【选型】TEKTRONIX（泰克）测试/测量产品选型指南
发布时间：
2018-08-02
类型：
选型指南，选型手册、器件选型指南、产品选择指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2000; 2110 5?; 2182A; 2200; 2220; 2230; 2300; 2400-C; 2400-LV; 2400; 2420-C; 2440-C; 2500; 2500INT-2-Ge; 2500INT-2-IGAC; 2500INT-2-Si; 2500INT; 2600-PCT-1; 2600-PCT-2; 2600-PCT-3; 2600-PCT-4; 2600-PCT-x; 2600B; 2601B; 2602B; 2604B; 2611B; 2612B; 2614B; 2634B; 2635B; 2636B; 2651A; 2657A; 2700; 2701; 3700A; 4200-BTI-A; 4200-CVU-PWR; 4200-PA; 4200-PCT-2; 4200-PCT-3; 4200-PCT-4; 4200-SCS; 4200-SMU; 4210-CVU; 4210-SMU; 4220-PGU; 4225-PMU; 4225-RPM; 6220; 6221; 6430; 6482; 6485; 6487; 6514; 6517B; 7001; 70161-MSA; 7072-HV; 707B; 708B; 7173-50; 7174A; 8010-CTB; 8010-DTB-220; 8010-DTB; HV-CA-554-1; K420; K475; KUSB-488B; S530
本资料主要讲述以下产品：半导体，开关，数字万用表，直流电源等。
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加工定制
铭旺电子（Ming wang Electronics）以铲齿铝鳍、回流焊铜底、PWM风扇一体化工艺，为AI服务器/工作站定制CPU散热器，ΔT≤8 ℃@350 W，助力释放芯片极限算力。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
7168 8通道，2极纳伏扫描卡
2011/12/21
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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| 技术文档 - 英文 |
纳伏表
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
2200系列可编程直流电源规范
Rev. B
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| 数据手册 - 英文 |
2200系列可编程直流电源规范
REV.A
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| 技术文档 - 英文 |
2182A型纳伏表仪器规范
Rev. F
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| 测试报告 - 英文 |
2000系列高性能数字万用表的精密多用途解决方案
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
SPEC-2000M 2000型61/2位万用表
Rev. M
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世强AI
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应用/方案
半导体霍尔效应测试方案泰克 TSP-2000-HALL 半导体器件测试方案
该资料主要介绍了霍尔效应测试方案，包括系统背景、特点、原理和功能。测试方案用于表征和分析半导体材料，通过测量霍尔效应和电阻，计算载流子浓度、迁移率等参数。系统由源表、矩阵开关和测试软件组成，可在不同磁场、温度和电流下进行测量，并绘制曲线图。
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微小电阻测试方案 泰克 TSP-2000-ULR (6220/6221 + 2182A ) 测试方案
本文介绍了吉时利微电子半导体行业方案中的微小电阻测试方案。该方案采用泰克TSP-2000-ULR测试系统，包括622X电流源和2182A纳伏表，提供高达10nW的电阻测试分辨率。方案特点包括高电阻测试分辨率、大测试量程、交钥匙方案设计，并提供完整的测试夹具方案和上位机数据采集处理软件。系统主要由622X高精度电流源、2182A纳伏表、测试夹具、转接盒和上位机软件构成，支持多种测试模式，如R-T功能、电流扫描测试、Delta Mode等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
本文介绍了吉时利公司在测试测量领域的领先地位，包括其历史、产品和技术。文章重点介绍了吉时利的源测量单元（SMU）和低电阻测量技术，以及其在光电材料、纳米材料和半导体等领域的应用。此外，还介绍了吉时利的静电计和高输入阻抗电压测量技术，以及相关产品和应用案例。
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捕获性能：下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案，涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
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TSP-2000-CV 分立器件 CV 特性测试
该资料介绍了TSP-2000-CV分立器件CV特性测试方案，该方案用于评估半导体器件的质量和可靠性。方案特点包括支持多种测试功能，如C-V、C-T、C-F等，并能同时测试四条不同频率下的曲线。测试过程由软件自动执行，可显示数据和曲线。系统结构主要由源表、LCR表、探针台和上位机软件组成，支持宽频率范围和直流偏压测试。资料还提供了系统参数和配置信息。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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半导体材料与器件科学云讲堂——二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
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半导体材料与器件科学云讲堂--二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲，内容涵盖二维材料/石墨烯及其电子器件的IV和CV测试方法。讲座介绍了二维/石墨烯材料的四探针测试和霍尔效应测试，以及二维MOSFET器件的电性能测试。此外，还探讨了高性价比和高性能测试方案，并针对石墨烯电子器件的测试挑战提出了相应的解决方案。
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电子薄膜材料测试方案
该资料主要涉及元器件行业的发展趋势和市场分析。内容包括元器件行业整体增长情况、不同类型元器件的市场份额、行业主要品牌和公司动态，以及市场预测和未来发展趋势。资料还分析了行业面临的挑战和机遇，并提供了相关数据和市场分析图表。
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泰克电输运/物性表征/量子材料/超导材料测试方案
这份资料主要涉及元器件行业的技术发展、市场动态和行业趋势。内容包括对新型元器件的介绍、市场需求的分析、行业竞争格局的探讨以及未来发展趋势的预测。资料中提到了多个品牌和公司，如EPSON、Silicon Labs等，并涉及了产品性能、技术参数和市场策略等关键信息。
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应用概述: 使用多通道电源提供最大的灵活性
多通道DC电源提供灵活性和便利性，适用于需要多个不同电压供电的设备。这些电源可独立控制和隔离每个通道，支持远程感测以确保电压精确施加。此外，通道可串联和并联以增加输出电压和电流容量。吉时利2220和2230系列多通道电源具有独立控制、追踪功能和四线远程感测技术，确保正确顺序供电和精确负载电压。
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应用概述：使用多通道电源提供最大的灵活性
本文介绍了多通道直流电源在电子设备开发和测试中的应用。文章强调了多通道电源相较于单通道电源的优势，如节省空间、独立控制、隔离电路、跟踪功能、电压电流容量扩展、正确顺序上电等。同时，详细介绍了Keithley多通道电源系列产品的特点和功能，包括输出电压电流、分辨率、准确性、接口等。
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泰克科技的汽车电子以及电动汽车测试解决方案
泰克科技提供汽车电子及电动汽车测试解决方案，涵盖网络测试、动力系统测试、车身电子测试、车载电器测试和特殊器件分析。方案针对汽车电子发展趋势，如安全、舒适、节能、环保和智能化，提供可靠、高效的测试工具。资料详细介绍了汽车电子分类、未来发展趋势、新能源汽车技术、设计调试挑战以及泰克科技提供的具体测试方案和仪器。
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纳米技术测量手册纳米科学应用的电测量指南
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应用指南
本文详细介绍了温度测试系统、开关电源老化测试技术、连接器生产测试解决方案以及利用3732型高密度矩阵卡进行低电平接触电阻(LLCR)针脚插槽测试的相关技术。文章涵盖了温度传感器的类型、特性及应用，开关电源老化测试系统的设计及注意事项，连接器测试中的隔离和连续性测量方法，以及LLCR测试系统的构建和操作。
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突破性的汽车电子以及电动汽车测试解决方案
本文探讨了汽车电子和电动汽车测试解决方案，包括市场规模、发展趋势、技术挑战和泰克科技的解决方案。文章详细介绍了汽车电子的分类、主要产品、市场结构以及在汽车产业链条中的地位。此外，还重点分析了新能源汽车的分类、混合动力和电动汽车采用的技术，以及汽车网络技术的发展和挑战。泰克科技的方案涵盖了汽车电子系统及部件的完整功能测试，包括网络测试、动力系统测试、车身电子测试、车载电器测试和特殊器件分析。
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用于单通道和多通道应用的高性能数字万用表
该资料介绍了多种高性能数字多用表（DMM）及其功能。涵盖了从5½位到8½位的多种分辨率选项，包括Model 2110、2100、2000、2010、2001和2002等型号。资料详细描述了这些DMM的特点，如高精度、高灵敏度、线性度和噪声性能，以及内置的智能功能和全面测试测量工具包。此外，还介绍了Series 3700A和Series 2700多通道测量系统，以及插件卡和插件模块。
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发现今天的解决方案，为明天的纳米表征挑战更大的信心措施
Keithley公司作为纳米技术测量解决方案的领导者，提供了一系列针对纳米技术研究和生产测试的仪器和系统。这些解决方案包括用于研究新材料和器件特性的超敏感测量工具，旨在帮助科学家们有效地表征低水平信号。Keithley的产品涵盖了从纳米晶体、纳米管、纳米线到纳米纤维等纳米材料的广泛研究，以及单电子晶体管、传感器等实验设备的开发。此外，Keithley还提供了一系列用于生产测试的I-V表征工具，帮助客户从实验室过渡到商业生产。
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创建高性能交换应用程序的指南
本文详细介绍了开关配置在电池测试、电容器漏电测量和连续性测试中的应用。文章强调了选择合适的仪器、设计测试方法以及注意规格和误差的重要性。文章还讨论了开关配置的具体实例，包括电池充电/放电循环测试和电压监测测试，以及如何使用隔离继电器来切换负载电阻。此外，文章还介绍了电容器漏电测试系统和绝缘电阻测试系统，包括测试电路的设计和配置。
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Keithley Pulse解决方案
该资料详细介绍了Keithley公司提供的脉冲源解决方案，包括不同型号的脉冲发生器和测量仪器。资料涵盖了高速、中速脉冲源的能力，以及它们在材料、器件表征和激光二极管测试中的应用。内容还包括了脉冲参数的可编程性、脉冲宽度和电流范围，以及不同型号产品的适用场景和最佳解决方案。
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泰克DMM4050和DMM4040万用表中的测量统计和直方图应用指南
泰克DMM4050和DMM4040万用表提供测量统计和直方图功能，帮助用户分析电源输出稳定性。通过计算平均值和标准偏差，用户可了解数据集变化和分布。STATS函数计算平均值、标准偏差、最小值和最大值；HISTOGRAM函数以图形方式展示数据分布，便于快速识别信号质量问题。
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DAQ6510 DMM6500数据采集和记录万用表系统6½位台式/系统数字万用表
Tektronix的DAQ6510数据采集和记录万用表系统结合触摸屏技术，提供快速设置、实时监控和详细数据分析功能。DMM6500六位半数字万用表具备15种内置测量功能，包括波形捕获、数据可视化和分析，适用于测试低功耗设备。系统支持高达80个2极多路复用通道，并可通过可选的7700系列插件开关模块进行扩展。DMM6500还支持模拟Keithley 2000和Keysight 34401A，无需更改现有测试代码。
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元器件和半导体器件的脉冲I-V测试
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元件和半导体器件的直流I-V测试
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数字万用表的使用方法
万用表是一种多功能、多量程的测量仪表，一般万用表可测量直流电流、直流电压、交流电压、电阻和音频电平等，有的还可以测交流电流、电容量、电感量及半导体的一些参数（如β）。您可以找到以下数字万用表的使用方法。
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【经验】如何选择一款合适的数字万用表
数字万用表对于所有的电子电力工程师来说，肯定都再熟悉不过了。数字多用表（DMM）就是在电气测量中要用到的电子仪器。它可以有很多特殊功能，但主要功能就是对电压、电流、电阻和通断等电气参数进行测量。本文介绍选择一款数字万用表时，首先应该考虑的关键指标。
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HS6B等半导体行业解决方案
本文介绍了IDEC为半导体制造设备提供的各类产品，包括前端、后端和检测过程的产品。产品范围广泛，从启动开关、条码扫描仪到紧凑型继电器和推入式端子，旨在提高设备性能、减少停机时间并确保操作员安全。文章还强调了IDEC在提高可靠性、降低成本和符合SEMI标准方面的承诺，以及其全球部署和标准化发展的支持。
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半导体测试手册
NI公司提供创新的半导体测试解决方案，旨在降低测试成本并提高上市时间。其PXI平台和软件架构支持从实验室到生产线的全流程测试，包括高度集成的模块化硬件和软件连接的架构。NI的解决方案包括用于生产测试的STS系列系统，以及TestStand测试管理软件和LabVIEW图形编程环境。这些工具帮助芯片制造商应对不断变化的行业需求，提高测试性能和灵活性。
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【产品】鼎阳科技SDM3055X-E数字万用表使用方法的介绍 | 视频
本视频是由鼎阳科技的技术专家为大家介绍SDM3055X-E数字万用表使用方法,它是5½位数字万用表，16路通道数据采集（12个多功能通道+4个电流通道），采用4.3 英寸真彩 TFT-LCD 大屏显示，分辨率 480*272，多功能测量，双显示功能。
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【经验】数字万用表测量不同类型信号的使用方法
现代数字万用表(DMM)使用数字和逻辑技术在其内部系统中实现许多功能的小型化和启用。本文Keysight将主要介绍数字万用表及其测量不同类型信号的使用方法，以及在进行数字万用表选型时，需要考虑的关键规格是准确度、灵敏度和分辨率。
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半导体制造商青睐熟悉且性能增强的新型34461A数字万用表 案例分析
是德科技推出的新型34461A数字万用表受到半导体制造商的青睐。该产品在保持与34401A相同操作模式的同时，提升了测量性能，包括支持高达10A的测量电流、更高的精度和分辨率。34461A还具备彩色液晶显示屏、趋势图视图和标签功能，提高了工程师的工作效率。此外，该产品支持保存关机前的状态，方便工程师继续之前的测量。
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【经验】改进数字万用表测试的吞吐率
绝大多数的电子测试涉及使用数字万用表(DMM)。减少DMM的测试时间意味着减少开发时间和制造成本，增加制造业产出并优化可运输收入，需要更少的测试设备，因此需要更少的测试占地面积和资金成本，加快产品开发时间，尤其是在产品表征验证阶段，优化测试设备的使用和效率。本文将通过Keysight的Truevolt介绍改进DMM测量吞吐量的7个步骤。
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【应用】如何使用数字万用表（DMM）进行数据记录和数字化
Keysight Truevolt 数字万用表系列可以精准、快捷地捕获任意持续时间的事件，而这一切只需一部万用表即可完成。从记录长期趋势到数字化瞬态或短期事件 — 时机已经来临！
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2182/2182A型纳伏表
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 2182/2182A纳米伏特计的用户手册。手册详细介绍了仪器的使用、维护和操作，包括安全注意事项、电压和温度测量、范围、数字、速率和滤波器设置、相对、mX+b和百分比测量、比率、Delta测量、缓冲操作、触发、限制、步进和扫描、模拟输出、远程操作、常见命令、SCPI信号导向测量命令、SCPI参考表、附加SCPI命令、规格、状态和错误信息、测量考虑因素、Model 182仿真命令、示例程序、IEEE-488总线概述、IEEE-488和SCPI符合性信息以及测量查询等内容。
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【经验】浅析数字万用表电流测量档位对测试数据的影响
针对数字万用表电流测量档位对测试的影响讨论，本文采用是德科技34401A和34410A万用表通过设定不同的测量量程，看读值是否有明显变化来判断万用表Rshunt对测试影响,并选择最佳的测量档位。
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【产品】分辨率1pA的6位半数字万用表Truevolt，可提供图形化统计功能
keysight的Truevolt系列数字万用表，分辨率1pA的6位半数字万用表，提供直观的图形化统计功能，可测量极低的电流并有自动校准功能，在整个工作日保持非常高的测量精度，利于用户长时间进行测量。
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【产品】pA级七位半数字万用表34470A，在家也能远程操控！
keysight新一代34470A 型7½位高性能数字万用表：16ppm的电压测量精度，50nA左右的低注入电流，供的多种IO，PC机配套软件可支持对万用表的控制，手机客户端软件能让工程师在各个地方对34470A数字万用表进行操作。
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