GDQ2BFAA DDR4 SDRAM DATASHEET
●功能
■电源:VDD=VDDQ=1.2V(1.14V至1.26V);VPP=2.5V(2.375V至2.75V)
■JEDEC标准封装:x16 96球FBGA
■阵列配置:8排(x16)2组4排
■8n位预取架构
■突发长度(BL):8和4,突发斩波(BC)
■可编程CAS延迟(CL)
■可编程CAS写延迟(CWL)
■数据输入的内部生成Vref
■芯片端接(ODT):支持标称、驻车和动态ODT
■差分时钟和数据选通输入(CK\u t,CK\u c;DQS\u t,DQS\u c)
■接口:1.2V伪开漏(POD)IO
■每DRAM可寻址性(PDA)
■数据总线反转(DBI)
■写入数据的数据掩码(DM)
■最大节能模式(MPSM)
■可编程部分阵列自刷新(PASR)
■通电异步复位
■预充电:每个突发访问的自动预充电选项
■工作环境温度:0°C≤TCase酶≤95°C
■支持自动刷新和自刷新模式
■平均刷新周期:
▲ -0°C时为7.8μs≤TCase酶≤85℃
▲-85°C时为3.9μs<TCase酶≤95°C
■细粒度刷新2x、4x模式,用于较小的tRFC
■可编程数据选通前置码
■支持命令地址(CA)奇偶校验
■支持写入循环冗余码(CRC)
■支持hPPR和sPPR
■支持连接测试模式(TEN)
■降档模式
■通过ZQ引脚校准输出驱动器(RZQ:240ohm±1%)
■符合JEDEC JESD-79-4标准
■符合RoHS
GDQ2BFAA DDR4 SDRAM规格书 |
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数据手册,DATASHEET |
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详见资料 |
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FBGA |
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中文 英文 中英文 日文 |
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April 2021 |
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Rev1.0 |
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7.9 MB |
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