HMC786LP4E BICMOS MIXER W/ INTEGRATED LO AMPLIFIER, 700 - 1100MHz
发布时间：
2018-08-01
类型：
数据手册，规格书、Datasheet；PDF下载
品牌：
ADI（亚德诺半导体）
型号：
HMC786LP4E
本数据手册详细介绍了HMC786LP4E这款覆盖700-1100MHz频段的BiCMOS混合器。该器件集成了本地振荡器放大器，专为蜂窝、3G、LTE、WiMAX及4G等无线通信应用设计，广泛应用于基站、中继器、发射机和接收机等场景。HMC786LP4E具备卓越的高动态范围性能，其高输入IP3达到+38 dBm，输入1 dB压缩点为+25 dBm，并在0 dBm LO驱动下实现7.5 dB的转换损耗。产品支持高边LO输入，拥有250 MHz的IF频率响应，采用24引脚4x4mm SMT封装，且与HMC686LP4E引脚兼容，便于设计升级。针对该器件，Analog Devices在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
HMC786LP4E BICMOS混频器，集成LO放大器，700-1100MHz
v04
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 01
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
2017/11/26
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 06
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
模拟器件欢迎Hittite微波公司资格测试报告
Rev: 08
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| 产品变更通知及停产信息 - 英文 |
HMC719LP4/HMC719LP4E，低噪声放大器，SMT，1.3-2.9 GHz，产品生命周期结束通知（PCN140125）
REV G
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
LS6–无铅陶瓷功率放大器SMT封装
2017/12/02
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| 数据手册 - 英文 |
HMC7911 17.0 GHz至20.0 GHz，砷化镓，微波单片集成电路，I/Q上变频器数据表
Rev.B
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev:06
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 03
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 05
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 07
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 02
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| 测试报告 - 英文 |
合格鉴定试验报告
Rev: 05
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| 产品变更通知及停产信息 - 英文 |
模拟设备欢迎Hittite微波公司产品更改通知
4/27/2012
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| 产品变更通知及停产信息 - 英文 |
模拟设备欢迎Hittite微波公司产品更改通知
REV A
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| 产品变更通知及停产信息 - 英文 |
模拟设备欢迎Hittite微波公司产品更改通知
11/30/2012
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| 数据手册 - 英文 |
17.0 GHz至20.0 GHz、GaAs、微波单片集成电路、i/Q上变频器HMC7911
Rev.A
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| 技术文档 - 英文 |
焊料HMC700LP4E
REVA
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| 数据手册 - 英文 |
HMC745 13 Gbps、快速上升时间XOR/XNOR门，具有可编程输出电压和正电源
Rev.D
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| 数据手册 - 英文 |
集成压控振荡器锁相环.微波应用产品和操作指南
revA
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| 数据手册 - 英文 |
带正电压和13 Gbps XOR/XOR可编程输出
Rev. C
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| 测试报告 - 英文 |
鉴定试验报告（2013-00254）
Rev:04
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| 产品变更通知及停产信息 - 英文 |
产品和工艺变更通知
REV E
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| 数据手册 - 英文 |
2ghz～28ghz，GaAs-pHEMT电子迁移率晶体管微波单片集成电路低噪声放大器
Rev. A
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| 测试报告 - 英文 |
鉴定试验报告（11014）
Rev:04
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| 数据手册 - 英文 |
HMC7950 2 GHz至28 GHz，GaAs高电子迁移率晶体管微波单片集成电路低噪声放大器
Rev. B
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| 技术文档 - 中文 |
锁相环(PLL)基本原理
2018年7月
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| 技术文档 - 英文 |
锁相环（PLL）基本原理
July 2018
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| 数据手册 - 英文 |
HMC798ALC4 24 GHz至34 GHz，砷化镓，微波单片集成电路，次谐波SMT混频器数据表
Rev. 0
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| 测试报告 - 英文 |
鉴定试验报告（2013-00259）
Rev:04
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| 技术文档 - 英文 |
SCH，EVAL分数N合成W/VCO
REV2
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| 技术文档 - 英文 |
SCH，EVAL分数N合成W/VCO
REV2
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| 技术文档 - 英文 |
SCH，EVAL分数N合成W/VCO
REV4
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| 技术文档 - 英文 |
SCH，EVAL分数N合成W/VCO
REVA
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
EK1HMC7043LP7F用户指南，评估HMC7043高性能、3.2 GHz、14输出扇出缓冲器
本资料为HMC7043高性能、3.2 GHz、14输出扇出缓冲器评估套件的用户指南。指南详细介绍了评估套件的硬件和软件设置，包括电源和PC连接、信号连接、软件安装和操作。HMC7043适用于高速数据转换器，具有并行或串行（JESD204B类型）接口，适用于多载波GSM和LTE基站设计。评估套件提供了一种紧凑、易于使用的平台，用于评估HMC7043的所有功能。
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EK1HMC7044LP10B用户指南，评估HMC7044双环时钟抖动清除器
本资料为Analog Devices公司HMC7044双环路时钟抖动清除器评估套件的用户指南。指南详细介绍了评估套件的硬件和软件，包括USB连接、LDO电压稳压器、SMA连接器、参考输入、时钟输出、VCXO输出、基于Windows的评估软件、PLL环路滤波器、数字输入/输出和诊断信号等。指南还提供了评估板的硬件设置、软件安装和操作步骤，以及如何使用软件控制HMC7044的功能模块。此外，指南还包含了HMC7044的快速入门指南和相关的法律条款。
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ADI民用雷达解决方案
本资料介绍了ADI公司提供的民用雷达解决方案，包括雷达应用简介、系统设计考虑、雷达信号链架构、产品组合以及设计资源。资料重点阐述了雷达系统在民用领域的应用，如空中交通管制、天气和海上监控等，并详细介绍了雷达信号链的关键技术和ADI公司的产品，如数模转换器、模数转换器、时钟发生器、直接数字频率合成器等。此外，资料还提供了设计工具、技术文章和应用笔记等资源，以支持用户的设计开发。
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ADI雷达解决方案
本文介绍了雷达系统的原理、设计考虑因素以及ADI公司提供的雷达解决方案。文章重点阐述了雷达系统在范围、分辨率和可靠性方面的挑战，并介绍了ADI的全面产品组合，包括RF至比特解决方案，旨在提高性能、减少尺寸、重量和开发时间。此外，文章还展示了雷达信号链的架构，包括经典和下一代信号链，以及24 GHz FMCW雷达解决方案。最后，文章提供了ADI雷达应用和产品的详细信息，以及设计资源和技术支持。
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集成压控振荡器锁相环.微波应用产品和操作指南
本资料为Hittite Microwave Corporation的PLLs with Integrated VCO产品操作指南，主要介绍该系列产品的功能、特性、操作方法和应用。内容包括产品概述、功能图、引脚描述、参考输入级、参考路径R分压器、RF路径N分压器、电荷泵和相位频率检测器、相位频率检测器测试功能、相位频率检测器抖动和锁定检测背景、锁定检测、循环滑移预防（CSP）、电荷泵增益、电荷泵增益调整、电荷泵相位偏移、电荷泵在轨附近操作、分数模式、整数模式、串行端口等。
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HMC7584LG处理和焊接电子带SiP到印刷电路板的注意事项应用说明
本文档为AN-2007应用笔记，主要针对E波段SiP器件HMC7584LG、HMC7585LG、HMC8326LG和HMC8327LG在PCB上的处理和焊接进行了详细说明。内容包括器件的封装描述、PCB设计建议、组装注意事项、返工流程、可靠性考虑和机械考虑等方面。文档强调了在处理和焊接过程中需要注意的关键点，以确保器件的性能和可靠性。
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AN-2007 应用笔记 操作E频段SiP并将其焊接到印刷电路板的考虑事项
本文档为应用笔记，主要讨论了E频段SiP器件的操作和焊接注意事项。内容涵盖了器件的封装描述、PCB设计、组装考虑事项、可靠性考虑以及机械考虑等方面。重点强调了在操作和焊接过程中需要注意的细节，以确保器件的性能和可靠性。
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用于电子测试和测量的ADI RF和微波解决方案
本文介绍了Analog Devices（ADI）在电子测试和测量领域提供的射频和微波解决方案。文章重点讨论了在射频测试平台中实现宽动态范围、宽带宽和稳定性等关键挑战，并介绍了ADI的多种产品，包括信号分析器、PLL/VCO、信号合成器、显示和接口、频率合成器以及相关设计资源和工具。文章还提供了ADI的精选产品列表，包括DACs、ADC驱动器、宽带混频器、时钟发生器、DDS、PLL/VCO、功率检测器、ADCs、开关和设计工具。
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针对电子测试和测量的RF和微波解决方案
本文介绍了ADI公司针对电子测试和测量的RF和微波解决方案，包括频谱分析仪、网络分析仪、信号发生器和通信测试仪等。文章重点阐述了ADI RF和微波IC在信号链中的应用，以及如何解决宽动态范围、最小化噪声底等问题。此外，还介绍了ADI提供的多种设计资源，如设计工具、FMC快速原型开发平台、参考设计和技术论坛等。
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集成VCO的低成本PLL支持紧凑型LO解决方案
本文介绍了ADI公司推出的集成VCO的PLL产品，这些产品适用于蜂窝/4G、微波无线电、测试设备和军事子系统等应用。文章详细介绍了这些产品的性能特点，包括频率范围、相位噪声、输出功率等，并提供了具体的产品型号和应用场景。此外，文章还介绍了ADI公司提供的参考设计人员套件，以及如何使用这些套件进行PLL编程和评估。
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