能源管理： 精确、高效的电源测试方案
发布时间：
2018-08-02
类型：
应用及方案，参考设计、解决方案、应用指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2600-PCT-1; 2600-PCT-2; 600-PCT-3; 2600-PCT-4; 4200-PCT-2; 4200-PCT-3; 200-PCT-4; 2600B; 2650A; 2636B; 2651A; 2657A; 8010; TO-220; TO-247; PA4000; MDO4000B; PA4000_1CH; pA4000_2CH; PA4000_3CH; PA4000_4CH
本技术资料详细阐述了精确、高效的电源测试方案，全面覆盖了开关电源、电动汽车、UPS及消费电子产品等领域的测试需求。文中重点介绍了吉时利源表、泰克示波器及功率分析仪等核心测试设备的功能与应用场景，具体包括电池充放电测试、太阳能电池测试、MOSFET参数测试、无源器件测试、电源质量分析以及电流谐波一致性测试等关键技术内容。此外，资料还深入剖析了PA4000功率分析仪的独特优势，如其采用的专利技术分流器、双分流器设计、谐波测试功能、峰值因数处理能力，以及针对多种应用的高带宽信号高精度测量模式，为复杂的电源测试提供了可靠的技术路径。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。针对文中所述测试设备与技术，平台提供专职FAE团队支持选型、设计验证及调试，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
2021/8/28
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
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2600B System SourceMeter®SMU仪器规格书
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触摸，测试，发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利！
2017/12/22
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再发明大功率半导体器件特性应用建议及产品选择
2017/12/22
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再发明大功率半导体器件特性应用建议及产品选择
2017/12/22
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泰克宽禁带材料测试简介
2020/04/11
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2600B系统SourceMeter®SMU仪器
2017/12/21
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| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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| 技术文档 - 中文 |
使用 2600B 系統 SourceMeter SMU 仪器简化 FET 测试
2016/10/14
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系统SourceMeter® SMU仪器
2014/10/30
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综合测试系统
2017/12/21
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2012 吉时利光电测试方案
2018/01/06
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2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
2015/6/3
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2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
April 2015
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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源测量单元仪器新兴研发应用的工具选择
2014/4/7
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了解功率转换效率测试的基本工具和技术
2017/12/22
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如何选择和应用源/测量仪器（源表）
2.14.13
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泰克超低频电容电压CV曲线测试简介
2020/04/11
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比以往任何时候都更全面、更实惠的测量工具。
2017/12/29
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S540功率半导体测试系统规范
Rev. A
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提高测量速度和整体测试提高测量速度和整体测试提高模型速度和整体测试时间
2017/12/21
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2600- PCT-xB 参数曲线跟踪仪配置
2017/12/23
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2651A 50 A，高功率System SourceMeter®SMU仪器
Rev. 02.2018
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泰克准静态CV曲线测试简介
2020/04/11
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参数曲线跟踪器配置
2017/12/22
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技术信息SourceMeter®SMU仪器
2017/12/29
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2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
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7709-308型25针D-Sub连接器
Rev. B
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S540功率半导体测试系统数据表
2017/12/26
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泰克科技汽车电子的测试方案
2017/12/23
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| 数据手册 - 英文 |
7174A高速低漏电流矩阵8×12
2013/2/23
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将2600B SMU仪器连接到移动设备
04/11/16
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PCT-CVU型多频C-V仪
October 2017
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型号2636B-PCT-KIT附件套件
November 2015
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2600B-PM-1型SMU保护模块特性数据表
Rev. A
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
使用2600B系列和2650A系列系统SourceMeter®SMU仪器的任意波形功能执行福特EMC-CS-2009.1 CI 230功率循环测试
本文介绍了如何利用Keithley Series 2600B和Series 2650A System SourceMeter SMU仪器作为任意波形发生器，生成复杂的波形，并执行Ford EMC-CS-2009.1 CI 230功率循环测试。文章详细说明了配置SMU仪器进行任意波形输出、生成波形表、配置触发模型定时以及进行测量的步骤。此外，还提供了用于生成标准AWG波形和EMC-CS-2009.1 CI 230波形的脚本示例。
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使用2600B系列系统源简化FET测试Vleter®SMU仪器
本文介绍了使用Tektronix公司（A Tektronix Company）的Series 2600B System SourceMeter SMU仪器简化FET测试的方法。文章强调了FET测试中电流-电压（I-V）参数的重要性，并说明了使用SMU进行测试的优势。详细介绍了Series 2600B SMU的特点，如高分辨率电流测量和电流限制功能。此外，文章还展示了如何使用TSP Express软件工具进行IV测试，包括MOSFET的漏极电流-栅极电压曲线测量。最后，文章总结了Series 2600B SMU在半导体器件表征中的应用。
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泰克助力您轻松应对电源设计现在及未来挑战
本文主要介绍了泰克公司在电源设计测试领域的解决方案，包括器件测试、电源模块测试、电源一致性测试等。文章详细阐述了电源硬件设计验证流程，涵盖了从输入滤波器到输出滤波器的各个阶段，并介绍了泰克提供的全套解决方案，包括功率器件的选择、原型板设计诊断、电源效率评估等。此外，文章还重点介绍了泰克在EMI预测试、一致性测试和预一致性测试方面的解决方案，以及针对不同测试需求提供的专业设备和技术支持。
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
本指南为Keithley Instruments Series 2600B系列System SourceMeter®仪器提供快速入门指导，包括安全注意事项、仪器介绍、安装、连接、测试和常见问题解答。指南详细说明了仪器的安全操作、功能、操作步骤以及软件支持，旨在帮助用户快速上手并安全使用该系列仪器。
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2600-PCT-XB系列参数曲线描绘仪用户手册
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从实验室到工厂的可靠性测试信心更高
Keithley Instruments在元器件行业长期处于领先地位，专注于整体参数测试技术和晶圆级可靠性（WLR）测试。其产品线包括多种WLR测试算法库，为设备表征、半导体参数测试和电参数过程监控提供集成硬件和软件解决方案。公司提供多种WLR解决方案，包括快速BTI测试、SMU-per-pin并行系统和定制化系统，旨在提高测试效率和可靠性。产品如4200A-SCS参数分析仪、4200-BTI-A超快解决方案和SMU-per-pin系统等，均支持高功率设备测试、自动化测试和符合JEDEC标准的可靠性测试模块。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments, LLC发布的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、基本操作、测量功能、编程方法、故障排除以及TSP操作等内容。手册强调了操作人员的安全培训和使用注意事项，并提供了详细的操作步骤和编程示例。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、操作步骤、功能特性、编程方法等。内容包括：安全操作指导、仪器基本操作、功能与特性、理论操作原理、TSP操作介绍、编程基础等。手册旨在帮助用户正确使用和维护仪器，确保操作安全与数据准确。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安装、操作、维护和注意事项。内容包括：安全预防措施、仪器描述、基本操作、测试连接、维护等。手册旨在帮助用户正确使用和维护仪器，确保安全和性能。
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使用2600B系列系统SourceMeter®仪器增强VCSEL大批量生产测试的触发同步
本文介绍了如何使用Tektronix Series 2600B System SourceMeter®仪器提高VCSEL（垂直腔面发射激光器）的高产量生产测试中的触发同步性。文章重点讨论了VCSEL测试中的同步挑战，以及如何通过Series 2600B SMU的触发系统和TSP-Link接口实现精确的同步控制。此外，还介绍了如何使用TSP脚本和TSP-Link硬件触发来优化测试流程，提高测试效率和准确性。
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使用2600B System SourceMeter®SMU仪器简化FET测试
本文介绍了使用2600B系统SourceMeter® SMU仪器简化场效应晶体管（FET）测试的方法。文章强调了FET测试中电流-电压（I-V）参数的重要性，并详细说明了如何利用2600B SMU进行高效测试。文章涵盖了FET的类型、测试配置、数据采集和分析，以及如何使用TSP Express软件工具进行测试设置和结果展示。此外，还讨论了低电流测量技术的重要性。
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