AOS Semiconductor Product Reliability Report AO4800/AO4800L,rev A
发布时间：
2018-08-02
类型：
测试报告，认证报告、性能测试报告
品牌：
AOS
型号：
AO4800; AO4800L
本可靠性报告详细阐述了AOS半导体公司AO4800/AO4800L产品的测试结果与质量评估。报告内容涵盖产品的详细描述、封装规格及晶圆信息，明确列出了器件的绝对最大额定值与热特性等关键参数。在测试验证方面，文档重点展示了环境应力测试的总结与结果，包括高温高湿测试、热循环测试等多项严苛实验，并基于测试数据提供了可靠性评估及质量保证信息，具体涉及故障率及平均无故障时间等核心指标，为器件在实际应用中的稳定性提供了有力依据。针对文中所述器件，AOS在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该报告，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请、批量询价及库存充足。此外，平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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| 数据手册 - 英文 |
AO4800 30V双N沟道MOSFET
Rev 6
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4800B/AO4800BL，A版
rev A
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4800标记说明
Version E
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| 技术文档 - 英文 |
文件编号PD-00635 D版标题AO4801A标记说明
D
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| 数据手册 - 英文 |
AO4800B 30V双N沟道MOSFET
Rev 4
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4805/AO4805L，C版
rev C
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4800B标记说明
Version D
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| 技术文档 - 英文 |
阿尔法和欧米茄半导体更绿色的未来™
2018/11/13
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| 数据手册 - 英文 |
AO4803 30V双P沟道MOSFET
Rev 7
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4806/AO4806L，A版
rev A
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4805标记说明
Version F
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| 数据手册 - 英文 |
AO4801 30V P沟道MOSFET
Rev 4
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4807/AO4807L，A版
rev A
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4807标记说明
Version F
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| 数据手册 - 英文 |
AO4805 30V双P沟道MOSFET
Rev 7
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4803/AO4803L，B版
rev B
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4803标记说明
Version F
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| 数据手册 - 英文 |
AO4807 30V双P沟道MOSFET
Rev 6
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4801/AO4801L，A版
rev A
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4806标记说明
Version F
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| 数据手册 - 英文 |
AO4806 20V双N沟道MOSFET
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4801A/AO4801AL，A版塑料封装器件
rev A
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4801标记说明
Version C
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| 数据手册 - 英文 |
AO4801A 30V P沟道MOSFET
Rev 3
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AO4803A，修订版
rev D
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
AO4803A标记说明
Version D
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| 数据手册 - 英文 |
AO4803A 30V双P沟道MOSFET
Rev 2
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| 数据手册 - 英文 |
AOSP66923 100V N通道AlphaSGTTM
Rev.1.0
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON7246
rev A
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| 数据手册 - 英文 |
AONS62920 100V通道AlphaSGTTM
Rev.1.0
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| 数据手册 - 英文 |
AOD1R4A70/AOI1R4A70 700V，aMOSTM N沟道功率晶体管
Rev.1.0
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| 数据手册 - 英文 |
AOD1R4A70/AOI1R4A70 700V，aMOSTM N沟道功率晶体管
Rev.1.0
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| 技术文档 - 英文 |
AOD950A70标记说明
REV A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOD950A70
rev A
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| 技术文档 - 英文 |
AOD66923标记说明
REV A
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| 技术文档 - 英文 |
AOTF66616L标记说明
REV A
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6596
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6224
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6510
rev D
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6384
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6226
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6552
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AOW66616
rev A
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| 数据手册 - 英文 |
AOW66616 60V N通道AlphaSGTTM
Rev.1.0
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| 数据手册 - 英文 |
AOTF380A60L/AOT380A60L 600V aMOS5TM N沟道功率晶体管
Rev.1.2
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6576
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6810
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6314
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6368
rev B
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| 测试报告 - 英文 |
AOS半导体产品可靠性报告AON6566
rev B
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