Passive Voltage Probes P6131 • P6137 • P6138A Data Sheet
发布时间：
2018-08-02
类型：
数据手册，规格书、Datasheet；PDF下载
品牌：
TEKTRONIX
型号：
P6131; P6137; P6138A; 2400; 2445; 2465; 2432/A/M; 2440/MU; 2445B; 2465B; 2467B/HD; TDS400
本数据手册详细介绍了Tektronix公司生产的P6131、P6137及P6138A系列被动电压探头。作为适用于设计、服务和制造领域的高频与低频相对测量工具，该系列探头采用模块化构造及HYBRID/SMT电路设计，具备小几何探头尖端、灵活轻便的电缆组件以及紧凑型附件等特性。其10X衰减读数编码功能有效减少了测量读数中的混淆与错误，而兼容现有适配器的设计则进一步提升了使用的便捷性。Tektronix在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该产品，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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加工定制
可定制ATP TE Cooler的冷却功率：40~200W；运行电压：12/24/48V(DC)；控温精度：≤±0.1℃； 尺寸：冷面：20*20~500*300；热面：60*60~540*400 （长*宽；单位mm）。
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可定制ATL TE Cooler制冷量范围：50~1000W;工作电压：12/24VDC;控温精度≤±0.1℃;控温精度：≤±0.1℃；尺寸：冷面：20*20~500*300mm，热面：60*60~540*400mm。
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Keithley I-V示踪软件，用于图形化2400系列SourceMeter®源测量单元（SMU）仪器
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3系列MDO/4系列MSO/5系列MSO/6系列MSO新一代示波器
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
2445示波器服务
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2465示波器操作手册
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2445示波器操作器说明手册
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统，包括622X电流源和2182A纳伏表，提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计，并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成，支持多种测试模式，如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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探针和引物的基础知识
本文详细介绍了探头的种类、选择和使用方法。首先阐述了探头在示波器测量中的重要性，接着讨论了理想探头的特性，如连接便利性、信号保真度、无信号源负载和完全的噪声免疫。然后，文章分析了实际探头的局限性，包括带宽和上升时间限制、动态范围限制和源负载效应。此外，文章还提供了探头的使用技巧，如补偿探头、使用适当的探头尖端适配器以及保持地线尽可能短和直接。最后，文章讨论了不同类型探头的特点和适用场景，包括标准BNC探头、TekProbe™探头、TekVPI®探头和TekConnect®探头。
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2465B和2467B示波器070-6863-01
本资料为EPSON 2465B & 2467B示波器维修手册，包含安全注意事项、参数测量周期检查表等。手册强调仅限合格人员操作，并提供安全总结。表格详细列出了不同时间标记设置下的最小和最大周期值。资料最后列出了一些更换信息。
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2400系列SourceMeter®快速入门指南
本资料为Keithley 2400系列SourceMeter®的快速入门指南，旨在帮助用户熟悉该系列源测量仪的基本操作（前面板和远程操作）。指南内容包括基本源测量操作、设置以优化性能、增强DUT测试的功能以及更多测试技术。资料详细介绍了SourceMeter的源测量能力、前面板和后面板、菜单导航、数字数据输入、源和合规值编辑、基本连接配置、基本SourceMeter操作以及远程命令编程等内容。
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2400型SourceMeter®
本资料为Keithley Model 2400 SourceMeter®的维修手册，内容涵盖性能验证、校准、日常维护、故障排除、拆装和可更换部件等。手册详细介绍了如何验证仪器精度、进行校准、进行日常维护和故障排除，以及如何拆装和更换部件。此外，还包括了仪器规格、命令参考和校准程序等信息。
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805号配置离散电阻器验证测试系统
本文介绍了如何配置和操作基于Model 2400 Digital SourceMeter仪器的离散电阻验证测试系统。该系统可进行电阻电压系数测试和电阻公差带测试，以提高生产效率和产品质量。文章详细阐述了测试原理、系统配置、IEEE总线操作、典型错误来源以及系统设备要求。此外，还提供了一个示例程序和替代解决方案。
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使用Keithley系列2400源表仪器的807号电池放电/充电循环
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使用2400型SourceMeter®仪器对热敏电阻进行生产测试
本文介绍了使用Model 2400 SourceMeter仪器进行热敏电阻生产测试的方法。内容包括热敏电阻的电阻与温度关系、测试方法、使用Model 2400进行电阻和温度测量的程序，以及如何配置热敏电阻生产测试系统。此外，还讨论了测试过程中的误差来源和解决方案，以及测试系统的安全性。
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2400系列SourceMeter®用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的2400 Series SourceMeter®系列产品的用户手册。手册详细介绍了产品的安全注意事项、基本操作、连接方式、测量功能、编程方法等。内容包括：安全操作指南、产品概述、连接方式、基本源测量操作、欧姆测量、脉冲模式操作、源测量概念、范围、数字I/O端口、远程操作、状态结构、常见命令、SCPI信号导向测量命令和SCPI命令参考等。
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使用2400系列SourceMeter®仪器进行1805号二极管生产测试
本文介绍了使用Keithley Series 2400 SourceMeter®仪器进行二极管生产测试的方法。文章详细描述了二极管的基本直流参数测试，包括正向电压测试（VF）、击穿电压测试（VR）和漏电流测试（IR）。此外，还讨论了极性测试，以及如何配置测试系统以适应不同的情况，包括二极管极性已知或未知，以及测试设备是否能够翻转二极管。文章还提供了关于测试系统配置、IEEE-488总线操作、编程指南和示例程序的信息。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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使用2400型SourceMeter®仪器进行VCSEL测试
本文介绍了使用Model 2400 SourceMeter®仪器进行VCSEL测试的方法和步骤。内容包括VCSEL测试的重要性、测试原理、测试系统配置、测试方法和技术，以及测试过程中的注意事项。文章详细描述了L-I-V测试、正向电压测试、激光阈值电流测试等关键测试步骤，并提供了测试系统的配置示例和测试程序示例。此外，文章还讨论了测试过程中可能出现的误差和解决方案，如接触检查、泄漏电流、光干扰等。
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使用2400型SourceMeter®仪器进行804 IDDQ测试和备用电流测试
本文介绍了使用Model 2400 SourceMeter®仪器进行IDDQ测试和待机电流测试的方法。文章详细描述了测试CMOS集成电路和电池供电电子产品的静态电流，以确保产品质量和电池寿命。文章提供了测试系统的配置方法、编程示例以及测试电池供电电子产品的实例。此外，还讨论了测试系统的配置、自动处理系统和替代解决方案。
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用2400数字源表检定803号变阻器™ 仪器
本文介绍了使用2400数字源表仪器进行压敏电阻验证的方法。内容包括压敏电阻的电气参数测试，如何使用2400仪器进行测试，包括设置测试参数、计算源/测速周期、输出脉冲、显示α值和设置通过/失败限制结构。此外，还提供了测试系统配置、IEEE总线操作、方法和技巧等详细信息。
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高温超导体电阻的自动测量
本文介绍了在高温超导体上进行自动电阻测量的方法。文章首先阐述了高温超导体研究的发展背景和实验条件，随后详细描述了测量系统的工作原理，包括如何消除热电压误差、控制噪声以及实现自动化测量。文章还介绍了测量系统的硬件配置、软件驱动程序设计以及如何进行电阻和电阻率测量。最后，文章讨论了测量结果的应用和注意事项。
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3193号将测试应用程序从Keithley 2400型SourceMeter®SMU仪器迁移到2600B系列系统SourceMeter SMU仪器
本文介绍了如何将测试应用从Keithley Model 2400 SourceMeter® SMU仪器迁移到Series 2600B System SourceMeter SMU仪器。Series 2600B仪器基于第三代SMU架构，结合了快速和精确的模拟性能，并具有高达两个源和测量通道。它们还通过嵌入式TSP®脚本引擎实现高速测试序列和自动化。Series 2600B提供了对Model 2400第二代SMU架构的完整软件仿真，使用户能够轻松地将应用程序迁移到新的、更高吞吐量的Series 2600B仪器。文章详细介绍了如何加载Persona2400脚本，配置Model 2400仿真模式，以及如何连接Trigger Link和数字I/O，以及如何识别和适应不支持或部分支持的命令。
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