PulseCore Semiconductor Turns to Tektronix USB Test Solution and Spectrum Analyzers to Enable USB 2.0 Chip Development
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
DPO7000; TDSUSB2
本技术案例详细阐述了PulseCore Semiconductor借助泰克USB测试解决方案与频谱分析仪，成功研发新型USB 2.0芯片的过程。该芯片核心在于采用扩频技术以有效降低电磁干扰（EMI）排放，同时严格保持USB协议的合规性。文中重点介绍了泰克仪器及软件在研发中的关键作用，包括协助工程师进行全面的USB合规性验证、信号完整性测试，以及精确测量电缆和辐射环境下的USB 2.0 EMI功率降低效果，确保了产品的高性能与可靠性。针对文中涉及的泰克测试设备及PulseCore相关技术方案，泰克在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该平台，用户可获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型指导、设计验证到系统调试的全方位技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
100G 和 400G 数据通信发射机测量为 100G/400G 数据通信测试确定适当的测量工具 应用指南
本文主要介绍了100G和400G数据通信发射机测量的应用指南，包括测试工具的选择、技术标准和关键考虑因素。文章重点讨论了实时示波器（RTO）和等效时间示波器（ETO）在高速数据通信测试中的应用，比较了它们的优缺点，并强调了泰克DPO70000SX RTO和DSA8300 ETO系列产品的性能特点。
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DPO7000系列407-5192-01的K420手推车和拉卡支架说明
本资料为Tektronix公司生产的DPO7000系列示波器安装说明，包括如何将设备安装到K420车架或LACART上。资料详细介绍了所需工具、零件识别、安装步骤以及注意事项。安装过程约需15分钟，涉及将支架固定到设备上，然后将设备安装到车架上。资料还提供了保修信息和技术支持联系方式。
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开发高性价比通信应用的嵌入式设计技术
本文介绍了在嵌入式设计中开发成本效益通信的实用技术。主要内容包括：
1. USB接口性能评估：通过测量和分析USB信号，评估不同电缆长度对信号质量的影响，确保USB设备符合标准。
2. 以太网干扰分析：使用以太网合规性测试软件，分析视频信号对以太网信号的影响，确保通信质量。
3. 射频性能评估：通过分析射频发射器的输出信号，确定启动延迟时间，以优化电池寿命。
通过这些技术，可以确保嵌入式设计中通信的可靠性和成本效益。
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电源测量与分析入门
本文主要介绍了电源测量与分析的基础知识，包括电源设计中的测量需求、开关电源的基本原理、有源元件和被动元件的测量方法，以及电力线测量和功率分析仪的应用。文章详细阐述了开关电源中开关元件的损耗理论、安全工作区（SOA）测量、动态导通电阻等概念，并介绍了如何使用示波器和功率分析仪进行精确的电源测量。此外，文章还讨论了磁性元件的测量方法，包括电感、变压器和磁性材料的特性，以及如何使用示波器进行磁性特性测量。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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PCIe第5代发射器符合性测试
Tektronix的PCIe Gen 5解决方案提供灵活的测试配置和全面的报告，支持x1、x4、x8或x16链路的传输器测试。该方案包括自动化测试软件，用于验证信号完整性，并支持PCI-SIG规范。此外，Tektronix还提供预合规测试夹具，用于在PCI-SIG合规夹具可用之前进行测试。解决方案还包括优化参考时钟抖动测试，以适应PCIe Gen 5的最高数据速率。
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TekVPITM技术提供了多用途且使用简便的新型探棒介个面架构
Tektronix 推出的 TekVPI™ 探头接口（Tektronix Versatile Probe Interface）是一种用于高精度信号测量的探头接口。TekVPI 支持多种探头，包括 TekProbe-BNC Level 1 和 Level 2，适用于 DPO4000 和 DPO7000 系列示波器。TekVPI 提供了 50 GHz 的带宽，支持 BNC 连接，并兼容 UHF 频段。TekVPI 的设计旨在提高测量精度和信号完整性，适用于各种电子测试应用。
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数字设计除错指南
本文主要介绍了电子元器件行业中的关键技术和测试方法，包括传输线等效电路、时钟传播延迟时间、数据输入输出、I2C通信协议等。文章详细阐述了这些技术在电子设计中的应用，并提供了相关测试设备和工具的介绍。
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重新设想5G测量
Tektronix推出的SignalVu Vector Signal Analysis Software能够为Tektronix的示波器提供广泛的射频测量功能，包括6系列B MSO和DPO70000SX系列示波器。SignalVu 5GNR选项允许用户检查5G NR物理层信号，以确认DUT性能并确保符合3GPP测量规范。软件支持多种测量，包括输出功率水平、动态、发射信号质量、信道、占用带宽、频谱发射、相邻信道功率等。此外，还提供了时间概述、ACPR、MCPR、AM、FM、PM分析等功能。6系列B MSO与SignalVu和5GNR分析结合，可分析高达10 GHz频率范围和2 GHz带宽的信号，并实现时域和频域的同步视图。DPO70000SX系列示波器也支持SignalVu和5GNR分析，提供高精度测量和灵活的配置选项。
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LPDDR5存储器接口的高效验证与调试
本文主要介绍了Tektronix公司针对LPDDR5内存接口的验证和调试解决方案。该方案通过自动化系统级测试，帮助用户快速、高效、可靠地验证和调试LPDDR5设计，满足超过50项JEDEC定义的电气和时序测量要求。方案包括自动化测试、用户自定义的采集模式、改进的读写突发分离算法、增强的s参数验证和TriMode探头等，旨在加速产品上市时间，提高调试和验证效率。
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DDR5内存接口的高效验证与调试
本文主要介绍了DDR5内存接口的验证和调试技术。随着5G技术的发展，DDR5技术在存储和访问数据方面变得至关重要。DDR5提高了带宽、密度和通道效率，但同时也带来了更高的数据传输速率和更快的信号速度，这对信号完整性和测量性能提出了更高的要求。Tektronix的TekExpress DDR5 Transmitter Solution提供了一套自动化系统级测试应用，能够快速、高效、可靠地验证和调试DDR5设计，满足JEDEC定义的50多项电气和时序测量要求。该解决方案包括DFE分析、调试和验证、SDLA（串行数据链路分析）等功能，旨在帮助用户优化DDR5设计。
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