【产品】测试频率为100MHz的​3380D VLSI测试系统,非常适用于IoT相关的晶片测试

2019-06-02 Chroma

为因应未来IC晶片须具更高速度及更多脚位及功能更复杂,CHROMA新一代VLSI测试机3380D/380P/3380除采用更弹性架构外,整合密度更高且功能更强大。3380D/3380P/3380机型为因应高同测功能 (High Parallel Test),除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source) 外,更具备any-pins-to-any-site高同测功能( 256 I/O pin可同测256个测试晶片),以因应未来IC晶片更高的测试需求。

VLSI测试机


3380D/380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型/低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。


3380D VLSI 测试系统非常适合应用于IoT相关的晶片测试,尤其是一些具成本压力的元件如整合功能之MCU、MEMS等。


满足晶片测试的各种应用范围:

Logic, ADDA, LCD, LED, Power, ALPG, Match, and etc.


3380D VLSI 测试系统的主要特色:

· 100MHz 测试频率

· 256 logic I/O pins ( 最高可至 576 pins)

· 平行测试可达 256 devices

· 32/64/128 M Pattern 记忆体

· 多样弹性 VI 电源

· 弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

· Real parallel Trim/Match 功能

· 时序频率测试单位 (TFMU)

· AD/DA 功能卡 选配 (16/24 bits)

· SCAN 测试功能 选配 (1G/Board)

· ALPG 测试 选配供记忆体IC用

· STDF 工具支援

· 测试程式/pattern 转换器(J750, D10, V50, E320, SC312, V7,TRI-6020, ITS9K)

· 人性化 Window 7操作环境

· CRAFT C/C++ 程式语言

· 程式语言同3360P & 3360

· Direct mount 治具可相容于3360P probe-Card

· Cable mount 治具可相容于3360D & 3360P

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本文由宝丁转载自Chroma,原文标题为:VLSI 测试系统 Model 3380-D,本站所有转载文章系出于传递更多信息之目的,且明确注明来源,不希望被转载的媒体或个人可与我们联系,我们将立即进行删除处理。

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