【选型】TEKTRONIX(泰克)测试/测量产品选型指南
发布时间:
2018-08-02
类型:
选型指南,选型手册、器件选型指南、产品选择指南
品牌:
TEKTRONIX
型号:
2400-C; 2400-LV; 2401; 2420-C; 2420; 2440-C; 2440; 2500INT-2-Ge; 2500INT-2-IGAC; 2500INT-2-Si; 2510-AT; 2510; 2520 KIT1; 2520; 2520INT-1-Ge; 2600-PCT-1; 2600-PCT-2; 2600-PCT-3; 2600-PCT-4; 2600-PCT-x; 4200-3Y-CAL; 4200-3Y-EW; 4200-5Y-CAL; 4200-5Y-EW; 4200-BTI-A; 4200-CVU-3Y-CAL; 4200-CVU-5Y-CAL; 4200-PA; 4200-PCT-2; 4200-PCT-3; 4200-PCT-4; 4200-PCT-x; 4200-PMU-3Y-CAL; 4200-PMU-5Y-CAL; 4200-PMU-PROBER-KIT; 4200-RPM-3Y-CAL; 4200-RPM-5Y-CAL; 4200-SCS-PK1; 4200-SCS-PK2; 4200-SCS-PK3; 4200-SCS; 4200-SMU; 4210-3Y-EW; 4210-5Y-EW; 4210-CVU; 4210-MMPC-C; 4210-MMPC-L; 4210-MMPC-S; 4210-MMPC-W; 4210-SMU; 4220-PGU; 4225-3Y-EW; 4225-5Y-EW; 4225-PMU; 4225-RPM-3Y-EW; 4225-RPM-5Y-EW; 4225-RPM; 7072-HV; 7072; 707B; 708B; 7173-50; 7174A; 8542-301; 8544-TEC; 8544; ACS-2600-RTM; ACS; CA-321-1; CA-322-1; S500; S530
本选型指南详细介绍了Keithley公司生产的4200-SCS参数分析仪及其相关产品。该分析仪作为一款模块化、完全集成的电学表征设备,主要面向材料、半导体器件和工艺的测试需求,广泛应用于设计、开发、生产及可靠性测试等环节。资料重点阐述了其核心测量模块,涵盖直流I-V、C-V、脉冲I-V等多种功能,并深入解析了配套的KITE软件环境以及用于NBTI/PBTI测试的4200-BTI-A超快测试包,为用户提供全面的参数测试解决方案。针对文中所述器件,TEKTRONIX(泰克)在世强硬创平台上由世强先进(深圳)科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案,用户可通过平台获取原厂授权的正品器件,相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价,且库存充足。平台专职FAE团队提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持,覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求,有助于缩短供应链响应周期,加速产品开发与上市。
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资料平台
| 数据手册 - 英文 |
2400-LV、2400-C和2401型SourceMeter®规格
Rev. L
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2012 吉时利光电测试方案
2018/01/06
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用于光电I-V测试的SourceMeter®SMU仪器
2017/12/23
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2400系列数字源表系列
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2400系列数字源表系列
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了解功率转换效率测试的基本工具和技术
2017/12/22
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紧密耦合的精密源和测量SourceMeter®SMU仪器
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触摸,测试,发明®…与新一代电流和电压源/测量仪器从凯斯利!
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SourceMeter®SMU仪器选型指南
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应用/方案
吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试,以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外,吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案,适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器,以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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纳米技术测量手册纳米科学应用的电测量指南
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半导体霍尔效应测试方案泰克 TSP-2000-HALL 半导体器件测试方案
该资料主要介绍了霍尔效应测试方案,包括系统背景、特点、原理和功能。测试方案用于表征和分析半导体材料,通过测量霍尔效应和电阻,计算载流子浓度、迁移率等参数。系统由源表、矩阵开关和测试软件组成,可在不同磁场、温度和电流下进行测量,并绘制曲线图。
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泰克IsoVu测量系统帮助松下半导体明显缩短新型GaN器件的开发时间
泰克IsoVu测量系统助力松下半导体在开发新型GaN器件时显著缩短了开发时间。该系统通过光电隔离技术,有效解决了GaN器件差分测量中的寄生电容问题,提高了测量精度和效率。IsoVu探头的高共模抑制比和宽频带特性,使得松下工程师能够准确观察高侧栅极电压波形,优化开关性能,从而加速了GaN器件的开发进程。
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半导体分立器件 I-V 特性测试方案泰克科技测试方案合作伙伴 - 溪谷科技 方案技术
半导体分立器件I-V特性测试方案,由溪谷科技提供,旨在帮助工程师提取半导体器件的基本I-V特性参数。方案采用美国吉时利公司的高精度源测量单元(SMU)和CycleStar测试软件,配合精准稳定的探针台,支持二极管、BJT、MOSFET等器件的测量与分析。系统结构包括源测量单元、夹具或探针台及上位机软件,支持LAN/USB/GPIB接口连接。
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高功率半导体器件检定测试方案
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测量宽带隙半导体上的Vgs应用指南
本指南重点介绍使用IsoVu测量系统进行高端Vgs测量的方法,特别关注半桥配置中eGaN FETs的应用。指南详细阐述了高端启动和关闭过程中的测量特点,包括Miller高原、充电时间和死区时间等,并强调了IsoVu系统在提供高带宽、高共模电压和高共模抑制比方面的优势,以实现准确的高端Vgs测量。
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半导体材料与器件科学云讲堂--二维材料/石墨烯及其电子器件IV和CV测试
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲,内容涵盖二维材料/石墨烯及其电子器件的IV和CV测试方法。讲座介绍了二维/石墨烯材料的四探针测试和霍尔效应测试,以及二维MOSFET器件的电性能测试。此外,还探讨了高性价比和高性能测试方案,并针对石墨烯电子器件的测试挑战提出了相应的解决方案。
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半导体材料与器件科学云讲堂——纳米材料及纳米电子器件IV和CV测试
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半导体材料与器件科学云讲堂 ——纳米材料及纳米电子器件IV和CV测试
本文主要解读了宽禁带半导体器件的静态测试规范,包括宽禁带半导体的定义、静态测试的概念和参数,以及IEC60747-8规范的内容和应用。文章还介绍了泰克公司PCT测试系统的设备组成、工作范围、使用方法及测试技巧。
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半导体材料与器件科学云讲堂--纳米材料及纳米电子器件IV和CV测试
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测量宽禁带半导体上的 Vgs
本文主要介绍了使用IsoVu测量系统进行宽禁带半导体高侧Vgs精确测量的方法。文章详细描述了在半桥结构中,使用eGaN FETs进行高侧和低侧开关的测量过程。重点讨论了高侧导通和关断/低侧导通两种情况下的Vgs测量,并分析了传统测量方法与IsoVu测量系统在测量精度和可重复性方面的差异。文章强调了高带宽、高共模电压和高共模抑制比在准确测量高侧Vgs中的重要性。
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半导体材料与器件科学云讲堂——半导体参数测试仪使用技巧及案例集锦
本资料为泰克半导体测试专家王瑞恒主讲的“半导体材料与器件科学云讲堂”内容概述。讲座内容包括半导体参数测试仪的使用技巧及案例集锦,涉及测试准确性保证、测试速度选择、经典测试案例分享、故障检测方法等。讲座旨在提升半导体测试效率和准确性。
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半导体材料与器件科学云讲堂——快速上手自动化半导体参数测试系统
本次云讲堂由半导体领域测试专家王瑞恒主讲,内容涵盖专业测试平台、六大类测试流程,以及如何剖析和解决半导体新问题。讲座详细介绍了设备线缆及连线方法,包括不同模块线缆的介绍和接线方法。此外,还讲解了如何使用快速设置软件进行测试,包括调取测试工程、读取数据并画图。最后,讲座还介绍了循环测试及应力测试的设置方法。
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使用 4200A-SCS 参数分析仪进行 1/f 电流噪声测量
本文介绍了使用4200A-SCS参数分析仪进行1/f电流噪声测量的方法。文章详细阐述了1/f噪声的基础知识,包括其定义、特点以及测量方法。重点介绍了如何利用4200A-SCS的SMU和PMU模块进行1/f噪声测量,包括电路配置、测试设置、数据采集和FFT分析等步骤。此外,文章还讨论了如何通过开路测试确定SMU和PMU的噪声水平,以及如何使用Clarius软件中的Formulator公式器进行FFT计算。
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吉时利产品半导体测试应用举例
吉时利半导体测试解决方案主要包括4200-SCS半导体测试系统、Parametric Curve Tracer参数曲线追踪仪、S530、S500和ACS自动化半导体测试设备。这些设备集成了PC和测试软件,能够进行高功率、高精度的半导体器件特性分析。资料中详细介绍了不同型号设备的特性和应用,包括直流IV特性测量、多频C-V测量、脉冲测量和瞬态测试等。此外,还提供了测试夹具、电缆、软件和测试程序库等配套产品,以满足不同测试需求。
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使用吉时利SMU仪器和开关系统优化功率半导体器件和模块的可靠性测试
本文介绍了使用吉时利SMU仪器和开关系统优化功率半导体器件和模块的可靠性测试方法。文章首先概述了典型可靠性测试的标准和挑战,随后详细介绍了吉时利2600B系列和2650A系列SMU仪器以及3700A系列和707B系列开关系统的特点和配置。文章还通过具体案例展示了如何利用这些设备进行高精度、高速度的可靠性测试,并强调了TSP和TSP-Link技术在测试中的应用。
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高幅度任意波形 / 函数发生器简化汽车、半导体、科学和工业应用中的测量
本文介绍了高幅度任意波形/函数发生器在汽车、半导体、科学和工业应用中的测量应用。文章首先讨论了传统方法中使用外部放大器生成高幅度信号的局限性,然后介绍了使用集成高幅度输出阶段的新型任意波形/函数发生器的优势。文章详细说明了如何使用这些发生器测量汽车应用中的电源半导体、气相色谱检测器使用的放大器特性,以及IGBT的开关波形。此外,还讨论了如何使用这些发生器进行放大器带宽和上升时间的测量。总结来说,高幅度任意波形/函数发生器简化了测试设置,降低了设备成本,并提高了测量效率。
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用Keithley-SMU仪器和开关系统优化功率半导体器件和模块的可靠性测试
本文探讨了使用Keithley SMU仪器和开关系统优化功率半导体器件和模块的可靠性测试方法。文章介绍了典型的可靠性测试,如HTOL、ELFR、HTFB、HTRB和HAST,并分析了WBG功率半导体在可靠性测试中面临的挑战,包括低漏电和低导通电阻要求、不同的失效机制以及需要大量样本和长时间应力测试。文章重点介绍了Keithley的2600B和2650A系列SMU仪器和3700A和707B系列开关系统,这些系统具有高精度、高分辨率、高功率和高速并行测试能力,能够满足WBG功率半导体可靠性测试的严格要求。
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半导体器件检定测试需要灵活的激励信号
本文探讨了半导体器件检定测试的重要性,特别是信号源在测试中的应用。文章详细介绍了检定测试的目的,包括验证设计规范和确定设备性能极限。此外,文章还讨论了不同类型的信号源,如函数发生器、脉冲发生器和任意波形发生器,以及它们在半导体器件检定测试中的作用。文章通过具体的应用实例,如比较器和运算放大器的检定,展示了如何使用信号源进行精确的测试和测量。最后,文章强调了基于DDS的信号源在半导体器件检定测试中的优势。
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什么是功率半导体?
什么是功率半导体?功率半导体是通过高速开关转换功率的元件。 近年来,它们在电动汽车(EV)电机和光伏发电等领域的应用尤为突出,而采用新材料的产品也随着应用领域的不断扩大而问世。本文中MITSUMI来与您分享关于功率半导体的作用和特点。
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HS6B等半导体行业解决方案
本文介绍了IDEC为半导体制造设备提供的各类产品,包括前端、后端和检测过程的产品。产品范围广泛,从启动开关、条码扫描仪到紧凑型继电器和推入式端子,旨在提高设备性能、减少停机时间并确保操作员安全。文章还强调了IDEC在提高可靠性、降低成本和符合SEMI标准方面的承诺,以及其全球部署和标准化发展的支持。
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【技术】恩智测控解析何为半导体
恩智测控将详细讲解何为半导体,所谓半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。物质存在的形式多种多样固体、液体、气体、等离子体等等。通常把导电性差的材料如煤、人工晶体、琥珀、陶瓷等称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的材料称为半导体。
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【经验】如何在半导体开关中使用共源共栅拓扑消除米勒效应?
SiC共源共栅拓扑解决了米勒电容问题,且同时实现了简单的栅极驱动、常关运行和高性能体二极管。这与SiC MOSFET不同,在SiC MOSFET中,体二极管特征差,甚至与GaN HEMT也不同,后者有高CDS。物理特征的不变性导致热离子器件中产生限制高频增益的米勒效应。
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优化宽带隙半导体开关以满足EMI要求
本文探讨了优化宽带隙半导体开关以提高电磁兼容性(EMI)的挑战。文章强调了在产品开发阶段早期进行电磁发射最小化的重要性,并介绍了Rohde & Schwarz示波器和探头解决方案在EMI测试中的应用。文章还讨论了门极驱动电压优化、相关时间-频率分析和近场探头在EMI测试中的作用。
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优化宽带隙半导体开关以满足EMI要求
本文探讨了优化宽禁带半导体开关以符合电磁兼容性(EMI)标准的重要性。文章强调了在开发阶段考虑设计指南和测试优化对于满足EMI合规性的必要性。文章介绍了Rohde & Schwarz的解决方案,包括其示波器和探头,用于在产品设计阶段进行EMI优化。此外,还讨论了使用门控FFT进行相关时间-频率分析,以及优化门极驱动电压以减少EMI排放的方法。
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【产品】微源半导体开关降压型单节锂电池充电IC LP4020,最大充电电流达2.5A
微源半导体的LP4020是一款开关降压型单节锂电池充电IC。其SOT23-6超小型封装以及简单的外围电路,使得LP4020非常适用于便携式设备的大电流充电管理应用。LP4020对电池充电分为涓流预充、恒流、恒压三个阶段,恒流充电电流通过外部电阻调整,最大充电电流达2.5A。
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ROHM的汽车半导体开关
ROHM半导体推出的智能功率器件(IPD)在汽车电子领域提供更高的可靠性和安全性。这些IPD能够在电路出现异常电流时防止电路断电,同时提供比传统继电器更长的使用寿命。IPD利用最新的功率半导体技术,能够同时保护启动和稳态电流,即使在无法使用保险丝的区域也能提供保护。此外,IPD开关的使用寿命比传统继电器长数十倍。
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【产品】40V/10A的高电流脉冲激光二极管驱动器开发板EPC9154,最小脉宽小于2ns
宜普电源转换公司(EPC)推出的EPC9154开发板主要用于驱动具有窄且大电流脉冲的激光二极管,其优势包括小于2ns的最小脉宽、大于10A的峰值电流和30V总线额定电压,采用了EPC21601 eToF™激光驱动器IC。
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【产品】新亮光子850/940nm激光脉冲二极管,有效提升激光雷达、3D感测、激光光幕性能
新亮光子推出的2款(2016、TO46封装)新型激光脉冲二极管和3款多线脉冲激光二极管(1x4、1x8、1x16),非常强大、高效,可显著提升激光雷达系统、3D感测、激光光幕的性能。几款激光脉冲二极管都是采用面发射红外激光束,可扫描特定角度段,从而创建环境的3D高精地图或模型,可应用于激光雷达,安全光幕,激光测距,接近传感,3D感测,军事应用
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【产品】850nm 25W VCSEL 脉冲激光二极管LD0850-C025-0120CBP-3535/TO18
新亮智能(Bright Intelligence),以新一代光源VCSEL激光芯片为基础,致力于人工智能领域。为消费类电子,安防监控,智能家居,智能驾驶,工业自动化及机器人,激光照明,激光显示及光通信等应用提供核心的VCSEL芯片、模组和解决方案。其推出的VCSEL 脉冲激光二极管LD0850-C025-0120CBP-3535/TO18,脉冲光功率典型值为25W,具有良好的导热性等特点。
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功率半导体的机遇
功率半导体,又称电力电子器件或功率电子器件,是电子产业链中最核心的一类器件之一。能够实现电能转换和电路控制,在电路中主要起着功率转换、功率放大、功率开关、线路保护、逆变(直流转交流)和整流(交流转直流)等作用。
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【经验】新半导体技术将提升功率转换效率,UnitedSiC将为低损耗功率开关提供高性能解决方案
为了进一步降低损耗,现在有了SiC FET等宽带隙半导体开关,其导通电阻测量值为数毫欧,开关特征近乎理想。结合简单的电路实现和完整的SiC FET器件选项组合,UnitedSiC为低损耗功率开关提供了高性能、稳健的解决方案。
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【产品】ROHM不可见脉冲激光二极管RLD90QZW5,波长905nm、峰值光输出功率25W
ROHM公司推出的RLD90QZW5脉冲激光二极管实现了窄发光宽度,有助于延长检测距离并提高感应精度。采用罗姆的先进结构,能源转换效率高而且可以减少波长的温度波动,有助于实现低功耗和长寿命。
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【产品】基于车规级氮化镓技术的脉冲激光二极管驱动电路板EPC9144,具有1.2纳秒脉宽的脉冲电流驱动激光
宜普电源转换公司(EPC)宣布推出15 V、28 A大电流脉冲激光二极管驱动电路板EPC9144。EPC9144演示板内的车规级EPC2216氮化镓场效应晶体管(eGaN® FET)可支持大电流纳秒脉冲的应用,提供高速的大电流脉冲 – 电流可高达28A、脉宽则可低至1.2纳秒,从而使得飞行时间及flash激光雷达系统更准确、更精确及更快速。
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三代半导体材料的区别
研究机构:“全球碳化硅、氮化镓功率半导体市场预计2022年将达到18.4亿美元,2025年会进一步增长到52.9亿美元”。那么什么是半导体呢?今天就让我们来好好了解一下。
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罗姆车载用半导体开关
本资料主要介绍了IPD(智能功率器件)的相关信息,包括其应用、特点、技术参数等。资料中详细列出了不同型号的IPD产品,如BV2HC045EFU-C、BV2HD045EFU-C等,并提供了其电气参数、封装类型和认证信息。此外,资料还涉及了IPD在汽车电子、工业控制等领域的应用案例。
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【应用】脉冲宽度低至4ns的氮化镓脉冲激光二极管助力汽车LiDAR成像
EPC公司推出的eGaN ®FETs EPC2016C和EPC2001C,满足高峰值电流,极低的电容和稳定的热特性的要求,本文介绍其应用于汽车LiDAR系统助力其快速精确成像。
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【应用】SiC FET可替代IGBT作为电动汽车功率半导体开关的首选,实现高达数百千瓦的功率
宽带隙半导体(特别是SiC FET)代替IGBT,则可以将频率提高很多,效率也比IGBT高。这样使电动机更高效地运行,并且更快的开关速度可以更好地控制电动机,有助于消除转矩波动等产生噪声和电动机磨损的影响。UnitedSiC提供的1200V SiC FET的导通电阻低于10毫欧,650V器件的导通电阻低于7毫欧,分别适用于800V和400V电池系统。
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捕获性能:下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案,涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
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