以太网一致性测试软件 TDSET3产品技术资料
发布时间:
2018-08-02
类型:
数据手册,规格书、Datasheet;PDF下载
品牌:
TEKTRONIX
型号:
TDSET3; TDS6000; TDS7000B; CSA7000B; TDS5000B; DPO7000; DPO70000; MSo70000; DSA70000; TDS7000; CSA7000; P6247; P6248; P6330; P7330; P7350; TDP1500; P6243; P6245
本技术资料详细介绍了TDSET3以太网一致性测试软件,该软件专为验证10/100/1000Base-T以太网物理层的标准符合性而设计,旨在提升测试效率与可靠性。资料核心内容涵盖了软件的全面测试能力,包括对特定阻抗的回波损耗测试、自动抖动测量以及模板自动拟合和命中定位功能。TDSET3具备单键自动测试特性,能够有效消除人为干预,加快测试速度,并配备完善的报告生成程序以节约时间。在兼容性方面,该软件支持TDS/CSA7000、TDS6000、TDS5000B、DPO7000等多款泰克示波器,广泛应用于以太网物理层设计验证、器件物理层测试及网络设备测试与验证领域。基于该测试方案,用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件与技术支持。相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,库存充足,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。平台专职FAE团队提供选型、设计验证及调试支持,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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加工定制
根据用户的接口模块,使用是德示波器及夹具查看实时眼图演示,测试USB/MIPI/DDR/SATA/HDMI协议,支持最高到1.2GHz的实时眼图协议测试。支持到场/视频直播测试,资深专家全程指导。
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资料平台
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TDSJIT3 高级版和 TDSJIT3 基本版 抖动和定时分析软件
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打印帮助文档TDSET3以太网符合性测试软件
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TDSCPM2入门
2017/12/28
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AFTDS•AMT75电气通信适配器
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泰克测试方法以太网100Base-TX PHY 100BaseTX核心测试
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通信脉冲测量软件TDSCPM2数据表
13 Oct 2010
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泰克测试方法以太网10Base-T PHY 10BaseT核心测试
2017/12/21
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差分前置放大器ADA400A数据表
17 Feb 2016
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泰克测试方法以太网1000BaseT PHY 1000BaseT核心测试
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泰克应用开发工具箱专为DPOJET开发的综合用户自定义测量和分析工具
2017/12/26
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SUSBF.2 USB测试夹具符合性说明
2017/12/30
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DVI符合性测试解决方案TDSDVI数据表
14 Oct 2010
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高级RF/IF/IQ波形软件RFX100 RFXpress®产品介绍
04 Jun 2012
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通信脉冲测量软件
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符合性测试软件选项
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提高TDS6000、TDS7000和CSA7000系列示波器的精度、洞察力和效率
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交直流电流测量系统TCPA300、TCP312A、TCP305A、TCP303、TCPA400、TCP404XL产品介绍
03 Aug 2017
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TDSET2入门
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直流耦合电流探头TCP202数据表
26 Jul 2012
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PAM4变送器分析
21 Dec 2020
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TekExpress HEAC自动化合规软件
14 Oct 2010
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DPO7OE系列光探头DPO7OE1和DPO7OE2
18 Sep 2018
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DPO7OE系列光探头 DPO7OE1和DPO7OE2
Mar 2018
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有源FET探头 P6205 数据表
17 May 2013
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数字接口的发送端测试方案介绍 Tektronix DPO/DSA/MSO70000 Analysis Tools Available
11/1/2012
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泰克UWB WiMedia 测试挑战 支持物理层测试:认证无线USB、下一代蓝牙和其它WiMedia实现方案
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波星™ 示波器软件WSTRO数据表
04 Apr 2012
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PCI Express®变送器符合性/调试解决方案DPO-MSO70000选项PCE3、PCE4和PCE5产品介绍
7 Dec 2020
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PCI Express®变送器符合性/调试解决方案DPO-MSO70000选项PCE3、PCE4和PCE5产品介绍
02 Apr 2020
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世强AI
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应用/方案
TDSET3入门
本文档介绍了TDSET3以太网合规性测试软件的使用方法,包括测试设置、测试步骤和结果分析。软件支持1000Base-T模板测试,并提供了一系列测试功能,如返回损耗、干扰信号测量等。文档详细说明了如何连接测试设备、配置测试参数、执行测试以及生成测试报告。
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TDS5000B、TDS6000B、TDS/CSA7000B系列采集模式
本文介绍了Tektronix TDS5000B、TDS6000B和TDS/CSA7000B系列示波器的多种采集模式,包括样本模式、峰值检测模式、高分辨率模式、包络模式、平均模式和快速采集模式。每种模式都有其优缺点,适用于不同的测量任务。文章详细解释了每种模式的原理和适用场景,以及它们如何影响波形显示和信号分析。
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TDS6000C、TDS6000B、TDS7000B、CSA7000B、TDS6000、TDS7000、CSA7000解密和安全说明
本资料主要针对Tektronix品牌的多款示波器型号(TDS6000C, TDS6000B, TDS7000B, CSA7000B, TDS6000, TDS7000, CSA7000)的解密和安全操作进行说明。内容包括内存擦除、安全设置、硬件配置、软件操作等,旨在确保设备数据安全。资料详细介绍了如何通过Tek Secure™功能擦除波形和设置内存,以及如何通过BIOS和Windows设备管理器禁用USB和CD-RW功能。此外,还提供了示波器内部存储设备的具体信息。
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电源测量与分析入门
本文主要介绍了电源测量与分析的基础知识,包括电源设计中的测量需求、开关电源的基本原理、有源元件和被动元件的测量方法,以及电力线测量和功率分析仪的应用。文章详细阐述了开关电源中开关元件的损耗理论、安全工作区(SOA)测量、动态导通电阻等概念,并介绍了如何使用示波器和功率分析仪进行精确的电源测量。此外,文章还讨论了磁性元件的测量方法,包括电感、变压器和磁性材料的特性,以及如何使用示波器进行磁性特性测量。
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泰克科技汽车电子测试方案
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Tektronix软件解决方案安装WaveStar™示波器软件WaveStar™读卡器AD007 GPIB-LAN适配器
本文档主要介绍了Tektronix的WaveStar软件系列,包括用于示波器的WaveStar软件、WaveStar Reader以及AD007 GPIB-LAN适配器固件更新。WaveStar软件允许用户通过PC远程控制、捕获、分析和记录示波器波形和测量数据。文档详细说明了WaveStar软件的安装步骤、系统要求以及与示波器的通信设置。此外,还介绍了AD007 GPIB-LAN适配器的固件更新过程和配置信息。
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TDSJIT3和TDSJIT3E入门
本文档介绍了如何使用Tektronix的TDSJIT3和TDSJIT3E软件进行抖动分析测量。内容包括设置测量参数、选择测量源、进行自动设置、调整垂直和水平菜单控制等。文档还提供了软件菜单树和推荐的配件信息。
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TDSPWR3入门
本资料介绍了TDSPWR3软件的使用方法,该软件将数字示波器转变为测量和分析电源开关器件和磁性元件功耗的分析工具。资料详细说明了如何进行开关损耗测量,包括配置选项、连接探头、设置测量参数、生成报告等步骤。此外,还提供了软件支持的示波器型号、推荐附件和订购信息。
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用户手册CSA7000系列串行掩码测试和串行模式触发器TDS6000和TDS7000系列选项SM串行掩码测试选项ST串行模式触发器071-1035-02
本手册为Tektronix CSA7000系列、TDS6000系列和TDS7000系列仪器上的串行掩模测试和串行模式触发功能提供用户指南。手册详细介绍了如何安装和操作这些功能,包括掩模测试、通信触发和自动通信信号测量等。此外,还提供了关于支持的掩模类型、通信触发代码和标准以及自动通信信号测量的信息。
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PCIe第5代发射器符合性测试
Tektronix的PCIe Gen 5解决方案提供灵活的测试配置和全面的报告,支持x1、x4、x8或x16链路的传输器测试。该方案包括自动化测试软件,用于验证信号完整性,并支持PCI-SIG规范。此外,Tektronix还提供预合规测试夹具,用于在PCI-SIG合规夹具可用之前进行测试。解决方案还包括优化参考时钟抖动测试,以适应PCIe Gen 5的最高数据速率。
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LPDDR5存储器接口的高效验证与调试
本文主要介绍了Tektronix公司针对LPDDR5内存接口的验证和调试解决方案。该方案通过自动化系统级测试,帮助用户快速、高效、可靠地验证和调试LPDDR5设计,满足超过50项JEDEC定义的电气和时序测量要求。方案包括自动化测试、用户自定义的采集模式、改进的读写突发分离算法、增强的s参数验证和TriMode探头等,旨在加速产品上市时间,提高调试和验证效率。
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DDR5内存接口的高效验证与调试
本文主要介绍了DDR5内存接口的验证和调试技术。随着5G技术的发展,DDR5技术在存储和访问数据方面变得至关重要。DDR5提高了带宽、密度和通道效率,但同时也带来了更高的数据传输速率和更快的信号速度,这对信号完整性和测量性能提出了更高的要求。Tektronix的TekExpress DDR5 Transmitter Solution提供了一套自动化系统级测试应用,能够快速、高效、可靠地验证和调试DDR5设计,满足JEDEC定义的50多项电气和时序测量要求。该解决方案包括DFE分析、调试和验证、SDLA(串行数据链路分析)等功能,旨在帮助用户优化DDR5设计。
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用户手册CSA7000系列串行掩码测试和串行模式触发器TDS6000和TDS7000系列选项SM串行掩码测试选项ST串行模式触发器071-1035-03
本手册介绍了Tektronix CSA7000系列、TDS6000系列和TDS7000系列示波器上的串行掩模测试和串行模式触发功能。内容包括安装、操作和配置这些功能,以及如何进行掩模测试、通信触发和自动通信信号测量。手册详细说明了如何设置和运行掩模测试,创建和编辑用户掩模,以及如何进行通信触发和自动测量。
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CSA7000B系列串行掩码测试和串行模式触发器TDS7000B和TDS6000B系列选项MSerialMask测试选项TSerialPattern触发器071-1228-01
本手册为CSA7000B系列仪器上的串行掩模测试和串行模式触发功能提供用户指导。手册内容包括产品描述、安装可选功能、操作基础、参考信息等。主要功能包括:
1. 串行掩模测试:提供光学和电气掩模测试、通信触发和自动通信信号测量。
2. 串行模式触发:定义串行数据模式以触发仪器。
3. 支持多种标准掩模和通信触发类型。
4. 提供自动测量和时钟恢复功能。
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双作用域同步
本文介绍了Tektronix DPO/DSA/MSO70000系列示波器在双通道同步采集中的应用。文章详细阐述了如何通过系统时钟增强、外部参考时钟和触发信号同步,实现两个示波器在100 GS/s下的4通道同步采样。文中还介绍了信号路径校准、通道校准和触发同步的具体步骤,以及如何使用Tektronix提供的双示波器同步应用进行自动校准。
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利用波形数据库采集进行高级统计分析
本文档概述了Tektronix TDS/CSA7000B、TDS6000和TDS5000系列示波器在波形数据库采集模式下的高级统计分析能力。该模式提供了多种高速采集模式,包括FastAcq、Sample模式、Averaging、Peak-detect、Envelope等。特别介绍了FastAcq模式,它能够以极高的波形捕获速率提供幅度、时间和幅度分布信息。文档还详细讨论了波形数据库(WfmDB)的使用,它能够存储和分析大量数据,支持统计测量、直方图分析和合规性测试。此外,还介绍了不同显示模式、统计数据库的测量和分析功能,以及如何通过WfmDB进行合规性测试。
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DPO7000、DPO/DSA70000和DPO/DSA70000B系列高性能示波器最佳实践
本文档提供了关于Tektronix DPO7000和DPO/DSA70000系列高性能示波器的最佳实践指南。内容包括预防静电放电、信号路径补偿和仪器校准、仪器温度和通风、通道校准、操作系统恢复备份、固件和应用程序更新、Windows应用程序和硬盘维护、关机程序、测量建议、输入电压限制、探头使用和维护等。旨在优化和维持Tektronix产品的性能,确保准确性和可靠性。
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DDR存储器电气特性验证
本文主要讨论了DDR存储器电气特性验证的重要性以及相关测试方法。文章强调了存储器子系统的模拟信号完整性验证是确保系统性能的关键步骤。文章详细介绍了JEDEC标准规定的测试要求,包括抖动、定时和电气信号质量验证。同时,文章还讨论了泰克公司提供的存储器测试解决方案,包括P7500系列探头和MSO70000系列混合信号示波器,以及DDRA软件工具,这些工具可以帮助工程师简化测试过程并提高测试准确性。此外,文章还介绍了如何使用这些工具进行信号探测、数据分离和协议验证,以及如何进行失效分析和调试。
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串行通信测试解决方案支持发射器、接收器和互连应用的测试
本资料介绍了Tektronix提供的串行通信测试解决方案,支持对发射器、接收器和互连的测试。资料涵盖了电气设计验证和合规性、数字验证和调试、信号路径特性分析等方面。提供了DPO/DSA/MSO70000系列示波器、AWG7000系列任意波形发生器、BERTScope误码率测试仪等测试工具,以及相应的软件支持。
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用DPOPWR应用软件进行电源测量与分析
本文介绍了使用Tektronix MSO/DPO5000、DPO7000或MSO/DSA/DPO70000系列示波器和DPOPWR功率分析软件进行电源测量和分析的方法。文章详细阐述了如何消除探头偏移、校准探头、进行磁特性分析、电特性分析以及电源预合规性测试等步骤,旨在帮助设计工程师提高电源转换效率,并确保电源系统的稳定性和可靠性。
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用DPOPWR应用软件进行电源测量与分析
本文介绍了使用Tektronix MSO/DPO5000、DPO7000或MSO/DSA/DPO70000系列示波器和DPOPWR功率分析软件进行电源测量和分析的方法。文章详细阐述了如何消除探头偏移、校准探头、进行磁性元件特性分析、电气特性分析以及输出分析等,旨在提高电源设计的效率和准确性。
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