你所不知道的直接数字合成
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
OM5110; AWG70000A; OM4106D; OM4000; DPO70000DX; DSA70000DX
该技术资料深入探讨了100G/400G光通信系统中直接数字合成（DDS）技术所面临的挑战与应用前景。文章详细分析了当前400G系统架构的多样性，涵盖了载波数量、载波间隔以及调制格式等关键要素，并阐述了从QPSK向QAM升级过程中遇到的技术难点。针对复杂调制格式的测试需求，文中介绍了Tektronix提供的相干光测试和测量平台，该平台集成了信号发生器、调制器、光纤和接收机等核心工具，能够有效通过预补偿和校正手段提升信号质量，确保系统性能。Tektronix在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队将提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
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相干光波信号分析仪OM4000系列产品介绍
24 Feb 2014
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| 测试报告 - 中文 |
面向下一代宽带射频技术的 混合信号的测试
02/2016
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DPO7OE系列光探头DPO7OE1和DPO7OE2
18 Sep 2018
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DPO7OE系列光探头 DPO7OE1和DPO7OE2
Mar 2018
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| 测试报告 - 英文 |
MIPI®；C-PHYSM接收机一致性测试的实现方法
Version 1.2
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MSO/DPO5000/B、DPO7000/C、DPO70000/B/C/D/DX、DSA70000/B/C/D和MSO70000/C/DX系列数字示波器编程器手册
Revision A
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| 数据手册 - 中文 |
泰克UWB WiMedia 测试挑战 支持物理层测试：认证无线USB、下一代蓝牙和其它WiMedia实现方案
5/08
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DPO/DSA70000D 系列揭秘
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P7600系列三模™ 探头
13 Nov 2020
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避免-Mises en garde（manuels OM4245、OM4225、OM4106D、OM4006D、OM2210、OM2012和OM5110）
2017/12/22
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USB 2.0应用软件-USB2、SR-USB、5-SRUSB2、DP04USB和MDO3USB规格书
8 Apr 2021
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相干光信号分析仪 OM4000 系列产品技术资料
24 Apr 2012
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TriMode™探头家族 P7700系列TriMode探头
May 2019
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TriMode™ 探头家族P7700 系列 TriMode 探头
28 Jun 2016
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PAM4变送器分析
21 Dec 2020
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AWG70000系列任意波形发生器可打印的帮助文档
2019/3/20
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AWG70000系列任意波形发生器可打印的帮助文档
2018/8/9
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10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T以太网应用以太网解码、触发和兼容性测试软件规格书
22 Sep 2019
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TekExpress HEAC自动化合规软件
14 Oct 2010
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MIPI M-PHY发射器测试解决方案数据表
27 Jan 2022
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AWG7000A系列和SourceXpress®RF通用信号数据表的应用
24 Aug 2016
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AWG7000A系列和SourceXpress®多音数据表的应用程序
09 May 2016
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预先补偿会使你的反应平淡
2017/12/27
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AWG7000A系列和SourceXpress®通用预补偿数据表的应用
06 Sep 2016
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以太网发射机测试应用软件 TekExpress 10GBASE-T和NBASE-T产品技术资料
21 Jun 2017
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AWG7000A系列和SourceXpress®光信号应用数据表
2018/07/06
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AWG7000A系列和SourceXpress®光信号应用数据表
24 Aug 2016
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避免-Mises en garde（manuels OM4106D/4006D、OM2210、OM2012和OM5110）
2017/12/22
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任意波形发生器 AWG70000A 系列
18 May 2018
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任意波形发生器 AWG70000A系列
18 May 2018
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任意波形发生器 AWG70000A 系列
17 Mar 2017
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用于实时示波器的10GBASE-KR/KR4规格书合规性、调试和解码解决方案
30 Jul 2018
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任意波形发生器AWG7000A系列产品介绍
29 Jan 2016
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
激光接收器控制面板（LRCP）软件用户手册
本资料为Tektronix公司LRCP（激光接收器控制面板）软件的用户手册。手册详细介绍了LRCP软件的安装、配置和操作方法，用于控制连接到本地网络的Tektronix OM系列仪器。LRCP软件简化了激光、调制器和驱动放大器的控制，无需使用低级ITLA命令。手册涵盖了软件安装、网络设置、基本操作、控制器标签字段、激光控制、调制器控制和驱动放大器控制等内容。
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DSA7000D、DPO70000D/DX、MSO70000C/DX、DSA7000C、DPO70000C和DPO70000高性能示波器最佳实践手册
本资料为Tektronix公司发布的关于DSA70000D, DPO70000D/DX, MSO70000C/DX, DSA70000C, DPO70000C和DPO7000C系列高性能示波器的最佳实践手册。内容涵盖防静电放电、信号路径补偿和仪器校准、仪器温度和通风、操作系统恢复、固件和应用程序更新、Windows应用程序和硬盘维护、关机程序、测量建议、探头使用最佳实践、探头维护等方面。旨在优化和维持Tektronix产品的性能，确保用户在使用过程中获得最佳体验。
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泰克科技汽车电子测试方案
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DPO/DSA70000D系列内部
Tektronix DPO/DSA70000D系列示波器采用定制多芯片模块（MCM）设计，确保高速信号在采样前不接触PCB，从而降低信号衰减。该系列示波器具备33 GHz带宽、100 GS/s采样率、可变终止电压和超高灵敏度，满足高性能应用需求。MCM采用IBM的8HP硅锗技术，集成多个组件，减少信号传输中的连接和误差源。此外，该系列示波器支持可变终止电压，提供灵活的测量条件。
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显示器测试解决方案
本文档主要介绍了Tektronix公司提供的显示器测试解决方案，包括对信号源、终端装置和线缆的实体层测试。内容涵盖了高速串行数据显示技术的应用、显示器测试的挑战、测试仪器的产品组合、自动兼容性测试、信号源验证、线缆测试与特性分析等方面。
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《用于泰克AWG5000、AWG7000和AWG70000A系列波形发生器的SerialXpress®SDX100高级抖动生成工具安装手册》
本资料为Tektronix SerialXpress® SDX100高级抖动生成工具的安装手册。手册详细介绍了软件的安装步骤、系统要求、所需组件以及卸载方法。内容包括软件下载、安装向导、驱动安装、应用程序启动和在线帮助等。
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OM4106D和OM4006D相干光波信号分析仪用户手册
本资料为Tektronix公司OM4106D和OM4006D相干光波信号分析仪的用户手册。手册详细介绍了仪器的安装、操作和功能。OM4000系列分析仪用于1550 nm波段的光纤通信系统测试，具备相干信号分析能力，支持多种调制格式，如PM-QPSK、OQPSK、QAM、差分BPSK/QPSK等。手册涵盖了安全信息、产品概述、配件、选项、操作基础、软件安装、用户界面配置、测量设置、实验配置、核心处理软件指南等内容。
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OM4106D和OM4006D相干光波信号分析仪用户手册
本资料为Tektronix公司OM4106D和OM4006D相干光波信号分析仪的用户手册。手册详细介绍了仪器的安装、操作和维护，包括产品描述、配件清单、初始产品检查、环境和工作要求、软件和网络硬件设置、操作基础、用户界面配置、测量方法和数据分析等。手册还提供了安全信息、合规性信息和保修条款。
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泰克宽带矢量信号分析系统
泰克公司推出新一代超宽带矢量信号系统、中端射频测试测量解决方案和新型多通道示波器。超宽带矢量信号系统支持全环路幅相一致性自动校准，适用于现代通信体制和雷达信号产生及分析。中端射频测试测量解决方案包括AWG5200系列任意波形产生器和RSA5000B实时信号分析仪，提供价格亲民、性能出色的RF测试解决方案。新型多通道示波器MSO5X具备高分辨率、FlexChannel技术和选配Windows操作系统，简化测试流程。
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PCIe第5代发射器符合性测试
Tektronix的PCIe Gen 5解决方案提供灵活的测试配置和全面的报告，支持x1、x4、x8或x16链路的传输器测试。该方案包括自动化测试软件，用于验证信号完整性，并支持PCI-SIG规范。此外，Tektronix还提供预合规测试夹具，用于在PCI-SIG合规夹具可用之前进行测试。解决方案还包括优化参考时钟抖动测试，以适应PCIe Gen 5的最高数据速率。
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DDR5内存接口的高效验证与调试
本文主要介绍了DDR5内存接口的验证和调试技术。随着5G技术的发展，DDR5技术在存储和访问数据方面变得至关重要。DDR5提高了带宽、密度和通道效率，但同时也带来了更高的数据传输速率和更快的信号速度，这对信号完整性和测量性能提出了更高的要求。Tektronix的TekExpress DDR5 Transmitter Solution提供了一套自动化系统级测试应用，能够快速、高效、可靠地验证和调试DDR5设计，满足JEDEC定义的50多项电气和时序测量要求。该解决方案包括DFE分析、调试和验证、SDLA（串行数据链路分析）等功能，旨在帮助用户优化DDR5设计。
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使用任意波形发生器生成威胁
本文介绍了如何使用任意波形发生器（AWG）进行威胁生成。文章详细阐述了AWG的架构，包括波形生成、存储、数字到模拟转换、放大和输出滤波等方面。此外，还讨论了直接到微波和直接到中频两种威胁生成方法，并比较了它们的优缺点。文章强调了高采样率AWG在复杂威胁生成中的应用，并提供了系统规格的总结。
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OM5110 46 GBaud多格式光发射机安装和安全说明
本资料为Tektronix OM5110 46 GBaud多格式光发射器安装和安全指南。内容包括产品描述、操作要求、安装步骤、安全注意事项、清洁和维护、合规信息等。指南强调产品使用前需检查，确保无损坏，并遵循安全操作规程，以保障人身和设备安全。
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复杂调制光信号误码率的自动测量
本文介绍了如何自动化测量复杂调制光信号的误码率（BER）。文章重点介绍了Tektronix OM4106D相干光波信号分析仪的应用，该分析仪能够通过MATLAB和LabVIEW接口进行自动化控制，以实现对外部仪器的控制，如光衰减器。文章详细描述了如何使用OM4106D进行复杂调制信号（如DP-QPSK、QAM和OFDM）的BER测量，并展示了如何通过LabVIEW和MATLAB脚本实现数据的自动采集和处理。此外，文章还讨论了相干检测技术及其在光信号分析中的应用，以及如何通过Tektronix OM2210复杂调制接收器进行相干测量。
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LPDDR5存储器接口的高效验证与调试
本文主要介绍了Tektronix公司针对LPDDR5内存接口的验证和调试解决方案。该方案通过自动化系统级测试，帮助用户快速、高效、可靠地验证和调试LPDDR5设计，满足超过50项JEDEC定义的电气和时序测量要求。方案包括自动化测试、用户自定义的采集模式、改进的读写突发分离算法、增强的s参数验证和TriMode探头等，旨在加速产品上市时间，提高调试和验证效率。
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DPO7000、DPO/DSA70000和DPO/DSA70000B系列高性能示波器最佳实践
本文档提供了关于Tektronix DPO7000和DPO/DSA70000系列高性能示波器的最佳实践指南。内容包括预防静电放电、信号路径补偿和仪器校准、仪器温度和通风、通道校准、操作系统恢复备份、固件和应用程序更新、Windows应用程序和硬盘维护、关机程序、测量建议、输入电压限制、探头使用和维护等。旨在优化和维持Tektronix产品的性能，确保准确性和可靠性。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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