【产品】适用于FT测试的三温测试分类机3110-FT,的可设定温度范围-40℃~125℃

2019-06-01 Chroma

3110-FTCHROMA全新开发的适用于Final test工程产品特性及测试开发用途之Pick & Place测试分类机。3110-FT支持多种晶片测试,可支持的晶片尺寸从3×3 mm到45×45 mm。 3110-FT亦可加装远端监控功能,可让操作者在任何地点透过网路操作以增加设备使用率。配有2个自动分料盘及2个手动分料盘,在仅1.4 m2的空间发挥最佳的IC分料能力以节省成本与时间。

三温测试分类机


3110-FT可支持大部分产业的标准通信介面和提供不同种类的tester的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃ 到 125℃。具有易于操作的软件界面以及可快速更换待测产品之设计, 将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。


3110-FT三温测试分类机的主要特色:

· 可设定温度范围 -40℃~125℃

· 适用于 FT测试

· 支持的晶片尺寸从 3×3 mm 到 45×45 mm

· 控制下压触力在1到10 kg (Optional)

· 具有4个产品分类料盘

· 支持远端控制操作

· 具有测试良率控制功能

· 具有连续自动重测功能

· 具有即时监控产品分类功能

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本文由宝丁转载自Chroma,原文标题为:三温测试分类机 Model 3110-FT,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。

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