学会克服高亮度LED的电气测量挑战
发布时间：
2018-08-03
类型：
技术文档，技术说明、产品技术资料
品牌：
TEKTRONIX
型号：
2651A; 2657A; 2634B; 2635B; 2636B; 2602B; 2612B; 2601B; 2611B; 2604B; 2614B; 6430; 2430; 2410; 2400; 2600B; 2600A; 23X; 237; 2651A3706A
该技术资料深入阐述了高亮度LED（HBLED）在制造全生命周期中面临的电气测量挑战，涵盖了从晶圆验收测试、LED器件测试到LED模块测试的三个关键环节。文章重点分析了如何克服测试难点，并详细介绍了吉时利公司提供的2600B系列、2400系列及2651A型源测量单元（SMU）。这些仪器凭借高精度、高可靠性及高吞吐量等特性，能够有效满足高亮度LED严苛的测试需求。此外，资料还提供了实用的SMU选型指南，助力用户根据具体应用场景精准配置测试方案。Keithley在世强硬创平台上由世强先进（深圳）科技股份有限公司授权代理并提供技术支持及采购服务。基于该方案，用户可通过平台获取原厂授权的正品器件，相关产品支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台专职FAE团队可提供从选型、设计验证到调试的全流程技术支持，覆盖从研发打样到量产的全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
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资料平台
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先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
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探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
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获得突破性的能力和无与伦比的性能特点和测试高功率，大电流电子产品
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SourceMeter®SMU仪器选型指南
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2601B、2602B和2604B型系统SourceMeter®仪器规格
Rev. C
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2601B、2602B和2604B型系统SourceMeter®仪器规格
Rev. B
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再发明大功率半导体器件特性应用建议及产品选择
2017/12/22
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2017/12/22
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S540功率半导体测试系统规范
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型号4299-6全机架单机组
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2611B、2612B和2614B型系统源表仪器规格
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2634B、2635B和2636B型系统SourceMeter®仪器规格
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ACS基础版半导体元件和分立器件参数测试软件数据表
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S540功率半导体测试系统数据表
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2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
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April 2015
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7174A高速低漏电流矩阵8×12
2013/2/23
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CA-558型3针联锁连接器电缆
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世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
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应用/方案
2600B系列系统SourceMeter®仪器用户手册
本资料为Keithley Instruments公司生产的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安装、操作、维护和注意事项。内容包括：安全预防措施、仪器描述、基本操作、测试连接、维护等。手册旨在帮助用户正确使用和维护仪器，确保安全和性能。
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Keithley SourceMeter®SMU仪器选型指南
该资料为Keithley SourceMeter® SMU仪器选择指南，详细介绍了不同型号的SMU仪器，包括其功率输出、电流能力、电压能力、电阻范围、基本精度、读取速度、功能总结等关键参数。资料涵盖了从20W至100W的台式SMU仪器，以及100W至200W的系统SMU仪器，还包括低电流SMU仪器。此外，还提供了仪器的接口、数字I/O、测试线缆等详细信息。
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当代材料科学研究中电学特性测试方案汇编
本资料汇编了当代材料科学研究中电学特性测试方案，涵盖了凝聚态物理、纳米材料、宽禁带材料、电子薄膜材料、绝缘材料等多个领域的测试方法。资料详细介绍了泰克公司提供的测试方案，包括SMU应用要点及选型指南，旨在为材料科学研究提供技术支持。
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2600B系列系统SourceMeter®仪器参考手册
本资料为Keithley Instruments, LLC发布的Series 2600B System SourceMeter®仪器的用户手册。手册详细介绍了仪器的安全注意事项、基本操作、测量功能、编程方法、故障排除以及TSP操作等内容。手册强调了操作人员的安全培训和使用注意事项，并提供了详细的操作步骤和编程示例。
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I-V Characterizer 应用使用说明
本资料为I-V Characterizer应用使用说明，适用于多种型号的源测量单元（SMU）。内容涵盖源设置、电压扫描、电流扫描、测量设置、高级配置等方面，并提供了测试MOSFET输出特性和转移特性的实例。资料详细介绍了如何配置和操作SMU进行I-V测试，包括设置电压和电流范围、扫描类型、测量次数等，旨在帮助用户进行精确的半导体器件测试。
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实现当今大功率器件的快速脉冲测量
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克服源测量障碍MPI公司案例研究
MPI Corporation作为一家台湾的科技公司，专注于生产探针卡、生产LED/光子测试设备、先进半导体测试设备和环保热产品。在开发这些创新技术时，他们需要可靠的尖端测试设备来验证、故障排除和优化设计。由于VCSEL应用是其关键市场之一，MPI需要一款适合多种测试应用的源测量单元（SMU）。Tektronix的2601B-Pulse SMU通过其多项关键特性，帮助MPI简化了产品开发流程，并提供了理想的解决方案。该SMU具备长脉冲输出、低电流灵敏度、短脉冲解决方案等特点，同时减少了DUT和探针的损坏风险。此外，其双1 MS/s数字化器允许同时捕获源输出和测量，TSP-Link™和TSP™技术则实现了高速、SMU-per-pin并行测试和低延迟通信。
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
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2634B、2635B和2636B型系统源表仪器快速入门指南
本指南为Keithley Instruments Series 2600B系列System SourceMeter®仪器提供快速入门指导，包括安全注意事项、仪器介绍、安装、连接、测试和常见问题解答。指南详细说明了仪器的安全操作、功能、操作步骤以及软件支持，旨在帮助用户快速上手并安全使用该系列仪器。
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2601B、2602B和2604B型系统源表仪器快速入门指南
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2601B、2602B和2604B型系统源表仪器快速入门指南
本指南为Keithley Instruments Series 2600B系列源测量单元（SMU）的快速入门提供指导。内容涵盖安全注意事项、设备拆箱、连接、测试以及常见问题解答。指南强调操作安全，包括电源连接、仪器操作和测试过程中的安全措施。此外，还提供了软件下载、用户手册和官方网站的链接，以供用户获取更多详细信息。
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2600B-PM-2型保护模块用户指南
Model 2600B-PM-2保护模块是一款独立、自供电的模块，提供快速瞬态（< 100 µs）电流尖峰限制和过压（> 220 V）钳位，用于电流和电压敏感的设备和应用。该模块适用于多种源测量单元（SMU），如2601B、2602B、2611B和2612B。模块旨在防止设备或互连电流、电压击穿或其他潜在信号水平故障导致测试设备损坏。该模块具有详细的电气和物理特性，包括最大直流电压、最大直流电流、脉冲电流/占空比等。此外，还提供了安装支架和连接到源测量单元的说明，以及安全注意事项。
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