NEW MATERIALS—NEW RELIABILITY ISSUE
发布时间：
2018-08-02
类型：
白皮书
品牌：
TEKTRONIX
型号：
-
该技术资料深入探讨了半导体器件可靠性测试领域面临的新材料与新问题。随着半导体器件尺寸的不断缩小及集成密度的增加，对可靠性测试仪器的性能要求愈发严格。文章重点分析了薄氧化层、介电吸收、κ漂移以及铜金属化工艺等关键因素对器件可靠性的具体影响，并详细阐述了应对这些挑战所需的先进测试技术与仪器指标。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。针对文中所述器件，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
DMM7512型7-1/2位采样万用表规格
Rev. B
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
MTS400系列MPEG分析工具基本流（ES）分析仪数据表
02 Oct 2011
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
660型保护直流差分电压表使用手册
阅读原文 >>
DAS-1800HC系列用户指南
本资料为DAS-1800HC系列数据采集板用户手册，详细介绍了该系列板卡的安装、接口要求、功能及操作。手册内容涵盖板卡特性、配件、软件选项、操作功能、软件安装、配置、典型连接、DriverLINX软件操作、校准和故障排除等。手册适用于熟悉IBM PC或兼容机在Windows 95/98或Windows NT环境下操作、数据采集原理及其应用的人员。手册结构清晰，内容详实，为用户提供了全面的使用指导。
阅读原文 >>
DAS-1800HC系列用户指南
阅读原文 >>
捕获性能：下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案，涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
阅读原文 >>
下一代示波器
新一代示波器系列，包括3系列MDO、4系列MSO、5系列B MSO和6系列B MSO，提供卓越的调试速度和洞察力。这些示波器具备触摸屏界面、高分辨率显示屏、多通道输入、集成频谱分析、强大的分析工具和多种协议选项。此外，它们还支持高级测量和分析，如眼图、抖动分析和功率完整性验证。
阅读原文 >>
重新设想5G测量
Tektronix推出的SignalVu Vector Signal Analysis Software能够为Tektronix的示波器提供广泛的射频测量功能，包括6系列B MSO和DPO70000SX系列示波器。SignalVu 5GNR选项允许用户检查5G NR物理层信号，以确认DUT性能并确保符合3GPP测量规范。软件支持多种测量，包括输出功率水平、动态、发射信号质量、信道、占用带宽、频谱发射、相邻信道功率等。此外，还提供了时间概述、ACPR、MCPR、AM、FM、PM分析等功能。6系列B MSO与SignalVu和5GNR分析结合，可分析高达10 GHz频率范围和2 GHz带宽的信号，并实现时域和频域的同步视图。DPO70000SX系列示波器也支持SignalVu和5GNR分析，提供高精度测量和灵活的配置选项。
阅读原文 >>
LPDDR5存储器接口的高效验证与调试
本文主要介绍了Tektronix公司针对LPDDR5内存接口的验证和调试解决方案。该方案通过自动化系统级测试，帮助用户快速、高效、可靠地验证和调试LPDDR5设计，满足超过50项JEDEC定义的电气和时序测量要求。方案包括自动化测试、用户自定义的采集模式、改进的读写突发分离算法、增强的s参数验证和TriMode探头等，旨在加速产品上市时间，提高调试和验证效率。
阅读原文 >>
UMTS协议与协议测试
本文介绍了UMTS（通用移动通信系统）的协议和协议测试。内容涵盖移动通信的演变，从1G到3G，再到3G的UMTS标准。文章详细阐述了UMTS网络架构，包括核心网络、无线接入网络和用户设备。此外，还介绍了UMTS中的不同接口和协议，如Uu、Iub、Iur和Iu接口，以及相关的控制平面和应用协议。最后，文章讨论了UMTS的物理层和传输网络层，以及它们在UMTS系统中的作用。
阅读原文 >>
磁性器件损耗测试方案
该资料主要介绍了磁性器件损耗测试方案，包括测试原理、平台搭建、测试说明和方案配置。测试原理部分阐述了在开关式电源中，电感器和变压器的重要性以及实际工作条件下测量这些器件的必要性。测试平台搭建部分描述了电压和电流通道的设置以及电感和电流与电压积分的关系测量。测试说明部分强调了5-PWR磁属性测量在检查磁性器件饱和性方面的作用，以及磁损耗测量在计算总磁损耗和铜缆损耗中的应用。方案配置部分推荐了MSO54+5-PWR+THDP0200+TCP0030A解决方案，并说明了其特点。
阅读原文 >>
开关损耗测试方案
开关电源（SMPS）性能受开关器件损耗影响显著，因此开关损耗测试至关重要。测试平台搭建需实物连接图，推荐使用泰克示波器及原厂电源探头，配合专用开关损耗算法，确保测试结果可靠性。
阅读原文 >>
利用2450型交互式数字源表®源测量单元（SMU）仪器进行生物传感器/换能器合格测试
本文主要介绍了生物传感器/换能器的合格测试方法，特别是利用2450型交互式数字源表®源测量单元（SMU）仪器进行测试的过程。文章详细阐述了生物传感器的功能、性能标准、设计方法以及测试过程中的关键步骤，包括传感器特性分析、I-V特性分析等。此外，还介绍了2450型SMU仪器在生物传感器测试中的应用，包括其作为恒流源、伏特计、安培计和欧姆表的功能，以及其图形用户界面的易用性。文章最后强调了测试过程中电缆、电导和电容等因素对测量质量的影响，并提供了相关建议。
阅读原文 >>
从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位，专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性（WLR）测试。其产品线包括多种WLR测试算法库，为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案，包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统，旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等，均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
阅读原文 >>
高功率半导体器件检定测试方案
阅读原文 >>
MPEG解决方案：过渡到H.264视频
本文介绍了数字广播行业在拥抱高清、IPTV和移动视频等新技术时，H.264/AVC视频压缩技术的重要性。文章详细阐述了Tektronix如何支持端到端的H.264解决方案，包括设计、部署和管理三个阶段，并针对过渡到H.264时可能遇到的问题提供了解决方案。文章还介绍了Tektronix的测试工具，如MTS4EA、MTS4CC和PQA500，以及它们在视频编码器、解码器和网络元素测试中的应用。
阅读原文 >>
串行数据链路分析（SDLA）：用于Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器的SLE/SLA选项
Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器SLE/SLA选项提供先进的串行数据链路分析（SDLA）功能，包括均衡、链路预算和“假设”分析。该软件支持多种高速串行数据标准，如6 Gb/s、USB 3.0、SATA、PCIe、OIF CEI等，并具备参数化信道仿真、信号路径拓扑结构灵活性和网络测量工具等功能，以帮助工程师优化设计并确保测试的准确性。
阅读原文 >>
720型可变孔径积分模数转换器说明书
阅读原文 >>
从测试的角度来看当今电源产品的设计-----泰克电源方案介绍
本文介绍了泰克科技在电源产品设计测试方面的解决方案，涵盖了功率器件测量、开关电源板级测试、电源整体评价和开关电源EMI分析等方面。文章详细阐述了泰克科技在电源测试领域的挑战、器件测试、板级测试、延迟校准、电源开关时序、共模干扰以及电源板级测试要求等内容，并展示了泰克科技在电源测试领域的先进技术和产品。
阅读原文 >>
物联网设计、部署、调测的全面解决方案
本文详细介绍了泰克公司针对物联网领域的全面解决方案，包括高性价比测试仪器和测试方案。内容涵盖物联网发展趋势、测试需求、泰克产品特点、应用案例等，旨在帮助读者了解物联网测试领域的最新技术和解决方案。
阅读原文 >>
泰克高性价比射频测试方案
本文介绍了泰克公司提供的多种高性价比射频测试方案，包括实时频谱分析仪、矢量网络分析仪、信号源等，旨在满足物联网、EMC认证、蓝牙和LoRa等领域的测试需求。文章详细介绍了泰克产品的性能特点、应用案例以及与合作伙伴共同开发的测试系统。
阅读原文 >>
泰克高性价比射频测试方案
本文介绍了泰克公司在射频测试领域的创新历程，重点介绍了泰克的高性价比射频测试方案，包括实时频谱分析技术、高性价比射频仪器和测试系统。文章详细阐述了泰克在射频测试领域的创新历程，包括从扫频频谱仪到实时频谱分析仪的发展，以及泰克在实时频谱分析领域的领先地位。同时，文章还介绍了泰克的高性价比射频仪器，如RSA306B、RSA500A/RSA600A等，以及泰克与合作伙伴共同开发的射频测试系统，如蓝牙器件产测系统、汽车胎压监测分析系统等。此外，文章还介绍了泰克EMC预认证测试系统EMCVu，以及相关测试附件和标准。
阅读原文 >>
3系列MDO混合信号示波器包括探头和附件
该资料介绍了一款3系列混合信号示波器，包括探头和附件。示波器提供不同频率型号，配备相应频率的探头，如100 MHz至1 GHz不等。此外，资料还提及了安装和安全性手册、附件袋、电源线和保修证书等信息。
阅读原文 >>
泰克最新宽带测试解决方案
泰克最新宽带测试解决方案主要针对宽带测试领域的新挑战，提供了一系列宽带信号产生和分析方案。方案包括高性能任意波信号发生器、宽带信号产生方案、复杂场景模拟软件、高带宽实时频谱仪、示波器等，旨在满足高载频、高带宽、复杂波形模拟等测试需求。
阅读原文 >>
4200A-SCS参数分析仪相关产品信息
Keithley推出新一代4200A-SCS参数分析仪，提升测试速度和易用性。新系统采用Windows 10操作系统，配备触摸屏和高清显示屏，支持快速启动和数据存储。4200A-SCS提供内置测量视频和应用测试，简化操作流程。此外，系统支持IV和CV测量切换，并具备未来升级的兼容性。
阅读原文 >>
赋能新技术NovioScan
Novioscan公司开发了一款名为Sens-U的可穿戴超声设备，用于帮助儿童处理尿失禁问题。随着产品成功，公司开始为成人开发类似产品，面临技术挑战。Tektronix提供了TBS2000系列示波器，帮助Novioscan克服了设计难题，提高了产品开发效率。工程师Dario分享了他在使用Tektronix设备的工程经历，强调了其对项目发展的巨大帮助。
阅读原文 >>
低噪声纹波探头测量入门应用指南
本文主要介绍了低噪声纹波探头测量的入门知识，包括测量挑战、带宽要求、系统噪声和附加探头噪声、AC或DC输入耦合的影响、低噪声纹波探头负载挑战等。文章还讨论了选择适当的连接进行测量、管理测量系统和环境噪声、使用10x无源探头可能产生的问题、垂直标度设置对噪声性能的影响、其他降噪方法、选择适当的示波器输入耦合设置、DC偏置对低噪声纹波探头测量的挑战以及探头阻抗对测量的影响。最后，文章总结了泰克TPR4000和TPR1000低噪声纹波探头如何解决测量挑战，为工程师提供低噪声纹波探头分析工具。
阅读原文 >>
向量网络分析仪基础知识
本文介绍了向量網路分析儀（VNA）的基本知識和操作，包括其工作原理、量測誤差的類型、史密斯圖的應用、S參數的定義和阻抗匹配等。同時，還介紹了VNA校準的重要性以及TTR500系列VNA的性能特點，如頻率範圍、動態範圍、軌跡雜訊等。
阅读原文 >>
以太网探秘
本文深入分析了双绞线以太网的编码和信号传输机制，以混合信号示波器为工具，揭示了以太网在物理层的数据传输过程。文章详细介绍了10 Base-T和100 Base-TX以太网的编码方式，包括曼彻斯特编码、4B5B编码、MLT-3编码和NRZ-I编码，并通过实际操作验证了软件接收到的数据和示波器捕获信号的一致性。
阅读原文 >>
驾驶你自己的未来作为一个女工程师汉泽赛车部
Tektronix为Hanze Racing Division提供了TBS2000B示波器、2230G和2260B直流电源，以支持学生如Rianne Drijver进行电动方程式赛车项目，提升工程教育体验。这些设备具有精确可靠性能和直观用户界面，帮助学生快速掌握使用技巧，减少测试学习曲线时间，专注于项目进展。通过跨学科合作和实际操作，学生获得宝贵经验，为未来成功打下基础。
阅读原文 >>
推荐的教育工作台配置
本文介绍了Tektronix和Keithley提供的针对教育领域的测试和测量解决方案。内容包括基础教学实验室配置、电源电子工程实验室配置以及下一代射频/无线实验室配置，涵盖了示波器、电源、信号发生器、源测量单元、电流探头、数字多用表等设备。此外，还提供了软件和服务计划，旨在帮助学生掌握工程基础和实际应用。文章强调了Tektronix在教育和研发领域的投入，以及与多所知名大学合作的成功案例。
阅读原文 >>
FOR-16手动
阅读原文 >>
完整的SmartLink™用户手册
阅读原文 >>
615型数字静电计
阅读原文 >>
一种使用单个超快脉冲测量通道有效迁移率的技术
本文介绍了一种新型超快速单脉冲技术（UFSP），用于测量MOSFET的通道有效迁移率（μeff）。该技术克服了传统测量方法的缺点，如速度慢、对栅极泄漏敏感等。UFSP技术通过在器件栅极上应用超快脉冲，同时测量源极和漏极的瞬态电流，从而在几微秒内提取μeff。文章详细介绍了UFSP技术的原理、测量步骤和所需硬件，并展示了其在不同器件上的应用效果。
阅读原文 >>
MIPI/LVDS物理层测试解决方案
本次直播大讲堂主题为MIPI/LVDS物理层测试解决方案，主讲人为杜国华，泰克高级应用工程师。讲座内容包括MIPI D-PHY和LVDS的基础知识、测试挑战及定制化测试方案。MIPI D-PHY部分介绍了其特性、数据传输模式、测试解决方案等；LVDS部分则涵盖了其标准、类型、测试挑战及TekExpress LVDS解决方案。
阅读原文 >>
使用混合信号示波器查找和诊断功率完整性问题导致的抖动应用指南
本文介绍了如何使用混合信号示波器诊断功率完整性问题导致的抖动。内容涵盖抖动测量、术语、随机性抖动和周期性抖动、功率完整性噪声来源、纹波对电源轨道的影响等。通过分析眼图、TIE频谱、直方图等，可以识别PDN引起的信号问题。文章还介绍了泰克MSO6B系列混合信号示波器的相关功能。
阅读原文 >>
确保新一代车载网络的性能和合规性汽车入门手册：车载网络
本文主要探讨了新一代车载网络（IVN）的性能和合规性问题。随着汽车电子化程度的提高，车载网络的数据流量和依赖程度不断增长，对网络速度、容量和可靠性提出了更高要求。文章介绍了汽车以太网作为新一代车载网络的发展趋势，以及其在处理大量数据、降低时延、提高可靠性和服务质量方面的优势。同时，文章还强调了标准化和生命周期管理在车载网络测试中的重要性，并介绍了泰克科技提供的车载网络测试解决方案。
阅读原文 >>
泰克汽车毫米波雷达测试解决方案
本文详细介绍了汽车毫米波雷达的背景、工作原理、主要测试内容和挑战，以及泰克公司提供的汽车毫米波雷达测试解决方案。文章首先阐述了汽车毫米波雷达的应用背景和市场需求，接着深入讲解了毫米波雷达的工作原理、测试内容和挑战，最后重点介绍了泰克公司提供的信号产生和分析方案，包括雷达接收机性能测试、抗干扰性能测试和发射机测试方案。
阅读原文 >>
使用示波器调试 USB 2.0 问题
本文主要介绍了如何使用示波器调试USB 2.0总线问题。内容包括USB 2.0总线的物理层和分组结构、如何在示波器上设置和解码USB 2.0数据、触发和搜索选项等。此外，还介绍了USB 2.0总线的背景、工作方式、数据包结构以及如何设置USB 2.0解码触发等。
阅读原文 >>
通用串行总线USB技术演进及测试方案
本文介绍了USB技术的演进历程，包括USB 1.0至USB 3.1的版本更新、Type-C接口的特点和应用，以及USB 4的概述。文章还详细阐述了USB 2.0的一致性测试解决方案，包括测试项目、测试设备和测试方法。此外，还对比了USB 3.1的不同版本，并介绍了接收器测试的基本原理和步骤。
阅读原文 >>
502型毫欧表使用手册
阅读原文 >>
181型数字纳伏表操作手册
阅读原文 >>
610型多功能静电计及附件
阅读原文 >>
CTM-05用户指南
阅读原文 >>
FOR-488手册
阅读原文 >>
1685型夹式交流电流探头说明书
阅读原文 >>
020-2719-XX ChipCool 1&2、020-2616-XX ChipCool 1&2、020-2617-XX Desktop、025-2618-XX Cooler Master散热器硬件安装说明
本资料为元器件行业的热沉硬件安装指南。内容包括热沉硬件的安装步骤、所需工具、配件清单以及注意事项。指南详细介绍了如何将热沉硬件安装到目标系统上，并提供了相应的配件和工具列表。
阅读原文 >>
Kickstart指南
本文档介绍了KickStart软件的使用指南，包括安全注意事项、许可证管理、仪器选择、应用程序启动和数据记录功能。用户需遵守安全操作规程，通过许可证管理器激活软件功能。文档还涵盖了数据记录、图表视图、测试运行和历史数据查看等功能。
阅读原文 >>
