Adapter, Cable, Prober, and Stabilizer Kits
发布时间：
2018-08-02
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
4200-CVU-PROBER-KIT; CA-446A; CS-565; CS-1247; CS-1391; 237-TRX-BAR; 4200-PRB-C; 7078-TRX-BNC; 7078-TRX-GND; 4200-sCs; 4200-CVu; 4200-CVU-PWR; CS-1252; CA-19-2; CA-451A; CA-405B; CA-452A; CS-712; CS-1390; 4225-PMu; 4220-PGu; 4225-rPM; 4210-MMPC; 4210-MMPC-C; CA-533-24A; CA-535-4A; CA-540-12A; CS-737; 4210-MMPC-304A; 4210-MMPC-305A; DCM-200; 4210-MMPC-S; CA-532A; CA-534-24A; CA-535-7A; CS-751; CS-1546; 4205-RBT; CS-1479
本产品手册详细介绍了多种连接器、适配器及工具套件，专为元器件的精密测试与测量而设计。资料涵盖了用于4200-SCS半导体特征分析系统和4210-CVU电容-电压测量单元的专用测量电缆套件，以及适配于4200-SCS、4225-PMU超快脉冲测量单元和4220-PGU脉冲发生单元等多种设备的适配器与工具。在接口类型方面，该资料详细列出了包括SMA、BNC及Triax在内的多种标准接口，能够满足电容、电压、电流等多样化参数的测量需求，为研发人员提供了完善的测试连接解决方案。基于该方案，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，并拥有充足的库存覆盖。平台还提供专职FAE团队的技术支持，涵盖选型指导、设计验证及调试服务，助力用户解决技术难题。全生命周期的采购支持有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市进程。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
4200A-SCS参数分析仪数据表
120120
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| 数据手册 - 英文 |
4200A-SCS参数分析仪数据表
2017/12/22
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| 测试报告 - 英文 |
提高测量速度和整体测试提高测量速度和整体测试提高模型速度和整体测试时间
2017/12/21
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| 封装信息/封装结构图 - 英文 |
4200-CVU-PWR型零件包
Rev. C
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| 数据手册 - 中文 |
4200A-SCS参数分析仪产品技术资料
2019/10/23
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| 数据手册 - 中文 |
4200A-SCS 参数分析仪产品技术资料
2018/07/03
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| 数据手册 - 中文 |
4200A-SCS 参数分析仪 产品技术资料
2017/12/22
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| 测试报告 - 英文 |
综合测试系统
2017/12/21
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| 数据手册 - 中文 |
4200A-SCS 参数分析仪
2021/10/13
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| 数据手册 - 英文 |
4200A-SCS参数分析仪
2021/10/13
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| 数据手册 - 英文 |
4200A-SCS参数分析仪
2017/12/21
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| 测试报告 - 英文 |
2600系列系统源表多通道I-V测试解决方案
Rev.708
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| 技术文档 - 中文 |
4200-SCS 半导体特性分析系统技术指标
Rev. M
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
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| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
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| 技术文档 - 英文 |
CS-1391 SMA三通接头F-M-F
October 2014
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| 技术文档 - 英文 |
型号4200-CVU-PROBER-KIT
Rev. A
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| 数据手册 - 英文 |
7072-HV高压半导体矩阵卡8×12
2013/7/13
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| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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| 技术文档 - 英文 |
4200-SCS型集成C-V选件
Oct. 07
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| 数据手册 - 英文 |
型号7078-TRX-GND三槽外三轴至BNC适配器
Rev. C
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| 技术文档 - 英文 |
基于Keithley 4200-SCS的微电子工程教育局域网实验室
1006
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| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统解密和安全说明
v121515
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| 数据手册 - 英文 |
2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
2015/6/3
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| 数据手册 - 英文 |
2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
April 2015
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| 数据手册 - 英文 |
CVU-200-KIT 200 V偏置三通套件
October 2014
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| 技术文档 - 英文 |
CA-446A和CA-447A 100ΩM-M SMA电缆，3和1.5
October 2014
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| 数据手册 - 英文 |
6147型三轴到BNC，7078-TRX-BNC型3-Siot三轴到BNC，4804型BNC到三轴适配器
Rev. C
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| 数据手册 - 英文 |
CVU-3K-KIT 3 kV偏置三通套件
October 2014
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| 数据手册 - 英文 |
6517B静电计/高电阻计数据表
2021/11/17
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| 数据手册 - 英文 |
7174A高速低漏电流矩阵8×12
2013/2/23
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| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统复杂表征任务的简单选择
2017/12/21
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| 数据手册 - 英文 |
486皮安表487皮安表/电压源
2018/06/19
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| 数据手册 - 英文 |
7078-TRX型三槽三轴电缆
Rev. G
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| 技术文档 - 英文 |
双通道皮安计/电压源
2017/12/21
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
4200A-SCS型参数分析仪参考手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4200A-SCS参数分析仪的用户手册。手册详细介绍了该分析仪的概述、连接配置、源测量单元（SMU）、脉冲测量和发生器单元、多频率电容-电压单元（CVU）以及Clarius软件的使用。内容涵盖安全注意事项、硬件配置、软件操作、测试项目和故障排除等，旨在指导用户正确使用和维护该分析仪。
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使用4200-SCS型半导体表征系统对MOS电容器进行C-V表征
本文介绍了使用Keithley Model 4200-SCS半导体表征系统及其4200-CVU集成C-V选项进行MOS电容器C-V测量的方法。文章详细阐述了MOS电容器的C-V测量原理、测量技术、常见C-V参数的提取以及测量优化技巧。此外，还介绍了如何通过C-V数据提取MOS器件参数，如氧化层厚度、阈值电压、掺杂浓度等。
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4200-SCS-PK2型快速入门指南
本指南介绍了Model 4200-SCS半导体表征系统，一款用于实验室级直流和脉冲器件表征、实时绘图和分析的设备。系统具备高精度和亚飞安分辨率，集成有Windows操作系统和大量存储。指南详细说明了仪器的安全操作、安装、连接和测试方法，包括I-V测试和C-V测试。此外，还提供了软件安装、用户手册、技术数据和应用笔记等内容。
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4200A-SCS型参数分析仪快速入门指南
本资料为Model 4200A-SCS参数分析仪的快速入门指南，主要内容包括安全注意事项、产品规格、安装和操作步骤。指南强调了使用该产品时的安全操作规程，包括防止电击和高压危险。此外，还提供了仪器规格、环境要求、连接方法和常见问题解答。
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4200A-SCS型参数分析仪快速入门指南
本指南为Model 4200A-SCS参数分析仪提供了快速入门指导，包括安全注意事项、仪器规格、安装和操作步骤。指南强调了电气安全，详细说明了操作员、维护人员和维修人员的安全责任。此外，指南还介绍了仪器的连接、I-V测试、C-V测试以及常见问题解答。
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4200A-SCS型参数分析仪快速入门指南
本指南为Model 4200A-SCS参数分析仪提供了快速入门指导，包括安全注意事项、设备连接、操作步骤和常见问题解答。指南详细介绍了仪器的安全操作、电源和环境规格、安装步骤、测试连接、I-V测试和C-V测试的执行方法，以及如何查看和分析测试结果。此外，还提供了仪器清洁、数据导出和图形自定义的指导，以及联系方式和产品支持信息。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案广泛应用于半导体和材料领域。其设备可用于二极管、晶体管、IGBT等大功率器件的测试，以及光电材料、纳米材料和电化学材料的分析。此外，吉时利还提供数据采集、电源测试和低功耗测试等解决方案，适用于半导体、材料和电源设计。产品线包括2400、2450、2600B、2650A等系列SMU仪器，以及4200-SCS半导体参数分析仪等。
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吉时利经典测试测量和行业解决方案
吉时利提供的测试测量和行业解决方案专注于精度和速度，主要应用于半导体材料、光电材料、DC-DC转换器、纳米材料、IGBT等大功率器件以及电化学领域。其产品包括多种型号的源表测量单元（SMU）、数据采集系统、电源和连接器等，能够满足不同测试需求。此外，吉时利还提供针对LED、太阳能电池、纳米材料、霍尔效应、电化学材料等领域的测试解决方案。
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来自Keithley的捆绑特性描述解决方案为今天的测量和预算挑战提供了性能和价格的卓越平衡！
Keithley提供了一系列集成的表征解决方案，旨在平衡性能与价格，满足当前测量和预算挑战。这些解决方案包括不同型号的IV测量系统和参数分析仪，如Model 2636A和4200系列，提供多种分辨率和功能，适用于不同类型的半导体器件表征。产品包括测试软件、适配器、电缆和样品测试夹具，旨在降低资本支出并提高测量信心。
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型号237-TRX-BAR 3耳三轴筒适配器说明书
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型号4210-MMPC-W多测量探头电缆套件快速入门指南
该资料介绍了Keithley Instruments公司生产的Model 4210-MMPC-W多测量探针电缆套件。该套件包含一系列匹配的连接配件，适用于Wentworth探针，并支持电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲I-V参数化表征测量。资料详细说明了如何使用该套件进行不同类型的测试，包括I-V测试、C-V测试和脉冲I-V测量，并提供了相应的连接方法和安全注意事项。
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型号4210-MMPC-L多测量探头电缆套件快速入门指南
该资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4210-MMPC-L多测量探针电缆套件的快速入门指南。指南详细介绍了该套件的使用方法，包括如何连接Model 4200-SCS仪器、探针顶帽与探针引脚之间的连接，以及不同测试场景下的具体设置，如I-V测试、C-V测试和脉冲I-V测量。此外，还提供了相关文档的链接，以及安装和使用的安全注意事项。
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7072型半导体矩阵卡使用手册
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用4200A-SCS参数分析仪进行最佳电容和交流阻抗测量
本文介绍了如何使用4200A-SCS参数分析仪进行最佳电容和交流阻抗测量。文章详细阐述了CVU（电容电压单元）的测量原理、测量模型、参数以及测量过程中的注意事项，包括电缆连接、接地、时序设置、平衡桥技术等。此外，还介绍了如何通过Clarius软件进行连接补偿、实时测量、状态指示和故障排除，以确保测量结果的准确性。
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纳米技术测量手册纳米科学应用的电测量指南
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