• 为什么时钟芯片Si5346在高低温测试时会失锁?

  • 创建于2015-06-10

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  • _世强 (0)
    测试时钟芯片Si5346的外部参考晶体,在温度骤降10度时,晶体的频率会有一个很大的变化,所以是参考晶体在温度影响下的频率变化引起了Si5346的失锁。
    创建于2015-06-10
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