CHROMA参与SEMICON TAIWAN 2020国际半导体展,展出迎向智能新未来的完整半导体测试解决方案

2020-09-16 CHROMA

SEMICON Taiwan 2020 (9 月23‐25 日),CHROMA致茂电子将于台北南港展览馆一馆1F (摊位号: K2876)展出崭新的半导体测试解决方案,我们诚挚的邀请您一同体验量测新趋势,期待在此年度盛会中与您见面。

致茂电子参与全新虚实整合SEMICON TAIWAN 2020国际半导体展,实机展出完整半导体测试解决方案,包括半导体材料奈米粒子监测、多媒体晶片测试、PXIe测试平台、RF射频晶片测试,与功率半导体元件局部放电检测等解决方案。今年因疫情而无法前来的客户,致茂于半导体先进检测与计量国际论坛,以论坛直播方式与国际客户一起探讨光学检测与计量解决方案在3D感测应用的现况与趋势,同期在ITC Asia (International Test Conference)分享适用于MCU/IoT晶片的经济高效的RF测试以及因应AIoT、自动驾驶与数据中心所需的高速运算(HPC)晶片需求的自动化SLT与三温测试技术。

半导体材料的纳米粒子监测系统SuperSizer Series

随着半导体的先进制程发展持续推进,电晶体的微缩制程技术要求更为精细且复杂,同时要兼顾良率及产能,半导体材料的品质要求大幅提高,从材料供应商的生产、分装、运送、检验、过滤、处理、使用等,各环节都不容出错,材料检验及监控成了重要的考验。SuperSizer Series成功揪出化学溶液良率的杀手—奈米粒子及不纯物质,完全不受纳米气泡的干扰,精准量测出小至3奈米的粒子大小及数量分布,提供全自动化in-line纳米粒子监测系统,掌握良率、控制风险。

多媒体晶片测试解决方案:3680 SoC测试系统

多媒体晶片随着资通讯产业和消费性电子市场的快速成长而推陈出新,致茂高精度SoC测试系统Chroma 3680可有效满足日新月异的多媒体晶片测试需求。Chroma 3680具备2048个I/O通道,高达1Gbps的数位通道速率,支援可同时测试(Concurrent Testing)的功能,并提供多种测试模组供使用者选择;其中HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和讯号模组为混讯测试方案的必备配件。3680所搭配的CRISPro软体具备浅显易懂的图形化介面,让使用者可使用Microsoft Visual Studio所支援的程式语言编写测试程式,有效降低测试程式开发时间,加速产品量产进程。

PXIe架构测试平台满足推陈出新的半导体应用测试需求

随着半导体技术的进步,半导体装置的功能不断超出传统自动化测试系统(ATE)的测试范围,因应多变的半导体测试需求,致茂电子新推出以PXIe架构为基础的测试平台,兼具高弹性、高整合性与经济实惠的优势。共有四种PXIe 模组供使用者选择,包含高速数位I/O撷取模组、两种电源供应模组,以及继电器驱动模组。除此之外,PXIe CRAFT软体可让使用者依据产品特性与功能来快速开发测试系统。

RF射频晶片测试解决方案MP5806S

Chroma半导体测试设备可完美结合ADIVIC MP5806S,将测试设备扩充为俱备完整的射频晶片测试方案,并已通过客户量产验证。MP5806S除了支援包含Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT、GPS/BeiDou等(IoT)通讯标准和Tuner应用外,2020年新增S Parameter & Noise Figure,可应用于RF Module前端FEM/PA/Switch/ LNA等零组件测试. 未来可广泛应用于各式RF 射频晶片测试。

功率半导体元件与散热基板间的局部放电检测19501-K

功率半导体元件于新能源的应用领域在全球绿能趋势下的发展备受关注,如电动车、太阳能光电等大的工作电流与需求较高电压切换。除了本身具备良好的散热外更需考虑与散热基板间的绝缘耐压,如何确保功率半导体元件在正常工作条件下没有持续性局部放电造成安全品质疑虑成为最重要的议题。Chroma 19501-K局部放电测试器能为您精准检测功率半导体元件在高电压工作下是否有连续性局部放电(PD in pC)发生,把关长期工作之品质与可靠性。




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