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ANALOG DEVICES 1/2通道15 V数字电位计 AD5260/AD5262 数据手册
发布时间: 2018-08-01
类型: 数据手册,规格书、Datasheet;PDF下载
品牌:
ADI(亚德诺半导体)
型号:
AD5260; AD5262; AD5260BRUZ20; AD5260BRUZ20-RL7; AD5260BRUZ50; AD5260BRUZ50-REEL7; AD5260BRUZ200; AD5260BRUZ200-RL7; AD5262BRU20; AD5262BRU20-REEL7; AD5262BRU50; AD5262BRU50-REEL7; AD5262BRU200; AD5262BRU200-REEL7; AD5262BRUZ20; AD5262BRUZ20-RL7; AD5262BRUZ50; AD5262BRUZ50-RL7; AD5262BRUZ200; AD5262BRUZ200-RL7; EVAL-AD5262EBZ
本数据手册详细介绍了Analog Devices公司推出的AD5260/AD5262数字电位计,这是一款具备256位分辨率的单/双通道器件,专为替代传统机械电位计而设计。该产品支持5V至15V单电源或±5.5V双电源供电,拥有低温度系数(35 ppm/°C)及4线SPI兼容串行接口,并具备上电预设中间电平功能。其技术特性涵盖可编程电压至电流转换、滤波器调节、延迟及时间常数设置,以及线路阻抗匹配,广泛应用于仪器仪表增益与失调电压调整、立体声音量控制及低分辨率DAC替代等场景。Analog Devices在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案,用户可通过平台获取原厂授权的正品器件,相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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加工定制
可定制温度范围-230℃~1150℃、精度可达±0.1°C;支持NTC传感器、PTC传感器、数字式温度传感器、热电堆温度传感器的额定量程和输出/外形尺寸/工作温度范围等参数定制。
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可定制板装式压力传感器支持产品量程从5inch水柱到100 psi气压;数字输出压力传感器压力范围0.5~60inH2O,温度补偿范围-20~85ºС;模拟和数字低压传感器可以直接与微控制器通信,具备多种小型SIP和DIP封装可选择。
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资料平台
数据手册 - 英文
ADI公司1/2通道15 V数字电位计AD5260/AD5262
Rev. A
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技术文档 - 英文
仪表放大器规格
2017/11/04
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数据手册 - 英文
AD5207:2通道、256位数字电位计
REV. 0
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数据手册 - 英文
软件可编程增益放大器
REV. D
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技术文档 - 英文
为您的应用程序选择正确的digiPOT
2018/08/17
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数据手册 - 英文
AD526软件可编程增益放大器
REV. D
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数据手册 - 英文
AD5235非易失性存储器、双通道1024位数字电位计
Rev.F
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数据手册 - 英文
AD8251:10 MHz、20 V/μs、G=1、2、4、8 iCMOS可编程增益仪表放大器
Rev.B
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数据手册 - 英文
adI公司集成引脚可选SPI/I2C ad5263的四通道、15 V、256位数字电位计
Rev.F
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技术文档 - 英文
其他线性电路
2017/11/05
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数据手册 - 英文
AD8253 10 MHz、20 V/μs、G=1、10、100、1000 iCMOS可编程增益仪表放大器
Rev.B
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技术文档 - 英文
设备索引
2017/11/04
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数据手册 - 英文
AD5263:四通道、15 V、256位数字电位计,内置引脚可选SPi/i2c
Rev. F
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技术文档 - 中文
模拟电子器件基础教程
2021/8/12
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数据手册 - 英文
10MHz,20V/μs,G=1,2,4,8ICMOS可编程增益仪表放大器
Rev. B
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数据手册 - 中文
10MHz、20V/μs、G=1、10、100、1000 iCMOS可编程增益仪表放大器
Rev. A
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数据手册 - 英文
AD8237微功耗、零漂移、真轨到轨仪表放大器
Rev.0
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数据手册 - 中文
40 µA微功耗、 零交越失真仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 英文
10兆赫,20伏/微秒,G=1,10,100,1000 iCMOS可编程增益仪表放大器
Rev. B
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数据手册 - 中文
宽电源电压范围、微功耗、 轨到轨仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 中文
AD8236 40 μA微功耗、零交越失真仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 中文
AD8428 低噪声、低增益漂移、G = 2000 仪表放大器
Rev. A
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数据手册 - 英文
低噪声,低增益漂移,G=2000仪表放大器
Rev. A
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数据手册 - 中文
低噪声、低增益漂移、 G = 2000仪表放大器
Rev. A
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数据手册 - 英文
具有零交叉失真的40μA微功率仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 英文
AD8428低噪声,低增益漂移,G=2000仪表放大器数据表
Rev. A
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数据手册 - 英文
广泛的供应范围,微功率,轨到轨仪表放大器
Rev. A
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数据手册 - 英文
宽电源范围,轨到轨输出仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 英文
宽电源范围,轨到轨输出仪表放大器
Rev. C
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数据手册 - 英文
AD8250 10 MHz、20 V/μs、G=1、2、5、10 iCMOS可编程增益仪表放大器
Rev. C
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数据手册 - 中文
ADR440/ADR441/ADR443/ADR444/ADR445 超低噪声LDO XFET基准电压源(带灌电流和拉电流)
Rev. G
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数据手册 - 英文
集成信号处理放大器的精密仪表放大器AD8295
Rev.A
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数据手册 - 英文
AD8236:具有零交越失真的40μA微功耗仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 英文
AD8420:宽电源电压范围、微功耗、轨到轨仪表放大器
Rev.A
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数据手册 - 中文
宽电源电压范围、 轨到轨输出仪表放大器
Rev. 0
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宽电源电压范围、 轨到轨输出仪表放大器
Rev. C
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数据手册 - 英文
AD8228低增益漂移精密仪表放大器
Rev.0
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数据手册 - 英文
ADR440/ADR441/ADR443/ADR444/ADR445超低噪声,LDO XFET电压基准电流源和电流源数据表
Rev.G
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低增益漂移精密仪表放大器
Rev. 0
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数据手册 - 中文
低增益漂移精密仪表放大器
Rev. 0
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世强AI
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应用/方案
精密可变增益放大器(VGA)
本文介绍了可变增益放大器(VGA)在数据采集系统中的应用,包括其工作原理、设计问题、不同类型的VGA电路以及与ADC的集成。文章重点讨论了VGA在提高系统动态范围、降低噪声和适应不同信号类型方面的作用,并提供了几种VGA电路的设计实例,包括基于继电器、CMOS开关和DAC的VGA电路。此外,文章还讨论了VGA与ADC的集成,以及如何通过VGA提高ADC的分辨率。
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为您的应用程序选择正确的digiPOT
本文介绍了Analog Devices提供的数字电位器(digiPOT)的多种选择,包括不同的存储技术、单电源和双电源、多种数字接口、高分辨率设备以及行业最广泛的端到端电阻选项。文章详细阐述了digiPOT的架构、工作原理、应用场景以及选择digiPOT时需要考虑的关键参数,如电阻配置、数字接口、内部存储、供电电压、端到端电阻、分辨率、性能和封装等。此外,文章还提供了多种应用实例和参考电路设计,以帮助读者更好地理解和应用digiPOT。
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精密可变增益放大器(VGAs)
本文介绍了精密可变增益放大器(VGA)的设计和应用。VGA通过调整输入信号水平,满足宽动态范围数据采集系统的需求。文章讨论了VGA的原理、设计问题、不同类型的VGA电路以及在实际应用中的优势。文中还提到了一些具体的VGA产品,如AD526、AD797、AD7846和AD8250等,并分析了它们的特点和性能。
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IC放大器用户指南:去耦、接地及其他一些要点
本文档详细介绍了模拟器件(Analog Devices)的多种集成电路(IC)及其应用。内容涵盖IC的功能、特性、电路设计、应用实例等,旨在帮助工程师和设计师了解和选择合适的IC产品。文档中涉及的关键内容包括:IC的分类、特点、应用电路、性能参数等。
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可编程增益3段放大器
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放大器选择表
本资料提供了一系列放大器的选择表格,包括不同型号的放大器及其特性参数。表格中涵盖了放大器的描述、供电电压范围、增益设置方法、增益范围、共模抑制比、带宽、噪声电压、输入偏移电压和温度范围等信息。资料旨在帮助用户根据具体需求选择合适的放大器。
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利用数字电位计实现开关模式电源的 快速、线性调节
本文探讨了利用数字电位计实现开关模式电源(SMPS)的快速、线性调节。文章首先介绍了SMPS的工作原理和调节开关模式电源的多种方案,然后重点分析了将带有数字电位计的开关调节器用作反馈控制元件的解决方案,并强调了设计问题及解决途径。最后,提出了一种采用AD5141单通道非易失性digiPOT来解决本应用常见限制的简单方法。
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数字电位计
本文介绍了数字电位计的应用领域和基本配置。应用领域包括通信设备、广播设备、电源设备、传感器设备、计算机及外围设备和其他设备。基本配置包括可编程电压调节器、555 IC振荡器、可编程仪表放大器和可编程I到V转换器等。
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助力客户迈向5G未来——ADI公司为Rohde&Schwarz两款新产品提供支持
随着5G技术的到来,测试与测量行业面临重大挑战,需要更高性能的测试设备。Rohde & Schwarz与ADI公司合作,开发了R&S®SMW200A矢量信号发生器和R&S®FSW信号与频谱分析仪,以应对5G挑战。这些设备采用ADI公司的数据转换器和RF器件,实现低本底噪声的高频测试,满足下一代5G设备的测试需求。
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新数据,新见解10BASE-T1L连接边缘传感器改善结果
10BASE-T1L技术是一种单对以太网(SPE)媒体标准,提供10兆比特每秒的通信,支持在单对双绞线电缆上传输数据和电力,最大传输距离可达1公里。该技术通过延长以太网连接距离,使远程边缘节点能够实现新的数据流和测量,为过程控制和建筑自动化等领域带来新的见解和效率提升。此外,10BASE-T1L技术支持在危险环境中使用,并能够提供高达60瓦的电力,从而扩展工业物联网(IIoT)的应用范围。
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