泰克2014年春季创新论坛 -能源管理：精确、高效的电源测试方案
发布时间：
2018-08-02
类型：
应用及方案，参考设计、解决方案、应用指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2600-PCT-1; 600-PCT-2; 2600-PCT-3; 2600-PCT-4; 4200-PCT-2; 4200-PCT-3; 4200-PCT-4; 2600B; 2650A; 8010; PA4000_1CH; PA4000_2CH; PA4000_3CH; PA4000_4CH
该技术论坛资料详细阐述了泰克2014年春季创新论坛关于能源管理的核心议题，重点探讨了精确且高效的电源测试方案。内容覆盖开关电源、电动汽车、电子镇流器、LED照明及消费电子等关键应用领域，深入解析了MOSFET重要参数、开关损耗测试、无源器件测试以及电源质量分析等专业技术。资料重点推介了吉时利源表、泰克示波器和PA4000功率分析仪等测试设备，展示了其在精确测量方面的技术优势与核心竞争力，旨在为工程师提供解决复杂电源测试挑战的有效方法。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件与设备，Tektronix（泰克）在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。平台相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足，能够覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求。同时，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试服务，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
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资料平台
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2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
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触摸，测试，发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利！
2017/12/22
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再发明大功率半导体器件特性应用建议及产品选择
2017/12/22
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再发明大功率半导体器件特性应用建议及产品选择
2017/12/22
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| 数据手册 - 英文 |
2657A High Power System SourceMeter®SMU仪器规格书
2021/8/28
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2657A High Power System SourceMeter®SMU仪器规格书
042921
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泰克宽禁带材料测试简介
2020/04/11
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8010-DTB-CT型曲线描绘仪测试板
October 2014
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2012 吉时利光电测试方案
2018/01/06
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测试夹具
2017/12/21
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| 技术文档 - 英文 |
参数曲线跟踪器配置
2017/12/22
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2651A 50 A，高功率System SourceMeter®SMU仪器
Rev. 02.2018
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综合测试系统
2017/12/21
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2600- PCT-xB 参数曲线跟踪仪配置
2017/12/23
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技术信息SourceMeter®SMU仪器
2017/12/29
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探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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8020-DP型高压放电探头
October 2014
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| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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7709-308型25针D-Sub连接器
Rev. B
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
2021/8/28
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| 数据手册 - 英文 |
2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
030321
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
112718
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| 技术文档 - 中文 |
泰克科技汽车电子的测试方案
2017/12/23
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| 技术文档 - 英文 |
比以往任何时候都更全面、更实惠的测量工具。
2017/12/29
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将2600B SMU仪器连接到移动设备
04/11/16
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2600B系统SourceMeter®SMU仪器
2017/12/21
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系统SourceMeter® SMU仪器
2014/10/30
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高功率数字源表
03.06.12
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源测量单元仪器新兴研发应用的工具选择
2014/4/7
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如何选择和应用源/测量仪器（源表）
2.14.13
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PCT-CVU型多频C-V仪
October 2017
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CVU-3K-KIT 3 kV偏置三通套件
October 2014
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| 技术文档 - 中文 |
使用 2600B 系統 SourceMeter SMU 仪器简化 FET 测试
2016/10/14
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2600B-PM-1型SMU保护模块特性数据表
Rev. A
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附录G 2400型仿真
2018/09/30
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| 数据手册 - 英文 |
8010-317型插座绝缘插头
Rev. A
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| 数据手册 - 英文 |
8010-DTB-220型器件测试板
Rev. B
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
使用2600B系列和2650A系列系统SourceMeter®SMU仪器的任意波形功能执行福特EMC-CS-2009.1 CI 230功率循环测试
本文介绍了如何利用Keithley Series 2600B和Series 2650A System SourceMeter SMU仪器作为任意波形发生器，生成复杂的波形，并执行Ford EMC-CS-2009.1 CI 230功率循环测试。文章详细说明了配置SMU仪器进行任意波形输出、生成波形表、配置触发模型定时以及进行测量的步骤。此外，还提供了用于生成标准AWG波形和EMC-CS-2009.1 CI 230波形的脚本示例。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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2600-PCT-XB系列参数曲线描绘仪用户手册
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从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位，专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性（WLR）测试。其产品线包括多种WLR测试算法库，为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案，包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统，旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等，均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
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使用2600B系列系统SourceMeter®仪器增强VCSEL大批量生产测试的触发同步
本文介绍了如何使用Tektronix Series 2600B System SourceMeter®仪器提高VCSEL（垂直腔面发射激光器）的高产量生产测试中的触发同步性。文章重点讨论了VCSEL测试中的同步挑战，以及如何通过Series 2600B SMU的触发系统和TSP-Link接口实现精确的同步控制。此外，还介绍了如何使用TSP脚本和TSP-Link硬件触发来优化测试流程，提高测试效率和准确性。
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使用2600B System SourceMeter®SMU仪器简化FET测试
本文介绍了使用2600B系统SourceMeter® SMU仪器简化场效应晶体管（FET）测试的方法。文章强调了FET测试中电流-电压（I-V）参数的重要性，并详细说明了如何利用2600B SMU进行高效测试。文章涵盖了FET的类型、测试配置、数据采集和分析，以及如何使用TSP Express软件工具进行测试设置和结果展示。此外，还讨论了低电流测量技术的重要性。
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8010型大功率器件测试夹具
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 8010高功率器件测试夹具的用户手册。手册详细介绍了Model 8010的概述、安全注意事项、仪器连接、设备与仪器的工作方式、常见问题解答、维护和下一步操作等内容。Model 8010是一款安全、低噪声的测试夹具，适用于测试各种封装的器件类型，支持多种测试功能和仪器连接。手册提供了详细的安装、操作和维护指南，以确保用户能够安全、有效地使用该测试夹具。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments, LLC发布的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、基本操作、测量功能、编程方法、故障排除以及TSP操作等内容。手册强调了操作人员的安全培训和使用注意事项，并提供了详细的操作步骤和编程示例。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、操作步骤、功能特性、编程方法等。内容包括：安全操作指导、仪器基本操作、功能与特性、理论操作原理、TSP操作介绍、编程基础等。手册旨在帮助用户正确使用和维护仪器，确保操作安全与数据准确。
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面向多站点并行测试的ACS综合测试系统
本文介绍了ACS集成测试系统在多站点并行测试中的应用。该系统通过并行测试技术，显著提高测试效率，降低测试成本。系统采用小型测试器架构，每个小型测试器包含执行测试所需的所有资源。ACS软件提供直观的用户界面，支持晶圆和卡式自动化，实时分选和图形功能，适用于高吞吐量应用。
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利用2600B系列系统SourceMeter®仪器增强VCSEL大批量生产测试的触发同步——应用笔记
本文介绍了如何使用Tektronix Series 2600B System SourceMeter®仪器提高VCSEL（垂直腔面发射激光器）生产测试中的触发同步性。文章重点讨论了VCSEL测试中的同步挑战，以及如何通过Series 2600B SMU的触发系统实现精确的时序控制。此外，还介绍了如何利用TSP脚本和TSP-Link硬件触发功能来提高测试效率和准确性。
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3193号将测试应用程序从Keithley 2400型SourceMeter®SMU仪器迁移到2600B系列系统SourceMeter SMU仪器
本文介绍了如何将测试应用从Keithley Model 2400 SourceMeter® SMU仪器迁移到Series 2600B System SourceMeter SMU仪器。Series 2600B仪器基于第三代SMU架构，结合了快速和精确的模拟性能，并具有高达两个源和测量通道。它们还通过嵌入式TSP®脚本引擎实现高速测试序列和自动化。Series 2600B提供了对Model 2400第二代SMU架构的完整软件仿真，使用户能够轻松地将应用程序迁移到新的、更高吞吐量的Series 2600B仪器。文章详细介绍了如何加载Persona2400脚本，配置Model 2400仿真模式，以及如何连接Trigger Link和数字I/O，以及如何识别和适应不支持或部分支持的命令。
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KTTI-GPIB通信和数字I/O附件说明表2450
KTTI-GPIB通信和数字I/O附件为兼容IEEE-488标准并行接口的Keithley产品提供快速、一致的触发功能。该附件提供六条可独立配置的数字输入/输出线，用于控制外部数字电路或触发。附件符合欧洲联盟电磁兼容性指令和低压指令，具有多种规格和环境条件要求。资料详细介绍了附件的安装、配置、操作和编程方法，包括数字I/O端口配置、触发控制模式、远程数字I/O命令等。
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