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先进的科学研究,尖端的测试测量 Advanced Measurement for Advanced Technology
发布时间: 2018-08-02
类型: 技术文档,技术说明、产品技术资料
品牌:
TEKTRONIX
型号:
Model 2461; 2600B; DMM7510
该技术资料深入探讨了先进技术在元器件行业中的应用,涵盖新材料、纳米技术、功率半导体器件、MEMS、半导体传感器及光电子学等前沿领域。文章详细阐述了纳米材料如石墨烯的具体应用,分析了宽禁带材料如GaN和SiC的商业化进程,并重点介绍了功率半导体器件的表征与测试方法。此外,资料还涉及MEMS和半导体传感器的应用背景,以及光电子学中太阳能电池和光学模块组件的测试解决方案。文中特别强调了Keithley公司在精密测试仪器领域的关键作用,其提供的源测量单元(SMU)、参数曲线跟踪器及半导体参数分析仪等设备,为相关技术研发提供了有力支撑。基于该方案,Keithley在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。用户可通过平台获取原厂授权的正品器件,相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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资料平台
数据手册 - 英文
2461型交互式SourceMeter®仪器规范
Rev. B
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测试报告 - 英文
综合测试系统
2017/12/21
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数据手册 - 英文
DMM7510 7½位图形采样万用表
2021/10/03
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数据手册 - 英文
DMM 7510 7½位图形采样万用表
2021/07/05
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DMM 7510 7½位图形采样万用表
042221
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DMM 7510 7½位图形采样万用表
2017/12/21
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测试报告 - 英文
先进的科学研究,尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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数据手册 - 英文
2651A 50 A,高功率System SourceMeter®SMU仪器
Rev. 02.2018
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测试报告 - 英文
在无线设备质量测试中最大限度地提高数字万用表的生产效率
2018/01/01
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数据手册 - 英文
技术信息SourceMeter®SMU仪器
2017/12/29
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2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
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数据手册 - 英文
2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
2021/8/28
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数据手册 - 英文
2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
030321
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数据手册 - 英文
2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
112718
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数据手册 - 英文
2600B系统SourceMeter®SMU仪器
2017/12/21
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数据手册 - 中文
系统SourceMeter® SMU仪器
2014/10/30
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数据手册 - 英文
2450 SourceMeter®SMU仪器数据表
2021/10/03
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数据手册 - 英文
2450 SourceMeter®SMU仪器数据表
020321
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数据手册 - 英文
2460型交互式SourceMeter®仪器
Rev. A
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数据手册 - 英文
2460型交互式SourceMeter®仪器规范
Rev. B
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数据手册 - 英文
2450型交互式SourceMeter®仪器规范
Rev. B
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据,覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器,超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据,不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持,更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务,贯穿硬件创新全链路,让研发更容易,让采购更便宜。
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应用/方案
2461-SYS SourceMeter®仪器信息
本文介绍了Keithley Instruments公司生产的Model 2461-SYS SourceMeter®仪器,这是一款专为Keithley S535参数测试系统设计的交互式仪器。与Model 2461相比,2461-SYS具有更少的电流范围,适用于更高电流的应用。文章详细描述了2461-SYS的用户文档,包括操作方式、与2461的差异、电流和电压范围、操作边界、物理差异、默认设置差异、固件差异以及安全注意事项。
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使用2602B或2606B系统SourceMeter®仪器和DMM7510图形采样DMM进行3D感测的激光二极管阵列测试应用笔记
本文介绍了使用2602B或2606B System SourceMeter®仪器和DMM7510图形采样DMM进行激光二极管阵列测试,以实现3D传感。文章详细阐述了3D传感技术,特别是垂直腔面发射激光器(VCSELs)在3D传感中的应用,以及如何通过时间飞行(TOF)技术测量距离和速度。文章重点介绍了使用这些仪器进行激光二极管阵列测试的过程,包括测试脚本处理、触发模型和测量触发系统。此外,还讨论了DMM7510的触发接口和触发模型构建,以及如何在图形DMM中数字化电流和电压。
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Model 2461大电流 SourceMeter®快速入门指南
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2461型1 kW脉冲模式交互式SourceMeter®仪器
本资料为Keithley Instruments公司Model 2461 1 kW脉冲模式交互式源测量仪的校准和调整手册。内容涵盖校准验证和调整的测试要求、环境条件、推荐测试设备、连接方式、校准和调整步骤、远程校准验证程序、调整错误处理、命令参考以及日常维护等内容。手册旨在指导用户确保仪器精度符合一年精度规格,并提供详细的操作指南和注意事项。
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2461型高电流源METER®快速入门指南
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试,以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外,吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案,适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器,以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位,包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元(SMU)和低电阻测量技术,以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外,还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术,以及相关产品和应用案例。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案专注于精度和速度,主要应用于半导体材料、光电材料、DC-DC转换器、纳米材料、IGBT等大功率器件以及电化学领域。其产品包括多种型号的源表测量单元(SMU)、数据采集系统、电源和连接器等,能够满足不同测试需求。此外,吉时利还提供针对LED、太阳能电池、纳米材料、霍尔效应、电化学材料等领域的测试解决方案。
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从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位,专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性(WLR)测试。其产品线包括多种WLR测试算法库,为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案,包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统,旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等,均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
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2461型高电流SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Model 2461高电流源表仪器的用户手册,内容涵盖安全注意事项、产品概述、安装、操作、维护和故障排除。手册详细介绍了仪器的功能、特性、使用方法、安全操作规程以及维护保养指南。资料强调了电气安全的重要性,并提供了详细的操作步骤和注意事项,以确保用户在使用过程中的人身和设备安全。
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2400系列应用仿真和迁移指南中的2461型
本指南介绍了如何将Model 2461作为现有Model 2420、2425、2430或2440应用的直接替换品。指南涵盖了如何将现有Series 2400 SCPI代码转换为2461 SCPI代码,以及在使用2461时可能遇到的功能限制。内容包括选择SCPI命令集、Series 2400 SCPI命令集与2461之间的差异、前面板操作、状态和错误指示器、菜单选项、命令差异和转换,以及如何将Series 2400代码转换为2461代码。
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使用DMM7510 7½位万用表实现精密测量时序——应用笔记
本文介绍了如何使用DMM7510 7½位数字万用表进行精确测量计时。通过触摸屏菜单,用户可以设置测量间隔、延迟和读取缓冲区。文章还讨论了如何通过USB将数据传输到电脑,以及如何优化测量设置以实现更精确的计时。此外,还提供了关于使用标准测量功能进行快速测量的建议。
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使用DMM7510型7½位图形采样万用表测量低电平纹波电压
本文介绍了如何使用Keithley Model DMM7510 7½位图形采样万用表测量低电平纹波电压。文章首先解释了功率转换和纹波电压的基本概念,然后详细说明了如何将DC-DC降压转换器连接到DMM7510,并展示了如何通过其用户界面捕获、查看和表征纹波电压。此外,文章还介绍了如何使用SCPI和TSP命令进行纹波电压测量,并提供了相关的操作步骤和示例。最后,文章总结了DMM7510在捕捉低电平直流和动态电压电流信号方面的优势。
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DMM7510型7½位图形采样万用表用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的DMM7510型7½位图形采样万用表的用户手册。手册详细介绍了仪器的使用方法、安全注意事项、操作步骤和维护指南。内容包括:仪器概述、前面板操作、远程接口使用、基本前面板测量、维护和常见问题解答等。手册旨在帮助用户熟悉DMM7510的使用,确保安全和准确地进行测量。
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DMM7510 型 7½位图形采样万用表 用户手册
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DMM7510型7½位图形采样万用表用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的DMM7510型7½位图形采样万用表的用户手册。手册详细介绍了仪器的使用方法、安全注意事项、操作步骤以及应用实例。内容包括:仪器概述、面板操作、远程接口使用、基本测量方法、高级测量功能、故障排除等。手册旨在帮助用户熟悉和使用DMM7510型万用表,提高测量效率和准确性。
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DMM7510型7½位图形采样万用表用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的DMM7510型7½位图形采样万用表的用户手册。手册详细介绍了该万用表的使用方法、功能特点、安全注意事项以及应用实例。内容包括:万用表的前面板操作、远程接口使用、基本测量方法、高级测量功能、故障排除等。手册旨在帮助用户快速掌握DMM7510型万用表的使用,提高测量效率和准确性。
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使用DMM7510型7½位图形采样万用表测量低电平纹波电压——应用说明
本文介绍了如何使用Tektronix的Model DMM7510 7½位图形采样万用表测量低电平纹波电压。文章首先解释了功率转换和纹波电压的基本概念,然后详细说明了如何将DC-DC降压转换器连接到DMM7510,并使用其前面板用户界面进行纹波电压的捕获、查看和特性分析。此外,文章还展示了如何通过触摸屏界面进行波形分析,以及如何使用SCPI和TSP命令进行纹波电压测量。
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Keithley电化学测试仪器方法及应用
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实现当今大功率器件的快速脉冲测量
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最新产品及测试方案介绍——泰克科技(中国)有限公司
泰克科技(中国)有限公司福迪威简介:泰克科技是一家专业的测试测量仪器及方案供应商,拥有超过70年的行业经验。公司专注于提供高质量的创新产品、卓越的工程技术和全球服务支持。泰克科技在2015年的收入达到32亿美元,毛利率超过20%。公司产品涵盖频谱分析仪、视频测试仪器、示波器、信号发生器、逻辑分析仪等,广泛应用于工业技术领域。泰克科技不断推动技术创新,拥有超过700项专利,致力于为客户提供全面的测试解决方案。
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最新产品及测试方案介绍——泰克科技(中国)有限公司
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物联网设计、部署、调测的全面解决方案
本文详细介绍了泰克公司针对物联网领域的全面解决方案,包括高性价比测试仪器和测试方案。内容涵盖物联网发展趋势、测试需求、泰克产品特点、应用案例等,旨在帮助读者了解物联网测试领域的最新技术和解决方案。
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DMM7510型快速入门指南
本文档为Model DMM7510图形采样万用表的用户快速入门指南。指南中详细介绍了仪器的安全操作规程、技术规格、连接方式、测量功能、数字化功能以及常见问题解答。此外,还提供了用户手册、应用手册、参考手册和附件信息等资源的链接,以帮助用户更好地了解和使用该仪器。
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DMM7510型快速入门指南
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DMM7510型快速入门指南
本资料为Model DMM7510图形采样万用表快速入门指南,内容包括安全注意事项、产品介绍、安装和操作步骤。该万用表具备高精度测量、高速数字化和彩色触摸屏显示等功能,适用于生产测试、研发和实验室等应用。资料详细介绍了仪器的安全操作、连接方式、测量功能、数据存储和图形显示等,并提供了用户手册、参考手册和KickStart启动软件等附加信息。
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型号DMM7510 7½数字万用表应用手册
本资料为Keithley Instruments LLC生产的DMM7510 7½位数字多用表的应用手册。手册详细介绍了DMM7510的测量功能、操作方法以及安全注意事项。内容包括高精度直流电压测量、四线电阻测量、温度采样、电阻分级和分选等应用实例。此外,手册还提供了与Model 3706A-S测试系统集成、波形捕获和分析等功能的使用说明。
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Model DMM7510 快速入门指南
Model DMM7510是一款7½位数字图形采样万用表,具备高精度测量和多种功能。该指南介绍了其安全操作、技术规格、连接方法和基本操作步骤。内容包括电源和环境要求、附件清单、安装指导、测量功能和数据保存方法等。同时提供了用户手册和应用指南的链接,方便用户深入了解和使用该产品。
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Model DMM7510快速入门指南
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