最新高速串行接口的规范以及测试方法
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
DSA8200; AWG5K; AWG5B; AWG7K; AWG7B; 640-0475-000; 640-0476-000; 640-0477-000; 640-0478-000; 640-0479-000; 640-0480-000; P7313; P7240; 640-0453-000; 640-0452-000; 640-0457-000; 640-0454-000; PG3A; P338; AWG70000
该技术资料详细阐述了高速串行接口的最新规范与测试方法，重点涵盖了HDMI 2.0、MHL及MIPI等主流接口技术。文章深入分析了这些接口的技术特点，并针对实际应用中的测试挑战提供了详尽的解决方案，包括适用的测试设备、科学的测试方法以及配套的测试软件。同时，文中还介绍了Tektronix（泰克）公司在该领域的专业解决方案与相关产品，旨在帮助工程师应对复杂的接口验证需求。Tektronix（泰克）在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请、批量询价及充足库存。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
TekExpress HEAC自动化合规软件
14 Oct 2010
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| 测试报告 - 英文 |
USB 3.0标准Tektronix MOI，用于电缆测试，基于DSA8200的采样仪器带有IConnect®软件
Revision 0.95
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| 技术文档 - 英文 |
阅读第一个MHL测试适配器testfixture
2017/12/23
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阅读第一个MHL测试适配器testfixture
2017/12/23
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| 数据手册 - 中文 |
USB 测试解决方案 电接口验证和一致性测试、信号路径检定、数字验证和调试、无线EVM一致性测试
11/09
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| 测试报告 - 英文 |
DisplayPort标准DisplayPort标准Tektronix MOI，用于电缆测试（基于DSA8200的采样仪器，带IConnect软件）
Revision 1.0
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| 数据手册 - 英文 |
iConnect®和MeasureXtractor™信号完整性、TDR和S参数分析软件安装
2012/10/16
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| 技术文档 - 中文 |
高速光通讯测试
2009-12-15
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| 测试报告 - 中文 |
高速光通讯测试
2010-6-3
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| 技术文档 - 中文 |
高速光通讯测试
2010-3-29
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| 技术文档 - 英文 |
阅读第一个MHL测试适配器测试夹具
2017/12/22
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| 数据手册 - 中文 |
为 DSA8300 专门开发的 80A02 EOS/ESD 隔离模块 80A02 EOS ESD 隔离模块产品技术资料
16 Oct 2017
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MHL高级分析和符合性测试软件选项MHD和选项MHD3
17 Mar 2016
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| 数据手册 - 英文 |
数字串行分析仪采样示波器
2017/12/24
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飞思卡尔半导体使用Tektronix IConnect® 软件为发射机建模
2017/12/24
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| 数据手册 - 英文 |
82A04B数据表DSA8300采样示波器的相位参考模块
21 Mar 2017
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DSA8200数字串行分析仪编程器手册
2017/12/28
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电气采样模块数据表
18 May 2017
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数字串行分析仪采样示波器 DSA8200
30 Mar 2009
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| 数据手册 - 中文 |
DSA8300 采样示波器 80C00 光接口模块产品技术资料
05 JUL 2017
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| 数据手册 - 英文 |
用于DSA8300的80A02 EOS/ESD隔离模块80A02 EOS ESD隔离模块数据表
13 Oct 2017
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| 技术文档 - 英文 |
飞思卡尔半导体公司使用泰克IConnect®为变送器建模
03/10
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IConnect®SW用于DSA8300*1采样示波器80SICMX•80SICON•80SSPAR数据表
25 Jan 2012
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| 数据手册 - 中文 |
DSA8200*1系列80A06 PatternSync触发器模块产品介绍
13 Apr 2017
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DSA8200数字串行分析仪Microsoft Windows XP操作系统还原071-2052-00
2018/06/27
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| 数据手册 - 英文 |
8000系列TekConnect®探头接口80A03产品介绍
21 Mar 2017
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| 数据手册 - 英文 |
大幅节省：使用TekSelect可节省10-70%
08 Sep 2009
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| 技术文档 - 英文 |
可编程接口更改
2017/12/25
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| 技术文档 - 英文 |
28G工业高速串行数据链路的Rx/Tx测试
Vesion 1.0
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| 技术文档 - 英文 |
泰克DSA8200和DSA8300采样示波器之间的可编程接口更改
2017/12/23
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2014年泰克测试测量技术研讨会-厦门 TDR阻抗及静电产生原理和防范措施简介
2018/07/02
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| 技术文档 - 英文 |
DSA8200数字串行分析仪、CSA8000系列和TDS8000系列示波器和连接软件安装
Version 5.1.X
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82A04B技术资料 DSA8300采样示波器相位参考模块
31 Mar 2014
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| 技术文档 - 中文 |
Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
2011-3-18
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
高速串行通道的仿真与验证解决方案
本文探讨了高速串行通道的仿真与验证方法，包括现代电子设计流程、仿真与测试协同验证方法、仿真与测试协同设计方法以及系统可靠性验证与设计空间探索。文章详细介绍了ANSYS高速PCB仿真的解决方案，包括数据导入、提取电气参数、2.5D PCB分析和3D电磁场分析等。此外，还讨论了仿真与测试的协同设计方法，如测试模型引入仿真软件和仿真数据引入测试仪表。最后，文章强调了统计分析对于非LTI系统的重要性，并总结了虚拟样机仿真验证在现代电子设计中的必要性。
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克服非线性测量挑战
本文介绍了Mesuro MB系列负载拉偏测量解决方案，该方案通过波形工程技术，实现了对非线性器件和系统的全面非线性表征和设计。该方案克服了传统测量技术只能测量单个频率分量的局限性，能够同时控制基带、基频和谐波频率，从而获得最佳性能。文章详细讨论了该方案如何解决非线性测量中的挑战，包括测量结果与基本电路理论的差距、高功率测量、谐波终止优化、低频限制和振动敏感性等问题。
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DSA8200数字串行分析仪和模块
本资料为DSA8200数字串行分析仪及其模块的服务手册，内容包括安全注意事项、操作信息、理论操作、调整程序、维护、拆卸和安装程序、图示、可更换部件列表等。手册旨在为合格人员提供服务指南，涵盖设备安装、操作、维护和故障排除等方面的详细说明。
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Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
本文探讨了高速串行数据技术发展趋势，包括性能指标的提升、新技术和新标准的出现。文章重点介绍了TDR（时域反射计）在高速串行互连测试和验证中的应用，包括TDR的原理、信号完整性分析、阻抗测量和差分阻抗测量。此外，还讨论了TDR在PCB验证、串扰测试和频域S参数测量等方面的应用，以及泰克公司TDR测试解决方案的特点和优势。
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Tektronix高速信号互连测试和验证解决方案
本文主要介绍了Tektronix公司的高速信号互连测试和验证解决方案，包括TDR（时域反射计）的原理和应用。文章详细阐述了TDR在信号完整性（SI）中的应用，包括阻抗和信号完整性问题的分析，以及TDR在PCB验证、线缆和连接器特性测量等方面的应用。此外，还介绍了Tektronix公司提供的TDR测试方案和相关产品，如DSA8300示波器和80E04/08/10 TDR模块，以及TDR与高级分析软件IConnect的结合使用。
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泰克 PCI Express® 解决方案 应用速查资料
泰克PCI Express®解决方案提供全面的事务层、链路层和物理层测试方案，支持PCI Express® v. 1.1至v. 3.0标准。方案包括数字调试、模拟验证、一致性测试和设备检定工具，涵盖链路分析、极限测试、压力测试、裕量测试、幅度、定时和抖动测量等，以高效解决设计挑战。
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Tektronix帮助Intel打破20 Gbps的电缆壁垒，生产出世界上最快、最长的Infiniband电缆
本文介绍了英特尔开发的新型20 Gbps Infiniband光缆，该光缆能够支持高性能计算集群的扩展，最大距离可达100米。文章强调了这种光缆在传输速度、可靠性、尺寸和重量方面的优势，并详细说明了Tektronix在测试和验证这些光缆性能方面的作用。此外，还讨论了这种光缆在提高集群可靠性和降低电磁干扰方面的潜力。
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DSA8200数字串行分析仪和模块071-2049-02
本资料为DSA8200数字串行分析仪及其模块的维修手册。内容涵盖安全注意事项、操作信息、工作原理、调整程序、维护和更换部件等。手册详细介绍了仪器的安装、操作、维护和故障排除方法，旨在帮助合格人员正确、安全、高效地进行维修服务。
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DSA8200数字串行分析仪解密与安全
本资料为Tektronix DSA8200数字串行分析仪的去密级和安全指南。内容包括如何清除或销毁DSA8200及其模块中的存储设备，以保护数据安全。指南详细说明了不同类型存储设备的清除和消毒程序，包括挥发性和非挥发性存储器，以及如何禁用数据导出设备。此外，还提供了非功能仪器清除数据的步骤。
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DSA82以上选项MU2 DSA8200仪器存储器升级套件071-2583-00说明
本资料为Tektronix公司DSA82UP Option MU2升级套件的使用说明，主要内容包括升级DSA82000仪器CPU板的内存模块，将内存容量从512MB提升至1GB。资料详细介绍了安装步骤、所需工具、安全注意事项以及操作流程，并提供了验证内存功能的操作指南。
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请阅读第一个Tektronix DSA8200 TDS/CSA8000系列产品软件版本5.1.X
本资料介绍了Tektronix DSA8200、TDS/CSA8000系列示波器产品软件版本5.1.X的使用说明。软件确保仪器和模块与最新功能和产品增强兼容，支持DSA8200、CSA8000和TDS8000系列仪器。安装程序会检测仪器并安装适当的软件。软件只能在Microsoft Windows XP操作系统上运行。资料提供了软件安装、升级和使用方法，包括如何检查当前软件版本、修复或恢复操作系统等信息。
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DSA8200数字串行分析仪、CSA8000系列和TDS8000系列示波器和连接软件安装
本资料为Tektronix公司DSA8200数字串行分析仪、CSA8000系列和TDS8000系列示波器和连接软件的安装指南。内容包括软件安装说明、安装步骤、软件功能介绍以及更新说明。资料强调软件仅适用于支持Windows XP操作系统的仪器，并提供安装和升级软件的详细步骤。
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应用说明TDR和S参数测量-您需要多少性能？
本文探讨了高速串行数据网络分析（SDNA）中的TDR和S参数测量技术。随着计算机、通信和消费电子行业从并行到高速串行数据的转变，对数据传输速率的要求越来越高，导致信号完整性问题更加突出。文章重点介绍了TDR技术及其在S参数测量中的应用，与传统的矢量网络分析仪（VNA）相比，TDR具有成本效益高、易于使用、易于校准、精度高和吞吐量高等优点。此外，文章还讨论了TDR的分辨率要求、上升时间要求、动态范围和带宽要求，以及Tektronix TDR模块如何满足这些要求。
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DSA8200、CSA8000系列和TDS8000系列产品文档
本资料为Tektronix公司DSA8200、CSA8000系列和TDS8000系列示波器产品文档，包含模块和探头相关资料。文档为Acrobat PDF格式。使用说明包括将CD-ROM插入仪器或PC的光驱，约15秒后程序启动，点击选择显示文档，并可通过Acrobat Reader的“另存为”菜单将文档保存到硬盘。印刷版文档可通过联系Tektronix或访问Tektronix网站购买。最新和更新信息可在Tektronix网站www.tektronix.com上找到。
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80SJNB Advanced 均衡和串行数据分析方法 应用指南
本指南介绍了在有损耗或耗散的信道上运行的串行数据标准使用的测试和测量方法。重点在于使用均衡（FFE/DFE）技术来改善接收端的眼图。指南通过实例分析了Infiniband电缆的均衡效果，并比较了接收端和发送端的测量数据。此外，还讨论了仿真信道方法、信道描述、夹具反嵌、分级自动设置以及当前解决方案的局限性。
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简化 USB 设计的调试和验证 应用文章
本文主要介绍了USB2.0和USB3.0的测试挑战、调试和验证方法。文章详细阐述了USB2.0的架构、测试方法和一致性测试，以及USB3.0的物理层测试和通道测试。此外，还介绍了Tektronix的测试工具和软件，如TDSUSB2测试软件、DPOJET软件和SerialXpress软件，以及如何使用这些工具进行USB3.0的测试和调试。
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