Mastering Validation and Debug of Digital Systems
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
TLA7000; DPO/DSA70000; TLA7016; TLA7BB4s; CSA8200
本技术资料深入探讨了高速数字系统的验证与调试技术，重点涵盖了PCI Express及DDR内存等关键领域的挑战与解决方案。文档详细阐述了高速串行数据测试中的难点，包括数据采集、信号完整性分析以及协议违规检测等核心问题，并介绍了针对PCI Express和DDR内存的具体验证策略与调试工具，旨在帮助工程师应对复杂的系统设计挑战。基于该技术方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。同时，平台提供专职FAE团队支持，协助用户进行选型、设计验证及调试，有效缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
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资料平台
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TLA7000逻辑分析仪TLA7000系列数据表
21 Mar 2017
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高速串行测试方案介绍
11/12/2012
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泰克逻辑分析仪 TLA7000 系列 产品技术资料
02 Oct 2011
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USB 测试解决方案 电接口验证和一致性测试、信号路径检定、数字验证和调试、无线EVM一致性测试
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TLA7N4逻辑分析仪模块泰克逻辑分析仪数据表
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TLA5Fxxx、TLA6Fxxx和TLA7Fxxx PowerFlex™ 现场升级套件逻辑分析仪说明
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Tektronix逻辑分析仪 TLA7PG2测试码型发生器祺块
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Tektronix版NI LabVIEW SignalExpress™ SIGEXPTE数据表
25 Apr 2012
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D-PHY一致性、特性和解码
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前沿：泰克逻辑分析仪使Tundra半导体公司能够开发出第一个RapidIO®开关，并更快地推向市场
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实时频谱分析仪软件RSAVu 产品技术资料
2017/12/26
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大幅节省：使用TekSelect可节省10-70%
08 Sep 2009
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电气采样模块数据表
18 May 2017
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IConnect®SW用于DSA8300*1采样示波器80SICMX•80SICON•80SSPAR数据表
25 Jan 2012
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泰克逻辑分析仪联机帮助打印帮助文档
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82A04B数据表DSA8300采样示波器的相位参考模块
21 Mar 2017
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高速信号完整性测试及典型应用分析
2010-6-3
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用于DSA8300的80A02 EOS/ESD隔离模块80A02 EOS ESD隔离模块数据表
13 Oct 2017
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泰克逻辑分析仪TLA7Dx/Ex数字存储示波器模块
23 January 2002
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哪种工具更适合您？
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4 GHz有源探头P7240产品介绍
20 Jun 2013
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4 GHz有源探头P7240产品介绍
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数字荧光示波器 / 数字串行分析仪 DPO/DSA70000B 系列产品技术资料
05 Jan 2009
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DSA8300 采样示波器 80C00 光接口模块产品技术资料
05 JUL 2017
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SATA/SAS 应用软件TekExpress SATA/SAS 和 SAS3 产品技术资料
15 Jul 2013
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物理层和协议层的PCI Express 3.0测试方法
2010-4-26
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
泰克逻辑分析仪系列产品安全与合规说明
本资料为Tektronix逻辑分析仪产品安全与合规指南，内容涵盖产品安全、环境、合规性信息。包括通用安全总结、服务安全总结、合规信息、操作要求、安装指南、首次操作步骤等。强调安全操作规范，确保产品安全使用。
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泰克逻辑分析仪系列产品安全与合规说明
本资料为Tektronix逻辑分析仪产品安全与合规指南，涵盖了产品安全、环境、合规性等方面的信息。内容包括一般安全总结、服务安全总结、合规信息、操作要求、环境要求、安装指南等。资料强调了安全操作的重要性，并提供了详细的安装和操作步骤，以确保用户的安全和产品的正常使用。
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泰克逻辑分析仪系列产品安全与合规说明
本资料为Tektronix逻辑分析仪产品安全与合规指南，内容涵盖产品安全操作、环境要求、安装指南、合规性信息以及环保考虑等方面。资料详细说明了产品在使用、维护和安装过程中的安全注意事项，包括电源、接地、操作环境等，并提供了产品符合的电磁兼容性、安全标准和环境标准信息。此外，还提供了产品安装、模块安装和附件连接的详细步骤。
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泰克逻辑分析仪系列产品安全与合规说明
本资料为Tektronix逻辑分析仪产品安全与合规指南，内容涵盖产品安全操作、环境要求、安装步骤、合规信息等方面。资料强调了操作人员需遵循的安全注意事项，包括电源、接地、连接、操作环境等，以确保产品安全使用。此外，还介绍了产品的电磁兼容性、安全标准和环境标准，以及产品报废处理和有害物质限制等信息。
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泰克逻辑分析仪系列快速入门用户手册
本资料为Tektronix Logic Analyzer Family的快速入门用户手册，主要介绍了该系列逻辑分析仪的基本操作和概念。手册涵盖了逻辑分析仪的安装、连接、数据采集、分析和数据管理等内容。重点介绍了逻辑分析仪的关键特性，如高分辨率定时、状态采集、无连接探针系统等，以及如何使用EasySetup向导、数据窗口、触发窗口和波形窗口等工具进行数据采集和分析。
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泰克逻辑分析仪系列快速入门用户手册
本资料为Tektronix Logic Analyzer系列逻辑分析仪的用户手册，介绍了该系列产品的基本操作和概念。手册涵盖了TLA5000B、TLA6000和TLA7000系列逻辑分析仪的安装、配置、数据采集、分析和数据管理等内容。重点介绍了逻辑分析仪的关键特性，如多通道逻辑分析、高分辨率定时分析、触发功能、数据窗口管理以及与示波器的集成使用。
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FB-DIMM 一致性和故障排除解决方案
Tektronix 提供的 FB-DIMM 一致性和故障排除解决方案，针对 FB-DIMM 设计，利用 TDS6000C 系列数字存储示波器的高性能，包括高带宽、高取样速率和深记录长度。该方案包括逻辑分析、阻抗测量、一致性测试、抖动测量和故障排除工具，如 TDSRT-Eye 软件和 TLA700 系列逻辑分析仪，以应对 FB-DIMM 测量挑战。
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串行通信测试解决方案支持发射器、接收器和互连应用的测试
本资料介绍了Tektronix提供的串行通信测试解决方案，支持对发射器、接收器和互连的测试。资料涵盖了电气设计验证和合规性、数字验证和调试、信号路径特性分析等方面。提供了DPO/DSA/MSO70000系列示波器、AWG7000系列任意波形发生器、BERTScope误码率测试仪等测试工具，以及相应的软件支持。
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Tektronix Logic Analyzer联机帮助打印的帮助文档
这份资料是Tektronix逻辑分析仪的在线帮助文档，提供了关于逻辑分析仪的配置、使用、维护和故障排除的详细信息。内容包括连接选择、系统设置、模块设置、数据获取、数据测量、触发程序、协议文件编辑、数据窗口操作、波形窗口操作等。此外，还包括了关于数据存储、搜索、设置和系统配置的指南。
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TLA7000系列逻辑分析仪
本手册为Tektronix TLA7000系列逻辑分析仪的安装指南，涵盖了从基本安装到高级配置的各个方面。内容包括安全注意事项、环境考虑、基本安装步骤、网络配置、模块安装、附件连接、首次操作指南、软件恢复和重装、故障排除等。手册旨在帮助用户安全、有效地安装和使用逻辑分析仪。
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TLA7000系列主机
本资料为TLA7000系列主机的技术参考手册，主要内容包括主机维护、拆卸与安装程序、可更换部件列表、环境考虑因素、保修信息等。资料详细介绍了主机各部件的拆卸、安装和维护方法，以及相关的安全注意事项和保修条款。
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TLA7Bxx逻辑分析仪系列产品规范及性能验证技术参考
本资料详细介绍了TLA7Bxx逻辑分析仪系列产品的规格和性能验证。内容包括产品特性、环境特性、模块规格、性能验证程序、测试设备等。资料涵盖了逻辑分析仪的输入参数、通道宽度、深度、采样方式、触发系统、存储控制、MagniVu功能、合并模块、数据放置、NVRAM、机械特性等方面。
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TLA7Bxx逻辑分析仪系列产品规范及性能验证技术参考
本资料详细介绍了TLA7Bxx系列逻辑分析仪的规格和性能验证。内容包括产品特性、环境特性、模块规格、性能验证程序、测试设备等。资料涵盖了逻辑分析仪的输入参数、通道宽度、深度、采样方式、触发系统、存储控制、MagniVu功能、合并模块、数据放置、NVRAM、机械特性等方面。
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访问目标系统
本文探讨了在嵌入式系统开发中，如何通过片上仿真器和ROM监控器两种方式实现对目标系统的访问。文章比较了这两种方法的优缺点，包括ROM监控器在运行控制、多任务调试支持等方面的优势，以及片上仿真器在无需占用地址空间和异常向量方面的优势。此外，文章还讨论了逻辑分析仪在实时测量和提供实时跟踪方面的作用，以及软件断点和硬件断点的区别。最后，文章强调了在选择调试工具时，应考虑其对目标系统访问的影响。
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TLA6000系列逻辑分析仪解密及安全说明
本资料提供了关于TLA6000系列逻辑分析仪的数据安全指南，包括如何清除或去除内存设备。资料详细说明了不同类型的内存设备（如DRAM、SDRAM、NVRAM等）的清除和消毒方法，以及数据导出设备（如USB端口、CD-RW、LAN等）的禁用步骤。此外，还介绍了内置的安全特性，如硬盘驱动器的移除和存储，以及非功能性仪器的清除或消毒方法。
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TLA700/TLA7000系列泰克逻辑分析仪解密及安全说明
本资料为Tektronix TLA700/TLA7000系列逻辑分析仪的数据安全指南，旨在帮助用户清除或移除内存设备。内容包括内存设备和非易失性存储器的清除和消毒程序，以及数据导出设备的信息。此外，还提供了非功能仪器消毒或清除的说明。
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TLA700/TLA7000系列泰克逻辑分析仪解密及安全说明
本资料为Tektronix TLA700/TLA7000系列逻辑分析仪的解密和安全指南，旨在帮助客户解决数据安全问题。指南详细介绍了如何清除或移除逻辑分析仪中的存储设备，包括挥发性和非挥发性存储设备。此外，还提供了数据导出设备的禁用方法以及非功能仪器的清理和消毒步骤。
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PCI ExpressTM 测量
本文介绍了PCI Express™的测量技术，包括检验、调试和一致性测试。内容涵盖PCI Express的结构、规范、物理层特点、信号完整性测量、眼图和模板测试、噪声和抖动分析、频域测量、接收机灵敏度和抖动容限测量等。此外，还讨论了模拟测量中的信号保真度、连接串行被测设备、模拟采集考虑因素、调试链路、定位和触发误码、数字检验和调试等。最后，概述了PCI Express测量解决方案，包括示波器、信号源和逻辑分析仪等工具。
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串行通信测试解决方案 支持发射机、接收机和互连测试
本资料主要涉及电子元器件行业的技术交流与产品展示。内容包括元器件行业的技术发展趋势、产品应用案例、市场分析以及行业动态。资料中提到了多种电子元器件，如传感器、集成电路等，并展示了相关产品的技术参数和应用场景。此外，还涉及了行业内的知名企业和技术标准。
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使用差分探头进行单端测量
本文介绍了使用差分探头进行单端测量的方法及其优势。随着高速差分信号在数字通信领域的广泛应用，差分探头技术也得到了发展。文章首先概述了差分探头的基本原理和设计，然后详细讨论了使用差分探头进行单端测量的方法和注意事项，包括探头接地、信号保真度、共模噪声抑制等方面。最后，文章通过实际案例展示了差分探头在单端测量中的应用，并强调了其在高速信号测量中的重要性。
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高速串行信号及嵌入式系统先进测试技术
本文主要探讨了高速串行信号及嵌入式系统的先进测试技术，包括技术发展趋势、测试系统设计、检验、一致性测试以及具体测试方法。文章详细介绍了高速串行系统的测试流程，包括信号完整性、眼图和抖动分析、接收机测试、协议测试等，并针对不同高速串行标准提供了相应的测试解决方案。
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泰克逻辑分析仪系列产品规范和性能验证技术参考手册
本资料为Tektronix逻辑分析仪系列产品的技术参考手册，涵盖了TLA7000系列主框、TLA7PC1控制器、TL708EX TekLink 8端口集线器、TLA700系列主框、TLA600系列逻辑分析仪、TLA7Axx/TLA7Nx系列逻辑分析仪模块、TLA7Lx/Mx/Nx/Px/Qx系列逻辑分析仪模块、TLA7PG2图案生成模块、DSO数字存储示波器模块等产品的规格和性能验证。内容包括产品规格、特性表、大气特性、性能验证程序等。
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