提供多种分辨率和功能，适用于不同类型的半导体器件表征。产品包括测试软件、适配器、电缆和样品测试夹具，旨在降低资本支出并提高测量信心。
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Automated Characteraiton Suite（ACS）2600 RTM用户手册
本资料为Keithley Instruments公司ACS 2600 RTM用户手册，主要介绍了ACS 2600 RTM的可靠性测试模块，适用于硅基CMOS晶圆工艺技术。手册详细说明了测试原理、仪器连接、测试流程、设置方法以及数据记录和分析等。涵盖了设备可靠性、栅氧化层和金属的测试，包括HCI/NBTI、TDDB_CVS、VRamp、JRamp/TDDB_CCS、Iso_EM和Poly_Heater等测试类型。此外，还介绍了仪器连接方案、SMU标识、顺序和并行测试以及RTM配置等。
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