LDO发振如何避免和解决?
汽车电子产品中多数的次级电源会采用LDO,LDO都是采用负反馈送到误差放大器进行比较输出,反馈产生180°相位滞后后超前的就会导致输出振荡,因此LDO对于输出电容的ESR有着严格的要求,必须控制在某一特定范围内,以保证输出的稳定性。笔者设计的娱乐导航系统中使用瑞萨的V850 MCU要求3.3V稳定供电,静态电流小于200μA,封装比较小。由于NISSHINBO R1501x的LDO性能稳定、输出精度高可以控制在±2%,静态电流只有0.1μA,而且高低温漂移很小,非常适合我们娱乐导航系统中使用。
下图Nisshinbo R1501x系列LDO对于ESR要求,图示蓝线以上、红线以下为LDO工作稳定区域;红线以上、蓝线以下为LDO发振区域。由图可知输出端接的电容ESR一定要控制在稳定区域内。负载不同稳定区域也会发生变化,如当负载变小稳定区域会相对增加,因此考虑电容ESR的同时还需要考虑负载的变化。

图1:R1501x系列LDO对于ESR要求
到这里也许有人就会问了,ESR大了,LDO会不稳定;ESR小了,LDO也会不稳定,到底该怎么办才好。不要着急,下面慢慢讲述。
首先看图2,这是典型的LDO增益曲线和相位曲线图,这里面就隐藏着LDO稳定还是发振的秘密。图示,fp1由输出电容ESR产生的极点,PPWR由于LDO自身性能引起的功率极点,fz是有输出电容容值和ESR引起的相位超前。我们需要保证LDO的相位裕度足够,并且不能反转到180°。
如果电容ESR过高,零点的频率降低,这样就会使回路的带宽增加,带宽的增加意味着极点Ppwr会出现在带宽内,相位裕度就明显减小,导致LDO输出不稳定。选择很低的ESR输出电容,由于一些不同的原因也会产生振荡。很低的ESR产生的极点就会产生-180°的相移,导致LDO输出不稳定。

图2:LDO增益曲线和相位曲线图
设计LDO电路时,首先,我们会根据不同的电容ESR确定稳定区域的范围,如图3选择5mΩ的电容测试fz,再选择20Ω电容测试fz,这之间的将会被选择为稳定区域

图3:根据不同的电容ESR确定稳定区域的范围
到这也有人会问了,这样看很简单吗,只要选择ESR处于稳定区就没问题了。要是这样想,你很有可能又要出错了。由于电容的温度特性不同,温度特性较差的电容,在低温下ESR会迅速增加,在常温下工作正常,到了低温环境下就会发生低温发振。图4显示了电容在不同温度下的ESR曲线,低温下ESR明显增加了很多,高温下ESR也会很快减小很多。因此,一定要注意电容的ESR在不同温度下的表现,这个参数很多电容供应商一般不会提供给我们,所以在检证初期,我们需要在环境箱中对不同温度下的电容的ESR进行实际测试,从而得到我们要使用的电容对于温度变化的敏感度。

图4:电容在不同温度下的ESR曲线
输出电容要选择稳定特性较好的电容,温度特性差的话,在低温-40℃、-30℃下,电容的ESR就会增加很多,导致相位裕度不足,输出发振。X5R型电容、X7R型电容温度特性就比较差,温度不同影响程度达到15%。COG型电容、NPO型电容温度特性相对比较起来就好出很多,温度影响只有0.3%程度。如图5、6所示,选择较好的电容后低温下输出仍然稳定。

图5

图6
下图是对Nisshinbo的 R1501x系列LDO实际测试的相位裕度曲线和增益裕度曲线,很容易可以看出R1501x系列的LDO工作非常稳定。

图7:R1501x系列LDO实际测试的相位裕度曲线和增益裕度曲线
好了说了这么多,下面做一下总结:
1)输出电容一定要确定ESR范围,上限值、下限值,确保ESR处在LDO稳定区域内。
2)输出电容容量与输出电容ESR来进行相位补偿、所以与外置电容的温度特性影响很大,一定要选择温度特性较好的电容。
3)输出电容一定要在环境箱中实际测试不同温度下的ESR,从而获得电容对于温度变化的敏感度。
关于Nisshinbo (日清纺)
原新日本无线(NJR)株式会社和原理光微电子(原RICOH)株式会社已于2022年1月合并,并以⽇清纺微电⼦(Nisshinbo)株式会社的名义运营。日清纺(Nisshinbo)整合两家公司的优势,完善 "连接一切 "的技术,并努力作为一个模拟解决方案的供应商进一步成长和发展,为实现超智能社会做出贡献。
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