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弱电流测量
发布时间: 2018-08-02
类型: 技术文档,技术说明、产品技术资料
品牌:
TEKTRONIX
型号:
428-PROG; 6485; 6487; 2502; 6514; 6517B; 6430; 6220; 6221; 248; 2635A
本技术手册详细阐述了弱电流和高电阻测量的核心技术、仪器原理及操作方法。内容深入探讨了测量电路设计、漏电流防护、噪声抑制、源电阻影响及零位漂移等关键因素,并涵盖了电流发生、过载保护、干扰衰减及稳定时间等性能指标。资料重点解析了恒电压与恒电流两种高电阻测量方案,以及利用电量计进行弱电流测量的具体步骤,结合屏蔽技术与实际应用案例,为提升测量精度和系统稳定性提供了详尽指导。针对文中涉及的精密测量需求,用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件与技术支持。相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,并具备充足库存以满足从研发打样到量产的全生命周期采购需求。平台专职FAE团队可提供专业的选型建议、设计验证及调试服务,有效缩短供应链响应周期,助力用户加速产品开发与上市进程。
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资料平台
数据手册 - 英文
4299-7型固定机架安装套件装配和安装说明
Rev. D
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测试报告 - 英文
探索材料科学或设备开发的边界?学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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测试报告 - 英文
探索材料科学或设备开发的边界?学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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技术文档 - 英文
一种更可靠的测量方法,用于精确的低电流和高电阻测量
2017/12/22
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技术文档 - 英文
一种更可靠的测量方法,用于精确的低电流和高电阻测量
2017/12/22
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数据手册 - 中文
6220型 6221型直流电流源 交流和直流电流源
2019/03/30
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数据手册 - 英文
6487皮安计规格
Rev. A
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测试报告 - 中文
2012 吉时利光电测试方案
2018/01/06
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数据手册 - 英文
6485型皮安计说明书
Revision A
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测试报告 - 英文
先进的科学研究,尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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技术文档 - 中文
微弱信号测量专题专注于纳米,半导 体,物理,化学,生物等全新领域.. 以超高的灵敏度超越数字万用表的测量极限带您探索微观世界
2017/12/30
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数据手册 - 英文
6487型发行说明
Rev. A
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测试报告 - 英文
了解功率转换效率测试的基本工具和技术
2017/12/22
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数据手册 - 英文
6485皮安计规格
Rev. B
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测试报告 - 英文
触摸,测试,发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利!
2017/12/22
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技术文档 - 英文
哪种Keithley纳米技术解决方案最适合您的采购或测量应用?
2017/12/27
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数据手册 - 中文
6517B 静电计/高阻表
2021/05/22
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数据手册 - 中文
6517B静电计/高阻表
2018/12/24
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数据手册 - 英文
6517B静电计/高阻表
2017/12/21
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数据手册 - 中文
6517B静电计/高阻表 产品技术资料
121620
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数据手册 - 英文
6514型可编程静电计规格
Rev. B
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技术文档 - 英文
6485/6487
2018/06/20
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数据手册 - 中文
6487型皮安表/电压源
2019/03/30
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技术文档 - 英文
用于设备测试和特性描述的精密低电流源型号6220直流电流源型号6221交流和直流电流源
2017/12/22
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技术文档 - 英文
直流电流源交直流电流源
2017/12/21
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数据手册 - 英文
6430毫微秒远程源
Rev.F
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数据手册 - 英文
6430亚毫微秒级远程源表规范
Rev. G
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数据手册 - 英文
静电计/高阻计
2017/12/23
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技术文档 - 中文
如何实现精确的低电压和低电阻测量
No. 3128
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数据手册 - 中文
6430型亚FA程控源表
2021/7/9
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数据手册 - 中文
6430型亚FA程控源表
2018/12/24
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数据手册 - 英文
6517B静电计/高电阻计数据表
2021/11/17
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数据手册 - 英文
6517B静电计/高电阻计数据表
121620
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技术文档 - 英文
高阻抗半导体电阻率和霍尔效应测试配置
2017/12/23
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据,覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器,超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据,不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持,更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务,贯穿硬件创新全链路,让研发更容易,让采购更便宜。
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应用/方案
低电流测量
本文主要介绍了低电流测量的基本原理、误差来源以及常见应用。文章详细阐述了理想电流测量方法,分析了实际测量中可能出现的误差,如电压负担、分流电流和噪声电流等。此外,文章还介绍了两种低电流测量技术:分流法和反馈法,并分析了它们的优缺点。最后,文章列举了低电流测量的典型应用,如MOSFET亚阈值电压特性和光电二极管暗电流特性测量。
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统,包括622X电流源和2182A纳伏表,提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计,并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成,支持多种测试模式,如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试,以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外,吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案,适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器,以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位,包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元(SMU)和低电阻测量技术,以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外,还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术,以及相关产品和应用案例。
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Keithley电化学测试仪器方法及应用
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Keithley机架安装套件选择器指南
本资料为Keithley公司推出的机架安装套件选择指南,详细介绍了不同型号的机架安装套件及其适用范围。包括固定单单元机架套件、固定双单元机架套件、架式机架套件和后部/轨道支撑套件等,适用于多种型号的仪器和设备。资料中提供了详细的型号对照表和适用型号说明,方便用户选择合适的机架安装套件。
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用于电化学测试方法和应用的吉时利仪器-应用说明
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7065霍尔效应卡使用手册附录
本资料为Keithley Instruments公司Model 7065霍尔效应卡的补充说明,旨在提供最新信息。内容包括设备变更、Model 7001开关系统特性、IEEE-488总线编程、示例电阻率和霍尔电压程序等。资料详细说明了如何使用Model 7065卡与Model 7001开关系统配合,包括设置主地址、示例程序要求等。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案,涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案,包括SMU应用要点及选型指南,旨在为材料科学研究提供技术支持。
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半导体材料与器件科学云讲堂——二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
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半导体材料与器件科学云讲堂--二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲,内容涵盖二维材料/石墨烯及其电子器件的IV和CV测试方法。讲座介绍了二维/石墨烯材料的四探针测试和霍尔效应测试,以及二维MOSFET器件的电性能测试。此外,还探讨了高性价比和高性能测试方案,并针对石墨烯电子器件的测试挑战提出了相应的解决方案。
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6220型直流电流源6221型交流和直流电流源用户手册
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6220型直流电流源6221型交流和直流电流源用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 6220/6221直流/交流电流源的用户手册。手册详细介绍了产品的功能、操作方法、安全注意事项、规格参数和SCPI编程等。主要内容包括:产品概述、安全注意事项、基本操作、输出连接、直流电流源操作、扫描功能、Delta、Pulse Delta和差分电导测量、平均滤波器、数学和缓冲、波形函数(仅限6221型号)、规格参数、SCPI表格等。
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6220型直流电流源6221型交流和直流电流源参考手册
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6220型直流电流源6221型交流和直流电流源参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 6220直流电流源和Model 6221交流/直流电流源的用户手册。内容包括产品概述、安全注意事项、操作指南、功能说明、接口配置、远程操作、状态结构等。手册详细介绍了产品的使用方法、配置选项、编程接口以及注意事项,旨在帮助用户正确、安全地使用产品。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案及应用指南
本资料由泰克科技(中国)有限公司提供,主要针对当代材料科学研究中电学特性测试方案及应用进行详细阐述。内容涵盖电输运特性、量子材料、超导材料、半金属、异质结构等材料的物性表征测试方案;新一代高速存储单元及类脑计算、神经元网络测试方案;MEMS、宽禁带材料、纳米结构材料等测试方案。资料详细介绍了各类材料的测试挑战、解决方案、测试流程及泰克公司提供的测试方案配置和优势。
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