High Impedance Semiconductor Resistivity and Hall Effect Test Configurations
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
6220; 6514; 2000; 7001; 7152; 7007-1; 7007-2; 7078-TRX-10; KPCI-488LPA; KUSB-488B
加工定制
铭旺电子（Ming wang Electronics）以铲齿铝鳍、回流焊铜底、PWM风扇一体化工艺，为AI服务器/工作站定制CPU散热器，ΔT≤8 ℃@350 W，助力释放芯片极限算力。
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可定制烧结NdFeB磁铁的剩磁最高1.45T，易加工成各种尺寸。充磁方向：径向充磁、轴向充磁、辐射充磁等；镀层：Zn、Sn、Ni、电泳等，最高工作温度220℃。
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资料平台
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428-PROG可编程电流放大器
2018/06/19
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2600系列系统源表多通道I-V测试解决方案
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射频/微波信号路由系统
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7116-MWS RF/微波开关系统：1×16多路复用器，未端接
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高压电源测量装置
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7002 400路开关/控制主机
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激光二极管测试系统套件
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248高压电源
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型号KUSB-488B和KPCI-488LPA/KPCI-488LP：版本3.1 3.1软件发行说明
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3400系列信号发生器
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2000系列高性能数字万用表的精密多用途解决方案
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带固定机架套件的交换矩阵主机单插槽
2018/07/05
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7078-TRX型三槽三轴电缆
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6½位万用表
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精准量测、低噪声、可程序设计的直流电源供应器
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850W直流电源系列2268
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2470 图形化 SourceMeter®SMU 仪器产品规格表
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2290系列 高压电源
01.22.14
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2460-EC图形恒电位仪
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SourceMeter® SMU仪器 1000W，10A脉冲，7A DC
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2401 低压数字源表 数据手册
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2280S 系列 高精度测量、低噪声、可编程直流电源
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2450-EC图形恒电位仪
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2460 SourceMeter®SMU仪器
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高压电源
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2281S系列电池模拟器及精密直流电源
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积分球
2018/07/06
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2230-30-3、2230-30-6、2230-60-3高功率、3通道可编程电源数据表
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2461-EC图形恒电位仪规格书
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7072 8.12半导体矩阵卡
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DMM6500 6 位半台式 / 系统数字万用表
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一种更可靠的测量方法，用于精确的低电流和高电阻测量
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2017/12/22
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KPCI-488LPA GPIB型控制器接口卡规范
Rev. A
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如何实现精确的低电压和低电阻测量
No. 3128
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6517B静电计/高电阻计数据表
2021/11/17
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
半导体霍尔效应测试方案泰克 TSP-2000-HALL 半导体器件测试方案
该资料主要介绍了霍尔效应测试方案，包括系统背景、特点、原理和功能。测试方案用于表征和分析半导体材料，通过测量霍尔效应和电阻，计算载流子浓度、迁移率等参数。系统由源表、矩阵开关和测试软件组成，可在不同磁场、温度和电流下进行测量，并绘制曲线图。
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统，包括622X电流源和2182A纳伏表，提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计，并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成，支持多种测试模式，如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位，包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元（SMU）和低电阻测量技术，以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外，还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术，以及相关产品和应用案例。
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捕获性能：下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案，涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
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KUSB-488B型USB-to-GPIB转换器
本资料为Keithley Instruments公司生产的KUSB-488B USB转GPIB转换器的快速入门指南。指南详细介绍了产品的特点、安装步骤、软件和硬件配置、故障排除以及保修信息。产品支持IEEE-488.1和IEEE-488.2标准，具有即插即用接口，数据传输速率高达1.2MB/s，内置32KB FIFO缓冲区，无需外部电源，并提供Windows操作系统驱动程序和API。指南还提供了软件和硬件安装步骤、配置工具的使用方法以及诊断工具的操作说明。
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KUSB-488B型USB到GPIB转换器快速入门指南
该资料为Keithley Instruments生产的Model KUSB-488B USB to GPIB转换器的快速入门指南。指南内容包括产品特性、安装步骤、软件和硬件安装说明、使用配置工具和诊断工具的方法，以及安全注意事项。产品支持IEEE-488.1和IEEE-488.2标准，具有即插即用接口、高速数据传输率、内置缓冲器等特点。指南还提供了软件下载、驱动安装、硬件配置和故障排除的详细步骤。
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7065霍尔效应卡使用手册附录
本资料为Keithley Instruments公司Model 7065霍尔效应卡的补充说明，旨在提供最新信息。内容包括设备变更、Model 7001开关系统特性、IEEE-488总线编程、示例电阻率和霍尔电压程序等。资料详细说明了如何使用Model 7065卡与Model 7001开关系统配合，包括设置主地址、示例程序要求等。
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Keithley电化学测试仪器方法及应用
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TSP-2000-CV 分立器件 CV 特性测试
该资料介绍了TSP-2000-CV分立器件CV特性测试方案，该方案用于评估半导体器件的质量和可靠性。方案特点包括支持多种测试功能，如C-V、C-T、C-F等，并能同时测试四条不同频率下的曲线。测试过程由软件自动执行，可显示数据和曲线。系统结构主要由源表、LCR表、探针台和上位机软件组成，支持宽频率范围和直流偏压测试。资料还提供了系统参数和配置信息。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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