Clarius+ Version 1.5 Software Release Notes & Installation Instructions.
发布时间：
2018-08-02
类型：
开发环境(软件/固件)，IDE、SDK、工具链
品牌：
TEKTRONIX
型号：
4200A-SCS; 4200-SMU-R; 4210-SMU-R; 4200-SMU; 4200-PA-R; 4210-SMU; 4210-PA-R; 4210-CVU; 4200A-CVIV; 4225-RPM; 42x0 SMUs; 2x0-SMU; 422x-PxU; 4225-RPM-LR; 4200-PA; 4200A-TUM; 4220-PGU; 4225-PMU
本软件发布说明与安装指南详细介绍了Clarius+ V1.5版本的更新内容与部署流程。该资料涵盖了软件版本、文档版本及发布日期等基础信息，重点阐述了新引入的操作模式、测试功能、性能改进以及用户界面更新等增强特性。同时，文档详细记录了针对软件和固件中稳定性、性能及兼容性问题的多项修复措施，并罗列了当前版本存在的已知问题。此外，指南还提供了详尽的使用说明，指导用户完成所有软件组件、固件及帮助文件的安装操作，确保系统顺利升级。基于该软件方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件与技术支持。相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并拥有充足库存，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。平台专职FAE团队可提供选型、设计验证及调试支持，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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纳米线/碳纳米管及电子器件测试
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先进的科学研究，尖端的测试测量
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4200-SCS型半导体表征系统解密和安全说明
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吉时利 4200A-SCS 参数分析仪简化 BioFETs DC I-V表征的四种方式
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
用4200A-SCS参数分析仪表征碳纳米管晶体管（CNT FET）的电学特性
本文介绍了使用4200A-SCS参数分析仪对碳纳米管晶体管（CNT FETs）进行电学表征的方法。文章详细阐述了CNT FETs的原理和应用，并重点介绍了如何利用4200A-SCS进行直流、脉冲I-V和C-V测量。文章还提供了优化测量结果的技术和方法，包括电流限制、提供足够的稳定时间、最小化噪声等。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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使用4200A-SCS参数分析仪对高阻抗设备进行甚低频电容电压测量
本文介绍了使用4200A-SCS参数分析仪在高阻抗器件上进行非常低频电容-电压测量的方法。通过采用新的窄带技术和低电流测量能力，该分析仪能够在10mHz到10Hz的频率范围内进行精确的电容-电压测量，适用于MOS电容、薄膜晶体管（TFT）和MEMS结构等器件的低频电容测量。文章详细描述了测量原理、硬件配置、软件操作以及测量结果的解释和分析。
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使用4200A-SCS参数分析仪对高阻抗设备进行甚低频电容电压测量
本文介绍了使用4200A-SCS参数分析仪在高阻抗器件上进行非常低频电容-电压测量的方法。文章详细阐述了VLF C-V技术，包括其工作原理、所需硬件、连接方式以及如何使用Clarius软件进行测量。此外，文章还提供了优化VLF C-V测量和故障排除的指导。
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4200A-CVIV型多开关用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的4200A-CVIV多路切换器的用户手册。手册详细介绍了该产品的安装、配置、使用和维护。主要内容包括：产品概述、安全注意事项、硬件和软件要求、设备连接、显示面板、安装和配置步骤、切换和软件配置、典型应用案例以及维护指南。手册旨在帮助用户正确使用和维护4200A-CVIV多路切换器，确保测试的准确性和安全性。
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4200A-CVIV型多开关用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的4200A-CVIV多路开关用户手册。手册详细介绍了4200A-CVIV多路开关的安装、配置和使用方法，适用于4200A-SCS参数分析仪。手册涵盖了安全注意事项、硬件和软件要求、设备连接、显示面板、安装和配置步骤、开关和软件配置、典型应用以及维护等内容。该设备主要用于在测试中切换I-V和C-V测量，提高设备测试的效率和速度。
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4200A-CVIV型多开关用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的4200A-CVIV多路切换模块的用户手册。手册详细介绍了该模块的安装、配置、使用和维护。4200A-CVIV模块可用于在4200A-SCS参数分析仪上进行I-V和C-V测量，支持多通道切换，并可与SMU和CVU等设备配合使用。手册涵盖了安全注意事项、硬件和软件要求、连接方式、显示信息、配置方法、典型应用和维护等内容。
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用4200A-SCS参数分析仪对4200-CVU-PWR C-V功率包进行高电压大电流C-V测量
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使用4200A-CVIV多开关偏置三通功能进行高达400 V的三端电容-电压测量
本文介绍了使用4200A-CVIV多开关偏置Tee功能进行高达400V的三端电容-电压测量的方法。文章详细阐述了如何通过4200A-CVIV进行CISS、COSS和CRSS的测量，并展示了如何配置Clarius软件进行这些测量。此外，文章还介绍了如何通过使用三个SMU同时扫描来将4200A的DC偏置电压加倍至400V，以进行更高电压的测量。
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使用4225-RPM远程放大器/开关在DC I-V、C-V和脉冲I-V测量之间自动切换
本文介绍了如何使用4225-RPM远程放大器/开关在4200A-SCS参数分析仪上自动切换DC I-V、C-V和脉冲I-V测量。通过4225-RPM，可以在不重新布线的情况下，在源测量单元(SMU)、C-V模块和超快速I-V模块之间切换，从而提高测量效率和准确性。文章详细说明了硬件连接、软件配置和测试执行步骤。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位，专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性（WLR）测试。其产品线包括多种WLR测试算法库，为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案，包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统，旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等，均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
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4200A-SCS型参数分析仪参考手册
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4200A-SCS型参数分析仪参考手册
本资料为Keithley Model 4200A-SCS参数分析仪的用户手册，详细介绍了该分析仪的规格、操作和维护。手册涵盖了安全注意事项、系统概述、连接和配置、源测量硬件、多频率电容-电压单元、脉冲测量和发生器单元、Clarius软件使用等内容，旨在帮助用户正确使用和维护该设备。
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4200A-SCS型参数分析仪参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4200A-SCS参数分析仪的用户手册。手册详细介绍了该分析仪的概述、连接配置、源测量单元（SMU）、脉冲测量和发生器单元、多频率电容-电压单元（CVU）以及Clarius软件的使用。内容涵盖安全注意事项、硬件配置、软件操作、测试项目和故障排除等，旨在指导用户正确使用和维护该分析仪。
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使用4200A-CVIV多路开关和4200A-SCS参数分析仪在C-V和I-V测量之间切换
本文介绍了使用4200A-CVIV多路开关和4200A-SCS参数分析仪在半导体器件上进行C-V和I-V测量的方法。通过4200A-CVIV多路开关，用户可以在不改变电缆或提升探头尖的情况下，无缝地在I-V和C-V测量之间切换。文章详细说明了4200A-CVIV的操作、输出模式、以及如何通过Clarius软件进行控制，从而实现更快速、高效的设备测试工作流程。此外，还提供了针对二极管、三极管和MOSFET等不同类型器件的测量配置示例。
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有机场效应晶体管的直流I-V和交流阻抗测试
本文介绍了有机场效应晶体管（OFET）的直流I-V和交流阻抗测试方法。主要内容包括OFET的结构和工作原理，以及如何使用4200A-SCS参数分析仪进行DC I-V和AC阻抗测试。文章详细阐述了测试配置、测试步骤、优化测量结果的方法，并提供了实际测试结果的示例。此外，还讨论了如何通过优化测量参数和设备连接来提高测试精度。
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4200A-SCS源测量单元（SMU）用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的4200A-SCS源测量单元（SMU）的用户手册。手册详细介绍了SMU的连接配置、操作模式、硬件组件以及相关概念。内容包括基本连接方法、测试夹具和被测设备（DUT）的连接、Clarius软件中的SMU设置、源测量硬件概述、源测量概念、优化SMU测量方法等。手册强调了安全操作的重要性，并提供了详细的操作步骤和注意事项。
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4200A-RM型机架安装套件安装说明
该资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4200A-RM机架安装套件的安装说明。该套件用于将4200A-SCS半导体表征系统安装在标准19英寸机架中。资料详细介绍了安装前的准备、安装步骤、安全注意事项等内容，包括准备机架和仪器、安装机架耳朵和仪器支撑架、安装4200A-SCS系统等步骤，并强调了安全操作的重要性。
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