Application Note Series I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator
发布时间：
2018-08-03
类型：
应用笔记或设计指南，设计参考、应用指南
品牌：
TEKTRONIX
型号：
4200-SCS; S100
该应用笔记详细阐述了利用Keithley Model 4200-SCS半导体表征系统与Zyvex S100纳米操作器协同工作，实现纳米线及纳米管I-V特性测量的方法与技巧。资料深入探讨了在纳米尺度下进行电路元件电气表征所面临的挑战，并提出了将两者结合的解决方案，从而实现高达5nm的移动精度以及优于1pA的电流测量能力。文中详细解析了两点与四点测量理论，展示了如何应用这些技术进行低电阻和低电压测量，并涵盖了测试系统配置、误差来源分析及系统安全措施等关键内容，为纳米材料的高精度表征提供了全面指导。针对文中所述Keithley及Zyvex相关产品，用户可通过世强硬创平台获取原厂授权的正品器件，相关型号支持单件起订、在线下单、样品申请及批量询价，且库存充足。平台提供专职FAE团队的技术支持，覆盖从选型、设计验证到调试的全过程，满足全生命周期采购需求，有助于缩短供应链响应周期，加速产品开发与上市。
资料下载
资料平台
| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统复杂表征任务的简单选择
2017/12/21
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
提高测量速度和整体测试提高测量速度和整体测试提高模型速度和整体测试时间
2017/12/21
|
下载 |
| 评估板使用说明 - 英文 |
TDS1000和TDS2000系列数字存储示波器操作员培训包手册
2017/12/26
|
下载 |
| 技术文档 - 英文 |
研发实验室的新测试方法学习如何解决2009年最棘手的电气测量问题
2017/12/27
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
4200-MAG-BASE、VAC-BASE和4225-RPM型探头站安装底座安装说明
Rev. B
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
综合测试系统
2017/12/21
|
下载 |
| 评估板使用说明 - 英文 |
TDS1000B&TDS2000B系列数字存储示波器操作员培训包手册
2017/12/28
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
4205-PG2双通道脉冲发生器
2018/07/02
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
REV 08.31.10
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
探索材料科学或设备开发的边界？学习确保电气测量精度的最新技术
9.13
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
2657A高功率System SourceMeter®SMU仪器
2021/07/05
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS参数分析仪技术数据
Rev. O
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
先进的科学研究，尖端的测试测量
8 JUNE 2016
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
4200-SCS型半导体表征系统解密和安全说明
v121515
|
下载 |
| 测试报告 - 英文 |
TBS1000C系列示波器规格和性能验证
2022/2/3
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
4200-BTI-4200-SCS型超快NBTI/PBTI封装
2018/07/02
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
7174A高速低漏电流矩阵8×12
2013/2/23
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
2600B-PM-1型200 V保护模块，带1 A夹钳
April 2015
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
7072-HV高压半导体矩阵卡8×12
2013/7/13
|
下载 |
| 技术文档 - 英文 |
使用业界首屈一指的表征解决方案更快地获取所需的纳米技术数据要将您的4200-SCS型号转变为一个成熟的纳米技术表征工作站，请使用您的FREEKeithley纳米技术工具包
2017/12/27
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
DS1000系列电视解调器
12/01
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
TBS2000B系列示波器
2020/5/7
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
数字存储示波器 TDS1000C-SC系列产品技术资料
2017/12/28
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
数字存储示波器TDS1000c-EDU系列规格书
09 Feb 2016
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
数字存储示波器TDS1000B系列数据表
2017/12/26
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
数字存储示波器TBS1000X系列产品技术资料
09 Sep 2020
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
数字存储示波器TBS1000系列产品介绍
26 May 2017
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
数字存储示波器TBS1000系列产品介绍
08 May 2017
|
下载 |
| 数据手册 - 英文 |
TDS1000系列/TDS2000系列数字存储示波器
8/05
|
下载 |
| 数据手册 - 中文 |
数字存储示波器 TBS1000C Series Datasheet
4 Jan 2021
|
下载 |
世强AI
世强AI是专注硬创领域的专业垂类AI。基于世强硬创平台沉淀的全品类数据，覆盖 IC、元件、材料、电气、电机、仪器，超千万级 SKU。深度融合全行业原厂技术资料与供应链数据，不仅提供方案设计、器件选型、BOM优化等快速精准的研发支持，更能发起快速购买、样品申请、技术支持、批量询价等服务，贯穿硬件创新全链路，让研发更容易，让采购更便宜。
去使用世强AI >>
应用/方案
4200-SCS型半导体表征系统参考手册
阅读原文 >>
4200-SCS型半导体表征系统参考手册
阅读原文 >>
采用4200-SCS型半导体表征系统对碳纳米管晶体管（CNT FET）进行电学表征
本文介绍了使用Model 4200-SCS半导体表征系统对碳纳米管场效应晶体管（CNT FETs）进行电学表征的方法。文章详细阐述了如何通过该系统进行电流-电压（I-V）、脉冲I-V和电容（C）测量，并提供了优化测量结果的技术和注意事项。此外，文章还介绍了CNT FET的结构和特性，以及如何使用Model 4200-SCS系统中的各种模块进行测量。
阅读原文 >>
可视化体验质量，改善用户的观看体验
资料主要介绍了Tektronix公司提供的多种视频质量监测和分析产品，旨在提升用户的观看体验。内容包括不同类型的视频质量问题，如块状失真、视频冻结、音频响度问题等，以及相应的解决方案和预防措施。资料还提供了全球各地的联系方式和产品详细信息。
阅读原文 >>
用4200-SCS型半导体表征系统进行电荷泵测量
本文介绍了使用Model 4200-SCS半导体表征系统进行电荷泵测量方法。该方法通过脉冲电压和测量直流衬底电流来分析MOS结构的半导体-介电界面。文章详细描述了电荷泵测量的原理、硬件配置、软件操作以及数据分析方法，包括固定幅度/电压基扫描和固定基/可变幅度扫描等常见技术。此外，还介绍了如何使用KITE软件自动化测量过程和分析结果。
阅读原文 >>
4200-SCS型半导体表征系统探针驱动程序的编写
本文档详细介绍了为Keithley Model 4200-SCS半导体表征系统编写探针驱动程序的过程。内容包括：探针驱动程序的基本功能、编程语言要求、使用到的库函数、探针参数结构体定义、KCON和KITE配置方法、探针特定驱动程序的编写步骤等。文档还提供了探针参数结构体定义的详细说明和示例配置文件。
阅读原文 >>
用低噪声4200-SCS半导体表征系统进行超低电流测量
本文主要讨论了使用低噪声模型4200-SCS半导体特性系统进行超低电流测量的关键技术和注意事项。内容包括系统接地和屏蔽、系统噪声最小化技术、测试系统稳定时间以及选择合适的系统配置等方面。强调了在低电流测量中，系统接地、屏蔽、噪声控制和配置选择对测量准确性的重要性。
阅读原文 >>
4200-SCS四探针电阻率和霍尔电压测量
本文介绍了使用Model 4200-SCS半导体特性系统进行四探针电阻率和霍尔电压测量的方法。文章详细阐述了四探针法测量电阻率的原理和步骤，包括四点共线探针法和van der Pauw方法。同时，介绍了如何使用Model 4200-SCS进行霍尔电压测量，并讨论了测量过程中可能出现的误差和注意事项。
阅读原文 >>
为型号4200-SCS创建外部仪器驱动程序
本文介绍了如何为Model 4200-SCS参数分析仪创建外部仪器驱动程序。文章首先概述了Model 4200-SCS的灵活架构，使其能够控制IEEE-488 (GPIB)或RS-232 (串行)通信端口上的任何外部仪器。接着，详细说明了创建自定义仪器驱动程序的过程，包括规划、布局、编码、测试和调试等步骤。文章还提供了创建辅助设备驱动程序的示例，并讨论了实现高级功能如串行轮询、返回测量数据和输出消息等的技术细节。
阅读原文 >>
捕获性能：下一代媒体测试和监控解决方案加速全球创新
本文介绍了Tektronix公司在视频测试和监控领域的解决方案，涵盖了直播IP视频制作、4K HDR制作和交付、基于文件的质量控制、移动和工作室制作、后期制作、设施运营以及视频服务提供商解决方案等多个方面。文章详细介绍了Tektronix的PRISM媒体分析平台、波形监视器和光栅化器、同步和参考发生器、文件质量控制解决方案、视频网络监视器、MPEG分析器和软件解决方案、图像质量分析解决方案等产品。
阅读原文 >>
用Cascade Nucleus Prober软件和4200-SCS型半导体表征系统选择晶圆图参数
本文介绍了使用Cascade Nucleus Prober软件和Model 4200-SCS半导体表征系统进行参数晶圆映射的方法。通过GPIB总线控制Summit系列晶圆探针，结合Nucleus软件和4200-SCS的KTEI软件环境，实现晶圆上不同颜色圆片的视觉显示，以参数值区分。文章详细描述了硬件和软件的设置步骤，包括连接设备、配置GPIB通信、设置晶圆映射几何形状等。此外，还介绍了如何获取和通信晶圆映射参数，以及如何在KITE项目中实现这一功能。
阅读原文 >>
型号4200-SCS
本资料为Keithley 4200-SCS启动指南，详细介绍了该设备的组装、系统连接、测试 fixture 连接、启动和登录、测试项目启动、测试定义、测试运行、数据查看、图形查看、打印和导出数据等操作步骤。指南中包含了对测试界面、测试定义、测试运行状态、数据查看和图形查看的详细说明。
阅读原文 >>
利用4200-SCS型半导体表征系统对高阻抗器件进行甚低频电容电压测量
本文介绍了使用4200-SCS半导体表征系统进行非常低频电容-电压测量的方法。该方法利用超低频C-V技术，能够在10mHz至10Hz的频率范围内对高阻抗器件进行精确的电容测量。文章详细阐述了VLF C-V技术的原理、测量步骤、软件使用以及优化测量方法。此外，还提供了实际应用案例，包括MOS电容和n-MOSFET的测量实例。
阅读原文 >>
用V-Ramp和J-Ramp技术评估氧化物的可靠性
本文介绍了使用电压斜坡（V-Ramp）和电流斜坡（J-Ramp）技术评估氧化物可靠性的方法。文章详细描述了这两种测试技术的原理、步骤和实施细节，包括测试前的准备、测试过程中的参数设置和数据分析。特别强调了使用Keithley 4200-SCS半导体表征系统进行氧化物可靠性测试的优势，包括其精确的电压和电流控制、自动化参数提取和先进的数据分析技术。文章还讨论了氧化物缺陷和超薄氧化物特性的表征，以及如何通过这些技术来监测和分析氧化物电流。
阅读原文 >>
使用监控沟道热载流子（CHC）来监控MOSFET器件的退化使用监控沟道热载流子（CH）来监控MOSFET器件的退化
本文介绍了使用Keithley Model 4200-SCS半导体特性测试系统进行MOSFET器件的通道热载流子（CHC）退化测试。文章详细阐述了CHC退化测试的原理、流程、设备连接、参数设置、数据采集和分析方法，并提供了具体的操作步骤和示例。通过该测试，可以评估MOSFET器件在CHC应力下的可靠性。
阅读原文 >>
推荐用于教育的电子工程工作台
本文介绍了Tektronix和Keithley提供的适用于教育领域的测试和测量解决方案。文章详细介绍了三种推荐的实验室配置，包括基础教学实验室、电子工程实验室和下一代射频/无线实验室，涵盖了从基础到高级的测试设备。此外，文章还介绍了适用于教育实验室的精选产品，如示波器、任意函数发生器、软件和服务等。最后，文章通过案例展示了Tektronix在教育领域的应用和影响力。
阅读原文 >>
用4200-SCS半导体表征系统和3400系列脉冲/图形发生器进行电荷泵测量
阅读原文 >>
使用斜坡率法对4200-SCS型半导体表征系统进行准静态C-V测量的应用说明系列
本文介绍了使用Model 4200-SCS半导体表征系统和斜率率方法进行准静态C-V测量的方法。该方法利用两个4200-SMU源测量单元和两个4200-PA预放大器，通过测量电压、时间和放电电流来计算电容值。文章详细描述了测量步骤、参数设置和优化技巧，包括低电流测量实践和软件参数调整。
阅读原文 >>
4200-SCS型半导体表征系统
本资料为Model 4200-SCS半导体表征系统应用手册，主要内容包括软件许可协议、安全注意事项、图形数据分析、基本测试序列、高级应用、控制外部设备、脉冲应用等。手册详细介绍了软件的使用方法、测试序列的设置、外部设备的控制以及脉冲应用的实现，旨在帮助用户更好地理解和应用Model 4200-SCS系统。
阅读原文 >>
4200-SCS型半导体表征系统
本资料为Keithley Instruments公司生产的Model 4200-SCS半导体表征系统用户手册。手册详细介绍了系统的安装、操作、维护以及常见测试方法。内容包括系统硬件概述、软件环境、常见设备表征测试、与其他仪器的控制方法、脉冲生成等。手册强调了安全注意事项，并提供了故障排除指南。
阅读原文 >>
