Dual RF PLL Frequency Synthesizers ADF4206/ADF4207/ADF4208
发布时间：
2018-08-01
类型：
数据手册，规格书、Datasheet；PDF下载
品牌：
ADI（亚德诺半导体）
型号：
ADF4206; ADF4207; ADF4208
本数据手册详细介绍了ADF4206、ADF4207及ADF4208系列双频段射频锁相环频率合成器。该系列器件专为无线接收机和发射机的上变频与下变频电路设计，内部集成了低噪声数字鉴频鉴相器、高精度电荷泵、可编程参考分频器、A和B计数器以及双模预分频器。其工作电压范围覆盖2.7V至5.5V，支持3线串行接口，并具备关断模式以降低功耗。在性能规格上，ADF4206支持550 MHz/550 MHz，ADF4207支持1.1 GHz/1.1 GHz，而ADF4208则支持2.0 GHz/1.1 GHz的频率范围。此外，该系列还提供可选电荷泵电源电压与电流、集成振荡器电路以及灵活的双模预分频器（32/33或64/65）等特性。这些优势使其广泛应用于GSM、PCS、DCS、CDMA、WCDMA等无线手机基站、无线局域网、通信测试设备及有线电视设备等领域。Analog Devices在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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加工定制
整体外形尺寸小至0.6*0.3*0.3mm (DFN0603)，工作电压范围覆盖2.5V~36V，电容值低至0.2pF，浪涌能力最高可达240安培，静电等级可达空气放电、接触放电±30KV。提供免费浪涌测试仪、静电测试仪测试。
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双射频锁相频率合成器
Rev. A
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辐射试验报告
4/25/13
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辐射试验报告
2017/12/13
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6.2GHz分数N频率合成器ADF4156数据表
Rev.E
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ANALOG DEVICES双通道RF/IF PLL频率合成器ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF 4213
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询问工程师申请
2017/11/25
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ADF4106频率合成的革命和演变：PLL/VCO技术如何提高性能、减小尺寸和简化设计周期技术文章
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分数N频率合成器ADF4154数据表
Rev.C
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分数N频率合成器ADF4153A数据表
Rev.A
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18ghz微波锁相环合成器
Rev. C
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18 GHz微波PLL频率合成器
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频率合成技术的变革和发展：PLL/VCO技术如何提升性能、减小尺寸并简化设计周期
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ADF4156 6.2GHz分数N频率合成器数据表
Rev.E
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射频锁相频率合成器
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射频锁相频率合成器
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ADF4216/ADF4217/ADF4218双射频锁相频率合成器数据表
REV. 0
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双通道RF/IF PLL频率综合器ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF 4213
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ADF4153小数n分频频率合成器
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小数N分频频率合成器
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双通道RF PLL频率合成器ADF4216/ADF4217/ADF4218
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双通道RF PLL频率合成器ADF4216/ADF4217/ADF4218
REV. 0
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50 MHz至1000 MHz正交解调器ad8348
REV A
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18 GHz微波锁相环频率合成器ADF41020
Rev. C
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应用/方案
ADF4xxx系列锁相环合成器的锁检测
本文介绍了ADF4xxx系列整数N分频锁相环(PLL)合成器和ADF4360-x系列集成锁相环(PLL)合成器及电压控制振荡器(VCO)。详细讨论了模拟锁定检测(ALD)和数字锁定检测(DLD)两种锁定检测方式，包括它们的优缺点、工作原理以及在不同应用中的表现。文章还分析了PFD频率、泄漏电流和循环跳变对锁定检测的影响，并提供了相关的设计建议。
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ADF4xxx系列PLL频率合成器的锁定检测
本文档详细介绍了ADF4xxx系列PLL（锁相环）的原理和应用。内容涵盖PLL的基本工作原理、PFD（相位检测器）和DLD（数字锁定检测器）的功能，以及PLL的锁定检测和频率调整。此外，文档还提供了PLL在不同频率下的性能参数和电路设计实例。
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整数N和分数N锁相环频率合成器评估板
本资料为EV-ADF411XSD1Z频率合成器评估板用户指南。指南详细介绍了评估板的硬件和软件设置，包括所需设备、软件安装步骤、评估板硬件描述、电源、输入输出信号、默认操作和跳线选择设置、系统演示平台（SDP）信息、评估板设置程序、软件安装指南、评估和测试方法、评估板原理图和物料清单等内容。指南旨在帮助用户评估ADF41XXBRUZ频率合成器的性能。
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如何绕过ADF4371和ADF4372 VCOsAutocalibration by Kazim Pdker应用说明
本文介绍了如何绕过ADF4371和ADF4372 VCO的自动校准功能，以实现更快的锁定时间。通过使用寄存器0x0034的位[7:5]（VCO_FSM_TEST_MODES）强制VCO核心、频段和偏置到已知值，从而绕过自动校准。文章详细说明了绕过自动校准的步骤，包括在操作期间禁用自动校准并手动加载VCO值，以及使用ACE软件插件进行编程和读取VCO值。此外，还介绍了如何使用ACE软件读取和写入VCO校准数据，以及如何通过温度读回程序进行温度补偿。
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无线通信测试仪解决方案
本文探讨了无线通信测试器的解决方案，包括实验室测试器和生产测试器。实验室测试器用于设计和支持系统集成，而生产测试器则侧重于快速确定设备是否正常工作。文章强调了系统设计的考虑因素，如配置、操作、维护和升级的便捷性，以及卓越的性能和丰富的功能。ADI提供了包括RF Agile Transceiver、低噪声LDO、多输出稳压器、宽带合成器、功率检测器、I/Q调制器、高速ADC、低抖动时钟生成和分配、增益控制和校准的ADC和DAC等在内的解决方案。此外，还介绍了AD-FMCOMMS3-EBZ演示系统和其他设计资源。
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【应用】具有片上调谐功能，EPSON高精度压控振荡器实现医疗射频机精确的频率步进和调谐
对于医疗射频机主射频压控振荡器的选取，本文推荐EPSON（爱普生）公司提供的解决方案——VG-4231CA和VG-4232CA压控振荡器，具备调谐功能，非常适合用于医疗射频机中。
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ADI的核磁共振成像(MRI)解决方案
本文介绍了ADI公司提供的核磁共振成像（MRI）解决方案，包括MRI系统原理、典型架构、设计考虑和主要挑战。文章详细阐述了MRI系统中的关键组件，如磁体、梯度系统和射频系统，以及它们如何与计算机系统交互以生成图像。此外，文章还讨论了ADI公司提供的各种放大器、数据转换、信号处理和电源管理解决方案，以帮助用户实现最佳图像质量并降低功耗和成本。
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AN-2005 应用笔记 如何旁路ADF4371和ADF4372 VCO自动校准
本文介绍了如何旁路ADF4371和ADF4372 VCO的自动校准功能，以提高锁定速度。通过使用寄存器设置，可以强制VCO内核、频段和偏置设为已知值，从而绕过自动校准。文章详细说明了旁路自动校准的流程，包括VCO校准数据回读和手动写入VCO校准数据的方法。此外，还介绍了如何使用ACE软件插件进行编程，以便回读和临时存储VCO值，以及如何通过温度回读功能获取芯片温度信息。
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PLL软件安装指南
本指南详细介绍了PLL和VCO评估板控制软件和驱动程序的安装过程。指南涵盖了Windows XP和Windows Vista/Windows 7操作系统的安装步骤，包括安装软件、驱动程序以及连接评估板的详细说明。此外，还提供了对支持的评估板列表、安装包内容以及注意事项的说明。
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用于锁相环的ADF4193和ADF4196频率合成器的评估
本资料为ADF4193和ADF4196频率合成器评估板的用户指南。评估板包含ADF4193或ADF4196合成器、环路滤波器组件、电源调节器和SDP接口。资料详细介绍了评估板的硬件组成、软件安装、配置和设置，以及如何使用软件进行主控制和相位表操作。此外，还提供了评估板的原理图和注意事项。
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ADI公司最新的PLL⁄VCO器件ADF4371提供极为出色的低相位噪声和杂散性能
ADI公司推出新型PLL/VCO器件ADF4371，具备优异的低相位噪声和杂散性能。该器件集成倍频器，支持8 GHz至32 GHz输出，内置跟踪滤波器以降低噪声。ADF4371/ADF4372适用于通信和仪器仪表系统，提供亚毫赫兹级分辨率和低至40 fsrms抖动，满足高要求应用。
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ADI公司最新的PLL⁄VCO器件ADF4371提供极为出色的低相位噪声和杂散性能
ADI公司推出新型PLL/VCO器件ADF4371，具备优异的低相位噪声和杂散性能。该器件集成倍频器，支持8 GHz至32 GHz输出，内置跟踪滤波器以降低噪声。ADF4371/ADF4372适用于通信和仪器仪表系统，提供亚毫赫兹级分辨率和低至40 fsrms抖动，满足高要求应用。
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锁相环基础
本文介绍了相锁环（PLL）的基本原理和架构。PLL是一种结合电压控制振荡器（VCO）和相位比较器的反馈系统，用于生成稳定的高频信号。文章详细解释了PLL的各个组成部分，包括误差检测器、环路滤波器、VCO和反馈分频器，以及它们如何协同工作以实现相位和频率锁定。此外，文章还讨论了相位频率检测器（PFD）、预分频器、分数-N相锁环和ADIsimPLL设计软件等关键概念。
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射频信号源解决方案
本文介绍了射频信号源在无线电频率测试中的应用，包括测试新无线电平台和生产线上的手机性能。文章讨论了射频信号源设计面临的挑战，如实现多种射频测试信号、控制噪声地板和增加系统能力和灵活性。ADI公司提供了全面的解决方案，包括从数字到射频组件的广泛产品组合、丰富的RF设计资源和兼容性强的产品。文章还展示了射频信号源的五个子系统，包括射频信号链、外部调制输入、时钟生成和分配、电源生成和管理以及数据和电源隔离。最后，介绍了ADI的主要产品及其关键规格和特性。
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用于电子测试和测量的ADI RF和微波解决方案
本文介绍了Analog Devices（ADI）在电子测试和测量领域提供的射频和微波解决方案。文章重点讨论了在射频测试平台中实现宽动态范围、宽带宽和稳定性等关键挑战，并介绍了ADI的多种产品，包括信号分析器、PLL/VCO、信号合成器、显示和接口、频率合成器以及相关设计资源和工具。文章还提供了ADI的精选产品列表，包括DACs、ADC驱动器、宽带混频器、时钟发生器、DDS、PLL/VCO、功率检测器、ADCs、开关和设计工具。
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针对电子测试和测量的RF和微波解决方案
本文介绍了ADI公司针对电子测试和测量的RF和微波解决方案，包括频谱分析仪、网络分析仪、信号发生器和通信测试仪等。文章重点阐述了ADI RF和微波IC在信号链中的应用，以及如何解决宽动态范围、最小化噪声底等问题。此外，还介绍了ADI提供的多种设计资源，如设计工具、FMC快速原型开发平台、参考设计和技术论坛等。
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ADF4355-2、ADF4355、ADF4355-3、ADF4356、ADF5355和ADF5356应用说明如何绕过VCO校准
本应用笔记介绍了如何绕过ADF4355-2、ADF4355、ADF4355-3、ADF4356、ADF5355和ADF5356相位锁定环(PLL)系列的自动VCO核心和频段选择以及自动VCO偏置电平校准。在大多数应用中，自动校准(AUTOCAL)需要3毫秒的时间，这对于需要快速覆盖广泛频率范围的应用（如信号和网络分析仪）来说太慢了。绕过VCO校准或绕过程序后，用户首先使用标准AUTOCAL程序对每个频率进行编程，并对每个频率读取VCO核心、VCO频段和VCO偏置。建议用户使用AUTOCAL为每个频率建立一个值表，并在应用绕过程序时将这些值加载到ADF4355-2、ADF4355、ADF4355-3、ADF4356、ADF5355或ADF5356中，以消除AUTOCAL程序带来的额外时间。
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PLL软件安装指南UG-476
本指南详细介绍了PLL和VCO评估板控制软件及驱动程序的安装过程。内容包括所需设备、支持的评估板、安装包内容、安装步骤以及注意事项。指南涵盖了Windows XP和Windows Vista/Windows 7操作系统的安装过程，并对ESD注意事项和法律责任进行了说明。
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用于锁相环的ADF4159频率合成器的评估
本资料为Analog Devices公司ADF4159频率合成器评估板EV-ADF4159EB1Z/EV-ADF4159EB3Z的用户指南。指南详细介绍了评估板的硬件设计、软件使用方法以及如何通过该评估板评估ADF4159和ADF4169频率合成器的性能。评估板包括合成器、USB接口、参考振荡器、电源连接器等，并提供了相应的软件进行编程和控制。指南还包含了评估板的电路图和布线图，以及如何配置和设置评估板的详细步骤。
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使用集成VCO和外部PLL电路的合成器最小化杂散输出
本文介绍了使用ADF4350合成器和ADF4153PLL来最小化杂散输出的电路设计。该设计通过隔离PLL合成器电路和VCO电路来降低杂散输出。文章详细描述了电路的组成、工作原理和测试方法，并提供了设计文件和评估板的信息。
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采用恒定负渗漏电流优化ADF4157和ADF4158 PLL的相位噪声和杂散性能
本文介绍了如何通过激活负渗漏电流来优化ADF4157和ADF4158 PLL的相位噪声和杂散性能。文章详细说明了在特定频率和环路带宽下，如何调整电荷泵电流以实现最佳性能。通过实验数据和图表，展示了不同PFD频率和电荷泵电流对相位噪声和整数边界杂散的影响。
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利用Robert-Brennan和Dawid-Powazynski提出的恒负漏失优化ADF4157和ADF4158锁相环的相位噪声和杂散性能
本文介绍了如何通过激活恒定负漏电流来优化ADF4157和ADF4158PLL的相位噪声和整数边界杂散性能。主要内容包括：恒定负漏电流的工作原理、如何激活该功能、对相位噪声和杂散的影响、测量方法和结果分析。结果表明，在特定范围内，使用恒定负漏电流可以显著改善PLL的性能。
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利用低抖动LVPECL扇出缓冲器增加时钟源的输出数
本文档介绍了ADF4351集成VCO的PLL合成器和ADCLK948时钟扇出缓冲器之间的接口设计。ADF4351提供宽带PLL和VCO功能，而ADCLK948则提供低抖动时钟扇出。电路设计支持多路低抖动系统时钟的生成，适用于信号处理和定时应用。文档详细描述了电路设计、评估测试过程，并提供了相关评估板和软件的使用指南。
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RF信号源解决方案
本文介绍了RF信号源解决方案的应用、设计考虑和主要挑战，以及ADI公司的相关解决方案。RF信号源用于创建射频频率的测试波形，应用于测试无线电平台和手机性能。设计挑战包括实现多种RF测试信号、控制系统噪底和提升系统能力和灵活性。ADI公司提供一站式供应商服务，包括锁相环、混频器、功率检波器等器件，以及丰富的RF设计资源和兼容性支持。文章还介绍了RF信号源的五个子系统，包括RF信号链产生、外部调制输入、时钟产生与分配、电源产生和管理、数据和电源隔离。
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无线通信测试解决方案
本文介绍了无线通信测试解决方案，包括实验室测试和生产测试。实验室测试支持设计与系统集成，执行物理层、信号采样和系统级测试。生产测试关注确定器件是否在短时间内工作，重点在制造缺陷和设计变化。ADI公司提供无线通信测试工作台，包括源和测量单元，使用AD9361收发器等组件。文章还介绍了信号源单元和测量单元的典型框图，以及主要产品介绍，如AD9361收发器、低噪声LDO、多路输出调节器等。
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频谱分析仪解决方案
频谱分析仪用于测量信号的幅度与频率关系，分析电信号频谱，观察信号失真、谐波等。设计挑战包括元件选择、带宽覆盖和噪声控制。ADI公司提供从数字到RF器件的完整产品组合，包括锁相环、混频器、功率检波器等，并拥有丰富的RF设计资源和仿真工具。系统设计分为电源链、RF前端信号处理和后端信号转换、处理和控制三个子系统。ADI产品支持信号转换、产生和系统控制，并提供低抖动时钟分配和时钟发生产品。
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频谱分析仪解决方案
本文介绍了频谱分析仪的应用和设计考虑。频谱分析仪用于测量输入信号的幅度与频率之间的关系，并分析信号的失真、谐波、带宽等光谱成分。文章讨论了频谱分析仪设计中的挑战，如覆盖宽频带和降低噪声地板。ADI提供了从数字到射频的广泛产品组合，包括锁相环、混频器、功率检测器、ADC、DAC、放大器和数字信号处理器。文章还展示了频谱分析仪的系统块图，包括电源链、射频前端信号处理和后端信号转换、处理和控制子系统。最后，介绍了ADI的主要产品介绍和设计资源。
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